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Fターム[5F152DD08]の内容

再結晶化技術 (53,633) | 被結晶化層の後処理 (501) | プラズマ処理 (26)

Fターム[5F152DD08]に分類される特許

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【課題】基板に生じるクラックの発生を防止した薄膜形成方法を提供する。
【解決手段】薄膜形成方法は、基板を準備する基板準備工程と、基板上に第1薄膜を形成する第1薄膜形成工程と、第1薄膜に対して光線を相対走査して照射することにより、第1薄膜を結晶化する結晶化工程と、結晶化工程において第1薄膜に生じる熱の基板への伝導量を低下させる緩和層を、結晶化工程の前に、基板の端部領域及び基板を切断する際に切断線が通る領域の少なくとも一方を含む領域に形成する緩和層形成工程とを含む。 (もっと読む)


【課題】 結晶化に用いた触媒材料は結晶性珪素膜にとって好ましくない材料であるので、結晶化後はできるだけ濃度にしたい要求がある。珪素中に欠陥準位が多い場合、光生成キャリアは欠陥準位にトラップされ消滅し、光電変換特性が低下させる。本発明の目的は触媒材料による珪素の結晶化と、結晶化した後に不要となった触媒材料を除去して光電変換装置の特性向上を目的とする。
【解決手段】 結晶化した後に第1の半導体膜に残存する触媒元素は、その上に希ガス元素を含む第2の半導体膜を形成し、第2の加熱処理を行うことで該第2の半導体膜に移動させ濃集させる。即ち、第2に半導体膜に希ガス元素を含ませることで歪み場を形成し、ゲッタリングサイトとする。希ガス元素は基本的に他の原子と結合を形成しないため、半導体膜中で格子間に挿入されて、それにより歪み場を形成することができる。 (もっと読む)


【課題】本願発明で開示する発明は、従来と比較して、さらに結晶成長に要する熱処理時間を短縮してプロセス簡略化を図る。
【解決手段】
一つの活性層204を挟んで二つの触媒元素導入領域201、202を配置して結晶化を行い、触媒元素導入領域201からの結晶成長と、触媒元素導入領域202からの結晶成長とがぶつかる境界部205をソース領域またはドレイン領域となる領域204bに形成する。 (もっと読む)


【課題】さらなる低温プロセス(350℃以下、好ましくは300℃以下)を実現し、安価な半導体装置を提供する。
【解決手段】本発明は、結晶構造を有する半導体層103を形成した後、イオンドーピング法を用いて結晶質を有する半導体層103の一部にn型不純物元素及び水素元素を同時に添加して不純物領域107(非晶質構造を有する領域)を形成した後、100〜300℃の加熱処理を行うことにより、低抵抗、且つ非晶質な不純物領域108を形成し、非晶質な領域のままでTFTのソース領域またはドレイン領域とする。 (もっと読む)


【課題】半導体性酸化物を用いた半導体装置は、可視光や紫外光を照射することで電気的特性が変化する。このような問題に鑑み、半導体性酸化物膜を用いた半導体装置に安定した電気的特性を付与し、信頼性の高い半導体装置を作製する。
【解決手段】亜鉛のように400〜700℃で加熱した際にガリウムよりも揮発しやすい材料を酸化ガリウムに添加したターゲットを用いて、スパッタリング方法で成膜したものを400〜700℃で加熱することにより、添加された材料を膜の表面近傍に偏析させ、かつ、その酸化物を結晶化させる。さらに、その上に半導体性酸化物膜を堆積し、熱処理することにより結晶化した酸化物の結晶構造を引き継いだ結晶を有する半導体性酸化物を形成する。 (もっと読む)


【課題】トランジスタ特性の改善を図ることができる薄膜トランジスタの製造方法及び薄膜トランジスタを提供する。
【解決手段】活性層30は、第1の半導体膜3cと第2の半導体膜3aの積層構造を有する、第1の半導体膜3cは、アモルファス又は結晶性のシリコン膜にレーザを照射することで形成された微結晶シリコン膜で構成される。微結晶シリコン膜はアモルファスシリコン膜と比較して高いキャリア移動度を得ることができる。第2の半導体膜3aは、ソース/ドレイン電極5a、5dのパターニング工程から第1の半導体膜3cを保護する機能を有している。これにより、第1の半導体膜3cの所期の形状、膜厚を維持して、安定したトランジスタ特性を確保することが可能となる。 (もっと読む)


【課題】高価な機材である真空チャンバーを用いることなくキャリア移動度の高いポリシリコン膜を製造する。
【解決手段】ポリシリコン膜の製造方法において、少なくともシリコン粒子を分散させた液体を基板に塗付する工程と、塗布した液体を乾燥させてシリコン膜を形成する工程と、シリコン膜をポリシリコン膜にするための熱アニール処理工程と、を備える。 (もっと読む)


