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Fターム[5J034DB03]の内容

半導体素子を用いたパルス発生器 (1,143) | 回路形式 (339) | D−FF (88)

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【課題】低消費電力の高速化ラッチ回路を実現する。
【解決手段】第1の出力ノードにドレイン、第2の出力ノードにゲートが接続の第1のトランジスタと、該第2の出力ノードにドレイン、該第1の出力ノードにゲートが接続の第2のトランジスタと、第1の入力ノードにゲートが接続の第3のトランジスタと、第2の入力ノードにゲートが接続の第4のトランジスタと、第3の入力ノードにゲートが接続の第5のトランジスタとを備えている。 (もっと読む)


【課題】トランジスタのリーク電流を低減し、論理回路の誤動作を抑制する。
【解決手段】チャネル形成層としての機能を有する酸化物半導体層を含み、チャネル幅1
μmあたりのオフ電流が1×10−13A以下であるトランジスタを有し、入力信号とし
て、第1の信号、第2の信号、及びクロック信号である第3の信号が入力され、入力され
た第1の信号乃至第3の信号に応じて電圧状態が設定された第4の信号及び第5の信号を
出力信号として出力する構成とする。 (もっと読む)


【課題】半導体集積回路において消費電力を低減するとともに、ノイズの発生を低減する。
【解決手段】半導体集積回路は、複数のDFFを有し、その少なくとも1つが冗長回路とされる。半導体集積回路が通常動作モードである際に、ANDゲート1によって冗長回路であるDFF3−3に印加されるクロック信号を停止する。冗長回路へのクロック信号が停止されると、当該冗長回路においてクロック信号が停止された状態における冗長回路のドレイン−グランド間容量よりもその容量を増加させる。 (もっと読む)


【課題】 ストアとリコールを容易かつ安定に行える不揮発性フリップフロップを提供する。
【解決手段】 不揮発性記憶部2_1は、スレーブラッチ部1S_1のインバータ208の出力ノードと共通ノードCNとの間のNチャネルトランジスタ209および抵抗変化型素子224と、スレーブラッチ部1S_1のインバータ207の出力ノードと共通ノードNSとの間のNチャネルトランジスタ210および抵抗変化型素子223と、共通ノードNSと接地との間のNチャネルトランジスタ211を有する。ストア時は、Nチャネルトランジスタ209、210がON、Nチャネルトランジスタ211がOFFとされ、スレーブラッチ部1S_1の記憶データに応じた大小関係が抵抗変化型素子224および210の各抵抗値間に生じる。リコール時は、Nチャネルトランジスタ209〜211をONとし、揮発性フリップフロップ部1_1に対する電源電圧を立ち上げる。 (もっと読む)


【課題】新たな構成の不揮発性の記憶回路を用いた信号処理回路を提供する。
【解決手段】信号処理回路は、メモリと、メモリを制御する制御部と、を有し、制御部は、データラッチ端子を有する揮発性の記憶回路と、データラッチ端子の一方に電気的に接続された第1の不揮発性の記憶回路と、データラッチ端子の他方に電気的に接続された第2の不揮発性の記憶回路と、データラッチ端子の一方及びデータラッチ端子の他方に、高電源電位の半分の電位を供給する機能を有するプリチャージ回路と、を有し、第1の不揮発性の記憶回路及び第2の不揮発性の記憶回路のそれぞれは、酸化物半導体を有するチャネル形成領域を有するトランジスタと、トランジスタがオフ状態となることによってフローティングとなるノードに接続された容量素子と、を有する。 (もっと読む)


【課題】ラッチ型メモリが搭載されたCPUを動作させるに際して、処理内容に応じて常時記憶方式と終了時記憶方式のいずれかを選択し、ラッチ型メモリが搭載されたCPUの消費電力を低減する。
【解決手段】ラッチ型メモリが搭載されたCPUを動作させるに際して、電源のオンオフの繰り返し動作が多い場合には常時記憶方式とし、電源のオンオフの繰り返し動作が少ない場合には終了時記憶方式とする。常時記憶方式と終了時記憶方式のどちらを選択するかは、消費電力に応じて決定したしきい値をもとにして決定する。 (もっと読む)


【課題】従来技術に比較して低電圧で安定に動作することができるフリップフロップ回路とそれを用いたプロセッサ装置を提供する。
【解決手段】第1のラッチ回路及び第2のラッチ回路を含む第1のフリップフロップ回路と、第3のラッチ回路及び第4のラッチ回路を含む第2のフリップフロップ回路とを備えたフリップフロップ回路装置であって、第1の動作電圧で動作させる第1の電圧モード時に、第1及び第2のフリップフロップ回路の内部ノードを接続するゲートを開放することにより第1のフリップフロップ回路と第2のフリップフロップ回路とを別々に動作させる一方、第1の動作電圧よりも低い第2の動作電圧で動作させる第2の電圧モード時に、上記ゲートを短絡することにより第1のフリップフロップ回路と第2のフリップフロップ回路とを互いに反転関係のデータを保持して相補的なデータ処理を行うように協働動作させる。 (もっと読む)


