説明

ガスの精製方法およびガス精製装置

【課題】窒素ガスまたは希ガスからなる原料ガス中の炭化水素類、水素、一酸化炭素、二酸化炭素、酸素および水を除去して精製する際に、精製装置のコンパクト化が可能であり、高価な触媒の充填量を低減でき、精製コストを削減できるようにする。
【解決手段】原料ガスを触媒に接触させて二酸化炭素と水を生成する工程と、前記触媒に接触させた後の前記原料ガスを水分吸着剤に接触させることにより水を除去する工程と、前記水を除去した後の前記原料ガスをニッケル触媒に接触させることにより反応残渣の酸素を除去する工程と、前記酸素を除去した後の前記原料ガスを、ナトリウムが0.1〜10wt%含有されたアルミナに接触させることにより二酸化炭素を除去する工程と、を具備してなることを特徴とするガスの精製方法を採用する。

【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明は、半導体製造などに用いられる窒素ガス、アルゴンガスなどの不活性ガス中に含まれる炭化水素類、水素、一酸化炭素、二酸化炭素、酸素および水を除去して、精製する方法とその装置に関する。
【背景技術】
【0002】
半導体製造工程においては窒素ガス、アルゴンガスなどの高純度不活性ガスが必要とされている。これらの不活性ガスは、一般に、深冷式空気分離装置で製造されるが、深冷式空気分離装置で製造された不活性ガス中には、ppm〜ppbレベルのメタン、水素、一酸化炭素、二酸化炭素、酸素、水などが不純物として含まれている。
【0003】
しかし、近年の半導体の高集積化に伴い、半導体製造工程で使用される不活性ガス中の不純物濃度はppb以下であることが望まれている。このため、不活性ガスの原料ガスを更に精製することが必要とされているが、原料ガス中に含まれる炭化水素類を効率よく除去することは困難であった。
【0004】
また、近年の半導体工場の大規模化に伴い、不活性ガスの使用量も大幅に増加している。これに伴い、大型の不活性ガス精製設備の導入が進められているが、半導体の熾烈な価格競争に伴い、不活性ガス精製設備のコストダウンが強く望まれている。
【0005】
このように、原料ガス中の微量の不純物を除去して精製する方法としては、特許文献1が知られている。この特許文献1には、炭化水素類、一酸化炭素、酸素および水素を、触媒により炭酸ガスおよび水に転換した後に、酸素を触媒層で除去し、二酸化炭素を第一吸着層で除去し、水分を第二吸着層で除去する方法が提案されている。しかし、この方法では、触媒と原料ガスとの反応により多量の水分が発生するため、その影響で触媒層における酸素の除去効率が低下する問題があった。
【0006】
また、原料ガスを精製する他の方法としては、特許文献2に、ジルコニウムゲッターを用いた不純物の除去方法が提案されている。
しかし、ジルコニウムゲッターは高価かつ再生不可であるため、この方法は、多量の原料ガスの精製には適当ではない。
【0007】
また、特許文献3には、原料ガス中の酸素と一酸化炭素を還元金属により除去し、次いで、二酸化炭素と水をゼオライト等の吸着剤により除去する方法が開示されている。この方法では、不純物吸着後の還元金属を水素ガスで再生することができるため、還元金属の再利用が可能である。
しかし、原料ガス中の二酸化炭素分圧がppbレベルの場合、ゼオライトの二酸化炭素吸着量は非常に少なくなる。そのため、多量の不活性ガスを精製する場合には多量のゼオライトが必要となり、装置が大型化するとともにコストアップの要因になる。
【0008】
また、特許文献4には、原料ガス中の二酸化炭素を酸化亜鉛により除去したのち、酸素と一酸化炭素をニッケル触媒または銅触媒により除去し、さらに水を合成ゼオライトにより除去する方法が開示されている。
この精製方法では、一酸化炭素と酸素をニッケル触媒により除去する際、その触媒作用により、微量の二酸化炭素が発生する。このため、触媒作用で発生した二酸化炭素を再び吸着させるための合成ゼオライトを多量に充填する必要がある。この結果、吸着塔が大きくなり、不活性ガス精製設備のコストアップとなる。
【0009】
また、特許文献5と特許文献6には、原料ガス中の二酸化炭素をアルミナにより除去する方法が開示されている。いずれの方法も、アルカリ金属、土類金属をアルミナに含有させることで、アルミナの二酸化炭素吸着量を増加させることができる。しかし、いずれの方法も空気中の二酸化炭素、すなわち400ppm程度の高濃度の二酸化炭素の除去を対象にしており、低濃度の二酸化炭素を吸着処理する知見はない。さらに、400ppm程度の高濃度二酸化炭素の吸着処理においては、アルミナよりゼオライトの方が二酸化炭素を多く吸着する。このため、従来の精製装置においては、ゼオライトが二酸化炭素の吸着剤として主に使用されていた。
【0010】
