説明

MOS型センサおよびその駆動方法

【課題】 最適な蓄積時間を素早く見つける駆動方法を提供する。
【解決手段】 複数の画素を有するMOS型センサにおいて、複数の画素の全ての画素を同時にリセットした後、前記複数の画素から信号を順に出力し、前記リセットをした時から、前記複数の画素が、飽和した信号を出力する直前までの期間を、蓄積時間とすることを特徴とするMOS型センサの駆動方法が提供される。

【図面の簡単な説明】
【図1】 本願発明のMOS型センサの回路図
【図2】 本願発明のMOS型センサのタイミングチャート
【図3】 従来のパッシブセンサの回路図
【図4】 従来のアクティブセンサでの回路図
【図5】 ソースフォロワ回路の回路図
【図6】 アクティブセンサでのタイミングチャート
【図7】 アクティブセンサでのタイミングチャート
【図8】 試行撮像の手順を示す図
【図9】 アクティブセンサでのタイミングチャート
【図10】 試行撮像での出力信号の変化を示す図
【図11】 本願発明のエリアセンサのブロック図
【図12】 本願発明のアクティブセンサの画素の回路図
【図13】 本願発明のアクティブセンサの画素の回路図
【図14】 本願発明の信号処理回路の回路図
【図15】 本願発明の最終出力増幅用回路の回路図
【図16】 本願発明の最終出力増幅用回路の回路図
【図17】 本願発明の試行撮像でのタイミングチャート
【図18】 本願発明でのタイミングチャート
【図19】 本願発明の試行撮像での出力信号の変化を示す図
【図20】 本願発明でのタイミングチャート
【図21】 本願発明の試行撮像での出力信号の変化を示す図
【図22】 本願発明のエリアセンサにおける試行撮像を行う領域を示す図
【図23】 本願発明のエリアセンサにおいて指紋を読み取る場合を示す図
【図24】 本願発明でのタイミングチャート
【図25】 本願発明のイメージセンサの作製行程を示す図
【図26】 本願発明のイメージセンサの作製行程を示す図
【図27】 本願発明のイメージセンサの作製行程を示す図
【図28】 本願発明のイメージセンサの作製行程を示す図
【図29】 本願発明のイメージセンサを用いた電子機器の図
【図30】 本願発明のイメージセンサを用いた電子機器の図
【図31】 本願発明のイメージセンサを用いた電子機器の図
【符号の説明】
101 スイッチ用トランジスタ
102 ゲート信号線
103 信号出力線
104 フォトダイオード
105 リセット信号線
106 信号増幅回路
107 リセット用トランジスタ
108 画素
109 電源線
112 電源基準線

