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Fターム[5C006AA01]の内容

液晶表示装置の制御 (150,375) | 表示情報 (11,454) | テレビ信号(奇偶フィールド信号) (1,286)

Fターム[5C006AA01]に分類される特許

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【課題】各種カラー表示装置の持つ色情報値を、複数任意点について高精度で測定する測色方法とその装置。
【解決手段】計測用撮像手段としてカラーCCDカメラを使用し、計測対象とするカラー表示装置毎に、及び、撮像計測の前に、計測パターン内任意点によりカラーCCDカメラの特性補正値の算出を行い、この算出結果をもとに撮像による計測パターン内複数任意点の色情報値を高精度に得る。 (もっと読む)


【課題】 多くの手間や時間を要することなく、投射される画像の画質低下を抑制可能なデータ処理装置、画像表示装置および撮像装置を提供する 。
【解決手段】 データ処理装置200は、画像表示装置51によってスクリーン53上に投射表示される飛び飛びの階調のテストパターンの画像を、撮像装置52を介して順次入力する。データ処理装置200は、スクリーン53中の点e、f、g、hの部分の画像のデータのみをサンプリングし、サンプリング結果より点e、f、g、hにおける全階調に対応する階調補正値を補間演算により算出する。続いてデータ処理装置200は、点e、f、g、hの階調補正値に基づき、補間演算によって点e、f、g、h以外の部分の階調補正値を算出する。 (もっと読む)


【課題】画像を確認しやすい表示装置、及びプリント指定しやすいプリント作成装置を提供する。
【解決手段】メモリカードMCを装填可能なスロット12と、メモリカードMCがスロット12に装填されたことを検知する検出装置103と、検知結果に応じて、メモリカードMCに記憶されている画像データ及びカラーマネジメント情報を読み出す読出装置102と、読み出した画像データに対して、カラーマネジメント情報に基づく画像処理を施すプリンタCPU101と、画像処理の施された画像データに基づき、プリントを行うプリント装置104と、を有するので、デジタルスチルカメラDCの機種毎に異なる色変換テーブルなどを含むカラーマネジメント情報に基づいて、より高画質な画像をプリントすることができる。 (もっと読む)


【課題】 液晶の応答速度を速くして、動きのある映像でもにじみや尾引きを防止し、フィールドシーケンシャルカラー方式における色再現性を向上できる液晶表示装置を低コストで提供する。
【解決手段】 スイッチング素子に接続された画素電極とコモン電極との間に液晶容量が構成され、画素電極と補助電極(又はゲート電極)との間に補助容量が構成されている液晶表示装置に対して、画素電極とコモン電極との間に映像信号に相当する電圧を印加する映像信号印加期間と、補助信号に相当する電圧を印加する補助信号印加期間とを含み、コモン電圧Vcと補助電圧Vaの少なくともいずれか一方を映像信号印加期間と補助信号印加期間とで異ならせる。ソースドライバから補助信号を供給しなくても、映像信号印加期間と補助信号印加期間とで映像信号に応じた異なる電圧Vlcを液晶容量に印加して液晶の応答速度を速くすることができる。 (もっと読む)


【課題】消費電力を低減したデータ伝送回路及び液晶表示装置を提供することにある。
【解決手段】トランシーバ回路100から伝送線路を介して24ビットの表示データをレシーバ回路200に伝送し、液晶パネル4000に表示する。トランシーバ回路100は、8段のシフトレジスタからなる保持回路110を有しており、保持回路110に保持されたデータと異なるデータを伝送線路から伝送する際には、第1及び第2の出力回路160A,160Bを用いて、24ビットのデータを伝送線路に出力し、保持回路110に保持されたデータと同じデータを伝送線路から伝送する際には、保持回路の保持場所を示すデータを第2の出力回路160Bから出力する。レシーバ回路200は、第1の保持回路に保持場所を示すデータが伝送されると、保持回路220に保持されたデータを用いて伝送されたデータを復号する。 (もっと読む)


【課題】液晶ディスプレイに用いるカラーフィルタ等のように周期パターンを持つ部品に対し、数値的一定基準にてムラ欠陥を検査できるようにすることを課題とする。
【解決手段】部品の画像輝度データから、画像輝度分布データを作成することによって画像輝度データを規格化し、規格化された画像輝度データが、1つのしきい値よりも小さいか又はもう1つのしきい値よりも大きいところをムラ欠陥候補部とし、隣接するムラ欠陥候補部を1つのムラ欠陥候補領域として面積と平均輝度値を算出し、ムラ欠陥候補領域の周辺部をムラ欠陥候補周辺部として平均輝度値を算出し、ムラ欠陥候補領域の面積の大きさ、及びムラ欠陥候補領域とムラ欠陥候補周辺部の平均輝度値の差の大きさから、ムラ欠陥部を検出する。 (もっと読む)


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