また、上記の先行発明方法においては、いずれも多量の原料ガスを精製するためにはそのぶん大きい吸着塔が必要である。また、吸着剤が高価であるため、製造コストが高くなる。このため、多量の不活性ガスを効率的に精製する方法が望まれている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0011】
【特許文献1】特許第2640513号公報
【特許文献2】特許第2741622号公報
【特許文献3】特許第2602670号公報
【特許文献4】特許第3462604号公報
【特許文献5】特開平11-518号公報
【特許文献6】特開2001-104737号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0012】
本発明における課題は、窒素ガスまたは希ガスからなる原料ガス中の炭化水素類、水素、一酸化炭素、二酸化炭素、酸素および水を除去して精製する際に、精製装置のコンパクト化が可能であり、高価な触媒の充填量を低減でき、精製コストを削減できるようにすることにある。
【課題を解決するための手段】
【0013】
かかる課題を解決するため、
請求項1にかかる発明は、窒素ガスまたは希ガスからなる原料ガス中の炭化水素類、水素、一酸化炭素、二酸化炭素、酸素および水を除去するガスの精製方法であって、前記原料ガスを触媒に接触させて、前記炭化水素類、水素および一酸化炭素を酸化性ガスと反応させることにより二酸化炭素と水を生成する工程と、前記触媒に接触させた後の前記原料ガスを水分吸着剤に接触させることにより水を除去する工程と、前記水を除去した後の前記原料ガスをニッケル触媒に接触させることにより反応残渣の酸素を除去する工程と、前記酸素を除去した後の前記原料ガスを、ナトリウムが0.1〜10wt%含有されたアルミナに接触させることにより二酸化炭素を除去する工程と、を具備してなることを特徴とするガスの精製方法である。
【0014】
請求項2にかかる発明は、前記触媒に反応させる炭化水素類、水素および一酸化炭素の量に対して、化学量論的に酸化できる量以上の酸化性ガスが前記原料ガス中に含まれていない場合、酸化性ガスを、前記炭化水素類、水素および一酸化炭素を化学量論的に酸化できる以上の量になるまで前記原料ガスに供給した後に、前記原料ガスを前記触媒に接触させることを特徴とする請求項1に記載のガスの精製方法である。
【0015】
請求項3にかかる発明は、前記原料ガス中の二酸化炭素の分圧が19Pa以下であることを特徴とする請求項1または請求項2に記載のガスの精製方法である。
【0016】
請求項4にかかる発明は、前記ニッケル触媒の体積換算の充填量をVa(L)とし、前記アルミナの体積換算の充填量をVb(L)とした際に、これらの充填量比(Va/Vb)が、Va/Vb<1の関係を満たすことを特徴とする請求項1乃至3のいずれか一項に記載のガスの精製方法である。
【0017】
請求項5にかかる発明は、前記触媒が、活性アルミナ、珪藻土、活性炭のいずれか1つもしくは2以上からなる担体に、Pt,Pd,Ru,Ag,Cu,Mnのいずれか1つもしくは2以上が0.01〜5wt%担持されてなることを特徴とする請求項1乃至4のいずれか一項に記載のガスの精製方法である。
【0018】
請求項6にかかる発明は、前記酸化性ガスが酸素であることを特徴とする請求項1乃至5のいずれか一項に記載のガスの精製方法である。
【0019】
請求項7にかかる発明は、前記炭化水素類がメタンであることを特徴とする請求項1乃至6のいずれか一項に記載のガスの精製方法である。
【0020】
請求項8にかかる発明は、窒素ガスまたは希ガスからなる原料ガス中の炭化水素類、水素、一酸化炭素、二酸化炭素、酸素および水を除去するガス精製装置であって、触媒を充填した触媒塔と、前記触媒塔の下流側に設けられ、前記原料ガスの流入側から流出側に向けて、水分吸着剤、ニッケル触媒およびナトリウム含有アルミナをこの順序によって充填してなる吸着塔と、を備えることを特徴とするガス精製装置である。
【発明の効果】
【0021】
本発明のガスの精製方法によれば、窒素ガスまたは希ガスからなる原料ガスを触媒と接触させることにより、予め原料ガス中の炭化水素類、水素および一酸化炭素を、酸化性ガスと反応させて二酸化炭素と水に転換することができる。このため、触媒接触を用いない従来の精製方法と異なり、原料ガス中の炭化水素類を二酸化炭素および水として除去することができる。
また、触媒に接触させた後の原料ガスを水分吸着剤に接触させることにより、原料ガス中の水を除去することができる。このため、水分吸着剤の下流側に設けられたニッケル触媒の、水による機能低下を防ぐことができる。また、水素および一酸化炭素を酸化性ガスと反応させるため、反応残渣の酸素のみをニッケル触媒により除去することができる。このため、ニッケル触媒の充填量は反応残渣の酸素のみを除去可能な量であればよく、従来の方法よりも充填量を減少させることができる。
また、従来のゼオライトは二酸化炭素の吸着量が少ないので、Ni触媒で二酸化炭素も吸着させていたが、ナトリウム含有アルミナは二酸化炭素の吸着量が多いので、Ni触媒は酸素だけを吸着するのに必要な量を充填するだけで済み、充填量を大幅に削減することが出来る。
