【課題】 非対称的なソース及びドレイン領域を有する構造を提供する。
【解決手段】 本発明の方法は、少なくとも１つの半導体チャネル領域を有する基板と、半導体チャネル領域を覆うように基板の上面に設けられたゲート誘電体層と、ゲート誘電体層上のゲート導電体とを有する構造を形成する。非対称的な側壁スペーサがゲート導電体の側壁に配置され、そして非対称的なソース及びドレイン領域が半導体チャネル領域に隣接して基板内に配置される。ソース及びドレイン領域の一方は、他方よりもゲート導電体の中心に近づけられる。ソース及びドレイン領域は、半導体チャネル領域に物理的な応力を与える材料で構成される。 （もっと読む）

【課題】ＣＭＯＳ集積過程での高温処理の後であっても一定の閾値電圧を維持する高ｋゲート誘電体の提供。
【解決手段】高ｋゲート誘電体３０と、下部金属層４０、捕捉金属層５０、および上部金属層６０を含む金属ゲート構造とのスタックを提供する。該捕捉金属層は、次の２つの基準、１）Ｓｉ＋２／ｙＭ_ｘＯ_ｙ→２ｘ／ｙＭ＋ＳｉＯ_２の反応によるギブス自由エネルギの変化が正である金属（Ｍ）であること、２）酸化物形成に対する酸素原子あたりのギブス自由エネルギが、下部金属層の金属および上部金属層の金属より大きな負である金属であること、を満たす。これらの基準を満たす捕捉金属層は、酸素原子がゲート電極を通って高ｋゲート誘電体に向け拡散するときに該酸素原子を捕捉する。さらに、該捕捉金属層は、高ｋゲート誘電体の下の酸化ケイ素界面層の厚さを遠隔から低減する。この結果、ゲート誘電体全体の等価酸化膜厚（ＥＯＴ）の変動が抑制される。 （もっと読む）

【課題】 非対称型半導体デバイス、及びその製造の際にスペーサ・スキームを用いる方法を提供する
【解決手段】 高ｋゲート誘電体の表面上に配置された非対称型ゲート・スタックを含む半構造体が提供される。非対称型ゲート・スタックは、第１の部分と第２の部分とを含み、第１の部分は、第２の部分とは異なる閾値電圧を有する。本発明の非対称型ゲート・スタックの第１の部分は、下から上に、閾値電圧調整材料及び少なくとも第１の導電性スペーサを含み、本発明の非対称型ゲート・スタックの第２の部分は、ゲート誘電体の上の少なくとも第２の導電性スペーサを含む。幾つかの実施形態において、第２の導電性スペーサは、下にある高ｋゲート誘電体と直接接触しており、他の実施形態においては、第１及び第２の導電性スペーサは、前記閾値電圧調整材料と直接接触している。 （もっと読む）

【課題】 閾値電圧の低い金属ゲート電極においてＰＭＩＳＦＥＴの製造方法を提供する。
【解決手段】 半導体基板１０上にＰＭＩＳＦＥＴを作製する方法であって、半導体基板１０上に絶縁膜２０を形成する工程と、半導体基板１０及び絶縁膜２０をハロゲン化合物を含むガスにさらして、絶縁膜２０上に吸着層１１０を形成する工程と、吸着層１１０上に金属を含むゲート電極４０を形成して、吸着層１１０とゲート電極４０を反応させて、吸着層１１０をハロゲン含有金属層にする工程とを有することを特徴とする半導体装置の製造方法。 （もっと読む）

【課題】ゲート絶縁膜とゲート電極との間の界面層にカーボン層を導入して、低い閾値電圧を実現している例では、カーボン層中のカーボンはＳｉ半導体基板中に入り、欠陥準位を形成するため、ＥＷＦが不安定であった。本発明は上記問題点を解決するためになされたもので、ｐ−ｍｅｔａｌを用いたＭＩＳ型半導体装置において、ＥＷＦを安定して増加させることが可能な半導体装置を提供する。
【解決手段】半導体基板１０と、半導体基１０上に形成された絶縁膜２０と、絶縁膜２０上に形成され、且つ、ＣＮ基又はＣＯ基を含む界面層３０と、界面層３０上に形成された金属層４０とを備えて半導体装置を構成する。 （もっと読む）

