【課題】 製造工程を簡略化することができ、低抵抗のソース、ドレインを具備した高性能かつ高信頼性の薄膜トランジスタを有する半導体装置、その製造方法、薄膜トランジスタアレイ基板及び液晶表示装置を提供する。
【解決手段】 導電型が異なる薄膜トランジスタを含んで構成される半導体装置であって、上記薄膜トランジスタは、基板上に半導体層を形成し、この半導体層上にゲート絶縁膜を介してゲート電極を形成し、ゲート電極をマスクにして半導体層に低濃度の不純物を注入して導電型が異なる低濃度不純物領域をそれぞれ形成し、ゲート電極の側面にサイドウォールスペーサーを形成した後に、ソース、ドレイン領域のみに高濃度不純物層としてＳｉＧｅを選択的に形成し、一方の導電型の低濃度不純物領域上のＳｉＧｅにのみ高濃度不純物層中の不純物とは異なる他の不純物をドーピングし、低濃度不純物領域上に同じ導電型の高濃度不純物領域を形成したものである半導体装置。 （もっと読む）

加速領域、光放射および吸収レイヤー、および任意のエネルギーろ過領域から成る活性レイヤーを持ったサブ１００ｎｍＣＭＯＳを含む、ＣＭＯＳをモノリシックに集積した光素子を開示する。光放射または吸収はバルクシリコン、バルク・ゲルマニウム、厚膜ＳＯＩ、薄膜ＳＯＩ、薄膜ＧＯＩなどの、基板の既定のＣＭＯＳ活性領域上に置かれたフィルムに対する印加電圧によって制御される。
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【課題】 新規なチオフェン環型有機半導体材料を開発し、作製直後のキャリア移動度が高く、キャリア移動度の経時劣化が少ない、有機半導体膜、ならびに、有機薄膜トランジスタを提供し、且つ、有機半導体膜の製造方法、有機薄膜トランジスタの製造方法を提供する。
【解決手段】 下記一般式（１）で表される化合物を含有することを特徴とする有機半導体材料。
【化１】
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【解決手段】集積された光電性デバイスは、半導体材料の一つ以上の実質的に連続した層で構成されるメサ孤立半導体（MIS）フォトダイオード１４、および誘電性材料の実質的に連続した層を有する。
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【課題】 製造コストをかけることなく、十分な光電流を得ることができる表示装置を提供する。
【解決手段】 表示装置は、各画素ＴＦＴごとに２個ずつ設けられる画像取込み用のセンサとを有する。センサ内のフォトダイオードＤ１，Ｄ２を構成するｐ+領域４６とｎ+領域４８の間に、低濃度のｐ-領域４７またはｎ-領域を形成し、このｐ-領域４７またはｎ-領域の基板水平方向長さをｐ+領域４６やｎ+領域４８よりも長くするため、ｐ+領域４６とｎ+領域４８の間に形成される空乏層５３がｎ-領域に長く伸び、その結果、光電流が増えて光電変換効率がよくなるとともに、S/N比が向上する。 （もっと読む）

本発明はトランジスターデバイスのチャネル領域の絶縁基板上に形成される金属薄膜あるいは複合金属層が含まれるデプレッションあるいはエンハンスメントモードの金属トランジスターに関する。

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本発明は、式Ｉの反復単位を含むポリマー及び電子デバイスにおけるそれらの使用に関する。本発明に従うポリマーは、有機溶媒への優れた溶解性及び優れた膜形成特性を有する。さらに、本発明に従うポリマーをポリマー発光ダイオード（ＰＬＥＤ）に使用した場合、発光色の高い電荷キャリア移動度及び高い温度安定性が観測される。
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電界効果型装置はキャパシタのプレートをそれぞれ形成する複数のセグメントを有する少なくとも１つのセグメント化されたフィールド・プレートを含んでおり、選択されたセグメントを動的に接続してゲート−ドレイン間容量及びドレイン−ソース間容量を選択的に設定する電子素子に電界効果型装置が接続されている。トランスデューサを送信モードスイッチング装置と、受信モードスイッチング装置との間でスイッチングするスイッチング装置に結合されたトランスデューサを超音波装置が含んでおり、このスイッチング装置は電界効果型装置を含んでいる。
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回路欠陥解析及びプロセス問題識別を実行するための方法は、テスト信号を回路に印加するステップと、テスト信号に応答して生成された応答信号を得るステップと、応答信号を参照情報と比較するステップと、比較するステップの結果に基づいて回路内の欠陥を分類するステップと、欠陥分類に基づいて、欠陥を引き起こした製造プロセスにおける問題を識別するステップとを有している。参照情報は、製造プロセス中に発生する可能性がある予め定義されたタイプの欠陥に対応する１つ又は複数の信号プロフィルを含むことができる。欠陥の分類は、応答信号が、信号プロフィルのうちの１つ又は複数内に入るかどうか判定することによって実行されることが好ましい。応答信号が２つ以上の信号プロフィル内に入る場合には、各プロフィルについて確率を決定することができる。次いで、欠陥は、その信号プロフィルがより高い確率を有する欠陥タイプに対応するものとして分類することができる。処理システムは、同様の方法を使用して、欠陥の分類及びプロセス問題識別を実行する。 （もっと読む）

【課題】表示品質と画像取込み性能に優れた表示装置及びその製造方法を提供する。
【解決手段】表示装置の製造工程にてＴＦＴ１１のチャネル部とフォトダイオードＤ１，Ｄ２のＩ層をともに水素化する際、ＴＦＴ１１とフォトダイオードＤ１，Ｄ２とで水素化の進行に違いが出るようにして、ＴＦＴ１１のチャネル部の欠陥密度を少なくし、かつフォトダイオードＤ１，Ｄ２のＩ層の欠陥密度を多くする。これにより、ＴＦＴ１１のリーク電流が抑制され、フォトダイオードＤ１，Ｄ２の光に対する感度を向上できる。 （もっと読む）

【課題】 最適な蓄積時間を素早く見つける駆動方法を提供する。
【解決手段】 複数の画素を有するＭＯＳ型センサにおいて、複数の画素の全ての画素を同時にリセットした後、前記複数の画素から信号を順に出力し、前記リセットをした時から、前記複数の画素が、飽和した信号を出力する直前までの期間を、蓄積時間とすることを特徴とするＭＯＳ型センサの駆動方法が提供される。 （もっと読む）