この結果、高価なニッケル触媒の充填量は減少し、安価なナトリウム含有活性アルミナの充填量が増加する。このため、不活性ガスの製造コストを低減するとともに、精製装置のコンパクト化を実現することができる。
【0022】
また、触媒に反応させる炭化水素類、水素および一酸化炭素の量に対して、化学量論的に酸化できる量以上の酸化性ガスが原料ガス中に含まれていない場合に、酸化性ガスを、炭化水素類、水素および一酸化炭素を化学量論的に酸化できる以上の量になるまで前記原料ガスに供給することが好ましい。これにより、原料ガス中の炭化水素類、水素および一酸化炭素を全て二酸化炭素と水に転換することができる。そのため、水素および一酸化炭素を除去するためのニッケル触媒が不要となり、ニッケル触媒の充填量増加を抑えることができる。
【0023】
また、酸素を除去した後の原料ガス中の二酸化炭素の分圧は19Pa以下であることが好ましい。ナトリウム含有活性アルミナは、二酸化炭素の分圧が19Pa以下である場合に、ゼオライト触媒よりも効率よく二酸化炭素を除去することができる。このため、ナトリウム含有活性アルミナの充填量を減少させることができ、精製装置のコンパクト化を実現することができる。
【0024】
また、ニッケル触媒の体積換算の充填量をVa(L)とし、アルミナの体積換算の充填量をVb(L)とした際に、これらの充填量比(Va/Vb)が、Va/Vb<1の関係を満たすことが望ましい。高価なニッケル触媒よりも安価なアルミナの充填量比を多くすることにより、不活性ガスの製造コストを低減することができる。
【0025】
また、触媒は、活性アルミナ、珪藻土、活性炭のいずれか1つもしくは2以上からなる担体に、Pt,Pd,Ru,Ag,Cu,Mnのいずれか1つもしくは2以上が0.01〜5wt%担持されてなることが好ましい。このような触媒を用いることにより、炭化水素類を効率的に酸化性ガスと反応させることができる。
【0026】
また、酸化性ガスは酸素であることが好ましい。酸素は安価で扱いやすく、また、炭化水素類、水素および一酸化炭素との反応性に優れているため、原料ガスとの反応を好適に行うことができる。
【0027】
本発明のガス精製装置によれば、触媒を充填した触媒塔を備えることにより、原料ガス中の炭化水素類を除去することが可能となる。また、触媒塔の下流側に、原料ガスの流入側から流出側に向けて、水分吸着剤、ニッケル触媒およびナトリウム含有アルミナをこの順序によって充填してなる吸着塔が設けられていることにより、水、反応残渣の酸素、二酸化炭素を順次除去することができる。このため、反応残渣の酸素のみがニッケル触媒により除去され、ニッケル触媒の充填量を従来の方法よりも減少させることができる。
【0028】
また、ナトリウム含有活性アルミナは、従来用いられていたゼオライト触媒よりも効率よく二酸化炭素を除去することができるため、Ni触媒で二酸化炭素を除去する必要が無く触媒の量を大幅に減少できる。
このため、高価なニッケル触媒の充填量が抑えられ、不活性ガスの製造コスト低減と精製装置のコンパクト化を実現することができる。
【図面の簡単な説明】
【0029】
【図1】図1は、本発明のガス精製装置の一例を示す概略構成図である。
【図2】図2は、ゼオライトと本発明のアルミナの低分圧における二酸化炭素の吸着量を比較した図である。
【図3】図3は、本発明のアルミナに含まれるナトリウム含有量と二酸化炭素の吸着量を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【0030】
以下、本発明を適用したガス精製装置1について、これを用いたガスの精製方法とともに図面を参照して詳細に説明する。
まず、本発明の一実施形態として図1に示すガス精製装置1の構成について説明する。
このガス精製装置1は、窒素ガスまたは希ガスからなる原料ガス中の炭化水素類、水素、一酸化炭素、二酸化炭素、酸素および水を除去するための装置である。
また、ガス精製装置1は、図1に示すように、触媒が充填された触媒塔2と、この触媒塔2の下流側に設けられた吸着塔3Aおよび3Bとを備えて概略構成されている。以下、各構成について詳細を説明する。
【0031】
触媒塔2は、原料ガス中に含まれる不純物である炭化水素類、水素および一酸化炭素を触媒によって水と二酸化炭素とに分解して除去するためのユニットである。より具体的には、触媒塔2の上流側には、原料ガス供給源G1が設けられており、この原料ガス供給源G1から経路L1に設けられた熱交換機4を経た原料ガスが触媒塔2内に供給される。また、この触媒塔2内には触媒が充填されている。また、触媒塔2の外周には、触媒塔2を加熱するためのヒーター2aが設けられている。
【0032】
原料ガスは、上述したように窒素ガスまたは希ガスからなり、不純物として1ppm〜10ppmの濃度の炭化水素類、水素、一酸化炭素、二酸化炭素、酸素および水を含んでいる。
