コンピュータ装置、メモリ診断方法、及びメモリ診断制御プログラム
【課題】複雑なメモリ診断プログラムであってもＯＳ起動前にこれを正常に実行することができること。
【解決手段】メインメモリを有するコンピュータ装置であって、第１のメモリ診断プログラムを実行することにより、メインメモリの不良領域の特定を行う第１のメモリ診断手段と、再配置可能な第２のメモリ診断プログラムが記憶された記憶手段と、メインメモリのうち、第１のメモリ診断手段により特定された不良領域を除く領域に、記憶手段に記憶されている第２のメモリ診断プログラムを展開し、実行する第２のメモリ診断手段と、を有する。
【解決手段】メインメモリを有するコンピュータ装置であって、第１のメモリ診断プログラムを実行することにより、メインメモリの不良領域の特定を行う第１のメモリ診断手段と、再配置可能な第２のメモリ診断プログラムが記憶された記憶手段と、メインメモリのうち、第１のメモリ診断手段により特定された不良領域を除く領域に、記憶手段に記憶されている第２のメモリ診断プログラムを展開し、実行する第２のメモリ診断手段と、を有する。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、コンピュータ装置、メモリ診断方法、及びメモリ診断制御プログラムに関し、特に、複雑なメモリ診断プログラムであってもＯＳ起動前に正常に実行することのできるコンピュータ装置、メモリ診断方法、及びメモリ診断制御プログラムに関する。
【背景技術】
【０００２】
従来より、コンピュータ装置では、内蔵された各デバイスの不良箇所を診断する種々の診断テストが行われている。このような診断テストを行うコンピュータ装置の一例として、特許文献１には、内蔵された各メモリにおけるメモリ機能が正常に機能するか否か（例えば、メモリに所定のデータが正常に読み書きできるか否か）を診断するメモリ診断テストを実行するものが開示されている。
【０００３】
このメモリ診断テストの一番簡単なものとして、コンピュータ装置のＢＩＯＳ（Basic Input/Output System）の一部にメモリ診断プログラムを予め記憶しておき、該コンピュータ装置の起動時に、ＢＩＯＳと同時に上記メモリ診断プログラムを動作させるものがある。
【０００４】
しかしながら、一般にＢＩＯＳは、容量が非常に小さく、この領域には、ＩＰＬ（Initial Program Loader）などの他のプログラムも記憶されていることから、メモリ診断プログラムとして簡易なものしか記憶できない。このため、従来のコンピュータ装置では、複雑なメモリチェックを行うためのメモリ診断プログラムは、一般に、ＢＩＯＳの動作後、ＯＳ（Ｏｐｅｒａｔｉｏｎ Ｓｙｓｔｅｍ）を起動させた後に、ＯＳによってＲＡＭ（Ｒａｎｄｏｍ Ａｃｃｅｓｓ Ｍｅｍｏｒｙ）等のメインメモリ上に展開され、実行されていた。
【０００５】
ところで、従来のコンピュータ装置では、メインメモリ内の全てのアドレスに不良がない場合に初めて、その正常動作が可能であった。しかし、近年では、先にメモリチェックを行い、メインメモリの不良領域を利用しないようにすることにより、メインメモリ内に多少の不良領域があっても、正常動作するコンピュータ装置が、新たなコンピュータ装置として望まれてきている。
【０００６】
【特許文献１】特開平６−４４１３号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
メインメモリ内に多少の不良領域があっても、コンピュータ装置を正常動作させるためには、ＯＳ起動前に、メインメモリ内の不良領域を検出しておく必要がある。
【０００８】
しかしながら、上記したＢＩＯＳに記憶されているメモリ診断プログラムによる診断では、ＯＳを正常動作できる程度のメモリ診断ができない。
【０００９】
