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Fターム[5F041CA54]に分類される特許

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【課題】低減された順方向電圧のIII族窒化物半導体レーザ素子を提供する。
【解決手段】p型クラッド層におけるp型ドーパントの濃度がn型不純物の濃度より大きくなるように、p型クラッド層はp型ドーパント及びn型不純物を含む。p型クラッド層のバンドギャップより大きい励起光を用いた測定によるフォトルミネセンス(PL)スペクトルは、バンド端発光及びドナーアクセプタ対発光のピークを有する。このPLスペクトルにおけるバンド端発光ピーク値のエネルギE(BAND)と該PLスペクトルにおけるドナーアクセプタ対発光ピーク値のエネルギE(DAP)との差(E(BAND)−E(DAP))は、当該III族窒化物半導体レーザ素子11の順方向駆動電圧(Vf)と相関を有する。このエネルギ差(E(BAND)−E(DAP))が0.42eV以下であるとき、III族窒化物半導体発光素子の順方向電圧印加に係る駆動電圧が低減される。 (もっと読む)


【課題】グラフェン発光素子及びその製造方法を提供する。
【解決手段】グラフェン発光素子及びその製造方法に係り、該グラフェン発光素子は、p型ドーパントがドーピングされたp型グラフェンと、n型ドーパントがドーピングされたn型グラフェンと、発光する活性グラフェンと、が水平配列されている。 (もっと読む)


【課題】第2電極の特にカバーメタルを高い信頼性、高い精度をもって形成することを可能とする半導体発光素子の製造方法を提供する。
【解決手段】半導体発光素子の製造方法において、積層構造体20を構成する第2電極30を、(a)第2化合物半導体層22上に、銀を含む第1層31及びアルミニウムを含む第2層32から構成された第2電極構造体33を形成した後、(b)第2電極構造体33にジンケート処理を施して、第2電極構造体33上に亜鉛層34aを析出させ、次いで、(c)第2電極構造体に無電解ニッケルメッキを施す各工程に基づき形成する。 (もっと読む)


【課題】駆動電圧を低減することができる窒化物半導体発光素子を提供する。
【解決手段】基板1と基板上に形成された、第1のn型窒化物半導体層2と、発光層3と、p型窒化物半導体層4と、p型窒化物半導体トンネル接合層5と、n型窒化物半導体トンネル接合層6と、n型窒化物半導体蒸発抑制層7と、第2のn型窒化物半導体層8とを含み、n型窒化物半導体トンネル接合層6はInを含んでおり、n型窒化物半導体トンネル接合層6は該n型窒化物半導体トンネル接合層6よりもバンドギャップの大きいn型窒化物半導体蒸発抑制層7と接しており、n型窒化物半導体トンネル接合層6とn型窒化物半導体蒸発抑制層7との界面と、p型窒化物半導体トンネル接合層5とn型窒化物半導体トンネル接合層6との界面と、の最短距離が40nm未満であり、n型窒化物半導体トンネル接合層中のn型ドーパントの濃度が5×1019/cm3未満の窒化物半導体発光素子である。 (もっと読む)


【課題】結晶材料としてAlGaInNを用いた発光層の内部量子効率の向上を図れる窒化物半導体発光素子を提供する。
【解決手段】発光層6における障壁層6bとしての第1の窒化物半導体層が、成長時に第1の不純物であるSiが濃度A(例えば、5×1016cm-3)で意図的に添加されたAlaGabIn(1-a-b)N層(0<a<1、0<b<1、1−a−b>0)からなるとともに、井戸層6aとしての第2の窒化物半導体層が、成長時に第2の不純物であるSiが濃度B(0≦B<A)で意図的に添加され第1の窒化物半導体層よりもAlの組成の小さなAlcGadIn(1-c-d)N層(0<c<1、0<d<1、1−c−d>0)からなり、第1の窒化物半導体層の意図的に添加しない酸素の濃度が第2の窒化物半導体層の意図的に添加しない酸素の濃度よりも低くなっている。 (もっと読む)