【課題】デュアルパスマルチモード順次記憶素子
【解決手段】本明細書では、デュアルパスマルチモード順次記憶素子(SSE)(10)が説明されている。一実施例では、デュアルパスマルチモードSSEは、第1(14)および第2(12)の順次記憶素子、データ入力、データ出力ならびに選択機構(16)を備えている。第1および第2の順次記憶素子(14、12)は、それぞれ、入力および出力を有する。データ入力は両方の順次記憶素子の入力に結合され、データを受け入れるように構成される。データ出力は両方の順次記憶素子の出力に結合され、データを出力するように構成される。選択機構(16)は、データ入力からのデータをデータ出力に渡すために、順次記憶素子のうちの1つを選択するように構成される。一実施例では、第1の順次記憶素子はパルストリガー式記憶素子(14)を備えており、第2の順次記憶素子はマスタースレーブ記憶素子(12)を備えている。 (もっと読む)


【課題】シングルイベントアップセットへの増加した耐性のある記憶回路が、回路の動作方法と共に提供される。
【解決手段】記憶回路は、第1記憶機能を実行する少なくとも1の動作モードのある第1記憶ブロックと、前記第1記憶機能と異なる第2記憶機能を実行する少なくとも1の動作モードのある第2記憶ブロックとを有する。構成回路は、第2記憶機能が未使用である所定の動作モードに応答し、第1記憶ブロックと並列動作するよう第2記憶ブロックを構成する。記憶ブロックの1つが有用でない機能を実行している場合、2つの記憶ブロックを並列に配列し、有用な記憶機能をなおも実行している記憶ブロックの大きさを増加させ、シングルイベントアップセットへの耐性を増加させる。この手法は、最小面積および電力消費オーバーヘッドのある、多くの逐次セル設計で使用可能な小型記憶回路を提供する。 (もっと読む)


【課題】クロックCが入力される入力端子2とデータDが入力される入力端子3とを有し、クロックの立上り時または立下り時に同期してデータを取り込む従来のフリップフロップ装置では、データに混じってノイズが入って来た場合、それを真正なデータだと誤認して動作してしまっていた。
【解決手段】フリップフロップ装置1を、クロックの第1のエッジでデータを取り込む第1のエッジデータ取込み回路110と、第2のエッジでデータを取り込む第2のエッジデータ取込み回路111と、第1のエッジデータ取込み回路の出力を一時的に保持する一時保持回路112と、一時保持回路の出力と第2のエッジデータ取込み回路との出力を比較し出力する比較・出力判定回路113と、該2つの出力が異なる時に警告を出力する警告出力回路114とで構成する。 (もっと読む)


【課題】ソフトエラーを防止し、信頼性を向上させることができるデータ保持回路を提供することを課題とする。
【解決手段】データを入力する第1の入力端子(IN)と、3個以上の入力端子のデータの中の多数のデータに応じたデータを出力する比較回路(1202)と、前記第1の入力端子と前記比較回路の3個以上の入力端子との間に接続され、それぞれ異なるタイミングでオンからオフに切り替わる3個以上のスイッチ(1201)と、前記比較回路が出力するデータを保持する第1のデータ保持素子(103)とを有することを特徴とするデータ保持回路が提供される。 (もっと読む)


【課題】Dラッチ回路またはDフリップフロップの消費電力の増大を抑制しつつ、低電圧におけるDラッチ回路またはDフリップフロップの誤動作を防止する。
【解決手段】内部信号出力回路320は、内部透過開始タイミングから内部透過終了タイミングまでの間においてはデータ信号を反転した信号を内部信号として出力する。内部信号出力回路320は、内部透過終了タイミングから内部透過開始タイミングまでの間においては所定値に値を固定した信号を内部信号として出力する。nMOSトランジスタ330は、保持指示遅延タイミングからデータの透過が指示されるまでの間に内部透過終了タイミングが含まれるように前記出力された内部信号を遅延させる。 (もっと読む)


【課題】応答速度の低下が比較的少なく、小さな回路サイズで実現できるソフトエラー耐性の高いラッチ回路およびデータ保持回路の実現。
【解決手段】クロックCLKに応じて、入力データDinを取り込んで保持するラッチ回路であって、クロックに応じて、入力データを通過させるトランスファーゲートTGと、4個以上の偶数個のインバータIV11-IV14を直列にループを形成するように接続し、初段IV11の入力および最終段IV14の出力がトランスファーゲートの出力に接続されたループ状インバータ列と、を有し、ループ状インバータ列の4個以上のインバータの駆動力は、前段より後段になるほど大きいラッチ回路。 (もっと読む)


