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Fターム[5F049PA17]の内容

受光素子−フォトダイオード・Tr (21,418) | 製造方法(工程) (2,065) | 素子分割(ダイシング、スクライブ) (21)

Fターム[5F049PA17]に分類される特許

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【課題】少なくとも一つの活性有機層を備えた電子構成要素を製造する。
【解決手段】有機構成要素を巻回プロセスにて製造し得る方法を最初に開示する。連続的な製造方法は、活性半導体層の活性領域が、製造プロセスの任意の時点にて未保護の溶媒、及び/又は溶媒蒸気に露出されない利点を有している。それによって、高品質の有機構成要素を製造することが可能となる。 (もっと読む)


【課題】 精密な計測が可能なフォトダイオードアレイモジュールを提供する。
【解決手段】 このフォトダイオードアレイモジュールは、第1波長帯域の光に感応する第1フォトダイオードアレイを有する第1半導体基板2と、第2波長帯域の光に感応する第2フォトダイオードアレイを有する第2半導体基板2’と、複数のアンプAMPが形成されると共に第1及び第2半導体基板2,2’が重なることなく横に並べ、各フォトダイオードをバンプを介してアンプAMPに接続した第3半導体基板3とを備えている。第1半導体基板2及び第2半導体基板2’の隣接する端部には、段差部が形成されており、これにより各画素を双方の基板に渡って連続して整列させた場合においても、低ノイズで計測ができるようになる。 (もっと読む)


【課題】製造が容易で、良好な時間的および空間的なコヒーレンスを有し、高い実装密度を有する、バイスペクトル検出器を提供する。
【解決手段】第1の導電型の上側半導体層18および下側半導体層14のスタックであって、上側層18および下側層14の間の電位バリアを形成する中間層16によって分離される、スタックと、第2の導電型の上側半導体領域68および下型半導体領域66であって、半導体領域66が、少なくとも部分的に、上側層および中間層を通過する開口22の底部に位置する、半導体領域66,68とからなる。上側層と下側層の少なくとも1つの上面が、半導体層66,68で全体が覆われる。半導体層66,68を形成するために、スタックの上面から、かつ半導体層66,68の少なくとも厚みを通って、各単位検出要素の周囲で切り欠き62が作られ、半導体層66,68が、半導体層18,14の一方またはもう一方の全体を覆う。 (もっと読む)


【課題】 半導体ウエハとカバー部材を固定するための固定部材とカバー部材との間の気泡の発生を抑制し、信頼性の高い光センサを製造する方法を提供することを目的とする。
【解決手段】 光センサの製造方法は、複数の画素領域を備えた半導体ウエハを準備する工程と、前記半導体ウエハ上に、固定部材によって前記複数の画素領域の各々を囲む格子状の凸部を形成する工程と、前記固定部材による前記格子状の凸部の線幅より狭い幅の格子状の溝及び格子状に配置された複数の貫通孔の少なくとも一方からなるギャップ部を表面に有する透光性基板を準備する工程と、前記固定部材上に通気口を構成するように、前記格子状の凸部と前記ギャップ部とを対向させて前記半導体ウエハと前記透光性基板を固定する工程と、固定された前記半導体ウエハと前記透光性基板を切断し、前記画素領域毎に個片化する工程と、を有する。 (もっと読む)


【課題】短波長における光電変換効率を改善する。
【解決手段】フォトダイオードPDは、受光領域14に照射された光に応じた光電流を生成する。P型の低濃度アノード領域12は、P型半導体基板2に形成される。N型の低濃度カソード領域10は、低濃度アノード領域12の上層に、受光領域14をカバーするように形成される。N型の高濃度カソードコンタクト領域16は、低濃度カソード領域10の表層であって受光領域14より外側の領域に形成される。アノードコンタクト領域20は、高濃度カソードコンタクト領域16よりも外側の領域に、フォトダイオードPDの表層から低濃度アノード領域12に達する深さまで形成される。高濃度カソード領域24は、低濃度カソード領域10の表層に、高濃度カソードコンタクト領域16から受光領域14の中心に延びる方向に形成される。 (もっと読む)


