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Fターム[5F045EB14]の内容

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Fターム[5F045EB14]に分類される特許

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【課題】動作特性に優れた窒化物半導体発光素子を容易に得られる窒化物半導体基板を実現できるようにする。
【解決手段】窒化物半導体基板101は、基板110の主面上に形成された複数の成長阻害領域となるマスク膜120と、基板の主面におけるマスク膜から露出する領域の上に形成された複数の第1の窒化物半導体層111と、各第1の窒化物半導体層111の側面上にのみ成長により形成された複数の第2の窒化物半導体層112と、複数の第1の窒化物半導体層111及び複数の第2の窒化物半導体層112を覆うように成長により形成された第3の窒化物半導体層113とを有している。複数の第2の窒化物半導体層は、成長阻害領域の上において互いに隣り合う半導体層同士が接合しておらず、第3の窒化物半導体層は、第2の窒化物半導体層同士が互いに隣り合う領域において接合している。 (もっと読む)


【課題】活性層にダメージを与えることなく、動作電圧を低下させることを可能にする。
【解決手段】{0001}面から<1−100>方向への第1傾斜角度が0°以上45°以下であってかつ<11−20>方向への第2傾斜角度が0°以上10°以下であり、第1および第2傾斜角度の少なくとも一方が0°ではない基板上に、III−V族窒化物半導体からなるn型層を形成する工程と、n型層上に、III−V族窒化物半導体からなる活性層を形成する工程と、活性層上に、III−V族窒化物半導体からなるp型第1層を形成する工程と、p型第1層上に、少なくともAlを含むIII−V族窒化物半導体を備え、上面が凹凸形状を有する凹凸層を形成する工程と、凹凸層上に、III−V族窒化物半導体からなるp型コンタクト層を形成する工程と、を備え、凹凸層は、p型不純物濃度がp型コンタクト層のp型不純物濃度より低いこと特徴とする。 (もっと読む)


【課題】窒化物半導体デバイス用の半導体積層構造を成長させるために改善されたバッファ層構造を有する基板を製造する方法を提供する。
【解決手段】窒化物半導体層を成長させるためのバッファ層構造を有する基板の製造方法は、Si単結晶基板(1)の(111)主面上において600℃以上900℃以下の範囲内の基板温度で第1のAlNバッファ層(2a)を堆積させ、この第1のAlNバッファ層上において900℃を超える基板温度で第2のAlNバッファ層(2b)を堆積させることを含む。 (もっと読む)


【課題】半導体層の劣化及び破壊を抑制した半導体発光素子、窒化物半導体ウェーハ及び窒化物半導体層の製造方法を提供する。
【解決手段】実施形態によれば、第1半導体層と、発光部と、第2半導体層と、In含有中間層と、を備えた半導体発光素子が提供される。第1半導体層は、シリコン基板の上に下地層を介して形成され、窒化物半導体を含み第1導電形である。発光部は、第1半導体層の上に設けられ、複数の障壁層と、複数の障壁層どうしの間に設けられGa1−z1Inz1Nを含む井戸層と、を含む。第2半導体層は、発光部の上に設けられ、窒化物半導体を含み第2導電形である。In含有中間層は、第1半導体層と発光部との間、及び、第2半導体層と発光部との間の少なくともいずれかに設けられ、上記z1とは異なる組成比でInを含む窒化物半導体を含み、10nm以上1000nm以下の厚さを有する。 (もっと読む)


【課題】IV族基板表面の混合結晶上に結晶性を向上させたIII族窒化物層構造を有する窒化物半導体素子を提供する。
【解決手段】立方晶のIV族基板材料のIV族基板表面を有する基板上にエピタキシャル堆積されている、III族窒化物層構造を有する窒化物半導体素子であって、IV族基板表面が、C2対称性の単位格子を有するが、C2対称性より高度の回転対称性の単位格子は有さない{nml}表面[式中、n、mはゼロ以外の整数であり、かつl≧2]であるようにする。 (もっと読む)