【課題】良好な表面モフォロジを有する窒化ガリウム系半導体膜を含むIII族窒化物半導体素子を提供する。
【解決手段】III族窒化物半導体光素子11aは、III族窒化物半導体支持体13、GaN系半導体領域15、活性層17及びGaN系半導体領域19を備える。III族窒化物半導体支持体13の主面13aは、基準軸Cxに直交する基準平面Scに対して傾斜する非極性を示しており、基準軸CxはIII族窒化物半導体のc軸方向に延びる。GaN系半導体領域15は半極性主面上13aに設けられる。GaN系半導体領域15のGaN系半導体層21は例えばn型GaN系半導体からなり、n型GaN系半導体にはシリコンが添加されている。GaN系半導体層23の酸素濃度が5×1016cm−3以上であるとき、GaN系半導体層23の主面上に引き続き成長される活性層17の結晶品質が良好になる。 (もっと読む)


【課題】エピタキシャル層と基板との界面における電気抵抗の低減がはかられた化合物半導体基板及びその製造方法を提供する。
【解決手段】化合物半導体基板10は、III族窒化物で構成され、化合物半導体基板10の表面の表面層12に、Cl換算で200×1010個/cm以上12000×1010個/cm以下の塩化物及びO換算で3.0at%以上15.0at%以下の酸化物が含まれるときに、化合物半導体基板10とその上に形成されるエピタキシャル層14との間の界面のSiが低減され、その結果界面における電気抵抗が低減される。 (もっと読む)


【課題】優れた導電性および光特性を有するナノワイヤーを提供する。
【解決手段】コア部とシェル部とからなるシリコンリッチ酸化物を含むナノワイヤーであって、コア部は、結晶性または非晶性のシリコンリッチ酸化物を含み、前記シェル部は、シリカを含む。また、ナノワイヤーの縦軸に沿って、コア部は一列に整列した複数の金属(金、ニッケル、鉄、銀、アルミニウムおよびパラジウムからなる群より選択される少なくとも1種の金属)ナノドットを含み、シェル部はシリコン量子ドットを含む。また、シリコン基板上に金属触媒をコーティングする工程、チャンバーまたはマイクロチャンバーを準備する工程、および前記チャンバーまたは前記マイクロチャンバー内に気体を注入しながら加熱して、前記シリコン基板から拡散または気化したナノワイヤー源を用いてナノワイヤーを形成させる工程、を含む。 (もっと読む)


【課題】p安定化降下電圧(ΔVf)が良好な発光素子及びその製造方法を提供する。
【解決手段】GaAs基板上にAlGaInPからなる4元発光層を有機金属気相成長法によりエピタキシャル成長させる工程と、4元発光層の基板と反対側となる片方の主表面(第一主面)にp型GaPからなる第一の電流拡散層を気相成長させる工程と、GaAs基板を除去する工程と、GaAs基板が除去された側の発光層の主表面(第二主面)にn型GaPからなる第二の電流拡散層をハイドライド気相成長法によりエピタキシャル成長させる工程とを有する発光素子の製造方法において、少なくとも、GaAs基板を除去する工程の後、n型GaPからなる第二の電流拡散層をハイドライド気相成長法によりエピタキシャル成長させる工程の前に、HVPE炉内に水素を線速12(m/min)以上で流しながら熱処理する工程を有する。 (もっと読む)


【課題】n型のキャリア濃度を低減できるIII−V族化合物半導体の製造方法、ショットキーバリアダイオード、発光ダイオード、レーザダイオード、およびそれらの製造方法を提供する。
【解決手段】III−V族化合物半導体の製造方法は、III族元素を含む原料を用いた有機金属気相成長法によってIII−V族化合物半導体を製造する方法である。まず、種基板を準備する準備工程(S10)を実施する。そして、III族元素を含む原料として0.01ppm以下のシリコンと、10ppm以下の酸素と、0.04ppm未満のゲルマニウムとを含む有機金属を用いて、種基板上にIII−V族化合物半導体を成長させる成長工程(S20)を実施する。 (もっと読む)


