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国際特許分類[G01S17/32]の内容

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国際特許分類[G01S17/32]に分類される特許

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【課題】発光素子の温度変化に対する計測精度の変化を抑制する。
【解決手段】投光手段1は、対象空間に投光する発光素子11を備え、受光手段2は、対象空間からの光を受光する受光素子21を備える。制御手段3は、投光手段1に変調信号を与えて発光素子11から時間経過に伴って強度が変化する変調光を投光させ、変調信号に同期する復調信号を受光手段2に与えて受光素子21の出力から変調光の成分を抽出する。演算手段4は、投光手段1から対象空間に投光された変調光が受光手段2に受光されるまでの時間を計測することにより、対象空間に存在する物体までの距離を算出する。温度測定手段6は、発光素子11の温度を計測し、精度維持手段7は、温度測定手段6が計測した温度が高いほど発光素子11の駆動電流を大きくし、発光素子11の温度変化に対して受光素子21に入射する変調光の変化を抑制する。 (もっと読む)


【課題】入力信号が時間的に非対称の場合でも計数結果を精度良く補正する。
【解決手段】カウンタ13は2値化信号のランレングスを数える。計数結果補正部14は、ランレングスの度数分布を、信号の立ち上がりから立ち下がりまでの第1のランレングスと立ち下がりから立ち上がりまでの第2のランレングスについて作成し、第1のランレングスの代表値THの0倍以上1倍未満の長さである第1のランレングスの数の総和、第2のランレングスの代表値TLの0倍以上1倍未満の長さである第2のランレングスの数の総和、{TH+(n−0.5)×(TH+TL)}以上{TH+(n+0.5)×(TH+TL)}未満の長さである第1のランレングスの数の総和、{TL+(n−0.5)×(TH+TL)}以上{TL+(n+0.5)×(TH+TL)}未満の長さである第2のランレングスの数の総和を求め計数結果を補正する。 (もっと読む)


【課題】レーザレーダ装置(ライダ装置)において、測定可能距離を長くすると共に、距離測定分解能を向上させることを目的とする。
【解決手段】時間変化に対し周波数が変化する検出用信号を生成する検出用信号生成部12と、検出用信号によって発振光を変調するレーザ発振・変調部14と、レーザ発振・変調部14によって変調されたレーザ光を送信する送信光学系17と、レーザ反射光を受信する受信光学系18と、受信されたレーザ反射光に対し復調を行う復調部20と、復調された復調信号とのタイミングを、レーザレーダ装置10の位置に応じて調整する遅延時間設定部24と、遅延時間設定部24によってタイミングが調整された参照用信号を生成する参照用信号生成部13、および参照用信号と復調信号との差異を示す差異信号を生成する差異信号生成部22と、差異信号に基づいて、目標物の情報を取得する情報記録・処理部30とを備える。 (もっと読む)


【課題】環境変化に左右されない正確な測距値を取得可能なレーザ画像計測装置を得る。
【解決手段】レーザ光の発振時間と反射光の受光時間との時間差に基づき対象物までの距離を導出するために、基準となる変調信号Mを生成する基準信号発生部20と、変調信号Mにより変調されたレーザ光を出射するレーザ光送信部30と、レーザ光を走査して整形された送信ビームLを出射するレーザ光走査部40と、反射光を受信信号に変換する受信部50と、レーザ光走査部40内のレーザ光走査光学系5から基準固定距離に設置されて送信ビームLが照射される基準反射板6と、受信信号から基準反射板6および対象物の距離値Dzを導出する信号処理部60と、を備える。レーザ光走査部40および受信部50は、基準反射板6からの反射光を、対象物に対する距離測定と同一の光路で送受信する。信号処理部60は、基準反射板6の距離変動量ΔDzから、対象物の距離値を補正する。 (もっと読む)


【課題】距離画像における物体と背景との境界における誤検知の発生を防止した距離画像センサを提供する。
【解決手段】画像生成部10は、強度を変調した変調光を対象空間に投光しその反射光を受光して対象空間の同物体について濃淡画像と距離画像とを生成する。フィルタ処理部20は、距離画像において、濃淡画像の光量が所定の閾値以下の画素に規定値を付与し、さらに規定値の画素に隣接する規定値以外の画素の画素値を、物体または背景の画素値に置換する。 (もっと読む)