ここで、触媒塔2における処理対象となる炭化水素類としては、特に限定されるものではないが、例えば、メタン、エタンなどのアルカンやベンゼンなどの芳香族炭化水素が挙げられる。特に、メタンは大気中の含有量が多いため、処理対処となることが多い。
【0033】
触媒は、原料ガスと接触することにより、原料ガス中の炭化水素類、水素および一酸化炭素と、酸化性ガスである酸素とを反応させて水と二酸化炭素に分解するためのものである。
このような触媒としては、例えば、活性アルミナ、珪藻土、活性炭のいずれか1つもしくは2以上からなる担体に、Pt,Pd,Ru,Ag,Cu,Mnのいずれか1つもしくは2以上が0.01〜5wt%担持されるものが挙げられる。また、触媒はここに挙げたものに限られず、同様の機能を有するものであれば、他のものを用いてもかまわない。このような触媒を用いることにより、原料ガス中の炭化水素類を効率的に酸素と反応させることができる。
【0034】
触媒塔2の上流側には、酸化性ガス供給源G2が設けられている。この酸化性ガス供給源G2は、経路L2に設けられた弁V1の開閉により、酸化性ガスを原料ガスに供給できるように構成されている。また、原料ガス中の炭化水素類、水素および一酸化炭素の量に対して、化学量論的に酸化できる量以上の酸化性ガスが原料ガス中に含まれていない場合に、酸化性ガス供給源G2から酸化性ガスが供給されるように構成されている。このため、原料ガス中の酸化性ガスの量が不十分であっても、原料ガス中の炭化水素類、水素および一酸化炭素を化学量論的に酸化できる以上の量になるまで、酸化性ガスを原料ガスに供給することができる。
【0035】
酸化性ガスは、原料ガス中の炭化水素類を完全燃焼させることが可能なガスであれば、特に限定されるものではない。このようなガスとしては、例えば、酸素、オゾンなどの、酸素の同素体が挙げられる。これらの中でも、特に酸素が取り扱いの面で好ましい。
【0036】
吸着塔3Aおよび3Bは、触媒塔2から導出された原料ガス中に含まれる、水、反応残渣の酸素および二酸化炭素を除去するためのユニットである。また、吸着塔3Aと吸着塔3Bは同じ構成となっている。
より具体的には、吸着塔3A内と吸着塔3B内には、原料ガスの流入側(底部)から流出側(上部)に向けて、水分吸着剤層6、ニッケル触媒層7、アルミナ層8がこの順で積層充填されている。また、吸着塔3Aおよび3Bは、弁V2〜V9の開閉により、原料ガスおよび再生ガス供給源G4から供給される水素ガスの流れを切り替え可能に構成されている。また、吸着塔3Aおよび3Bの外周には、吸着塔3Aおよび3Bを加熱するためのヒーター3c、3dがそれぞれ設けられている。
【0037】
水分吸着剤層6は、原料ガスと接触することにより原料ガス中の水を吸着するための水分吸着剤である。水分吸着剤としては、たとえば活性アルミナ、シリカゲル、合成ゼオライトのいずれか1つもしくは2以上を用いることができる。また、水分吸着剤は、ここに挙げたものに限定されず、原料ガス中の水を吸着する機能を有するものであれば、他のものを用いても構わない。
【0038】
ニッケル触媒層7は、原料ガスと接触することにより原料ガス中の反応残渣の酸素を除去するために設けられている。具体的には、ニッケル触媒層7には、水素による還元処理を施して再使用できるニッケル触媒が充填されている。このようなニッケル触媒としては、たとえば活性アルミナ、珪藻土、活性炭などの担体にニッケル金属を10〜90wt%担持してなる触媒が用いられる。
【0039】
アルミナ層8は、原料ガスと接触することにより原料ガス中の二酸化炭素を除去するために設けられている。具体的には、アルミナ層8には、ナトリウムを0.1〜10wt%含むγ−アルミナが充填されている。このように、ナトリウム含有活性アルミナがアルミナ層8に充填されていることにより、Ni触媒は酸素だけを吸着するのに必要な量を充填するだけで済み、充填量を大幅に削減することが出来る。
【0040】
また、ニッケル触媒の体積換算の充填量をVa(L)とし、アルミナの体積換算の充填量をVb(L)とした際に、これらの充填量比(Va/Vb)が、Va/Vb<1の関係を満たすことが望ましい。ニッケル触媒よりもアルミナの方が安価であるため、アルミナの充填量比をニッケル触媒より多くすることにより、ガス精製装置1の製造コストを低減することができる。
【0041】
また、吸着塔3Aおよび3Bには、触媒塔2から導出され、熱交換器4および冷却器5を経た原料ガスが供給される。その際、原料ガスは吸着塔3Aまたは3Bのいずれか一方に供給されるように構成されている。また、吸着塔3Aおよび3Bの上部側には、再生ガス供給源G4から経路L7、弁V10および経路L8を経た水素ガスが吸着塔3Aまたは3Bのいずれか他方に供給されるように構成されている。
【0042】