【課題】 データ保持回路を備えた半導体装置において、回路面積の低減及び動作速度の向上を図ること。
【解決手段】 本半導体装置100は、少なくとも1以上の不揮発性のメモリセルFCと、メモリセルFCへの書き込みデータ又はメモリセルFCからの読み出しデータを格納するラッチ回路30とを含み、メモリセルFC及びラッチ回路30がアレイ状に配置された複数の不揮発性メモリ回路20と、複数の不揮発性メモリ回路20におけるラッチ回路30のそれぞれに接続され、データを一時的に保持する複数のデータ保持回路10と、を備える。 (もっと読む)


【課題】反転クロック信号を用いないフリップフロップ回路及びシフトレジスタ回路では、信号の遅延期間中に書き換えを行う場合があるが、充電を阻害する電流が流れてしまい、書き換えに時間がかかり、充電が完了せず動作が不安定になる可能性がある。そこで、反転クロック信号を用いない安定性の高いフリップフロップ回路及びシフトレジスタ回路を提供することを目的とする。
【解決手段】書き換え時に充電を阻害する電流が流れるノードの、充電を阻害する電流をトランジスタで遮断することで書き換えをすばやく行い、安定性の高いフリップフロップ回路及びシフトレジスタ回路を提供することができる。 (もっと読む)


【課題】本発明は、低漏出のデータ保持回路のためのシステム及び方法を提供する。
【解決手段】集積回路は、第1の回路と、スリープトランジスタ回路とを有する。第1の回路は、入力信号を受信して、その入力信号を処理する。第1の回路は、また、漏れの少ないスリープ状態でデータを保持する。スリープトランジスタ回路は、第1の回路へ結合されており、負の電圧を有するスリープ信号を受信する。スリープ回路は、第1の回路でデータを保持している間、スリープ信号に基づいて、漏れが少なくなるようスリープ状態で第1の回路の電力消費を低減する。 (もっと読む)


【課題】 半導体集積回路の消費電力の低減とチップ面積の縮小を可能とするフリップフロップ回路を提供する。
【解決手段】 マスタラッチ1の出力端子であるノードAとスレーブラッチ2の出力端子であるノードFとの間を、クロック信号CKにより導通が制御されるパストランジスタであるNMOSトランジスタNT1により接続し、マスタラッチ1の出力端子であるノードCとスレーブラッチ2の出力端子であるノードEとの間を、クロック信号CKにより導通が制御されるパストランジスタであるNMOSトランジスタNT2により接続する。 (もっと読む)


【課題】消費電力を低減し、誤動作を防止することができるフリップフロップ回路を設計するための設計装置を提供することを課題とする。
【解決手段】第1の入力信号、第1のイネーブル信号及び第1のクロック信号を入力する第1のフリップフロップ回路の第1の設計データに対して、第1のクロック信号の周波数の2倍以上の周波数のクロック信号で第1の静的タイミング解析を行う第1の静的タイミング解析部(S11)と、第1の静的タイミング解析の結果が合格の場合には、第1の設計データを入力し、第1のフリップフロップ回路を第2のフリップフロップ回路に変換した第2の設計データを生成する第1の変換部(S13)とを有し、第1のフリップフロップ回路はクロックゲーティング回路を有さず、第2のフリップフロップ回路はクロックゲーティング回路を有する設計装置が提供される。 (もっと読む)


【課題】フリップフロップ回路において、消費電力を削減し、最高動作周波数を向上させることを目的とする。
【解決手段】フリップフロップ回路の構成要素である、マスター側要素(100)の第1のデータ保持回路(18)とスレーブ側要素(200)の第2のデータ保持回路(19)の各々に対して、それらの動作のON/OFF動作状態を切り替える機能を備え、タイミング制御することにより、不要な電流を削減すると共に、寄生容量の影響を無くし、低消費電力で動作し、且つ高い最高動作周波数を持つフリップフロップ回路を提供することができる。 (もっと読む)


【課題】消費電力を削減するために、クロック反転信号を用いることなくクロック信号に同期してデータの転送および保持を行わせる。
【解決手段】記憶ノードM、MBを持つ状態保持回路F11において、Pチャンネル電界効果トランジスタM1、M2のゲートおよびNチャンネル電界効果トランジスタM3、M4のゲートにはクロック信号CKを入力し、Pチャンネル電界効果トランジスタM1を介してデータ反転信号DBを記憶ノードMBに印加させ、Pチャンネル電界効果トランジスタM2を介してデータ信号DBBを記憶ノードMに印加させ、Nチャンネル電界効果トランジスタM3を介して出力信号Q1を記憶ノードSに印加させ、Nチャンネル電界効果トランジスタM4を介して出力反転信号QB1を記憶ノードSBに印加させる。 (もっと読む)


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