【課題】キャリアの移動度が高く、特性ばらつきが少ない半導体装置の製造方法、これを適用した半導体装置を備えた電気光学装置、電子機器を提供すること。
【解決手段】本適用例の半導体装置の製造方法は、基板上に第1多結晶質シリコン膜としての第1半導体層を形成する工程と、第1半導体層上に非結晶質シリコン膜を形成して、該非結晶質シリコン膜に対して、不活性ガス雰囲気中で第1半導体層上における該非結晶質シリコン膜の結晶核発生速度よりも結晶成長速度の方が速くなる温度で熱処理を施して該非結晶質シリコン膜を結晶化して第2多結晶質シリコン膜としての第2半導体層を形成する工程と、第1半導体層および第2半導体層をパターニングして半導体層を形成するエッチング工程と、を備えた。 (もっと読む)


【課題】低温での固相エピタキシャル成長法を用いて、単結晶半導体層の膜厚の厚いSOI基板を提供することを課題の一とする。その際に、予めシード層となる単結晶半導体層の結晶欠陥を修復しなくとも、良好にエピタキシャル成長が進む方法を提供することを課題の一とする。また、シード層の結晶欠陥を修復する工程を別に設けなくとも、固相エピタキシャル成長によりシード層である単結晶半導体層の結晶性が回復したSOI基板を提供することを課題の一とする。
【解決手段】絶縁層を介して基板に設けられた第1単結晶半導体層上に、非晶質半導体層を形成する。非晶質半導体層は、成膜温度100℃以上275℃以下、シラン系ガスを希釈しないで用いるCVD法により形成する。熱処理を行って、非晶質半導体層を固相エピタキシャル成長させて、単結晶半導体層の膜厚の厚いSOI基板を作製する。 (もっと読む)


【課題】有機発光表示装置の駆動トランジスタとスイッチングトランジスタとに要求される特性を十分に満たす有機発光表示装置およびその製造方法を提供する。
【解決手段】同一の基板上に形成された逆スタガ型のスイッチングトランジスタおよび駆動トランジスタを備える有機発光表示装置であって、スイッチングトランジスタは、第1半導体層からなる第1チャネル層を有し、駆動トランジスタは、第1半導体層とは異なる結晶質である第2半導体層と、第2半導体層上に積層される第1半導体層とからなる第2チャネル層を有する。 (もっと読む)


【課題】単結晶シリコン層を貼り付けた高価な基板や、触媒金属を拡散させたシリコン膜を用いなくても、トランジスター特性の優れた薄膜トランジスターを備えた半導体装置の製造方法、半導体装置、および電気光学装置を提供すること。
【解決手段】半導体装置の製造工程では、非晶質のシリコン膜1の一部の領域にゲルマニウムを導入して熱処理を行う。その結果、核形成用元素導入領域1sに結晶核が生成するとともに、かかる結晶核を起点として結晶粒が成長する。このため、シリコン結晶粒の位置制御が可能となり、チャネル領域1hに含まれる粒界の量を制御することができる。また、ゲルマニウムは、チャネル領域形成予定領域1iやその周辺の領域1k、1mなどに拡散しない。 (もっと読む)


【課題】、ポリシリコン膜に含まれる結晶欠陥を電気的に略不活性化させた場合でも、その後の工程での処理温度が限定されることがなく、かつ、能動層とゲート絶縁層との間に良好な界面を形成することができる半導体装置の製造方法、半導体装置および電気光学装置を提供すること。
【解決手段】半導体装置10tの製造工程では、電界効果型トランジスタ30nの能動層となるシリコン膜1sを結晶化させた後、シリコン膜1sに酸素プラズマ照射OPを行う酸素プラズマ照射工程と、酸素プラズマ照射工程によりシリコン膜1sに形成された表面酸化物1rを除去する表面酸化物除去工程とを行う。その後、シリコン膜1sをパターニングする。 (もっと読む)


【課題】ベース基板に固定された単結晶半導体層の結晶性が向上、および平坦性の向上したSOI基板および半導体装置の作製方法を提供する。
【解決手段】半導体基板上に絶縁膜を形成し、絶縁膜を介して前記半導体基板に加速されたイオンを照射することにより、半導体基板に脆化領域を形成する工程と、前記半導体基板の表面とベース基板の表面とを対向させ、絶縁膜の表面と前記ベース基板の表面とを接合させる工程と、絶縁膜の表面と前記ベース基板の表面とを接合させた後に熱処理を行い、脆化領域において分離することにより、ベース基板上に絶縁膜を介して半導体層を形成する工程と、半導体層にエッチング処理を行う工程と、エッチング処理が行われた半導体層にレーザビームを照射する工程と、レーザビームが照射された半導体層にプラズマを照射する。 (もっと読む)


