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国際特許分類[C30B33/04]の内容

化学;冶金 (1,075,549) | 結晶成長 (9,714) | 単結晶成長;そのための装置 (9,714) | 単結晶または特定構造を有する均質多結晶物質の後処理 (621) | 電場,磁場または粒子線放射を用いるもの (25)

国際特許分類[C30B33/04]に分類される特許

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【課題】LSA工程でのシリコン基板内に生じる物理的現象を正確に予測できる、シミュレーションによるLSAを施す際に生じるBMDからの発生転位予測方法を提供する。
【解決手段】第1〜第5ステップで、基板をメッシュ要素に細分化してメッシュ化し、LSAのレーザービームの入射エネルギーを負荷として基板の温度分布の時間変化を求め、更にこの温度分布から熱応力分布の時間変化を求める。第6〜第8ステップで、任意の位置Aにおける深さ方向の分布を各時間で選び出し、選び出した温度分布からBMDから発生する転位の臨界応力を求め、選び出した応力分布からせん断応力を求める。第9〜第11ステップで、臨界応力とせん断応力とを各深さ位置ごとに比較し、比較結果から各深さ位置の転位長さを求め、この転位長さからスリップ発生の深さを求める。 (もっと読む)


【課題】支持基板と半導体層とを分離するために照射される光について、支持基板と半導体層との間に形成される中間層の光熱変換層で吸収されない光が半導体層に透過するのを防止する半導体デバイスの製造方法を提供する。
【解決手段】本半導体デバイスの製造方法は、光熱変換層21と第1の透明層23とを含む中間層20を有する積層支持基板1の作製工程と、積層貼り合わせ基板2の作製工程と、エピ成長用積層支持基板3の作製工程と、デバイス用積層支持基板4の作製工程と、デバイス用積層支持基板4の光熱変換層21で吸収され第1の透明層23で全反射されるように光照射することによるデバイス用積層ウエハ5の作製工程と、透明半導体積層ウエハ6を含む半導体デバイス7の作製工程と、を備える。 (もっと読む)


【課題】本発明の目的は、ゲッタリング能力を十分に向上させたシリコンウェーハ及びその製造方法を提供することにある。
【解決手段】本発明のシリコンウェーハの製造方法は、シリコンウェーハの表面に酸素、炭素、窒素のうち何れか1種類以上の元素が存在する状態にて、当該表面にレーザーを照射して、表層部を溶融させた後、溶融させた表層部を固化させることにより、元素を表層部にドープすることを特徴とする。この製造方法によって得られる本発明のシリコンウェーハは、酸素、炭素、窒素の少なくともいずれか1種類以上の元素を高濃度に有する。 (もっと読む)


【課題】結晶を複数片に分離する際の断面の歪の導入を低減し、窒化物半導体結晶の利用効率を上げることが可能な窒化物半導体結晶構造及び窒化物半導体自立基板の製造方法を提供する。
【解決手段】窒化物半導体結晶10から板状の結晶片を分離し、分離した前記板状の結晶片から窒化物半導体自立基板を作製するための窒化物半導体結晶構造において、レーザー光の照射による加熱分解で前記板状の結晶片に分離すべく、前記窒化物半導体結晶10内に、該窒化物半導体結晶10の成長時にバンドギャップの異なる組成の光吸収層2を単層または複数層形成したものである。 (もっと読む)


【課題】切断面に割れや欠けを生じさせること無く単結晶基板を切断可能であり、かつ、切断時に単結晶基板に強いダメージが加わることが無い単結晶基板の切断装置、単結晶基板の切断方法を提供する。
【解決手段】カッティングライン25の加工幅t1よりも外側領域まで、レーザ光源装置12からレーザー光線LRを照射する。このレーザー光線LRの照射幅t2は、カッティングライン25の加工幅t1よりも広くなるように設定する。即ち、レーザー光線LRは、カッティングライン25のエッジを越えて、半導体チップ20の形成領域の端部まで細長く照射する。この照射によって単結晶が多結晶化または非晶質化した改質領域Snを形成し、そこをブレード11で切断する。 (もっと読む)