【課題】ゴーストのない高精度な光干渉観測を可能にする。
【解決手段】第1の台形プリズム131、第1の直角プリズム132、第2の直角プリズム133、第3の直角プリズム134、第2の台形プリズム135、第4の直角プリズム136を貼り合わせて一体化した構造のプリズムユニットを用いる。上記第1の台形プリズムの互いに平行な二つの面の一方の面にビームスプリッタ膜が形成され、上記ビームスプリッタ膜を挟んで上記面が上記第1の直角プリズムの斜面に貼り合わされ、上記第2の台形プリズムの互いに平行な二つの面の一方の面にビームスプリッタ膜が形成され、上記ビームスプリッタ膜を挟んで上記面が上記第4の直角プリズムの斜面に貼り合わされている。また、上記第2の直角プリズム及び第3の直角プリズムは、各斜面の一方の面に偏光ビームスプリッタ膜が形成され、上記偏光ビームスプリッタ膜を挟んで各斜面が貼り合わされている。 (もっと読む)


【課題】少ない計算量で計数誤差を補正する。
【解決手段】振動周波数計測装置は、半導体レーザ1を発振させるレーザドライバ4と、半導体レーザ1の出力を電気信号に変換するフォトダイオード2の出力に含まれる干渉波形を数える計数装置7と、計数装置7の計数結果から物体10の物理量を求める演算装置8とを有する。計数装置7は、一定の計数期間における干渉波形の周期を測定し、この測定結果から干渉波形の周期の平均値を代表値として算出し、測定した1周期を1つの信号として計数すると共に、測定した周期が代表値の(n+0.5)倍以上(n+1.5)倍未満の場合は、計数の結果にnを加算することを、計数期間中の周期の全測定結果について行う。 (もっと読む)


【課題】距離測定方法を提供する。
【解決手段】距離測定方法は、複数の変調位相オフセットで複数の積分信号を測定する段階と、複数の変調位相オフセットのうちから他の一つの積分信号に対する受信時間を調節するために、複数の変調位相オフセットのうちから少なくとも一つに対する少なくとも一つの積分信号をそれぞれ推定する段階と、推定された少なくとも何れか一つの信号によってターゲットと受信器との距離を決定する段階と、を含む。 (もっと読む)


【課題】計数誤差を補正する。
【解決手段】振動周波数計測装置は、半導体レーザ1を発振させるレーザドライバ4と、半導体レーザ1の出力を電気信号に変換するフォトダイオード2の出力に含まれる干渉波形を数える計数装置7と、計数装置7の計数結果から物体10の物理量を求める演算装置8とを有する。計数装置7は、一定の計数期間における干渉波形の半周期の数を数え、干渉波形の半周期を測定し、この測定結果から計数期間中の干渉波形の半周期の度数分布を作成し、この度数分布から干渉波形の半周期の分布の代表値を算出し、代表値の0.5倍未満である半周期の数の総和Nsと、代表値の2n倍以上(2n+2)倍未満である半周期の数の総和Nwnとを求め、これらの度数NsとNwnに基づいて計数結果を補正する。 (もっと読む)


【課題】可変式受光濃度フィルターが不要であって、測距光量をより高速に調節できる光波距離計の提供。
【解決手段】一定周波数の搬送波を重畳化した信号によって強度変調された光を送出する光送出手段100と、光送出手段100の光を測定地点に配置した目標反射物22または参照光路25のうち選択された一方に送出する光分出手段102と、目標反射物22で反射された測距光または参照光路25を通過した参照光を受光して測距信号と参照信号を出力する受光手段(受光素子30)と、測距信号と参照信号の位相差によって目標反射物22までの直線距離を求める距離算出手段(CPU41)と、を備えた光波距離計において、光送出手段100に光量調節手段101を設けた。 (もっと読む)


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