ここで、ＢＩＯＳ以外のＲＯＭなどの記憶手段に、従来、ＯＳで処理していたような複雑なメモリ診断プログラムを記憶させておき、かつ、ＢＩＯＳに、この複雑なメモリ診断プログラムをメインメモリ上の所定アドレスに展開させ、実行させるプログラムを記憶させておくことで、コンピュータ装置の起動時に複雑なメモリ診断プログラムを起動させることも考えられる。
【００１０】
しかしながら、この構成では、メモリ診断前のメインメモリにメモリ診断プログラムを展開して実行することになる。即ち、メモリ診断プログラムを展開するメインメモリの領域が不良領域か否かが不明である状態で、メモリ診断プログラムをメインメモリに展開することになり、メモリ診断プログラム自体が実行できない可能性がある。
【００１１】
開示の技術は、上述した従来技術による問題点を解消するためになされたものであり、複雑なメモリ診断プログラムであってもＯＳ起動前にこれを正常に実行することのできるコンピュータ装置、メモリ診断方法、メモリ診断制御プログラムを提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１２】
上述した課題を解決し、目的を達成するため、本願の開示するコンピュータ装置は、メインメモリの不良領域の特定を行う第１のメモリ診断手段と、再配置可能な第２のメモリ診断プログラムが記憶された記憶手段と、前記メインメモリのうち、前記第１のメモリ診断不良領域を除く領域に、前記記憶手段に記憶されている前記第２のメモリ診断プログラムを展開し、実行させる第２のメモリ診断手段と、を有する。
【発明の効果】
【００１３】
この態様によれば、まずは、メインメモリを利用しないもしくはメインメモリ上での占有の少ない第１のメモリ診断プログラムを実行して、メインメモリの簡易な診断を行い、この診断結果を利用して、メインメモリに展開が必要で詳細なメモリ診断が行える第２のメモリ診断プログラムの配置場所を特定できるようになるので、第２のメモリ診断プログラムがメインメモリの不良領域に展開されるという可能性が低くなり、第２のメモリ診断プログラムが実行できないという事態を極力回避することができるようになる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１４】
以下に添付図面を参照して、本願の開示するコンピュータ装置、メモリ診断方法、及びメモリ診断制御プログラムの好適な実施の形態を詳細に説明する。
【実施例】
【００１５】
まず、本実施例に係るコンピュータ装置の概要について説明する。本実施例に係るコンピュータ装置は、メインメモリを有するコンピュータ装置であって、第１のメモリ診断プログラムを実行することにより、前記メインメモリの不良領域の特定を行う第１のメモリ診断手段と、再配置可能な第２のメモリ診断プログラムが記憶された記憶手段と、前記メインメモリのうち、前記第１のメモリ診断手段により特定された不良領域を除く領域に、前記記憶手段に記憶されている前記第２のメモリ診断プログラムを展開し、実行する第２のメモリ診断手段と、を有するものである。
【００１６】
すなわち、本実施例に係るコンピュータ装置は、複数のメモリ診断プログラムを実行することにより、コンピュータ装置が有するＤＲＡＭ（Ｄｙｎａｍｉｃ Ｒａｎｄｏｍ Ａｃｃｅｓｓ Ｍｅｍｏｒｙ）等のメインメモリの診断を行う。
【００１７】
具体的には、コンピュータ装置内部のＲＯＭ（Ｒｅａｄ Ｏｎｌｙ Ｍｅｍｏｒｙ）などの記憶手段に、互いに異なる複数のメモリ診断プログラムが予め記憶されており、第１のメモリ診断手段は、この複数のメモリ診断プログラムのうち、第１のメモリ診断プログラムを実行することにより、メインメモリを診断する。
【００１８】
ここで、複数のメモリ診断プログラムは、それぞれ異なるメモリ機能の診断を行うものであり、そのメモリ機能の診断レベルに応じて、異なるプログラムサイズを有している。つまり、複数のメモリ診断プログラムのうち、より高度なメモリ機能の診断を行うものほど、そのプログラムサイズが大きくなっている。なお、第１のメモリ診断プログラムは、複数のメモリ診断プログラムのうち、メモリ機能の診断レベルの最も低く、そのプログラムサイズの最も小さいメモリ診断プログラムである。
