説明

Fターム[5F043AA15]の内容

ウェットエッチング (11,167) | 被エッチング体 (2,299) | 半導体基板以外の半導体層 (313) | 単層構造 (281) | 3−5族 (163) | In−P系 (15)

Fターム[5F043AA15]に分類される特許

1 - 15 / 15


【課題】本発明は、Br−アルコール液を有するエッチング液のエッチングレートを安定させることができる半導体装置の製造方法を提供することを目的とする。
【解決手段】本願の発明に係る半導体装置の製造方法は、Brをアルコールで希釈した溶液に、該アルコールよりも比重が小さく、かつ該アルコールに難溶解性の液体である封止液を加えたエッチング液に、ウエハを浸漬させて該ウエハをエッチングするエッチング工程を備えたことを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】バットジョイント構造を構成する第1及び第2の半導体積層部上に成長する半導体層に生じる結晶欠陥を低減する。
【解決手段】エッチングマスク30を用いて第1の半導体積層部20にエッチングを施す工程と、Alを含む光吸収層42、及び光吸収層42上に設けられるInPクラッド層44を有する第2の半導体積層部40を、エッチングマスク30を用いて選択的に成長させる第1の再成長工程と、エッチングマスク30を除去するマスク除去工程と、第1及び第2の半導体積層部20,40上に第3の半導体積層部を成長させる第2の再成長工程とを行う。第1の再成長工程において、InPに対してエッチング選択性を有するInP系化合物半導体を含むキャップ層46を第2の半導体積層部40上に更に成長させる。マスク除去工程の前に、エッチングマスク30上に生じたInP系堆積物Deを除去する。 (もっと読む)


【課題】エッチングにより、適切に、エッチング対象物の表面に凹凸形状を形成して粗面化を行うことができるエッチング液組成物を提供する。
【解決手段】エッチング液組成物は、エッチング対象物の表面16をエッチングして凹凸形状を形成するエッチング液組成物であって、有機酸、有機酸塩、無機酸、無機酸塩、キレート剤、界面活性剤、糖アルコール類、フェノール類、アゾール類、および複素環化合物からなる群から選択される少なくとも一つと、酢酸と、フッ化水素酸と、硝酸とを含む。 (もっと読む)


【課題】パッシブ素子の特性の設計値からの低下を抑制することができる光集積素子の製造方法を提供すること。
【解決手段】基板上に、活性コア層を含む半導体積層構造で形成された、アクティブ素子を形成するためのアクティブ領域と、パッシブコア層を含む半導体積層構造で形成された、パッシブ素子を形成するためのパッシブ領域とを形成し、アクティブ領域とパッシブ領域とに被覆部と開口部とを有する第1エッチングマスクを形成し、アクティブ領域およびパッシブ領域において開口部からドライエッチングを行い、アクティブ領域にアクティブ素子のアクティブメサ構造を形成するとともにパッシブ領域にパッシブ素子のパッシブメサ構造を形成し、パッシブ領域に第2エッチングマスクを形成し、パッシブメサ構造を第2エッチングマスクにて保護しながらアクティブメサ構造をウェットエッチングする、ことを含む。 (もっと読む)


【課題】本発明は光電素子及びその製造方法を提供する。
【解決手段】本発明による光電素子であって、表面及び表面と垂直する法線方向を有する基板と、基板の表面に位置して表面と接触する第一半導体層と、第一半導体層と基板の表面の間に位置する少なくとも一つの空洞構造とを有し、少なくとも一つの空洞構造は幅と高さを有し、幅は空洞構造における表面に平行する方向の最大寸法であり、高さは空洞構造における法線方向に平行する方向の最大寸法であり、高さは幅より小さい。 (もっと読む)


エピタキシャルリフトオフを用いる、フレキシブル光電(PV)デバイス等の感光性デバイスの製造方法が開示される。同様に、成長用基板を有する構造を含むフレキシブルPVデバイスを製造する方法が開示され、この方法では、保護層の選択的エッチングにより、再利用に好適な平滑な成長用基板が得られる。 (もっと読む)


【課題】発光素子表面を粗面化して光出力を向上させるとともに、静電気による故障発生率を低減させた発光素子の製造方法を提供する。
【解決手段】GaAsと格子整合し、AlGaInPにて表される組成を有する化合物にて各々構成された第一導電型クラッド層、活性層及び第二導電型クラッド層がこの順序で積層されたダブルへテロ構造を有し、第二導電型クラッド層上に積層された透明半導体層とを有する発光素子ウェーハをダイシングすることで発光素子チップを形成し、その表面を、酢酸と弗酸と硝酸とヨウ素と水とを、その合計が90質量%以上となるように含有し、酢酸と弗酸と硝酸とヨウ素との合計質量含有率が水の質量含有率よりも高い第一のエッチング液にて第一のエッチング工程を行い、その後、等方性エッチング液を用いて発光素子チップ表面のエッチング取り代が0.12μm以下の第二のエッチング工程を行うことを特徴とする発光素子の製造方法。 (もっと読む)


【課題】
隣接するAs系半導体層からのAsの拡散を防止できるP系化合物半導体層を成長する。
【解決手段】
化合物半導体装置の製造方法は、(a)化合物半導体基板上方に、第2のAs系化合物半導体層、第3のAs系化合物半導体層を形成する工程と、(x)第3のAs系化合物半導体層の上に、As濃度5×1017atoms/cm〜3×1019atoms/cmの範囲のAsをドーピングしつつ、V族元素がPである第1のP系化合物半導体層を形成する工程と、(y)第1のP系化合物半導体層の上にV族元素がAsである第1のAs系化合物半導体層を形成する工程と、を含む。 (もっと読む)