【課題】より大きな電流ノイズを容易に発生させることが可能な半導体素子を提供する。
【解決手段】本発明に係る半導体素子１００は、所定の物質により形成されるゲート電極１０１と、ゲート電極の少なくとも一部を覆うように所定の誘電体を用いて形成されるゲート絶縁膜１０３と、ゲート絶縁膜上に不純物及び／又は欠陥によるトラップを有する化合物を用いて形成されるチャネル形成領域１０５と、チャネル形成領域の端部に形成されるソース１０７／ドレイン１０９と、を備え、チャネル形成領域の幅は、不純物及び／又は欠陥によるトラップを有する化合物のデバイ長とする。 （もっと読む）

【課題】形状に限定されることなく、柔軟性ないし可撓性を有し、任意の形状の各種装置を作成することが可能な端面センサデバイス及びその製造方法を提供すること。
【解決手段】線状体の端面に、対象からの情報を受容して他の情報として出力する受容部が形成されていることを特徴とする端面センサデバイス。線状体２００１は、中止部に中心電極２００７を有し、その外周は絶縁膜２００８で覆われている。上記線状体２００１を用意し、その端面にｎ型半導体層２００４を形成する。次いで、ｎ型半導体層２００４上にｐ型半導体層２００３を形成する。これにより、線状体２００１の端面にｐｎ接合の受容部（光センサ）が形成される。 （もっと読む）

【課題】可逆的に酸化・還元をある程度の回数繰り返すことのできる電気化学活性を有する有機薄膜を提供することによって、有機分子を動作ユニットとする、いわゆる分子ナノエレクトロニクスにおける、新たなアプローチを提供する。
【解決手段】基体表面にアミノ基を末端に有する有機分子を化学的に固定化した有機分子膜と、該アミノ基に配位結合した金属原子又は金属イオンとを有することを特徴とする電気化学活性を有する有機薄膜。 （もっと読む）

【課題】電界効果トランジスタの特性に精度よくフィッティングし、従来のシリコン系の複雑な電流モデル式に比べて簡便な電流モデル作成方法を提供する。
【解決手段】電界効果トランジスタのドレイン電流のシミュレーションに用いられる電流モデルを実測の電流-電圧特性データから求めるための電流モデル作成方法であって、電流モデルは、ドレイン電流の主要部となる第１の電流項、ドレイン電流の立ち上がりに関する第２の電流項、およびリーク電流に関する第３の電流項の３つの電流項の和からなるものである。 （もっと読む）

【課題】デバイス・チャネル領域に歪みを誘起する半導体構造体で使用される、段階的ドーパント分布構造を有する多層埋込みストレッサを提供する。
【解決手段】本発明の多層ストレッサは、ソース／ドレイン領域が一般に位置決めされる半導体構造体の部分内に形成される。本発明の多層ストレッサは、アンドープか低濃度にドープされた第１の共形エピ半導体層と、第１のエピ半導体層に比べて高濃度にドープされた第２のエピ半導体層とを含む。第１および第２のエピ半導体層各々は、同じ格子定数を有し、この格子定数は、それらの半導体層が埋め込まれた基板の格子定数と異なっている。本発明の多層埋込みストレッサを含む構造は、応力近接と短チャネル効果の良好なバランスを実現し、さらに深いソース／ドレイン領域の形成中に一般に生じるどんな可能な欠陥もなくするか、実質的に減少させる。 （もっと読む）

【課題】 Ｓｉ又はＧｅの高い含有量を有する高ｋ誘電体を絶縁中間層と組み合わせることによって、及び／又は、チャネル工学処理によって、閾値電圧及びフラットバンド電圧のシフトを低減させること。
【解決手段】 ＳｉＯ_２より大きい誘電率、及び、５０％を超えるＧｅ又はＳｉ含有量を有する誘電体材料と、材料スタック工学処理によって閾値電圧／フラットバンド電圧を調整するための少なくとも１つの他の手段とを含む、半導体構造体、特にｐＦＥＴが提供される。本発明において考慮される他の手段は、例えば、電荷を固定するために誘電体の上に絶縁中間層を用いること、及び／又は、工学処理されたチャンネル領域を形成することを含む。本発明はまた、このようなＣＭＯＳ構造体を製造する方法にも関する。 （もっと読む）