【００１９】
本実施例に係る第１のメモリ診断手段は、第１のメモリ診断プログラムを、メインメモリ上に展開することなく実行する。これにより、第１のメモリ診断手段によって、メインメモリを使用することなく、最初に簡易なメモリ機能の診断が行われ、その後、第２のメインメモリ診断手段によって徐々に高度なメモリ機能の診断が行われることになる。したがって、メインメモリに不良領域が存在しているか否かが不明な段階で、メモリ診断プログラムをメインメモリ上に展開することを回避することができるので、メモリ診断プログラムが実行不能となる事態を回避することができる。
【００２０】
なお、メインメモリ上に展開したときの第１のメモリ診断プログラムのメインメモリ上における占有面積が比較的に小さい場合には、第１のメモリ診断手段が、第１のメインメモリ診断プログラムをメインメモリ上に展開するようにしても良い。
【００２１】
そして、第２のメモリ診断手段は、メインメモリのうち、第１のメモリ診断手段により特定された不良領域を除く領域に、ＲＯＭ等の記憶手段に記憶されている第２のメモリ診断プログラムを展開し、実行する。言い換えると、第２のメモリ診断手段は、第１のメモリ診断手段により特定された不良領域を、メインメモリのうち、第２のメモリ診断プログラムを展開する領域から除外するのである。なお、不良領域とは、メインメモリの全領域のうち、読み書き機能などのメモリ機能が正常に機能しない領域を言う。また、第２のメモリ診断プログラムは、複数のメモリ診断プログラムのうち、第１のメモリ診断プログラムよりもメモリ機能の診断レベルが高く、そのプログラムサイズが大きいメモリ診断プログラムである。
【００２２】
このようにすることによって、本実施例に係るコンピュータ装置は、メインメモリのうち、不良領域に誤って第２のメモリ診断プログラムが展開され、第２のメモリ診断プログラムを正常に実行することができない事態を回避することができる。
【００２３】
そして、第２のメモリ診断手段は、不良領域を除く領域の一部に展開した第２のメモリ診断プログラムを実行することにより、再びメインメモリを診断する。次いで、第２のメモリ診断手段は、第２のメモリ診断プログラムによるメインメモリの診断結果に基づいて、メインメモリの全領域のうち、以前特定された不良領域を除く領域から新たに不良領域を特定する。さらに、第２のメモリ診断手段は、以前特定された不良領域、及び新たに特定された不良領域を、共に不良領域として、次に実行されるメモリ診断プログラム（すなわち、第３のメモリ診断プログラム以降のメモリ診断プログラム）を展開する展開対象領域から除外する。これらの処理は、ＲＯＭ等の記憶手段に記憶されている全てのメモリ診断プログラムの実行が終了するまで、繰り返し実行される。このため、複数のメモリ診断プログラムのうち、第２のメモリ診断プログラム以降のメモリ診断プログラムは、メインメモリのうち、不良領域を除く正常な領域に、常に展開されることになる。したがって、メモリ診断プログラムを正常に実行することが可能となる。
【００２４】
このように、本実施例では、まずは、メインメモリを利用しないもしくはメインメモリ上での占有の少ない第１のメモリ診断プログラムを実行して、メインメモリの簡易な診断を行い、この診断結果を利用して、メインメモリに展開が必要で詳細なメモリ診断が行える第２のメモリ診断プログラムの配置場所を特定する。したがって、メインメモリのうち、メモリ機能の正常に機能しない不良領域に、第２のメモリ診断プログラム以降のメモリ診断プログラムが展開されるという可能性が低減し、第２のメモリ診断プログラム以降のメモリ診断プログラムが実行できないという事態を回避することができる。
【００２５】
次に、図１を参照して、本実施例に係るコンピュータ装置の構成について説明する。図１は、本実施例に係るコンピュータ装置１の構成を示す機能ブロック図であり、図２は、図１に示すＤＲＡＭの詳細を示す説明図である。