【課題】光電流及び素子抵抗をともに大きくできるようにすること。
【解決手段】本発明の赤外線センサ100は、第1の光吸収層103及び第2の光吸収層106によって吸収された赤外線を光電流に変換するPNダイオードをトンネル接合によって直列接合させた構造である。半導体基板101上に設けられた第1のn型化合物半導体層102と、その上に設けられた第1の光吸収層103と、その上に設けられた第1のp型ワイドバンドギャップ層104と、その上に設けられた第2のn型化合物半導体層105と、その上に設けられた第2の光吸収層106と、その上に設けられた第2のp型ワイドバンドギャップ層107と、その上に設けられたp型キャップ層108と、第1のn型化合物半導体層102上及びp型キャップ層108上に電極110,109を備えている。 (もっと読む)


【課題】 簡単な構成によって、第1の光電変換部と第2の光電変換部との近接、及び第2の光半導体素子に対する気密封止を実現することができる光検出器を提供する。
【解決手段】 光検出器1では、低抵抗Si基板3、絶縁層4、高抵抗Si基板5及びSiフォトダイオード20によって、凹部6内に配置されたInGaAsフォトダイオード30に対する気密封止パッケージが構成されており、低抵抗Si基板3の電気通路部8及び配線膜15によって、Siフォトダイオード20及びInGaAsフォトダイオード30に対する電気的配線が達成されている。そして、Siフォトダイオード20のp型領域22がSi基板21の裏面21b側の部分に設けられているのに対し、InGaAsフォトダイオード30のp型領域32がInGaAs基板31の表面31a側の部分に設けられている。 (もっと読む)


【課題】切断面に互いに異なる導電型の層が積層された界面が存在することによって生じる電気的なノイズを確実に除去ないしは低減することができるという効果を有する裏面照射型撮像素子の製造方法を提供すること。
【解決手段】チップ101の裏面101a側にp型の光電変換層102が設けられ、光電変換層102上にn型の電荷収集層103が設けられ、チップ101の表面101b側の外周縁付近にp型の周辺領域107が設けられ、チップ101の外周面には、p型の光電変換層102にn型の電荷収集層103が積層された界面と、n型の電荷収集層103にp型の周辺領域107が積層された界面とが存在し、これらの界面はステルスダイシングによって破砕層が生じない切断面として形成されたものであって、これらの界面上にp型の被覆層110が設けられている。 (もっと読む)


【課題】クロストークを抑制しつつ、改質領域を形成することによる半導体基板の機械強度の低下を抑制することが可能なフォトダイオードアレイを提供する。
【解決手段】フォトダイオードアレイ1aは、半導体基板3と、半導体基板3の裏面側に並んで配置されていると共に、それぞれが半導体基板3とのpn接合によりフォトダイオードを構成する複数のp型半導体領域5と、を備え、隣接するp型半導体領域5間の領域37には、領域37の所定位置に集光点を合わせてレーザ光を照射することによって、隣接するp型半導体領域5の配置方向に交差する方向に延びて改質領域50が形成され、隣接する4つのp型半導体領域5に囲まれる領域38には、改質領域50が形成されていない。 (もっと読む)


【課題】従来の半導体装置では、接着用樹脂と絶縁層との界面が剥離し、その剥離に起因して接着用樹脂へクラックが発生するという問題があった。
【解決手段】本発明の半導体装置では、最も膜厚が厚くなる配線層25Aが、平坦化処理の施される第4の絶縁層26の下層に配置されることで、第4の絶縁層26表面には、配線層25Aによる段差が大幅に緩和される。そして、第4の絶縁層26上面には膜厚の薄い配線層27Aが配置される。この構造により、パッシベーション膜29表面の窪み領域の段差幅が緩和され、接着樹脂3が局所的に厚くなることを防止し、熱応力による接着樹脂の外観異常が防止される。 (もっと読む)