また、吸着塔3Aおよび3Bの上部側の経路L5には、不活性ガス排出部G3が設けられており、吸着塔3Aまたは3Bによって精製された不活性ガスが排出される。また、経路L5から経路L8と弁V11を経た不活性ガスが吸着塔3Aまたは3Bに供給されるように構成されている。また、吸着塔3Aおよび3Bの底部側の経路L6には、排気ガス排出部G5が設けられており、排気ガスが排出される。
【0043】
なお、図1では、吸着塔3A内の底部から上部に向けて水分吸着剤層6、ニッケル触媒層7、アルミナ層8が積層充填されているが、原料ガスの流入側から流出側に向けての順序が同じになるように、配置を逆に変えても構わない。すなわち、吸着塔3A内の配置を逆にすることにより、吸着塔3Aの上部から底部にかけて原料ガスを流すことが可能な、ダウンフロー構造としてもかまわない。
【0044】
本実施形態のガス精製装置1によれば、触媒を充填した触媒塔2を備えることにより、原料ガス中の炭化水素類を除去することが可能となる。また、触媒塔2の下流側に、原料ガスの流入側から流出側に向けて、水分吸着剤、ニッケル触媒およびナトリウム含有アルミナをこの順序によって充填してなる吸着塔3A、3Bが設けられていることにより、水、反応残渣の酸素、二酸化炭素を順次除去することができる。このため、反応残渣の酸素のみがニッケル触媒により除去され、ニッケル触媒の充填量を従来の方法よりも減少させることができる。また、ナトリウム含有活性アルミナは、従来、二酸化炭素除去用の触媒として用いられていたゼオライト触媒よりも効率よく二酸化炭素を除去することができるため、二酸化炭素除去に必要な触媒(ニッケル触媒)の量を大幅に減少することができる。
このため、高価なニッケル触媒の充填量が抑えられ、不活性ガスの製造コスト低減と、ガス精製装置1のコンパクト化を実現することができる。
【0045】
次いで、本実施形態のガス精製方法について、図面を用いて説明する。本実施形態のガス精製方法(吸着工程)は、原料ガスを触媒に接触させて、炭化水素類、水素および一酸化炭素を酸化性ガスと反応させることにより二酸化炭素と水を生成する工程と、触媒に接触させた後の原料ガスを水分吸着剤に接触させることにより水を除去する工程と、水を除去した後の原料ガスをニッケル触媒に接触させることにより反応残渣の酸素を除去する工程と、酸素を除去した後の原料ガスを、ナトリウムが0.1〜10wt%含有されたアルミナに接触させることにより二酸化炭素を除去する工程と、から概略構成されている。
【0046】
まず、図1に示すように、原料ガス供給源G1から原料ガスを経路L1に導入する。このとき、原料ガスとしては、たとえば深冷式空気分離装置により製造したものや、コールドエバポレータータンク(超低温液化ガス貯槽)に貯蔵したものを用いることができる。
【0047】
ここで、原料ガス中の炭化水素類、水素および一酸化炭素の量に対して、化学量論的に酸化できる量以上の酸化性ガスが原料ガス中に含まれていない場合には、酸化性ガスを経路L2に導入することが好ましい。なお、酸化性ガスは、原料ガス中の炭化水素類、水素および一酸化炭素を化学量論的に酸化できる以上の量になるまで供給することが好ましい。また、酸化性ガスとしては、酸素を用いることが好ましい。
【0048】
これにより、酸化性ガスは経路L1内で原料ガスと混合され、熱交換器4を経て、ヒーター2aで加熱された触媒塔2に流入する。このとき、原料ガスおよび酸化性ガスの温度が十分でない場合は、熱交換器4より適宜加熱することができる。
【0049】
この後、原料ガスは触媒塔2内の触媒に接触し、原料ガス中の炭化水素類、水素および一酸化炭素が酸化性ガスと反応する。このとき、過剰の酸素は反応せず、反応残渣の酸素として原料ガス中に残留する。また、この反応により、二酸化炭素と水が生成される。これにより、この段階における原料ガス中の不純物は、二酸化炭素、水および反応残渣の酸素のみとなる。
【0050】
この後、原料ガスは、経路L3に設けられた熱交換器4および冷却器5、経路L4、弁V2を経て吸着塔3Aに導入する。このとき、原料ガスの温度が高すぎる場合には、熱交換器4および冷却器5により適宜温度を調整すればよい。このとき、原料ガスを吸着塔3Aと吸着塔3Bのどちらに導入させても構わないが、ここでは吸着塔3Aに原料ガスを導入させた場合について説明する。
【0051】
吸着塔3Aに導入された原料ガスは、まず水分吸着剤層6に流入する。ここで原料ガスは水分吸着剤に接触し、水分が吸着、除去される。
【0052】
次いで、水分吸着剤層6から流出した原料ガスは、ニッケル触媒層7へ流入する。ここで、原料ガスはニッケル触媒に接触し、反応残渣の酸素が吸着、除去される。
【0053】