【課題】 金属ゲート電極層に望まれる特性は、微細加工を施された半導体立体構造体上に段差被覆率良く被覆されていることである。またもう一つの特性は、堆積された電極層の表面が１ナノメートルのスケールで平坦であり、電極層の堆積後に特別な平坦化処理を施すことなく電気的な絶縁を目的とした誘電体層を被服することが可能なことである。また、金属ゲート電極層に望まれる更なる特性の一つは、通常の半導体プロセスと同様のエッチング加工性を有していることである。また、金属ゲート電極層に望まれるもうひとつの特性は、結晶粒界がなく均一であり、不純物拡散が抑制された構造であることである。
【解決手段】 上記特性を満たす最良の金属ゲート電極としてアモルファス構造の金属電極が優れていることを見出し、本発明に至った。 （もっと読む）

【課題】チャネル材料として絶縁体−半導体相転移物質膜を利用した電界効果トランジスタ及びその製造方法を提供する。
【解決手段】ゲート電界無印加時に、表面にホール電荷が流入しない第１状態と、負電界が印加されることにより、表面に多量のホール電荷が流入して導電性チャネルを形成する第２状態とを選択的に示す絶縁体−半導体相転移物質膜を備える電界効果トランジスタである。該絶縁体−半導体相転移物質膜上には、ゲート絶縁膜が配置され、絶縁体−半導体相転移物質膜に一定の大きさの負電界を印加させるためのゲート電極がゲート絶縁膜上に形成される。ソース電極及びドレイン電極は、絶縁体−半導体相転移物質膜が第２状態にある間、導電性チャネルを介してキャリアが移動するように、絶縁体−半導体相転移物質膜の両側から互いに対向するように配置される。
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【課題】 高ｋ誘電体及び界面層を含むゲート・スタック上に、熱的に安定した新しい金属化合物を提供すること。
【解決手段】 高ｋ誘電体及び界面層を含むゲート・スタック上に、約４．０ｅＶから約４．５ｅＶまで、好ましくは約４．３ｅＶの仕事関数を有する、熱的に安定したｎ型金属であるＨｆＳｉＮを含む金属化合物である。さらに、（約１０００℃のオーダーの）高温でＨｆＳｉＮ／高ｋ誘電体／界面層のスタックをアニールした後、界面層が減少され、よって、ゲート・スタックは、ＴａＳｉＮを用いて達成することができない、非常に薄い等価酸化物厚（伝統的には、１２Å）をもたらす。 （もっと読む）

【課題】 ゲート誘電体とゲート電極との間にＶ_t安定化層を含む半導体構造を提供することにある。
【解決手段】 Ｖ_t安定化層は、構造のしきい電圧およびフラットバンド電圧を目標値に安定化することができ、窒化金属酸化物または窒素なし金属酸化物を含み、Ｖ_t安定化層が窒素なし金属酸化物を含む条件で半導体基板またはゲート誘電体のうちの少なくとも一方が窒素を含む。また、本発明は、このような構造を形成する方法も提供する。 （もっと読む）

【課題】 改善されたしきい電圧およびフラットバンド電圧の安定性を有するＣＭＯＳ構造を形成する方法およびそれにより生産されたデバイスを提供することにある。
【解決手段】 発明の方法は、ｎＦＥＴ領域とｐＦＥＴ領域とを有する半導体基板を設けるステップと、高ｋ誘電体の上に絶縁中間層を含む誘電体スタックを半導体基板の上に形成するステップと、ｐＦＥＴ領域から絶縁中間層を除去せずに、ｎＦＥＴ領域から絶縁中間層を除去するステップと、ｐＦＥＴ領域内に少なくとも１つのゲート・スタックを設け、ｎＦＥＴ領域内に少なくとも１つのゲート・スタックを設けるステップとを含む。絶縁中間層はＡｌＮまたはＡｌＯxＮyにすることができる。高ｋ誘電体は、ＨｆＯ2、ハフニウム・シリケート、またはハフニウム酸窒化シリコンにすることができる。絶縁中間層は、ＨＣｌ／Ｈ2Ｏ2過酸化水素溶液を含むウェット・エッチングによりｎＦＥＴ領域から除去することができる。 （もっと読む）