【課題】ヘテロ接合を形成する積層構造を有するダイオード型の紫外線センサにおいて、より高い感度を得る。
【解決手段】ZnOがNiOに固溶してなる酸化物半導体からなる、(Ni,Zn)O層2と、その一方主面の一部を覆うように形成されるものであって、ZnOを含む酸化物半導体からなる、ZnO層4とを含む積層体5を備え、さらに、(Ni,Zn)O層2に電気的に接続される、第1の端子電極7と、(Ni,Zn)O層2およびZnO層4の双方に電気的に接続される、第2の端子電極8と、第1の端子電極7に電気的に接続されながら、(Ni,Zn)O層2内に形成される、内部電極9とを備える。積層体5には段差11が形成され、上記接合部6は、段差11を生じさせる立ち上がり面12上に露出している。立ち上がり面12は傾斜していることが好ましい。 (もっと読む)


【課題】本発明は、半導体ナノ線に基づく光センサ及びその製造方法に関する。
【解決手段】本発明の一様態による半導体ナノ線光センサは、少なくとも上部が絶縁体からなる基板と、上記基板上に所定間隔で分離され形成された2つの電極と、上記各電極上に形成された金属触媒層と、上記各電極上の金属触媒層から成長された可視光帯域の半導体ナノ線を含む。上記2つの電極の金属触媒層上に成長された両側の半導体ナノ線が上記2つの電極の間で上記基板と離隔され互いが空中で接触する構造で連結されている。 (もっと読む)


【課題】外部ストレスによる亀裂、ヒビ、カケなど外観上の不良を低減された半導体装置を提供することを課題の一とする。また、薄型化された半導体装置の製造歩留まりを向上させることを課題の一とする。
【解決手段】複数の半導体集積回路が固着された繊維体に有機樹脂が含浸された構造体を有する。複数の半導体集積回路はそれぞれ構造体に形成された開口に設けられ、光電変換素子と、側面に段差を有し幅寸法は段差よりも一方の面に向かう先の部分が小さい透光性基板と、透光性基板の他方の面に設けられた半導体素子層と、透光性基板の一方の面及び側面の一部を覆う有彩色の透光性樹脂層とを含む。複数の半導体集積回路において、有彩色の透光性樹脂層の色が異なる。 (もっと読む)


【課題】 半絶縁性半導体基板をドライエッチングで加工後、選択エピタキシャル技術を用いることにより、素子を形成すると共に、メサエッチングを行わずに素子分離を実現する。
【解決手段】 共通の基板上に複数の半導体素子を形成すると共に、所定の間隔で分割することにより、独立した複数の半導体素子を形成する半導体装置製造方法において、前記基板として絶縁基板を使用し、この基板表面に絶縁膜を形成し、前記複数の半導体素子を形成する領域に対応した前記絶縁膜を取り除くステップと、前記基板を異方性エッチングにより、任意の深さまで取り除き、素子部を成長させる基板部と複数の素子間に介在する境界部とを形成するステップと、前記基板を選択エピタキシャルにより、前記基板に素子部を成長させるステップと、前記境界部において、前記基板を切断するステップとを有することを特徴とする。 (もっと読む)


放射の検出に使用される第1の活性領域210および第2の活性領域220を有する半導体ボディ2を備えている放射受光器1を開示する。第1の活性領域210および第2の活性領域220は、垂直方向に互いに隔置されている。第1の活性領域210と第2の活性領域220との間にはトンネル領域24が配置されている。トンネル領域24は接続面31に導電接続されており、接続面31は、第1の活性領域210と第2の活性領域220との間で半導体ボディ2に外部から電気的に接触する目的で使用される。さらに、放射受光器を製造する方法も開示する。
(もっと読む)