【課題】近赤外域〜遠赤外域にわたって高い受光感度を持ち、製造が容易であり、安定して高品質が得られる、受光デバイス、半導体エピタキシャルウエハ、これらの製造方法、および検出装置を提供する。
【解決手段】III−V族半導体基板と、III−V族半導体基板の上に位置し、(InAs/GaSb)が繰り返し積層された多重量子井戸構造の受光層3とを備え、III−V族半導体基板がInAs基板1であることを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】窒化物化合物半導体を用いたパワーダイオード、パワーMOSFET等のパワー
半導体素子について、クラックフリーで形成されて従来よりも厚い窒化物化合物半導体層
を使用して耐圧を向上することである。
【解決手段】シリコン基板1上に厚さ10μm以上の凸状に選択成長された窒化物化合物
半導体からなるキャリア移動層3と、キャリア移動層3上に形成された電極4とを有し、
1つのパワー半導体素子は1つのキャリア移動層3から構成されている。 (もっと読む)


【課題】立方晶炭化ケイ素と格子定数が異なるシリコン基板上に、結晶欠陥が少なくかつ高品質の立方晶炭化ケイ素膜を有する立方晶炭化ケイ素膜付き基板及びその製造方法を提供する。
【解決手段】本発明の立方晶炭化ケイ素膜付き基板1は、シリコン基板2の表面2aに立方晶炭化ケイ素膜3が形成され、このシリコン基板2の立方晶炭化ケイ素膜3との界面近傍に、シリコン基板2の表面2aから内部に向かって漸次縮小する略四角錐状の空孔4が多数形成されている。 (もっと読む)


【課題】InAlN/GaNヘテロ構造を有し、かつオーミックコンタクト特性の優れた半導体素子用のエピタキシャル基板を提供する。
【解決手段】半導体素子用エピタキシャル基板10Aが、下地基板1と、GaNからなるチャネル層3と、AlNからなるスペーサ層4と、III族元素としてInとAlとGaとを含む障壁層5と、を備え、障壁層が、InxAl1-xN(0<x<1)からなるマトリックス層にGa原子がドープされ、障壁層のGa原子の濃度が1.2×1020cm-3以下であるようにする。 (もっと読む)


【課題】シリコン基板の全表面にわたって均一な厚みを有しかつ品質の安定したSi34へテロエピタキシャルバッファ層を容易にかつ安価に作製する作成方法及び装置を提供する。
【解決手段】シリコン基板を表面再構成可能に清浄化処理し、次いで、前記清浄化処理したシリコン基板上に、誘導結合プラズマ方式のRF(高周波)高輝度(HB)放電により生成した解離窒素原子フラックスおよび励起窒素分子フラックスを照射して表面界面反応によりSi34単結晶膜をエピタキシャル成長させること。 (もっと読む)


【課題】電気的な絶縁性及び良好な熱伝導性を有する中間層を備えた化合物半導体基板の提供。
【解決手段】表面の結晶面方位が{111}面であるSi単結晶基板100と、前記Si単結晶基板100の表面に形成され、AlNで構成された第1層110aと、MgOで構成された第2層110bとが、この順で互いに交互に複数積層された中間層110と、前記中間層110上に形成され、GaN(0001)、AlN(0001)又はInN(0001)のいずれか1種で構成された窒化物半導体単結晶層120と、を備える。 (もっと読む)


【課題】大面積の基板を用いても電気特性が高く信頼性のよい薄膜トランジスタ及び当該薄膜トランジスタを用いた表示装置提案することを課題とする。
【解決手段】基板上にゲート電極を形成する工程と、ゲート電極上にゲート絶縁膜を形成する工程と、ゲート絶縁膜上にプラズマCVD法を用いて微結晶半導体膜を形成する工程と、微結晶半導体膜上に非晶質半導体膜を形成する工程とを設け、微結晶半導体膜を形成する工程において、反応室の圧力を一旦10−5Pa以下とした後、基板の温度を120℃以上220℃以下として水素及び珪素気体を導入してプラズマを生成し、ゲート絶縁膜表面に形成される反応生成物に水素プラズマを作用させて除去しつつ成膜を行うことによって、微結晶半導体膜を形成する。また、プラズマの生成を、HF帯の高周波電力を印加する第1の高周波電力と、VHF帯の第2の高周波電力を重畳して印加して行う。 (もっと読む)