【００２６】
図１に示すように、コンピュータ装置１は、ＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ Ｕｎｉｔ）１０と、ＤＲＡＭ２０と、ＲＯＭ３０と、表示コントローラ４０と、それらを互いに接続するバス６０と、を有する。
【００２７】
ＣＰＵ１０は、コンピュータ装置１の全体を制御する制御部である。具体的には、ＣＰＵ１０は、コンピュータ装置１の起動時に、後述するＢＩＯＳ（Ｂａｓｉｃ Ｉｎｐｕｔ Ｏｕｔｐｕｔ Ｓｙｓｔｅｍ）プログラム３１をＲＯＭ３０から読み出して実行し、ＤＲＡＭ２０等の各種デバイスに異常がないかを検査する。また、ＣＰＵ１０は、ＢＩＯＳプログラム３１の実行により、ＯＳ（Ｏｐｅｒａｔｉｎｇ Ｓｙｓｔｅｍ）の起動や各種デバイスの制御を実行する。
【００２８】
ＤＲＡＭ２０は、コンピュータ装置１のメインメモリ（主記憶装置）である。具体的には、ＤＲＡＭ２０は、ＣＰＵ１０の実行対象となるプログラム（ＢＩＯＳプログラム３１を含む）が展開され、かかるプログラムによる各種データなどが一時的に格納されるワーキングメモリとして用いられる。また、ＤＲＡＭ２０は、図２に示すように、ＣＰＵ１０の実行対象となるプログラムを展開するために、複数の領域（１）〜（２０）に区分されているものとする。
【００２９】
ＲＯＭ３０は、記憶手段として機能するものであり、ＣＰＵ１０が実行する各種プログラムやデータを記憶している。ＲＯＭ３０に記憶されているプログラムには、ＢＩＯＳプログラム３１、複数のメモリ診断プログラム３２等が含まれている。
【００３０】
ＢＩＯＳプログラム３１は、基本入出力プログラムのことである。具体的には、ＢＩＯＳプログラム３１は、コンピュータ装置１の電源投入時に起動して、ＯＳやアプリケーションプログラムと、ＤＲＡＭ２０や周辺機器（ディスプレイ、キーボード等）との間でのデータの入出力を制御する制御プログラムである。また、ＢＩＯＳプログラム３１は、ＤＲＡＭ２０にデータが正常に読み書きできるか否か、メモリ保護機能、及びエラー訂正機能等の関連する機能が正常に動作するか否かなどを確認するメモリ診断処理を行う。なお、ＢＩＯＳプログラム３１がメモリ診断処理を行う具体的な構成については、別途詳細に説明する。
【００３１】
複数のメモリ診断プログラム３２は、ＢＩＯＳプログラム３１がＤＲＡＭ２０のメモリ診断処理を行う際に実行するものであり、ＤＲＡＭ２０の種々のメモリ機能が正常に機能するか否か（例えば、メモリに所定のデータが正常に読み書きできるか否か）を診断するためのプログラム群である。本実施例では、３つメモリ診断プログラム３２ａ、３２ｂ、３２ｃにより構成されている。これらメモリ診断プログラム３２ａ、３２ｂ、３２ｃは、それぞれ異なるメモリ機能の診断を行うものであり、そのメモリ機能の診断のレベルに応じてプログラムサイズを異にしている。例えば、本実施例では、３つのメモリ診断プログラム３２ａ、３２ｂ、３２ｃのメモリ機能の診断レベルは、この順番で高くなっており、そのプログラムサイズは、この順番で大きくなっている。また、メモリ診断プログラム３２ａは、複数のメモリ診断プログラムのうち、メモリ機能の診断レベルの最も低く、そのプログラムサイズの最も小さいメモリ診断プログラムである。
【００３２】
表示コントローラ４０には、ディスプレイ５０が接続されており、ＤＲＡＭ２０のメモリ診断結果などの表示出力が表示コントローラ４０から出力される。ディスプレイ５０は、画像表示装置であって、表示コントローラ４０からの表示出力を視認可能に表示する。
【００３３】
次に、図３を参照して、図１に示すＢＩＯＳプログラム３１がＤＲＡＭ２０のメモリ診断処理を行う具体的な構成について詳細に説明する。図３は、図１に示すＢＩＯＳプログラム３１の詳細を示す機能ブロック図である。なお、図３では、ＲＯＭ３０に記憶されたＢＩＯＳプログラム３１がＣＰＵ１０によって実行されることにより実現される機能を機能ブロックとして示している。
【００３４】