【課題】 本発明は、上記課題を解決するためになされたもので、隣接するフォトダイオード間でクロストークの低減可能なフォトダイオードアレイ製造方法を提供することを目的とする。
【解決手段】上記目的を達成するため、本発明は、一方の面に複数のフォトダイオードが形成された半導体ウエハを、基材の表面に貼り付ける貼り付け工程と、前記複数のフォトダイオードのそれぞれの間を、前記半導体ウエハの側から前記半導体ウエハの深さまでダイシングするウエハダイシング工程と、前記複数のフォトダイオードをまとめて構成されたアレイ化フォトダイオードの間を、前記半導体ウエハの側から前記基材の深さまでダイシングする基材ダイシング工程と、を備えるフォトダイオードアレイ製造方法である。 (もっと読む)


【課題】分割部の直下及び分割部直下周囲に空乏層を広げて分割フォトダイオードの応答速度を向上させる。
【解決手段】本実施の形態の分割フォトダイオードは、光を受光する受光領域が平面視において複数個に分割される分割フォトダイオードである。この分割フォトダイオードは、P型基板109と、P型基板109上に形成されたP型エピタキシャル層101と、P型エピタキシャル層101上に形成されたN型エピタキシャル層103と、N型エピタキシャル層103内にP型エピタキシャル層101と離隔して設けられ、受光領域を分割するP型分割領域107と、を備え、印加される逆バイアス電圧によってP型分割領域107とP型エピタキシャル層101との間に位置する分割部直下N型領域106に形成された空乏層(第1の空乏層)が、N型エピタキシャル層103とP型エピタキシャル層101との接合面に形成される空乏層(第2の空乏層)に達することによって受光領域が電気的に分離されるように構成されている。 (もっと読む)


【課題】耐光性の劣化がない構造の受光素子で、その受光素子の高さを抑制し、低背化、小型化を実現し、生産コストの低減を図り、またボイドの発生を抑制する。
【解決手段】複数の受光素子チップ10に対応して複数の光入射孔14が形成されかつ裏面側に電極16が設けられた集合基板12を用い、上記各光入射孔14にチップ10の受光面側を配置しながら、上記電極16に受光素子側電極18をバンプ接続し(チップ接続工程)、この集合基板12の裏面側へ半硬化状態の樹脂シート20を配置し、この樹脂シート20の全体を、加熱した平面プレス板22により減圧状態で加圧し、ボイドを発生させることなく、樹脂をチップ10及び集合基板12へ密着させ(加圧工程)、その後、樹脂を硬化させて集合基板12の裏面樹脂全体をフラットに形成し(硬化工程)、この樹脂封止された集合基板12を切断して受光素子を個片化する。 (もっと読む)


【課題】製造歩留まりを向上させることができる薄型光素子及びその製造方法、デバイス製造方法、並びに当該製造方法を用いて製造されたデバイスを備える電子機器を提供する。
【解決手段】薄型光素子10は、半導体層11と半導体層11上に形成された一対の電極12,13とを備え、半導体層11の電極12,13が形成された面とは反対側の面を受光面11aとしている。この薄型光素子10は、半導体層11及び電極12,13の上部を覆うよう形成された強度付与層14と、強度付与層14上に形成された一対の接続電極15,16とを備えており、これら一対の電極12,13と一対の接続電極15,16とは、強度付与層14に形成されたスルーホール17,18を介してそれぞれ接続されている。 (もっと読む)


【課題】酸化物電極と、高反射性金属であるが酸化物が絶縁性となる金属電極の積層。
【解決手段】サファイア基板100に発光領域Lを有するn型層11とp型層12を形成する。ITO電極121−t、SiNx誘電体層150とその孔部のNiから成る接続部121−c、Alから成る高反射性金属層121−rを形成する。この上にTi層122、Ni層123、Au層124を順に形成する。次にn型シリコン基板200を用意し、両面に導電性多層膜を次の順に蒸着により形成する。TiN層221及び231、Ti層222及び232、Ni層223及び233、Au層224及び234。これらにスズ20%の金スズはんだ(Au−20Sn)51、52を形成し、300℃で熱プレスして、2つのウエハを合体させる。こののち、サファイア基板100側からレーザ照射によりn型層11の表面のGaNを分解して、サファイア基板100をリフトオフにより除去する。 (もっと読む)


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