次いで、ニッケル触媒層7から流出した原料ガスは、アルミナ層8へ流入する。ここで、原料ガスはナトリウム含有活性アルミナに接触し、二酸化炭素が吸着、除去される。このとき、ナトリウム含有活性アルミナに接触する前の段階における原料ガス中の二酸化炭素の分圧は19Pa以下であることが望ましい。図2に示すように、ナトリウム含有活性アルミナは、原料ガス中の二酸化炭素の分圧が19Pa以下の場合にゼオライト触媒よりも効率よく二酸化炭素を除去することができる。そのため、原料ガス中の二酸化炭素の分圧を予め19Pa以下としておくことにより、二酸化炭素を効率的に吸着、除去することができる。なお、図2は、ゼオライトとアルミナの二酸化炭素吸着量を比較したグラフである。また、図2における二酸化炭素吸着量の測定は、定容量式ガス吸着量測定装置を用いて、温度を25℃に一定にするとともに圧力を任意に設定して行ったものである。
このように、原料ガス中の二酸化炭素を効率的に除去できるため、Ni触媒は酸素のみを吸着する量を充填すれば良く、Ni触媒の充填量を減少することができる。
【0054】
この後、原料ガスは、弁V8、経路L5を経て、不活性ガス排出部G3より精製ガス(不活性ガス)として導出される。このとき、不活性ガスの不純物(炭化水素、水素、一酸化炭素、二酸化炭素、酸素および水)の濃度は0.1ppbレベル以下となっている。
【0055】
次いで、吸着塔3Aにおける再生工程について説明する。
まず、吸着塔3Aにおいて吸着工程を行った後、弁V2〜V9を開閉操作して、原料ガスおよび水素ガスの流れを切り替える。これにより、吸着塔3Aは再生工程に入り、吸着塔3Bは吸着工程に入る。
【0056】
次いで、再生ガス供給源G4から水素ガスを経路L7に導入する。これにより、水素ガスは経路L8中で、精製後の不活性ガスの一部と混合され、水素濃度1〜5vol%の混合ガスとなる。次いで、前記混合ガスを吸着塔3Aの上部側に導入する。これにより混合ガスは、アルミナ層8、ニッケル触媒層7、水分吸着剤層6を順次通過する。
【0057】
このとき、吸着塔3Aはヒーター3cにより加熱されている。このため、アルミナ層8に吸着されている二酸化炭素、ニッケル触媒層7に吸着されている酸素、水分吸着剤層6に吸着されている水分などの不純物が、ヒーター3cによる加熱と混合ガスの作用により順次脱着する。これにより、混合ガスに前記不純物が混合し、経路L6を経て排気ガス排出部G5から排気ガスとして排出される。
このようにして再生を終えた吸着塔3Aは、次の吸着工程を待つことになる。
【0058】
また、吸着塔3Aにおける再生工程の間、吸着塔3Bに導入された原料ガスは、前述した工程と同様に不純物が吸着され、不活性ガスとして不活性ガス排出部G3から排出される。この詳細については前述した吸着塔3Aにおける吸着工程と同様であるため、説明を省略する。
【0059】
本実施形態のガスの精製方法によれば、原料ガスを触媒と接触させることにより、予め原料ガス中の炭化水素類、水素および一酸化炭素を、酸化性ガスと反応させて二酸化炭素と水に転換することができる。このため、触媒接触を用いない従来の精製方法と異なり、原料ガス中の炭化水素類を二酸化炭素および水として除去することができる。
また、触媒に接触させた後の原料ガスを水分吸着剤に接触させることにより、原料ガス中の水を除去することができる。このため、水分吸着剤の下流側に設けられたニッケル触媒の、水による機能低下を防ぐことができる。また、水素および一酸化炭素を酸化性ガスと反応させるため、反応残渣の酸素のみをニッケル触媒により除去することができる。このため、ニッケル触媒の充填量は反応残渣の酸素のみを除去可能な量であればよく、従来のガスの精製方法よりも充填量を減少させることができる。
【0060】
また、触媒に反応させる炭化水素類、水素および一酸化炭素の量に対して、化学量論的に酸化できる量以上の酸化性ガスが原料ガス中に含まれていない場合に、酸化性ガスを、炭化水素類、水素および一酸化炭素を化学量論的に酸化できる以上の量になるまで原料ガスに供給することにより、原料ガス中の炭化水素類、水素および一酸化炭素を全て二酸化炭素と水に転換することができる。そのため、水素および一酸化炭素を除去するためのニッケル触媒が不要となる。
このため、高価なニッケル触媒の充填量を減少させることができ、不活性ガスの製造コストを低減することができる。
【0061】
また、原料ガス中の二酸化炭素の分圧を19Pa以下とすることにより、二酸化炭素をナトリウム含有活性アルミナにより効率より除去することができる。このため、Ni触媒の充填量を減少させることができる。
以上により、吸着塔3A(3B)内の触媒(ニッケル触媒、ナトリウム含有活性アルミナ)の含有量を減少できる。このため、ガス精製装置1のコンパクト化を実現することができる。
【実施例】
【0062】
以下に、本発明のガスの精製方法を、実施例によりさらに詳細に説明するが、本発明はこれらの実施例にのみ限定されるものではない。
【0063】
(実施例1)
はじめに、内径100mmのステンレス鋼製円筒内に、アルミナ坦持のPd触媒を400mm充填して触媒塔2とした。また、内径100mmのステンレス鋼製円筒内に、厚さ100mmのゼオライト層からなる水分吸着剤層6(MS5A)、厚さ50mmのニッケル触媒層7(N112)、厚さ250mmのナトリウムを重量比で5.8%含むアルミナ層8を、原料ガス流入側から流出側にかけて順に形成して吸着塔3Aとした。
