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国際特許分類[C30B29/42]の内容

国際特許分類[C30B29/42]に分類される特許

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【課題】低温でもアルシンを用いたGaAs系化合物半導体の成長を可能とする気相成長装置を提供すること。
【解決手段】反応管10と、前記反応管に成長ガスを導入するガス導入管9と、前記反応管内に基板を設置する手段2と、前記基板を加熱する手段4を具備しエピタキシャル層を気相成長する装置において、前記反応管10またはガス導入管9の少なくとも一方に、アルシンを分解する手段(電磁波を放射する手段11)を設ける。 (もっと読む)


【課題】 装置をコンパクトにでき、原料ガスを効率よく使用して、均一な半導体結晶を成長できるMOCVD装置を提供する。
【解決手段】 ガス排出口26を有する反応菅15と、この反応菅15の上部に設けられ、反応菅15に外部から結晶成長用のガスを供給するガス供給口を備えたフランジ16と、反応菅15中に基板11を載置する載置台12と、を有するMOCVD装置10において、反応菅15の内側にあって、かつガス供給口26の下部のフランジ16に対向配置された基板11に対する前記結晶成長用のガスの流速を均一とする回転数で回転させる回転体22を設けた。 (もっと読む)


【課題】 LEC法において結晶中に取り込まれる不活性ガスを軽減する化合物半導体単結晶の製造方法を提供することにある。
【解決手段】 不活性ガス側から液体封止剤2を貫き原料融液3中に達するように、高温耐熱性物質からなる円筒材8を、引き上げる化合物半導体単結晶1の周囲に設置し、該円筒材8でるつぼ5と単結晶1との間における液体封止剤2及び原料融液3を内外の領域に仕切り、これにより単結晶成長中に取り込まれる不活性ガスの気泡を減らした環境下で、化合物半導体単結晶1を成長させる。 (もっと読む)


【課題】 LEC法により結晶径150mm以上の大口径の化合物半導体単結晶を製造するに際し、成長する結晶の固液界面を最適な形状として、多結晶化を防止することにある。
【解決手段】 LEC法により結晶径が150mm以上の大口径の化合物半導体単結晶を製造する方法において、単結晶製造中の結晶回転数を8〜12(rpm)の範囲に定める。 (もっと読む)


【課題】 比抵抗の高いGaAs結晶の結晶主面に平行な面内における比抵抗値および/またはキャリア移動度のばらつきを低減する。
【解決手段】 比抵抗が1×108Ω・cm〜8×108Ω・cmのGaAs結晶を、800℃〜1000℃で、10時間〜50時間熱処理するGaAs結晶の熱処理方法。ここで、上記熱処理は、不活性ガス雰囲気下または減圧雰囲気下で行なうことができる。また、上記GaAs結晶は、5×1015cm-3〜1×1016cm-3の炭素濃度を有することができる。 (もっと読む)


【課題】 GaAs融液中の酸化物の発生を抑止することが可能で、単結晶化率の高いGaAs単結晶製造方法及び製造装置を提供する。
【解決手段】 チャンバー2内で加熱させるるつぼ5を有し、るつぼ5内のGaAs融液9sに種結晶7を接触させ、その種結晶7を回転させながら引き上げて単結晶10を成長させるGaAs単結晶製造方法において、上記GaAs融液9sよりも酸化物の生成自由エネルギーの低い元素11をGaAs融液以外の場所に配置するGaAs単結晶製造方法及びGaAs単結晶製造装置1である。 (もっと読む)


【課題】基板の両面に、化学的気相成長により異なる組成のエピタキシャル層を得ることが出来る気相エピタキシャル成長装置およびエピタキシャルウェハを提供すること。
【解決手段】反応管6と、該反応管を上部室61と下部室62とに分離する分離板4と、上部室61に第1の成長ガスを導入する第1のガス導入口10と、下部室62に第2の成長ガスを導入する第2のガス導入口14と、分離板4の開口4a内に分離板4とほぼ同一平面を形成するように配置され基板設置用の開口部2aを備えた板状のサセプタ2と、基板3を加熱するヒータ1とを具備し、サセプタ2が備える開口部2aを閉鎖するように基板3を設置することにより、開口部2aから下部室62側に露出した基板の裏面に第2の成長ガスによる第2のエピタキシャル層を形成するとともに、基板3の表面に第1の成長ガスによる第1のエピタキシャル層を形成する。 (もっと読む)


【課題】 固液界面が凹面状に形成されるのを防ぎ、多結晶部の発生を抑制する半導体化合物単結晶の製造方法を提供する。
【解決手段】 原料及び液体封止剤19を入れたるつぼ12を加熱して原料及び液体封止剤19を融解し、融解した原料融液18に接触させた種結晶16を引き上げることにより、単結晶17を成長させる液体封止チョクラルスキー法を用いた化合物半導体単結晶の製造方法において、
始めに、所定の初期引き上げ速度で単結晶17の引き上げを行い、単結晶17の体積がるつぼ内12に投入した原料融液18の体積の所定の割合に達した時点で、単結晶17の引き上げ速度を減速することを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】 るつぼ内で合成したGaAsをるつぼの下部から,浮上させること無く,上部に向って固化させていくことができるGaAs多結晶の合成方法を提供する。
【解決手段】 略円筒形状のるつぼ内にGaとAsと封止材を入れ,るつぼ内において,上方を封止材で封止した状態で,GaとAsを融解させてGaAsを合成した後,るつぼ底面の均熱を保持しながら融解させたGaAsをるつぼの下方から上方に向って固化させる。るつぼの下方から上方に向ってGaAsを固化させるに際し,7℃/cm以上で上方に向って昇温する温度勾配をGaAsの固液界面で形成させ,かつ,GaAsの固液界面の上昇速度を5mm/hr以上とする。 (もっと読む)


【課題】 るつぼ内に酸化ホウ素を充填した場合にも、ヒ化ガリウム結晶にへき開破壊が生じることを防止できるヒ化ガリウム結晶の製造方法を提供する。
【解決手段】 るつぼ1内に、予備合成されたヒ化ガリウム原料4と酸化ホウ素5とが充填され、そのるつぼ1内のヒ化ガリウム原料4が加熱溶融され、ヒ化ガリウム原料4の融液中のガリウムの量をヒ素の量よりも多くした状態でその融液の固化を完了して、カーボンが添加されたヒ化ガリウム結晶を成長させることにより、ヒ化ガリウム結晶が製造される。 (もっと読む)


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