【特許請求の範囲】
【請求項1】撮像部に複数の画素を有するMOS型センサの駆動方法であって、前記画素は、光電変換素子とリセット用トランジスタと信号増幅回路とを有しており、前記光電変換素子の一方の端子は、前記リセット用トランジスタのソース端子もしくはドレイン端子に接続されており、他方の端子は、光電変換素子側電源線に接続されており、前記リセット用トランジスタのゲート端子は、リセット用信号線に接続されており、前記リセット用トランジスタのソース端子もしくはドレイン端子の一方は、前記光電変換素子及び前記信号増幅回路の入力端子に接続されており、他方はリセット側電源線に接続されており、前記撮像部の複数の画素の全てを同時にリセットした後、前記撮像部の画素を順次選択して、選択された画素の信号を出力することを特徴とするMOS型センサの駆動方法。
【請求項2】請求項1において、前記撮像部の複数の画素のうち、限定した領域の画素のみから信号を出力することを特徴とするMOS型センサの駆動方法。
【請求項3】撮像部に複数の画素を有するMOS型センサの駆動方法であって、前記画素は、光電変換素子とリセット用トランジスタと信号増幅回路とを有しており、前記光電変換素子の一方の端子は、前記リセット用トランジスタのソース端子もしくはドレイン端子に接続されており、他方の端子は、光電変換素子側電源線に接続されており、前記リセット用トランジスタのゲート端子は、リセット用信号線に接続されており、前記リセット用トランジスタのソース端子もしくはドレイン端子の一方は、前記光電変換素子及び前記信号増幅回路の入力端子に接続されており、他方はリセット側電源線に接続されており、前記撮像部の複数の画素の全てを同時にリセットした後、前記撮像部の画素を順次選択して、選択された画素の信号を出力し、前記リセットをした時から、前記選択された画素の信号が飽和する時までの時間を、蓄積時間の値に設定することを特徴とするMOS型センサの駆動方法。
【請求項4】撮像部に複数の画素を有するMOS型センサの駆動方法であって、前記画素は、光電変換素子とリセット用トランジスタと信号増幅回路とを有しており、前記光電変換素子の一方の端子は、前記リセット用トランジスタのソース端子もしくはドレイン端子に接続されており、他方の端子は、光電変換素子側電源線に接続されており、前記リセット用トランジスタのゲート端子は、リセット用信号線に接続されており、前記リセット用トランジスタのソース端子もしくはドレイン端子の一方は、前記光電変換素子及び前記信号増幅回路の入力端子に接続されており、他方はリセット側電源線に接続されており、前記撮像部の複数の画素の全てを同時にリセットした後、前記撮像部の画素を順次、複数個選択して、選択された画素の信号を出力し、前記リセットをした時から、前記選択された画素の信号の中で、最も信号振幅が大きい信号が飽和する時までの時間を、蓄積時間の値に設定することを特徴とするMOS型センサの駆動方法。
【請求項5】撮像部に複数の画素を有するMOS型センサの駆動方法であって、前記画素は、光電変換素子とリセット用トランジスタと信号増幅回路とを有しており、前記光電変換素子の一方の端子は、前記リセット用トランジスタのソース端子もしくはドレイン端子に接続されており、他方の端子は、光電変換素子側電源線に接続されており、前記リセット用トランジスタのゲート端子は、リセット用信号線に接続されており、前記リセット用トランジスタのソース端子もしくはドレイン端子の一方は、前記光電変換素子及び前記信号増幅回路の入力端子に接続されており、他方はリセット側電源線に接続されており、前記撮像部の複数の画素の全てを同時にリセットした後、前記撮像部の画素を順次選択して、選択された画素の信号を出力し、前記リセットをした時から、前記選択された画素の光電変換素子が飽和する時までの時間を、蓄積時間の値に設定することを特徴とするMOS型センサの駆動方法。
【請求項6】撮像部に複数の画素を有するMOS型センサの駆動方法であって、前記画素は、光電変換素子とリセット用トランジスタと信号増幅回路とを有しており、前記光電変換素子の一方の端子は、前記リセット用トランジスタのソース端子もしくはドレイン端子に接続されており、他方の端子は、光電変換素子側電源線に接続されており、前記リセット用トランジスタのゲート端子は、リセット用信号線に接続されており、前記リセット用トランジスタのソース端子もしくはドレイン端子の一方は、前記光電変換素子及び前記信号増幅回路の入力端子に接続されており、他方はリセット側電源線に接続されており、前記撮像部の複数の画素の全てを同時にリセットした後、前記撮像部の画素を順次、複数個選択して、選択された画素の信号を出力し、前記リセットをした時から、前記選択された画素の光電変換素子のいずれか1つが飽和する時までの時間を、蓄積時間の値に設定することを特徴とするMOS型センサの駆動方法。
【請求項7】請求項3乃至請求項6のいずれか1項において、被写体で反射されて前記撮像部に入射する光の中で、最も強い強度の光を前記撮像部に照射して、前記蓄積時間の値を設定することを特徴とするMOS型センサの駆動方法。
【請求項8】請求項3乃至請求項7のいずれか1項において、前記撮像部の複数の画素のうち、限定した領域の画素のみから信号を出力することを特徴とするMOS型センサの駆動方法。
【請求項9】請求項3乃至請求項8のいずれか1項において、前記蓄積時間を用いて、被写体の撮像を行うことを特徴とするMOS型センサの駆動方法。
【請求項10】撮像部に複数の画素を有するMOS型センサであって、前記画素は、光電変換素子とリセット用トランジスタと信号増幅回路とを有しており、前記光電変換素子の一方の端子は、前記リセット用トランジスタのソース端子もしくはドレイン端子に接続されており、他方の端子は、光電変換素子側電源線に接続されており、前記リセット用トランジスタのゲート端子は、リセット用信号線に接続されており、前記リセット用トランジスタのソース端子もしくはドレイン端子の一方は、前記光電変換素子及び前記信号増幅回路の入力端子に接続されており、他方はリセット側電源線に接続されており、前記撮像部の複数の画素の全てを同時にリセットした後、前記撮像部の画素を順次選択して、選択された画素の信号を出力することを特徴とするMOS型センサ。
【請求項11】請求項10において、前記撮像部の複数の画素のうち、限定した領域の画素のみから信号を出力することを特徴とするMOS型センサ。
【請求項12】撮像部に複数の画素を有するMOS型センサであって、前記画素は、光電変換素子とリセット用トランジスタと信号増幅回路とを有しており、前記光電変換素子の一方の端子は、前記リセット用トランジスタのソース端子もしくはドレイン端子に接続されており、他方の端子は、光電変換素子側電源線に接続されており、前記リセット用トランジスタのゲート端子は、リセット用信号線に接続されており、前記リセット用トランジスタのソース端子もしくはドレイン端子の一方は、前記光電変換素子及び前記信号増幅回路の入力端子に接続されており、他方はリセット側電源線に接続されており、前記撮像部の複数の画素の全てを同時にリセットした後、前記撮像部の画素を順次選択して、選択された画素の信号を出力し、前記リセットをした時から、前記選択された画素の信号が飽和する時までの時間を、蓄積時間の値に設定することを特徴とするMOS型センサ。
【請求項13】撮像部に複数の画素を有するMOS型センサであって、前記画素は、光電変換素子とリセット用トランジスタと信号増幅回路とを有しており、前記光電変換素子の一方の端子は、前記リセット用トランジスタのソース端子もしくはドレイン端子に接続されており、他方の端子は、光電変換素子側電源線に接続されており、前記リセット用トランジスタのゲート端子は、リセット用信号線に接続されており、前記リセット用トランジスタのソース端子もしくはドレイン端子の一方は、前記光電変換素子及び前記信号増幅回路の入力端子に接続されており、他方はリセット側電源線に接続されており、前記撮像部の複数の画素の全てを同時にリセットした後、前記撮像部の画素を順次、複数個選択して、選択された画素の信号を出力し、前記リセットをした時から、前記選択された画素の信号の中で、最も信号振幅が大きい信号が飽和する時までの時間を、蓄積時間の値に設定することを特徴とするMOS型センサ。