【課題】CVD薄膜形成工程の後工程において、膜質の変質を低減し、また、水素パッシベーションの効果を向上させる。
【解決手段】CVD薄膜形成工程から連続的に基板電極を焼成温度以上に予め加熱することによって、CVD薄膜形成工程の後工程における薄膜の変質を低減すると同時に、基板の粒界および界面、薄膜内部に残る未結合の水素基の反応を促進し、水素終端率を向上させ、これによって形成される太陽電池の発電効率を向上させる。一形態では、多結晶太陽電池のSiN(窒化シリコン)反射膜を形成するCVD装置において、真空チャンバ内に、CVDによるSiN薄膜の形成によって、多結晶シリコン基板上にしてSiN反射膜(窒化シリコン反射膜)を形成するCVD室と、SiN薄膜を形成した後に、CVDのプロセス温度に維持、又はCVD温度のプロセス温度以上に加熱する加熱室を備える。 (もっと読む)


【課題】真空処理中に基板付近で発生するH2Oなどの吸着ガスを効率的に捕捉することで、真空処理条件を安定させ基板の品質の向上を図ることが可能な真空処理装置を提供すること。
【解決手段】真空容器とターゲットと基板と真空排気ポンプと着脱可能でターゲットと対向して配置され、裏面がゲッターである複数のパンチングメタルからなる防着板を有し、防着板裏面のゲッターにて真空処理装置内のH2Oなどの吸着ガスを捕捉することで、効率的な排気が可能となる。 (もっと読む)


【課題】
表面が平坦な、エピタキシャルなZnO薄膜をMOCVDにより成長させることのできる新しい方法を提供する。
【解決手段】
ジアルキル亜鉛有機金属ガスと酸素と原料ガスのMOCVD(有機金属堆積法)によって酸化亜鉛薄膜を成長させる際に、ジアルキル亜鉛有機金属ガスのキャリアガスとして水素含有ガスを用い、かつ、水素含有ガスからなる雰囲気形成ガスによって反応域を還元性雰囲気とし、原料ガスを基板表面上に供給し、基板上を通過した原料ガスは再度基板まで還流しないようにするとともに、レーザー加熱法によって基板温度の周期的な変調を行う。 (もっと読む)


【課題】 従来、半導体製造過程で使用される、結晶成長面を下に向けた結晶成長装置でウエハーに材料ガスを供給する時に、各材料ガスの温度を別々に制御出来るものが無かった。そのため成膜効率、成膜品質を向上させる最適な成膜条件の設定が困難であった。
【解決手段】 結晶成長室内にガス冷却機構とガス加熱機構を設置して、各材料ガスを最適な温度に制御してウエハーに供給する。 (もっと読む)


【課題】勾配シリコン−ゲルマニウム層中の転位密度を低下させること
【解決手段】単結晶シリコン層と、前記層に接する、Si1−xGe組成(その際、xはゲルマニウムの物質量割合を表し、かつxは0<x≦1の条件が通用し、かつxは単結晶シリコン層からの距離aの増大と共により大きな値をとる)を有する厚さdの勾配シリコン−ゲルマニウム層とを有する半導体ウェハにおいて、勾配シリコン−ゲルマニウム層の表面上でのゲルマニウムの物質量割合x(d)と、単結晶シリコン層と前記勾配シリコン−ゲルマニウム層の表面との間の距離の中心でのゲルマニウムの物質量割合x(d/2)との間に、次の関係式x(d/2)>0.5・x(d)が成り立つことを特徴とする、半導体ウェハ。 (もっと読む)


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