【課題】 素子の光取出面積をより拡大することができ、ひいては光取出効率の更なる向上を図ることができる発光素子を提供する。
【解決手段】 発光素子を構成する積層体の、光取出面をなす一方の主表面に有底孔LPを分散形成し、その有底孔LPの内面に異方性エッチング処理による微細な面粗し突起部を分散形成する。光取出面を平坦に形成する場合と比較して、面粗し対象面の総面積が有底孔LPを形成する分だけ増大し、これにさらに面粗し突起部Fを重畳形成することによって、面粗し突起の総形成量を増加させることができる。その結果、異方性エッチングによる面粗し処理のみを行なう従来の手法と比較して、素子の光取出面積をより拡大することができ、ひいては光取出効率の更なる向上を図ることができる。 (もっと読む)


【課題】 エッチング量を工程内で測定し、フィードバックをかけることにより、エッチング量のばらつきを無くすことを実現する。
【解決手段】 半導体層が選択エッチングされることにより半導体素子が形成される半導体素子領域と、前記半導体層と同じ材質からなり、前記半導体素子が選択エッチングされた量を検査するモニタ用半導体素子が設けられたモニタ領域とを有することを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】III−V族半導体基板からバルク金属汚染を除去するための単一工程の方法を提供する。
【解決手段】該方法は、金属汚染したIII−V族半導体基板を、体積比x:y HSO:H(xは3〜9、yは1)を有する硫酸および過酸化物の混合物の中に浸漬することを含む。本発明の実施形態に係る方法を用いてIII−V族半導体基板を処理した後、バルク金属汚染は、基板からほぼ完全に除去できるとともに、処理後の基板の表面粗さは、2μm×2μmの表面グリッドに関して0.5nmRMS未満とすることができる。本発明は、半導体デバイスを製造する更なる処理ステップを実施する前に、本発明の実施形態に係るバルク金属汚染を除去する方法を用いて、半導体デバイスを製造するための方法を提供する。 (もっと読む)


【課題】 InP基板、GaAs基板などの化合物半導体ウエハーの上に薄膜をエピタキシャル成長させたエピタキシャルウエハーを、デバイスを作製するためのプロセス工程で処理するとウエハーが30%〜40%の高率で割れる。プロセス工程でのエピウエハーの割れを防止すること。
【解決手段】 エピタキシャルウエハーの外周部を除去し、外周の面取り部にできた異常成長隆起部を取り除く。エピタキシャルウエハーの厚みをtとして、エピタキシャル層を周辺部からq=t〜5tの幅で除去し、基板の表面を露呈するようにする。 (もっと読む)


【課題】製品の信頼性と高性能を増進することを可能にする金属拡散接合による発光ダイオード及びその製造法を提供する。
【解決手段】第二導電型電極32の上に形成される第二導電型永久性基板30と、永久性基板30の上に形成されるオーム接触金属層と、オーム接触金属層の上に形成される金属拡散接合層と、金属拡散接合層40の上に形成されるオーム接触面25と、オーム接触面25の上に形成され、その頂面が粗面化されたAlInGaP半導体エピタキシー層20と、オーム接触面25とAlInGaP半導体エピタキシー層20の底面との間の部分的な表面に配置される絶縁透明層24と、AlInGaP半導体エピタキシー層20の第一導電型の第一束縛層21の部分的な表面の上に形成され、かつ絶縁透明層24に対応する位置の上方に配置される第一導電型電極50と、を有する。 (もっと読む)


【課題】 インジウム含有ウエハの特性を精度よく測定することができかつ非破壊試験である水銀C−V法を適用可能とするために、水銀除去を確実に行なうことのできるインジウム含有ウエハを提供する。
【解決手段】 本発明にかかるインジウム含有ウエハは、表面に付着した水銀を除去する目的で最外表面層に形成された付加的な化合物半導体からなる水銀除去層を有することを特徴とする。ここで、水銀除去層として、化学的水銀除去層または物理的水銀除去層を用いることができる。さらに、2層以上の水銀除去層を設けることもできる。 (もっと読む)


所望のワイヤ径(d)を有する半導体ナノワイヤ群(10)を製作する方法は、少なくとも1つの予め製作された半導体ナノワイヤは所望のワイヤ径(d)よりも大きいワイヤ径(d’)を有する、予め製作された半導体ナノワイヤ群(10’)を提供する工程と、少なくとも1つの予め製作されたナノワイヤ(10’)のワイヤ径をエッチングによって小さくする工程とを備え、このエッチングは少なくとも1つの予め製作されたナノワイヤ(10’)によって吸収される光によって誘起され、この少なくとも1つの予め製作されたナノワイヤが所望のワイヤ径(d)に達したときに、この少なくとも1つの予め製作されたナノワイヤの吸収がかなり小さくなるように、この光のスペクトルが選択される。電子デバイス(100)は、所望のワイヤ径(d)を有するナノワイヤ群(10)を備えてもよい。装置(29)は本発明による方法を実行するのに使用され得る。
(もっと読む)


1 - 15 / 15