【0064】
まず、吸着塔3Aの各層を以下の条件で再生した。
初めに、水素濃度2vol%を含む窒素を吸着塔3Aに、経路L7および経路L8を経て流量2Nm/時間で3時間導入するとともに、ヒーター3cにより200℃に加熱した。次いで、窒素を吸着塔3Aに流量2Nm/時間で流したのちに、吸着塔3Aを冷却した。
【0065】
次いで、吸着工程を行った。
まず、1ppm−メタン、1ppm−水素、1ppm−一酸化炭素、0.5ppm−二酸化炭素、4ppm−酸素、2.6ppm−水分を含む窒素を原料ガスとして、圧力100PaG、温度400℃、流量15Nm/時間の条件で触媒塔2に導入した。その後、熱交換器4および冷却器5により、原料ガスの温度を25℃まで冷却し、吸着塔3Aに導入した。
吸着塔3Aへの原料ガス導入開始後、50時間経過した時点で、酸素が第1破過成分として検出された。
【0066】
(実施例2)
内径100mmのステンレス鋼製円筒内に、アルミナ坦持のPt触媒を400mm充填して触媒塔2とした。また、内径100mmのステンレス鋼製円筒内に、上方から厚さ100mmのゼオライト層からなる水分吸着剤層6((MS5A)、厚さ50mmのニッケル触媒層7(N112)、厚さ250mmのナトリウムを重量比で5.8%含むアルミナ層8を、原料ガス流入側から流出側にかけて順に形成して吸着塔3Aとした。
【0067】
次いで、吸着塔3Aを実施例1と同様の条件で再生した後、実施例1と同様の条件で吸着工程を行った。
触媒塔2および吸着塔3Aへの原料ガス導入開始後、49時間経過した時点で、酸素が第1破過成分として検出された。
【0068】
(比較例1)
内径100mmのステンレス鋼製円筒内に、上方から厚さ100mmのゼオライト層からなる水分吸着剤層6(MS5A)、厚さ200mmのニッケル触媒層7(N112)、厚さ250mmのナトリウムを重量比で5.8%含むアルミナ層8を、原料ガス流入側から流出側にかけて順に形成して吸着塔3Aとした。次いで、再生工程を以下の条件で行った。
【0069】
初めに、水素濃度2vol%の窒素を200℃に加熱し、吸着塔3Aに、経路L7および経路L8を経て流量2Nm/時間で3時間流した。次いで、窒素を200℃に加熱し、吸着塔3Aに流量2Nm/時間で3時間流した。
こののち、1ppm−メタン、1ppm−水素、1ppm−一酸化炭素、0.5ppm−二酸化炭素、4ppm−酸素、2.6ppm−水分を含む窒素を原料ガスとして、圧力100PaG、温度25℃、流速(空塔速度)26.5cm/秒、流量15Nm/時間の条件で吸着塔3Aに導入した。
導入開始直後よりメタンが1ppm検出され、さらに47時間経過した時点で、水素が第1破過成分として検出された。
【0070】
(比較例2)
内径100mmのステンレス鋼製円筒内に、アルミナ坦持のPd触媒を400mm充填して触媒塔2とした。また、内径100mmのステンレス鋼製円筒内に、厚さ50mmのニッケル触媒層6(N112)、厚さ100mmのゼオライト層からなる水分吸着剤層7(MS5A)、厚さ250mmのナトリウムを重量比で5.8%含むアルミナ層8を、原料ガス流入側から流出側にかけて順に形成して吸着塔3Aとした。
【0071】
次いで、吸着塔3Aを実施例1と同様の条件で再生した後、実施例1と同様の組成の原料ガスを同様に条件で触媒塔2と吸着塔3Aに導入した。触媒塔2および吸着塔3Aへの原料ガス導入開始後、40時間経過した時点で、酸素が第1破過成分として検出された。
【0072】
(比較例3)
内径100mmのステンレス鋼製円筒内に、アルミナ坦持のPd触媒を400mm充填して触媒塔2とした。また、内径100mmのステンレス鋼製円筒内に、上方から厚さ100mmのゼオライト層からなる水分吸着剤層6(MS5A)、厚さ50mmのニッケル触媒層7(N112)、厚さ250mmのアルミナ層8を、原料ガス流入側から流出側にかけて順に形成して吸着塔3Aとした。
【0073】
次いで、吸着塔3Aを実施例1と同様の条件で再生した後、実施例1と同様の組成の原料ガスを同様に条件で触媒塔2と吸着塔3Aに導入した。触媒塔2および吸着塔3Aへの原料ガス導入開始後、27時間経過した時点で、二酸化炭素が第1破過成分として検出された。
【0074】
各実施例、比較例の触媒・吸着剤の充填量と、実験による破過成分と破過時間を表1に纏めた。
【0075】
【表1】

【0076】
実施例1と比較例1とから、触媒塔2の触媒により炭化水素類(メタン)、水素、一酸化炭素と酸素を反応させることで、メタンが除去されたことがわかる。さらに、触媒塔2で予め原料ガスを反応させることにより、ニッケル触媒への負荷は、酸素のみとなるため、ニッケル触媒の充填量を大幅に減らすことができる。(比較例1では、ニッケル触媒へ水素、一酸化炭素、酸素の負荷がかかるため、ニッケル触媒の充填量を4倍にしても水素の破過が47時間で始まった。)
