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Fターム[5D121HH04]の内容

光記録担体の製造 (9,591) | 検査、試験、評価 (326) | 形状 (62)

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【課題】再現性がよく、効率的で精度の高い光記録媒体表面の耐クリープ性を評価する試験方法を提供する。
【解決手段】平滑な台座13上に光記録媒体1を載置し、その上に不織布2を置き、更に、前記不織布2を介して前記光記録媒体1に所定時間、所定の荷重を加える荷重工程を有し、前記荷重工程の際の前後において、前記光記録媒体1の記録再生特性を測定することにより、光記録媒体の表面の耐クリープ性を評価する試験方法であって、前記荷重工程において前記光記録媒体1を加熱する。 (もっと読む)


【課題】硬化性に優れ、反りが著しく小さく、かつ圧接痕や凹み等の永久的な変形が充分に抑制された硬化物を与えることができ、より信頼性の高い記録・再生を実現できる光ディスク用硬化性樹脂組成物、及び、それを硬化して得られる硬化物、並びに、このような樹脂組成物を硬化してなる層を有する光ディスクを提供する。
【解決手段】(a)分子中にラジカル重合性不飽和基を2以上有する、ウレタン(メタ)アクリレート化合物、ポリエステル(メタ)アクリレート化合物、エポキシ(メタ)アクリレート化合物、及び、側鎖に(メタ)アクリロイル基を有するオリゴマー又はポリマーからなる群より選択される少なくとも1種の化合物、(b)(a)以外の分子量が100〜500であるカルボキシル基含有(メタ)アクリレート化合物、(c)(a),(b)以外の(メタ)アクリレート化合物、および(d)光重合開始剤を含有する光ディスク用硬化性樹脂組成物を用いること。 (もっと読む)


【課題】
光学的な表面を有する基板の検査方法において、特に、原器あるいはマスターから複製される基板の適切な表面検査方法が開発されていないため、高密度化する記録媒体や光学素子の量産化が遅れている。
【解決手段】
原器あるいはマスターとそれから複製される基板とをそれぞれ反射ミラーとするような構成のマイケルソン型干渉計あるいは、マッハツェンダー型干渉計を構築することにより、原器あるいはマスターから反射する位相情報を含む光と、検査対象から反射する光とが干渉し干渉縞を観測する。干渉縞を解析することにより、原器あるいはマスターの表面が有する特定の光学的構造と、検査対象の表面構造との差異を観測することができ、検査対象の表面状態を検知することが可能となる。 (もっと読む)


【課題】基板の裏面からの反射光の影響を受けない光ディスクの表面評価方法とその評価方法を実現することができる表面評価装置を提供する。
【解決手段】干渉計100が被測定物である光ディスク基板150の表面に対して計測光の光軸が傾斜角Φで傾斜するように設置されている。一方、回折光DFは基板150の表面から伸びる仮想垂線VLに対してΦの角度で出射される。Φ=Φとなるように干渉計100の傾斜角を設定すると、干渉計100に回折光DFが入射されるようになる。回折光DFと参照光RFとの干渉によって生じた干渉縞を観測することにより表面の凹凸を評価する。 (もっと読む)


【課題】 サーボ信号に基づく評価値を用いて光ディスクの光透過層の表面の評価を行う際に、サーボ残差とデータ復号エラーの発生量との相関関係が低いために評価の精度が低いという課題を解決する。
【解決手段】 フォーカスまたはトラッキングのサーボ信号を検出し、検出された前記サーボ信号とその検出時間から前記サーボ信号の推移を検出し、前記サーボ信号の推移から得られたピークのうち、所定の閾値を超えた部分について、前記所定の閾値からのピーク高さをその継続時間と線速度との積で算出される距離で積分し、積分によって得られた積分値を合計して評価値を算出し、該評価値とデータ復号エラーの発生量との相関関係に基づいて、前記光ディスクの光透過層の表面の凹凸を評価する。 (もっと読む)


【課題】光ディスクそのものが入手できない場合においても、不具合が生じた光ディスクの不具合の原因を特定する技術を提供する
【解決手段】追記又は書換が可能である光記録媒体は、ロット番号を記録する領域を有する。又、光記録媒体記録再生装置は、光記録媒体の所定領域に記録されたロット番号を再生し、ロット番号を記憶する。又、光記録媒体の解析方法は、不具合が生じた光ディスクのロット番号を通報する通報処理と、不具合を知らせる対象を選択する通知対象の選択処理と、ロット番号に基づき不具合の解析をおこなう解析処理と、を有する。このように、光記録媒体にロット番号が付与されているので、このロット番号に基づき、光記録媒体に不具合が生じた場合に容易にその解析を行うことができる (もっと読む)