【課題】p型第二電流拡散層のp型第一電流拡散層との界面近傍における汚染の少ない、順方向電圧が良好な発光素子及びその製造方法を提供することを目的とする。
【解決手段】少なくとも、GaAs基板上にAlGaInPからなる4元発光層をエピタキシャル成長させる工程と、成長させた4元発光層上にp型第一電流拡散層を有機金属気相成長法によりエピタキシャル成長させる工程と、成長させたp型第一電流拡散層上にp型第二電流拡散層をハイドライド気相成長法によりエピタキシャル成長させる工程とを有する発光素子の製造方法であって、少なくとも、p型第一電流拡散層を有機金属気相成長法によりエピタキシャル成長させる工程の後、p型第二電流拡散層をハイドライド気相成長法によりエピタキシャル成長させる工程の前に、HVPE炉内に水素を線速12(m/min)以上で流しながら基板を熱処理する工程を有する発光素子の製造方法を提供する。 (もっと読む)


【課題】 発光ダイオードなどの発光装置において、半導体発光素子の表面に屈折率傾斜を有する光透過層を設けて、全反射による発光量の損失を低減する。
【解決手段】 サファイア基板2の上にGa−Nを主体として半導体発光素子10と電極3,4が設けられている。半導体発光素子10の表面には、光透過層20が設けられている。この光透過層20はCVD法で形成され、光透過層20の内部では、半導体発光素子10に近づくにしたがって、酸素の濃度が減少し、且つ窒素の濃度が上昇している。よって、光透過層20は、半導体発光素子10から離れるにしたがって、屈折率が徐々に小さくなっている。 (もっと読む)


【課題】多重量子井戸構造を有する発光素子を提供する。
【解決手段】本発明による発光素子は、基板と、n型窒化物半導体層と、p型窒化物半導体層と、n型窒化物半導体層とp型窒化物半導体層との間に位置する発光層とを含む。そのうち、前記発光層は、n型ドーパントがドーピングされる多重量子井戸構造層であり、前記n型ドーパントは、前記n型半導体層に接近する区域と前記p型半導体層に接近する区域とにドーピングされ、当該両区域の間の中間区域は、前記n型ドーパントを有せず、或いは、その両側の区域における前記n型ドーパントの濃度より低い前記n型ドーパントを有する。よって、n型ドーパントのドーピング分布を設計することにより電気特性が良好な素子を得ることができるのみならず、発光ダイオードの発光効率をより有効に向上することもできる。 (もっと読む)


本発明は、LEDおよびLD波長を色のスペクトルの黄色および赤色部分に付勢する、現在従来的に利用可能なものよりもインジウムの組成がより優れた、InGaNの成長を可能にする。より高温でインジウムとともに成長する能力は、より高品質のAlInGaNにつながる。このことはまた、新規の分極を用いたバンド構造設計を可能にして、より効率的なデバイスを作製する。加えて、それは、デバイス性能を向上させる、伝導度が増加したp−GaN層の製造を可能にする。
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【課題】高輝度化および低出力化を図ることが可能な半導体発光素子を提供すること。
【解決手段】InGaNを含む井戸層31、および井戸層31を挟みかつInGaNまたはGaNを含むバリア層32を有する量子井戸構造とされた活性層3と、活性層3を挟むn−GaN層2およびp−GaN層4と、を備える半導体発光素子Aであって、井戸層31の全体と、バリア層32のうちp−GaN層4寄りのドープ部32aとには、Siがドープされており、バリア層32のうちn−GaN層寄りのアンドープ部32bは、アンドープとされている。 (もっと読む)


