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Fターム[4G077FK20]の内容

Fターム[4G077FK20]に分類される特許

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【課題】多様化する単結晶インゴットの直径及びコーン状の端部形状に関わらず、切断位置の基点を高精度に特定でき、切断位置のずれを抑制することができるインゴットの切断方法を提供することを目的とする。
【解決手段】円筒研削された円柱状の直胴部と、該直胴部の少なくとも一端に形成された円筒研削されていない鏡面状態のコーン状の端部とを有する単結晶インゴットを切断するインゴットの切断方法であって、前記円筒研削された直胴部表面と前記円筒研削されていない鏡面状態のコーン状の端部表面の光の反射の違いを利用して、前記円筒研削面と前記円筒研削されていない境界の位置を検出する工程と、該検出した境界の位置を基点として切断位置の位置決めを行った後、前記インゴットを切断する工程とを有することを特徴とするインゴットの切断方法。 (もっと読む)


【課題】複数のダイヤモンド層をより高速に分離するダイヤモンドの剥離方法及び、高速分離を実現するダイヤモンドの剥離装置の提供。
【解決手段】ダイヤモンドにイオン注入をすることにより得られた導電性の非ダイヤモンド層がダイヤモンド層に挟まれた構造を有する構造体をエッチング液に浸漬して直流電圧を印加し、非ダイヤモンド層を電気化学的にエッチングすることで、ダイヤモンド層を分離するダイヤモンドの剥離方法であって、エッチング液としてpHが6.0未満且つ導電率が300μS/cm以下のエッチング液を使用することを特徴とするダイヤモンドの剥離方法。 (もっと読む)


【課題】 被研削材の円筒研削加工時間を短縮できる円筒研削方法の提供。
【解決手段】
カップホイール型砥石11gを軸承する前後移動可能な砥石軸11aと前記カップホイール型砥石の直径より10〜25mm小さい直径のカップホイール型砥石11gを軸承する前後移動可能な砥石軸11aを、これら砥石軸11a,11aの軸芯11oが同一直線上にあり、かつ、この同一直線は前記ワーク軸に対し直角になる位置に設けた円筒研削装置1を用いて、クランプ機構7a,7bに支架された回転している円柱状ワークwに切り込みを掛け、ついで、回転している円柱状ワークwを横方向に移動させながら前記カップホイール型砥石11g,11gでトラバース研削加工する。 (もっと読む)


【課題】クリーンな環境下にて、石英ガラスルツボを堅固に挟持し、確実に移動させることのできるハンドリング装置。
【解決手段】水平方向に延びるビーム2、及び、ビーム2の中心軸線方向に対し直交する方向にビーム2から突出し、少なくとも一方がビーム2の中心軸線方向に移動可能である一対のアーム3を具えるフレーム4の、一対のアーム3に組み付けられた、石英ガラスルツボ5の胴部50をルツボの径方向に挟持する相互に対向する一対の挟持手段6、各挟持手段6に隣接して設けられ、石英ガラスルツボ5をルツボの中心軸線方向に挟んで掛止するルツボの中心軸線方向に近接離間可能な一対の舌片からなる掛止手段7、並びに、挟持手段6及び掛止手段7をアーム3に沿って往復運動させる駆動手段8を具える石英ガラスルツボ5のハンドリング装置1である。 (もっと読む)


【課題】液相成長にて形成したGaN単結晶などのIII族元素窒化物結晶を原料液の中から短時間で取り出すことができる結晶製造方法および装置を提供する。
【解決手段】処理容器7内に坩堝1を収納させ、この坩堝1を処理容器7内に入れる前、あるいは、入れた後に、処理容器7内に固体原料処理液8を流入させ、坩堝1内には、種基板支持体3で支持された種基板2と、この種基板2上に生成された結晶基板10と、これらの種基板2および結晶基板10を覆った固体原料4とが収納された状態とし、坩堝1を切断部で切断している。 (もっと読む)


【課題】液相成長にて形成したGaN単結晶などのIII族元素窒化物結晶を原料液の中から短時間で取り出すことができる結晶製造方法を提供する。
【解決手段】処理容器6内に坩堝1を収納させ、前記坩堝1を前記処理容器6内に入れる前、あるいは、入れた後に、前記処理容器6内に固体原料処理液7を流入させ、前記坩堝1内には種基板2と、前記種基板2上に生成された結晶基板10と、前記種基板1および前記結晶基板10を覆った固体原料3とが収納された状態とし、前記処理容器6内に、超音波発生手段8から発射された超音波11を与える。 (もっと読む)


【課題】液相成長にて形成したGaN単結晶などのIII族元素窒化物結晶を原料液の中から短時間で取り出すことができるIII族元素窒化物結晶製造方法を提供する。
【解決手段】処理容器5内に坩堝1を収納させ、この坩堝1を処理容器5内に入れる前、あるいは、入れた後に、処理容器5内に固体原料処理液6を流入させ、坩堝1内には、支持体3で支持された種基板2と、この種基板2上に生成された結晶8と、これらの種基板2および結晶8を覆った固体原料4とが収納された状態とし、支持体3は、所定間隔離して配置した複数の支持脚を有し、各支持脚の支持部で種基板2の外周下面側を支持させた。 (もっと読む)