【課題】サファイア基板等の脆性材料基板を分断する際に、飛散物なしに、かつ比較的厚みが厚い基板においても走査数を少なくして容易に分断できるようにする。
【解決手段】このレーザ加工方法は、パルスレーザ光線を照射して脆性材料基板を分断するレーザ加工方法であって、第1及び第2工程を含んでいる。第1工程は、所定の繰り返し周波数のパルスレーザ光を、集光点が脆性材料基板の内部に位置するように照射し、脆性材料基板の内部に改質層を形成する。第2工程はパルスレーザ光を分断予定ラインに沿って走査する。そして、以上の工程によって、脆性材料基板の厚みtに対して、厚みtの15%以上55%以下の長さで改質層から基板の表面に向かって亀裂を進展させる。 (もっと読む)


【課題】多層膜の成膜により生じた反りを矯正すること。
【解決手段】単結晶基板20と、単結晶基板20の片面に形成された2つ以上の層を有しかつ圧縮応力を有する多層膜30とを含み、単結晶基板20をその厚み方向において2等分して得られる2つの領域20U、20Dのうち、少なくとも単結晶基板20の多層膜30が形成された面側と反対側の面側の領域20D内に、熱変性層22が設けられている多層膜付き単結晶基板、その製造方法および当該製造方法を用いた素子製造方法 (もっと読む)


【課題】
表面及び内部の強誘電体の自発分極を劣化させず、且つ、外部電場で反転しやすいようにするため、酸素等の構成元素の欠落と表面の結晶性の劣化を排除しつつ、自発分極から発生する電場を増大させる。
【解決手段】
酸化物強誘電体の表面に、酸素以外の気体元素を十分に低減した雰囲気で、酸素原子、酸素イオン、オゾンなどの活性酸素を低運動エネルギーで照射する。また、酸化物強誘電体薄膜のように、表面が露出していない場合は、該薄膜の形成前に、該薄膜を形成する下地層の表面に、同様の活性酸素を照射する。 (もっと読む)


本発明は超精密加工の過程における単結晶タイヤモンドツールの磨損が抑制でき、具体的に言えば、超精密切削加工中に多物理場作用によって単結晶タイヤモンドツールの磨損を抑制する方法に関連するものである。つまり多物理場作用の装置を提供し、加工物の切削性能を変えることにより、フェラスメタルを切削する過程中に発生するタイヤモンドツールの磨損を抑制し、フェラスメタルの超精密切削の研究に新たな道を開拓することを狙っている。前述の目的を達成するために、本発明の技術ソリューションはタイヤモンドツールの周辺に異なる多物理場を施し、多物理場は電場、磁場あるいはレーザー放射などを含み、低エネルギー状態の転位形式を形成したことにより、結晶体の界面構造と界面エネルギーを変化させ、ナノスケール精度の切削過程で材料を固相変換を発生させる。従って、材料の切削性能が改善され、超精密加工中の単結晶タイヤモンドツールの磨損を抑制することができる。本発明は主に超精密加工に応用するものである。
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【課題】 半導体露光装置の光学系に用いるレンズ、窓材、プリズムなどの真空紫外光を透過させて使用するフッ化カルシウムなどのフッ化金属単結晶のレーザー耐久性を、短時間且つ簡単で高精度に評価する。
【解決手段】 エックス線又はガンマ線照射の照射によりフッ化金属単結晶に色中心を生成させ、該照射前後の光透過率の変化によりレーザー耐久性を評価する方法において、エックス線又はガンマ線照射後の光透過率の測定前に、紫外線及び/又は真空紫外線照射を行なうことで、短時間に変化する色中心を除去し、残ったほとんど変化がない色中心だけを測定する。これにより測定誤差を大幅に低減することが可能となる。 (もっと読む)


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