【請求項14】撮像部に複数の画素を有するMOS型センサであって、前記画素は、光電変換素子とリセット用トランジスタと信号増幅回路とを有しており、前記光電変換素子の一方の端子は、前記リセット用トランジスタのソース端子もしくはドレイン端子に接続されており、他方の端子は、光電変換素子側電源線に接続されており、前記リセット用トランジスタのゲート端子は、リセット用信号線に接続されており、前記リセット用トランジスタのソース端子もしくはドレイン端子の一方は、前記光電変換素子及び前記信号増幅回路の入力端子に接続されており、他方はリセット側電源線に接続されており、前記撮像部の複数の画素の全てを同時にリセットした後、前記撮像部の画素を順次選択して、選択された画素の信号を出力し、前記リセットをした時から、前記選択された画素の光電変換素子が飽和する時までの時間を、蓄積時間の値に設定することを特徴とするMOS型センサ。
【請求項15】撮像部に複数の画素を有するMOS型センサであって、前記画素は、光電変換素子とリセット用トランジスタと信号増幅回路とを有しており、前記光電変換素子の一方の端子は、前記リセット用トランジスタのソース端子もしくはドレイン端子に接続されており、他方の端子は、光電変換素子側電源線に接続されており、前記リセット用トランジスタのゲート端子は、リセット用信号線に接続されており、前記リセット用トランジスタのソース端子もしくはドレイン端子の一方は、前記光電変換素子及び前記信号増幅回路の入力端子に接続されており、他方はリセット側電源線に接続されており、前記撮像部の複数の画素の全てを同時にリセットした後、前記撮像部の画素を順次、複数個選択して、選択された画素の信号を出力し、前記リセットをした時から、前記選択された画素の光電変換素子のいずれか1つが飽和する時までの時間を、蓄積時間の値に設定することを特徴とするMOS型センサ。
【請求項16】請求項12乃至請求項15のいずれか1項において、被写体で反射されて前記撮像部に入射する光の中で、最も強い強度の光を前記撮像部に照射して、前記蓄積時間の値を設定することを特徴とするMOS型センサ。
【請求項17】請求項12乃至請求項16のいずれか1項において、前記撮像部の複数の画素のうち、限定した領域の画素のみから信号を出力することを特徴とするMOS型センサ。
【請求項18】請求項12乃至請求項17のいずれか1項において、前記蓄積時間を用いて、被写体の撮像を行うことを特徴とするMOS型センサ。
【請求項19】請求項1乃至請求項18のいずれか1項に記載の前記MOS型センサを用いることを特徴とするスキャナ。
【請求項20】請求項1乃至請求項18のいずれか1項に記載の前記MOS型センサを用いることを特徴とする携帯情報端末。
【請求項21】請求項1乃至請求項18のいずれか1項に記載の前記MOS型センサを用いることを特徴とする指紋読み取り装置。

【図1】
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【図2】
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【図3】
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【図4】
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【図5】
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【図6】
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【図9】
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【図7】
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【図8】
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【図10】
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【図19】
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【図11】
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【図12】
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【図13】
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【図16】
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【図14】
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【図15】
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【図17】
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【図31】
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【図18】
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【図20】
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【図21】
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【図22】
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【図23】
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【図26】
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【図24】
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【図25】
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【図27】
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【図28】
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【図29】
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【図30】
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【公開番号】特開2001−339640(P2001−339640A)
【公開日】平成13年12月7日(2001.12.7)
【国際特許分類】
【出願番号】特願2000−156111(P2000−156111)
【出願日】平成12年5月26日(2000.5.26)
【出願人】(000153878)株式会社半導体エネルギー研究所 (5,264)
【Fターム(参考)】