説明

Fターム[5F157CC02]の内容

半導体の洗浄、乾燥 (54,359) | 基板以外の洗浄 (700) | 清浄手段の清浄、再生 (392) | 清浄化流体の回収、濾過 (323)

Fターム[5F157CC02]に分類される特許

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基板処理用の高圧流体に化学物質を導入する方法及びシステム(100)について説明する。特に、本方法は、2種類以上の流体の混合を促進するために、高圧流体の容積全体にわたって化学物質を供給する工程を有する。その一方で、高圧流体は、高圧処理システム(110)を循環する。
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基板(105)を処理する超臨界流体を用いる処理システム(100)は、コーティングを有する内側部材を有すると開示されている。例えば、内側部材におけるコーティングは処理中の汚染を低減することができる。更に、その処理システムを用いる方法について開示されている。

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【課題】ウェハー様物の加工のためのオゾンの使用。
【解決手段】本発明は、オゾンを用いたウェハー様物(例えば、露出した銅表面を有する及び/又はlow−k(低誘電)材料を含む。)の加工方法に関する。特定の好ましい態様において、塩基もまた、ウェハー様物を加工するために使用される。 (もっと読む)


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