ＢＩＯＳプログラム３１は、メモリ診断部３１１と、メモリ品質評価表作成部３１２と、不良領域特定部３１３と、診断プログラム展開部３１４と、ＯＳ異常検知部３１５と、診断結果告知部３１６と、を機能部として有している。これら各機能部３１１〜３１６は、ＢＩＯＳプログラム３１の起動時（実行時）に実行状態となる。
【００３５】
このＢＩＯＳプログラム３１は、前述したように、コンピュータ装置１の起動時に最初に実行される。したがって、ＯＳ起動前に、ＤＲＡＭ２０のメモリ診断処理を実行することとなるので、ＯＳが起動しない場合であっても、メモリ診断プログラムを正常に実行することが可能となる。
【００３６】
メモリ診断部３１１は、複数のメモリ診断プログラム３２のうち、第１のメモリ診断プログラムであるメモリ診断プログラム３２ａを実行することにより、ＤＲＡＭ２０を診断する。また、メモリ診断部３１１は、メモリ診断プログラム３２ａを、ＤＲＡＭ２０上に展開することなく実行する。上述したように、メモリ診断プログラム３２ａは、複数のメモリ診断プログラムのうち、メモリ機能の診断レベルの最も低く、そのプログラムサイズの最も小さいメモリ診断プログラムである。ここでは、メモリ診断プログラム３２ａのプログラムサイズが、ＤＲＡＭ２０上に展開する必要のない程度に小さく設定されている。これにより、ＤＲＡＭ２０に不良領域が存在するか否かが不明である段階で、ＤＲＡＭ２０にメモリ診断プログラムを展開することを回避することができる。
【００３７】
メモリ品質評価表作成部３１２は、メモリ診断部３１１による診断結果と、ＤＲＡＭ２０のアドレス情報とを関連付けたメモリ品質評価表を作成する。なお、メモリ品質評価表については、後にメモリ診断処理の手順を説明する際に、別途詳細に説明する。
【００３８】
不良領域特定部３１３は、メモリ診断部３１１による診断結果に基づいて、ＤＲＡＭ２０内の不良領域を特定する。具体的には、不良領域特定部３１３は、メモリ品質評価表作成部３１２により作成されたメモリ品質評価表を参照することによって、メモリ診断部３１１により異常であると診断されたＤＲＡＭ２０のアドレス情報を抽出し、この抽出したアドレス情報に従って、ＤＲＡＭ２０内の不良領域を特定する。このとき、メモリ診断部３１１及び不良領域特定部３１３は、第１のメモリ診断プログラム３２ａを実行することにより、メインメモリであるＤＲＡＭ２０の不良領域の特定を行う第１のメモリ診断手段として機能する。
【００３９】
診断プログラム展開部３１４は、ＤＲＡＭ２０の全領域（１）〜（２０）のうち、不良領域特定部３１３により特定された不良領域を除く領域に、ＲＯＭ３０に記憶されている第２のメモリ診断プログラムであるメモリ診断プログラム３２ｂを展開する。具体的には、診断プログラム展開部３１４は、メモリ品質評価表作成部３１２により作成されたメモリ品質評価表を参照することによって、メモリ診断部３１１により異常であると診断されたＤＲＡＭ２０のアドレス情報を抽出し、当該抽出したアドレス情報に対応する領域を、不良領域として、ＤＲＡＭ２０のうち、メモリ診断プログラム３２ｂを展開する領域（メモリ診断プログラム３２ｂの展開対象領域）から除外する。言い換えると、診断プログラム展開部３１４は、ＤＲＡＭ２０の全領域（１）〜（２０）のうち、不良領域特定部３１３により特定された不良領域を除く領域の一部を、第２のメモリ診断プログラム３２ｂの展開対象領域として設定する。
【００４０】
そして、メモリ診断部３１１は、診断プログラム展開部３１４により展開されたメモリ診断プログラム３２ｂを実行することにより、ＤＲＡＭ２０の全領域（１）〜（２０）のうち、不良領域特定部３１３により特定された不良領域を除く領域を新たに診断する。このとき、診断プログラム展開部３１４及びメモリ診断部３１１は、ＤＲＡＭ２０のうち、不良領域特定部３１３により特定された不良領域を除く領域に、ＲＯＭ３０に記憶されている第２のメモリ診断プログラム３２ｂを展開し、実行する第２のメモリ診断手段として機能する。