【0077】
また、実施例1と比較例2とから、水分吸着剤層6をニッケル触媒層7の上流側に形成することで、ニッケル触媒層7での酸素吸着量が増加することがわかる。
【0078】
また、実施例1と比較例3とから、ナトリウムを含むアルミナを使用すると、アルミナの充填量を大幅に減らしても、不活性ガス中から二酸化炭素が検出されないことがわかる。
【0079】
(実施例3)
二酸化炭素分圧1Paの条件下で、ナトリウム含有量を変えてアルミナの二酸化炭素吸着量を測定した。この結果、ナトリウム含有量0.1wt%、1.6wt%、5.8wt%、9.8wt%のアルミナの二酸化炭素吸着量がそれぞれ38,50,60,65mmmol/kgであったのに対し、ナトリウム含有量が0.1wt%以下のアルミナの二酸化炭素吸着量はそれぞれ28mmol/kgであった。この結果を、図3に、横軸をナトリウム含有量、縦軸を二酸化炭素吸着量としたグラフを示す。なお、図3に示す二酸化炭素吸着量の測定は、定容量式ガス吸着量測定装置を用いて、温度25℃、圧力1Paに設定して行った。
図3のグラフより、ナトリウムを含有するアルミナの二酸化炭素吸着能力が、ナトリウムを含有しないアルミナより高いことが判る。
【符号の説明】
【0080】
1…ガス精製装置、2…触媒塔、3A,B…吸着塔、6…水分吸着剤層、7…ニッケル触媒層、8…アルミナ層、G1…原料ガス供給源、G2…酸化性ガス供給源、G3…不活性ガス排出部

【特許請求の範囲】
【請求項1】
窒素ガスまたは希ガスからなる原料ガス中の炭化水素類、水素、一酸化炭素、二酸化炭素、酸素および水を除去するガスの精製方法であって、
前記原料ガスを触媒に接触させて、前記炭化水素類、水素および一酸化炭素を酸化性ガスと反応させることにより二酸化炭素と水を生成する工程と、
前記触媒に接触させた後の前記原料ガスを水分吸着剤に接触させることにより水を除去する工程と、
前記水を除去した後の前記原料ガスをニッケル触媒に接触させることにより反応残渣の酸素を除去する工程と、
前記酸素を除去した後の前記原料ガスを、ナトリウムが0.1〜10wt%含有されたアルミナに接触させることにより二酸化炭素を除去する工程と、を具備してなることを特徴とするガスの精製方法。
【請求項2】
前記触媒に反応させる炭化水素類、水素および一酸化炭素の量に対して、化学量論的に酸化できる量以上の酸化性ガスが前記原料ガス中に含まれていない場合、
酸化性ガスを、前記炭化水素類、水素および一酸化炭素を化学量論的に酸化できる以上の量になるまで前記原料ガスに供給した後に、前記原料ガスを前記触媒に接触させることを特徴とする請求項1に記載のガスの精製方法。
【請求項3】
前記酸素を除去した後の前記原料ガス中の二酸化炭素の分圧が19Pa以下であることを特徴とする請求項1または請求項2に記載のガスの精製方法。
【請求項4】
前記ニッケル触媒の体積換算の充填量をVa(L)とし、前記アルミナの体積換算の充填量をVb(L)とした際に、これらの充填量比(Va/Vb)が、Va/Vb<1の関係を満たすことを特徴とする請求項1乃至3のいずれか一項に記載のガスの精製方法。
【請求項5】
前記触媒が、活性アルミナ、珪藻土、活性炭のいずれか1つもしくは2以上からなる担体に、Pt,Pd,Ru,Ag,Cu,Mnのいずれか1つもしくは2以上が0.01〜5wt%担持されてなることを特徴とする請求項1乃至4のいずれか一項に記載のガスの精製方法。
【請求項6】
前記酸化性ガスが酸素であることを特徴とする請求項1乃至5のいずれか一項に記載のガスの精製方法。
【請求項7】
前記炭化水素類がメタンであることを特徴とする請求項1乃至6のいずれか一項に記載のガスの精製方法。
【請求項8】
窒素ガスまたは希ガスからなる原料ガス中の炭化水素類、水素、一酸化炭素、二酸化炭素、酸素および水を除去するガス精製装置であって、
触媒を充填した触媒塔と、
前記触媒塔の下流側に設けられ、前記原料ガスの流入側から流出側に向けて、水分吸着剤、ニッケル触媒およびナトリウム含有アルミナをこの順序によって充填してなる吸着塔と、を備えることを特徴とするガス精製装置。

【図1】
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【図2】
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【図3】
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【公開番号】特開2012−51753(P2012−51753A)
【公開日】平成24年3月15日(2012.3.15)
【国際特許分類】
【出願番号】特願2010−194899(P2010−194899)
【出願日】平成22年8月31日(2010.8.31)
【出願人】(000231235)大陽日酸株式会社 (642)
【Fターム(参考)】