【課題】顕微鏡を使用せず、作業効率を向上させ、かつ、高精度で切断面に結晶方位面を得ることができる単結晶材料の面方位合わせ装置および単結晶材料のスライス方法を提供する。
【解決手段】面方位合せ装置(12)の回転部(12a)は、回転変位量が調整可能かつ固定可能に、固定部(12b)に対して回転可能であり、かつ、ワイヤソー(4)の走行方向と同じ方向に直線状の往復移動が可能である。単結晶材料(10)の保持テーブル(11)に設けられた回転部(11a)は、単結晶材料(10)を固定可能であり、固定部(11b)に対し、回転変位量が調整可能かつ固定可能に取り付けられる。モニタ装置(5)は、画面を2分割して使用し、第1カメラ(6a)が撮影する視野を第1画面に映し出し、かつ、第2カメラ(6b)が撮影する視野を第2画面に映し出す。並んだ画像が一直線状となるように、回転部(11a)または回転部(12a)を回動調整する。 (もっと読む)


【課題】 ダイヤモンド本体に影響を与えることなく線状あるいは面状に加工切断可能なダイヤモンドの加工方法および装置を提供する。
【解決手段】 LD励起近赤外線レーザ11からのレーザ光21を高調波変換器12により高調波変換して波長266nmの波長変換レーザ光22を得、この波長266nmの波長変換レーザ光22をガルバノスキャナ14で走査レーザ光23に変換し、円形fθレンズ13で収束して収束レーザ光24として集光する。収束レーザ光24はダイヤモンド15に入射され、ダイヤモンド15に含有されている固溶窒素に吸収されて、ダイヤモンド15はアブレーションや蒸発によって熱エネルギー加工される。 (もっと読む)


【課題】切断テーブルの隙間部分の段差に影響を受けず、インゴットの切り終わり部分の欠けを防止することで、前記切断テーブルの調整のためのメンテナンスをなくし、製品歩留りを向上させることができるインゴット切断装置およびそれを用いた切断方法を提供することを目的とする。
【解決手段】インゴット切断装置において、少なくとも、前記インゴットを前記ブレードで切断する位置にて前記インゴットの切り終わり部分を下方から支持するためのインゴット支えパッドと、前記インゴット支えパッドを下方から上昇させて前記インゴットに密着させるためのパッド上昇機構とを有するものであることを特徴とするインゴット切断装置。 (もっと読む)


【課題】主表面上に少なくとも1層の3種類以上の元素を含むIII−V族化合物半導体層を成長させても高い特性を有するIII−V族化合物半導体デバイスが得られるGaAs半導体基板およびその製造方法を提供する。
【解決手段】GaAs半導体基板10は、主表面10mが(100)面10aに対して6〜16°の傾斜角θを有し、主表面10mにおける塩素原子濃度が1×1013cm-2以下である。また、GaAs半導体基板10の製造方法は、GaAs半導体ウエハを研磨する研磨工程と、研磨されたGaAs半導体ウエハを洗浄する1次洗浄工程と、1次洗浄後のGaAs半導体ウエハの厚さおよび主表面10mの粗さを検査する検査工程と、検査後のGaAs半導体ウエハを塩酸以外の酸およびアルカリのいずれかにより洗浄する2次洗浄工程と、を備える。 (もっと読む)


【課題】搬送用トレー上で短いブロックが転倒、脱落、破損するといったことを防止でき、かつ、省力化、生産性向上が図れ、また新設設備によるコストや設備占有スペースの増加の抑制を図ることができるインゴット切断装置を提供する。
【解決手段】インゴット1を切断手段16により切断してブロック1aに切り分ける切断部11と、切断用トレー15を送出入するためのテーブル18を有する送出入部12と、該送出入部の動作を制御する制御部13と、切断されたブロック1aを搬送用トレー2に移載する移載部14とを具備し、移載部14は、アーム機構19と、倒置機構20とを具備し、長いブロック1bはアーム機構19により搬送用トレー2に移載し、短いブロック1cは倒置機構20により倒して搬送用トレー2に移載するものであるインゴット切断装置10を提供する。 (もっと読む)


単結晶体の結晶方位を解析する工程と、前記単結晶体の選択された結晶方向と前記単結晶体の第1の主外面の面に沿う結晶方向の投影との間の方位差角を計算する工程とを有する、単結晶体の結晶方位を変化させる方法が開示される。前記方法は、前記第1の主外面の少なくとも一部から材料を除去して前記方位差角を変化させる工程をさらに有する。
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【課題】Naフラックス法によるIII 族窒化物半導体の製造において、従来結晶成長工程終了後に廃棄されていたNaを再利用できる製造装置を実現すること。
【解決手段】
Naフラックス法によるIII 族窒化物半導体の結晶成長工程終了後、坩堝11の温度が100℃以上である時に、回収装置20にてNaを吸引し、保持容器22内に液体状態で保持する。回収したNaは、蛇口24より取り出すことができる。ここで、結晶成長工程終了後に残存するNaは、蒸気圧の高い不純物を含んでいないため高純度である。そのため、回収したNaをフラックスとして再利用すると、不純物濃度の低いIII 族窒化物半導体を製造することができる。 (もっと読む)


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