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国際特許分類[H01L29/16]の内容

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国際特許分類[H01L29/16]に分類される特許

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【課題】塗布法によりゲルマニウム膜を形成するための成膜法、そのためのゲルマニウムポリマーとその製造法を提供する。
【解決手段】テトラハロゲン化ゲルマニウムと、式RQX(ここで、Rは1価の有機基であり、Qはゲルマニウム原子またはマグネシウム原子を表し、Xはハロゲン原子を表し、nは1または3である)で表わされる有機金属ハライドと、リチウムおよび/またはマグネシウムを反応させる第1工程および第1工程で得られた反応生成物をLiAlHで処理する第2工程により、ゲルマニウムポリマーを製造する。また、このゲルマニウムポリマーの溶液を基体表面上に塗布し、加熱し次いで熱および/または光で処理してゲルマニウム膜を形成する。 (もっと読む)


【課題】 不純物濃度傾斜層を用いた高濃度不純物ダイヤモンド薄膜及びその製造方法を提供する。
【解決手段】
ダイヤモンド単結晶基板上に、不純物濃度が異なる不純物ダイヤモンド薄膜を複数層設けることにより、ダイヤモンド単結晶基板側から、不純物が順次高くなった傾斜層を作成し、最外層が最高濃度不純物を含むダイヤモンド薄膜である不純物傾斜型ダイヤモンド薄膜及びその製造方法。 (もっと読む)


炭化ケイ素半導体デバイスを形成するいくつかの方法が開示される。これらの方法は、第1の厚さを有する炭化ケイ素基板の第1の表面に半導体デバイスを形成するステップと、炭化ケイ素基板の第1の表面にキャリア基板を取り付けるステップとを含む。キャリア基板は、炭化ケイ素基板に機械的支持を提供する。これらの方法はさらに、炭化ケイ素基板を、第1の厚さ未満の厚さまで薄くするステップ、炭化ケイ素基板の第1の表面とは反対側の薄くされた炭化ケイ素基板の表面に金属層を形成するステップ、および炭化ケイ素基板の第1の表面とは反対側の薄くされた炭化ケイ素基板の表面にオーミックコンタクトを形成するために、金属層を局所的にアニールするステップを含む。炭化ケイ素基板は、個片化された半導体デバイスを提供するために、個片化される。
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第1及び第2の合成ダイヤモンド領域にホウ素がドープされている。第2の合成ダイヤモンド領域は、第1の合成ダイヤモンド領域よりも大きな度合でホウ素がドープされており、かつ、第1の合成ダイヤモンド領域と物理的に接触している。更なる実施形態では、第1及び第2の合成ダイヤモンド領域は、少なくとも1つの金属リードに取り付けることで、ショットキーダイオードのようなダイヤモンド半導体を形成する。更なる幾つかの実施形態におけるダイヤモンドは、合成ダイヤモンドの導電率を高めるために、C12を高濃度に含んだダイヤモンドである。一実施形態における製造プロセスは、ダイヤモンド層のひとつを水素注入層に沿って分離することを含んでいる。 (もっと読む)


【課題】 更なるIC処理に関してシリコン以外の半導体材料を含む半導体基板を不活性化するための方法を提供する。
【解決手段】 不活性化された半導体基板を作成する方法であって、シリコン以外の半導体材料を含むか、または、シリコン以外の半導体材料より成る単結晶基板の表面を提供する工程と、シリコン層が基板表面の該当部分に実質的に格子整合するように、シリコン層を基板表面に形成する工程とを備える。 (もっと読む)


【課題】薄いゲルマニウム層の電気的品質を改良したゲルマニウム・オン・インシュレータ型ウェーハの製造方法を得る。
【解決手段】ゲルマニウム基板1またはエピタキシャル・ゲルマニウム層を備える基板を設け、ゲルマニウム基板1の一つの主表面3上または主表面3内に誘電体層7を設け、ソース基板をハンドル基板5に取り付けることによりソース・ハンドル複合物を形成し、ソース基板内に前もって設けられ、実質的に主表面に平行な所定分離領域において、基板をソース・ハンドル複合物から取り外すことによりゲルマニウム・オン・インシュレータ・ウェーハを作製する工程を備える。誘電体膜の品質を向上し、同時によりコスト削減効果が高い製造工程を達成するために、ゲルマニウム基板1とハンドル基板5の間に誘電体層7として酸窒化ゲルマニウム層を設ける。 (もっと読む)


【課題】基板処理装置において取扱いが容易であり、且つ、ダイヤモンドの気相成長温度と同程度の高温にも耐えられるダイヤモンド基板及びその製造方法を提供する。
【解決手段】 ダイヤモンド基板1は、第1の領域11と第1の領域11を取り囲む第2の領域12とを含む主面13を有し、第1の領域11に貫通孔14を有する基板10と、貫通孔14内に配置された単結晶ダイヤモンド部20と、第2の領域12上から単結晶ダイヤモンド部20上に渡って設けられており、基板10及び単結晶ダイヤモンド部20に固定された多結晶ダイヤモンド部30とを備える。この構成では、単結晶ダイヤモンド部20は、多結晶ダイヤモンド部30によって、基板10に対して位置が固定される。その結果、基板処理装置を利用してダイヤモンド基板1を処理するときの取扱が容易になり、また、ダイヤモンドの気相成長温度と同程度の高温にも耐えられる。 (もっと読む)


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