【課題】p型半導体層の特性を良好にすると共に活性層の劣化を抑制できる、窒化物半導体発光素子を作製する方法を提供する。
【解決手段】窒化物半導体発光素子を作製する方法において、貫通転位密度1×10cm−2以下の領域を有しており導電性を示す窒化ガリウム基板11上に、InAlGa1−X−YN(0.01≦X<1、0≦Y<1)からなる半導体層を含んでおり325nm以上550nm以下の波長範囲にピーク波長を有するように活性層17を形成する。この後に、摂氏800度以上摂氏950度以下の範囲内にある成膜温度でp型AlGa1−ZN(0<Z≦1)膜23を活性層17上に成長する。 (もっと読む)


【課題】高電気伝導度を有する結晶基板を備えた窒化物系半導体素子及びその製造方法を提供する。
【解決手段】n型酸化亜鉛からなる第1の基板と、前記第1の基板上に設けられた窒化物系半導体からなるp型低抵抗層と、前記p型低抵抗層上に成長され、窒化物系半導体からなる積層体と、を備え、前記第1の基板と前記p型低抵抗層とは実質的にオーミックコンタクトを形成することを特徴とした窒化物系半導体素子が提供される。 (もっと読む)


【課題】反射率ならびに光反射層および半導体層の電気的な接触性がいずれも高い半導体発光素子を提供する。
【解決手段】基板10上に、半導体層20、光反射層30および保護層31をこの順に積層して構成されたものである。半導体層20は、バッファ層21、GaN層22、n型コンタクト層23、n型クラッド層24、活性層25、p型クラッド層26およびp型コンタクト層27をこの順に積層して構成される。光反射層30は、例えば100℃以上400℃未満の範囲内の温度で基板10を加熱しつつ、Ag合金をp型コンタクト層27の表面に堆積させることにより形成されたものである。これら半導体層20、光反射層30および保護層31は、当該半導体層20、光反射層30および保護層31が形成されたのち、所定の時間範囲内の時間の間、雰囲気の温度を基板加熱時の温度範囲よりも高い温度範囲内の温度にして熱処理されたものである。 (もっと読む)


【課題】動作電圧を下げ且つ電流分散効果を向上させ、銀のような反射物質によって電流が漏れる現象を最小限に抑えられる窒化物系半導体発光素子及びその製造方法を提供する。
【解決手段】n型電極と、前記n型電極に接するように形成されているn型窒化物半導体層120と、前記n型窒化物半導体層上に形成されている活性層130と、前記活性層上に形成されているp型窒化物半導体層140と、前記p型窒化物半導体層上に形成されているアンドープGaN層210と、前記アンドープGaN層上に形成され、該アンドープGaN層との接合界面に2次元電子ガス層を提供するAlGaN層220と、前記AlGaN層上に形成されている反射層150と、前記反射層を取り囲む形状に形成されている障壁層300と、前記障壁層上に形成されているp型電極170を含む窒化物系半導体発光素子及びその製造方法を提供する。 (もっと読む)


【課題】 酸素をn型ドーパントとして取り込むことができる窒化ガリウム単結晶の成長方法を提供すること。
【解決手段】 C面以外の面を表面(上面)にもつ種結晶を用いて、ガリウム原料と窒素原料とドーピングすべき酸素を含む原料ガスを供給しながらC面以外の表面を保ちつつ窒化ガリウム結晶を気相成長させることにより当該表面を通して窒化ガリウム結晶中に酸素をドーピングする。または、C面を表面にもつ種結晶を使って、ガリウム原料と窒素原料とドーピングすべき酸素を含む原料ガスを供給しながらC面以外のファセット面を発生させ当該ファセット面を保ちつつ窒化ガリウム結晶をc軸方向に気相成長させることによりファセット面を通して窒化ガリウム結晶中に酸素をドーピングする。 (もっと読む)


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