【課題】単結晶半導体層の結晶性及び平坦性を高めることのできる技術的手段を提供することを目的の一とする。
【解決手段】表面に絶縁膜が形成され、表面から所定の深さの領域に脆化領域が形成された単結晶半導体基板と、支持基板とを絶縁膜を介して貼り合わせた後、熱処理を行い脆化領域において分離することにより、支持基板上に絶縁膜を介して単結晶半導体層に対してレーザ光を照射し、前記単結晶半導体層の表面をエッチングし、前記単結晶半導体層の表面にプラズマ処理を行うことにより結晶欠陥を低減させる。 (もっと読む)


【課題】半導体装置の特性を向上させることができる連続発振のレーザ装置を用いた半導体装置の作製方法の提供を課題とする。
【解決手段】絶縁表面上に半導体膜を形成し、半導体膜に希ガスを添加し、希ガス雰囲気中で希ガスが添加された半導体膜にレーザ光を照射し、レーザ光の照射の際に半導体膜に磁場を印加し、半導体膜は数μs以上数十μs以下の間溶融している半導体装置の作製方法を提供する。なお、レーザ光は基本波と高調波を合わせることで効率よく半導体膜を結晶化できる。 (もっと読む)


位置が制御される結晶粒の領域を備える結晶半導体膜と、位置が制御される結晶粒の位置を基準として規定される位置にある結晶半導体膜の中に位置するデバイスとを含む、結晶膜の中の既知の位置に位置付けられる電子デバイスに関係する方法および装置が説明される。この方法は、各照射ステップが、膜のリソグラフィで画成される領域を少なくとも部分的に融解させ、横方向に結晶化させ、横方向成長長さに垂直である少なくとも1つの長い粒子境界を有する横方向に成長した結晶粒の領域を得る、3つ以上の重複する照射ステップを使用して半導体膜の少なくとも一部を照射することと、少なくとも1つの長い粒子境界の位置を識別することと、長い粒子境界の位置を基準にして規定される位置にある半導体膜の中に電子デバイスを製造することとを含む。
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【課題】アモルファスシリコン薄膜を熱吸収層を用いて加熱結晶化するとともに、熱吸収層を汚染なく簡易方法によって除去でき、さらに結晶の欠陥を効率よく低減する。
【解決手段】基板2上に形成されたアモルファス半導体薄膜(a−シリコン膜1)を結晶化させる際に、前記アモルファス半導体薄膜の結晶化させたい箇所の表面にのみ予め熱吸収層3を設け、エネルギー照射することで前記アモルファス半導体薄膜を結晶化し、その後、ドライプロセスにより改質物質(水素など)を添加して、前記熱吸収層3を脆化させて半導体薄膜上から除去するとともに結晶化された前記半導体薄膜(p−シリコン膜1a)の欠陥低減を同時に行う。 (もっと読む)


【課題】しきい値制御された、信頼性の高い薄膜トランジスタを有する表示装置を作製する方法を提案することを課題とする。
【解決手段】ゲート電極上にゲート絶縁膜を形成し、ゲート絶縁膜上に微結晶半導体膜を成膜し、微結晶半導体膜にしきい値制御のための不純物元素をイオン注入法により添加し、その後、レーザビームを照射して微結晶半導体膜の結晶性を改善する。そして、微結晶半導体膜上にバッファ層を形成し、チャネルエッチ型の薄膜トランジスタを形成する。また当該薄膜トランジスタを有する表示装置を作製する。 (もっと読む)


【課題】 第一に、良質な薄膜を作成することができるようにし、第二に、チャンバー数の増大や占有面積の増大を無くす、第三に、高価な排気系の使用を不要にし、生産性を改善する。
【解決手段】 成膜チャンバー1との間で基板9の搬入及び搬出を行う搬送機構30が内部に設けられた搬送チャンバー3は、排気系31と調圧用ガス導入系32を有する。調圧用ガス導入系32により、成膜に悪影響を与えないガスが導入され、搬送チャンバー3内は成膜チャンバー1内よりも大きく1パスカルより大きい真空圧力に維持される。搬送チャンバー3には、基板9の表面の改質を行う改質種を成膜に悪影響を与えないガスから生成して基板9に供給する改質種供給部33が設けられる。 (もっと読む)


【課題】 レーザアニール法を大きく変更することなく特性バラツキを解消することが可能なポリシリコン膜の形成方法を提供する。
【解決手段】 アモルファスシリコン膜2を堆積したガラス基板1を相対移動させながらパルスレーザビームを照射することによってレーザアニールを行う。アニール工程の後、プラズマ処理によりレジストを除去するレジスト除去工程(アッシング)を行う。レジスト除去工程におけるプロセス時間を、レジスト除去開始からレジスト除去終了までの時間の1.5倍以上とする。 (もっと読む)


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