【課題】 波長による屈折率の変化、つまり波長の関数で屈折率を反映したスペクトルを高速フーリエ変換を通じて得られた干渉空間での反射光のピーク値の位置を通じて、速やかな分析速度および高精密度を有した光ディスクの厚さ測定方法を提供すること。
【解決手段】 光の波長の長さによる反射光の強度を波長別スペクトルデータとして検出する段階と、前記検出された波長別スペクトルデータを波長の関数として屈折率を反映したスペクトル値に変換処理する段階と、前記変換処理された値を高速フーリエ変換を通じて光ディスクの厚さを表す間接空間の長さに変換処理して反射光の強度がピーク値を有する位置をそれぞれスペーサーレイヤーおよびカバーレイヤーの厚さとして検出する段階とを含むことを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】多数の光ディスクを検査する場合において、検査結果の情報と、検査結果に対応する光ディスクとを簡易に対応付けすることが可能な光ディスク検査システムを提供すること。
【解決手段】光ディスクを検査して検査結果を記録する光ディスク検査システムにおいて、光ディスクを検査する検査手段(光ディスク検査装置50)と、得られた検査結果データを取得する取得手段(パーソナルコンピュータ30)と、光ディスクに付された識別情報を含む画像を撮像する撮像手段(撮像装置40)と、検査結果データに対して、画像データを対応付けて格納する格納手段(パーソナルコンピュータ30)と、検査結果データに対する閲覧要求がなされた場合には、検査結果データに対応付けされた画像データを格納手段から取得して呈示する呈示手段(サーバ装置)と、を有する。 (もっと読む)


【課題】少なくとも第一誘電体層、記録層、第二誘電体層、反射層を有する光記録媒体の製造過程において、膜厚が所定の範囲から外れた不良媒体の、シンプルかつ低コストな検査方法を提供すること。
【解決手段】等間隔に溝が形成された基板上に、少なくとも第一誘電体層、記録層、第二誘電体層、反射層を有する光記録媒体に光を照射し、その反射光を測定することにより、基板と反射層との両層間に挟まれた各層の膜厚を検知して光記録媒体を検査する方法であって、上記膜厚検知手段が、各層の膜厚によりシフトする回折ピーク波長を測定する手段であることを特徴とする上記方法。 (もっと読む)


【課題】特に高密度の再生専用光ディスクにおいて成型時のピットずれが生じることを防止する。
【解決手段】スタンパは、ディスクのインフォメーションエリア以外の領域として、少なくともディスク外周側にダミーピット等のダミー凹凸形状(外周ダミーエリアOdm)を形成するような凹凸パターンを備えるようにする。また加えてディスク内周側にもダミー凹凸形状(内周ダミーエリアIdm)を形成するようにしてもよい。このようなスタンパを用いて再生専用光ディスクとしてのディスク基板を製造することで、インフォメーションエリアのピットとしてピットずれが発生しない再生専用光ディスクを製造する。また、ディスク基板の成形金型の面を梨地状とし、ディスク基板のレーベル面側が梨地状となるようにする。 (もっと読む)


【課題】確実かつ容易に皺の有無を検査し得る情報記録媒体製造方法を提供する。
【解決手段】情報記録媒体用基材の一面側に形成された情報層を覆うようにして光透過性樹脂シート103sを貼付することによって樹脂層を形成して情報記録媒体を製造する際に、光透過性樹脂シート103sの貼付に先立ち、光透過性樹脂シート103sをガイドローラ31に沿わせて円弧状に折り曲げた状態で走行させつつ、光透過性樹脂シート103sのガイドローラ31によって折り曲げられている曲面部位に向けてレーザービーム40を照射すると共に曲面部位で反射されたレーザービーム40aの反射光量を測定し、その測定結果に基づいて光透過性樹脂シート103sに皺が生じていないと検査した部位を情報層に貼付する。 (もっと読む)


スピンコーティングを経てコーティングされる基板の製造に使用するための、環状若しくは多角形状の予備部材を有するスピンコート装置が提供されており、ここで予備部材は、コーティングのための基板の側面に、空間距離で0.03〜0.8mmの範囲で、0.1mm以下の高さにおけるずれの範囲で基板に取り付けられた状態で、隣接して配置されている。コーティング用の基板の表面が本発明の装置を使用してコーティング剤でスピンコートされるとき、スピンコーティングが行われたときに生じる、コートされる基板の端部におけるスキージャンプ(ski−jump)現象を消失させる、又は軽減することができ、よって基板上のコーティング剤の均一なコーティングができ、また、残留するコーティング剤の流入又は滞留によるコーティング用の基板の汚染を効果的に減少することが可能である。
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光ディスクのティルトを修正し、制御するためのティルト管理装置(3)が開示されており、この装置は、光ディスク(9)を支持するための支持部材(2)と、光ディスク(9)の少なくとも一部を支持部材(2)に向かって引き付ける、及び/又は押し付ける力を光ディスク(9)に加え、よってディスク(9)のティルトを修正するための力印加手段と、力を変化させ、よってディスク(9)のティルトを変化させるための制御装置とを備えている。光ディスク(9)のティルトを修正し、制御するためのティルト管理方法は、光ディスク(9)を支持部材(2)上に載置するステップと、光ディスク(9)の少なくとも一部を支持部材(2)に向かって引き付ける、及び/又は押し付けるための力をディスク上に印加し、よってディスク(9)のティルトを修正するステップと、ディスク(9)のティルトを変化させるために、力を変化させるステップとを備えている。本発明のティルト管理方法とティルト管理装置(3)とによれば、光ディスク(9)は、ゼロとは異なる所定のティルト値を有して生産することができる。例えば紫外線照射による接着などのディスクのセットアップの直前及び/又は設定の間に、ディスク(9)に印加される力を変化させることによって、光ディスク(9)のティルトを変化させることができる。本発明のティルト管理方法とティルト管理装置(3)とによれば、例えばディスク(9)の基板間に広げられた紫外線硬化型接着剤の硬化を通じたディスクの結合などのディスクのセットアップの間に、光ディスク(9)に予備応力を与えることができる。
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