【００４１】
次いで、不良領域特定部３１３は、メモリ診断部３１１による新たな診断結果に基づいて、ＤＲＡＭ２０の全領域（１）〜（２０）のうち、不良領域特定部３１３により以前特定された不良領域を除く領域から新たに不良領域を特定する。診断プログラム展開部３１４は、不良領域特定部３１３により以前特定された不良領域、及び新たに特定された不良領域を、共に不良領域として、メモリ診断部３１１によって次に実行されるメモリ診断プログラム３２ｃを展開する展開対象領域から除外する。
【００４２】
これら各機能部３１１〜３１４の処理は、メモリ診断部３１１によって全てのメモリ診断プログラム３２（３２ａ〜３２ｃ）が実行されるまで、繰り返し実行される。このため、メモリ診断プログラム３２は、ＤＲＡＭ２０のうち、不良領域を除く正常な領域に、常に展開されることになる。したがって、メモリ診断プログラムを正常に実行することが可能となる。
【００４３】
ＯＳ異常検知部３１５は、ＯＳの起動異常を検知する。ＯＳの起動異常としては、例えば、コンピュータ装置１が停止しキーボードやマウスの入力を受け付けなくなる状態（いわゆる、ハングアップ）や、ＯＳ自体の処理が継続不可能になる状態（いわゆる、青画面、黒画面）等が含まれる。このＯＳ異常検知部３１５は、例えば、正常時のコンピュータ装置１の起動時間を予め測定し、タイムアウト時間を決めてＲＯＭ３０内の所定領域に記憶しておき、ＯＳがタイムアウト時を経過した後もなおハングアップ、青画面、黒画面の状態にある場合に、ＯＳの起動異常を検知するようにしている。
【００４４】
診断結果告知部３１６は、ＯＳ異常検知部３１５がＯＳの起動異常を検知した場合に、メモリ診断部３１１によるＤＲＡＭ２０のメモリ診断結果を告知する診断結果告知手段として、メモリ診断部３１１によるＤＲＡＭ２０のメモリ診断結果を表示コントローラ４０へ表示出力する。このとき、診断結果告知部３１６は、メモリ品質評価表作成部３１２により作成されたメモリ品質評価表を、メモリ診断部３１１によるＤＲＡＭ２０のメモリ診断結果として表示出力するようにしている。
【００４５】
次に、図４−１〜図４−３を参照して、図１に示すＢＩＯＳプログラム３１がＤＲＡＭ２０のメモリ診断処理を行う処理手順について具体的に説明する。図４−１〜図４−３は、図１に示すＢＩＯＳプログラム３１がＤＲＡＭ２０のメモリ診断処理を行う処理手順を示す説明図である。また、図４−１、図４−２では、メモリ診断プログラム３２ａ、３２ｂを実行した後にメモリ品質評価表作成部３１２により作成されたメモリ品質評価表を上方にそれぞれ示し、診断プログラム展開部３１４により設定された、次のメモリ診断プログラム３２ｂ、３２ｃの展開対象領域を下方にそれぞれ示している。また、図４−３では、メモリ診断プログラム３２ｃを実行した後にメモリ品質評価表作成部３１２により作成されたメモリ品質評価表を上方に示し、ＤＲＡＭ２０の最終的なメモリ診断結果を下方に示している。
【００４６】
まず、図４−１の上方に示すように、メモリ診断部３１１によってメモリ診断プログラム３２ａが実行されると、メモリ品質評価表作成部３１２によって、メモリ診断部３１１による診断結果と、ＤＲＡＭ２０のアドレス情報とを関連付けたメモリ品質評価表が作成される。このとき、メモリ診断プログラム３２ａは、ＤＲＡＭ２０上に展開されることなくメモリ診断部３１１によって実行される。メモリ品質評価表作成部３１２により作成されたメモリ品質評価表では、ＤＲＡＭ２０の全領域のうち、メモリ診断部３１１によって正常であると診断された領域のアドレスに、ＤＲＡＭ２０のメモリ診断結果として「１」が設定され、メモリ診断部３１１によって異常であると診断された領域のアドレスに、ＤＲＡＭ２０のメモリ診断結果として「０」が設定される。図４−１では、メモリ診断結果「０」の設定された領域（３）及び領域（１９）が異常であると診断されている。
【００４７】
続いて、図４−１の下方に示すように、不良領域特定部３１３によって、図４−１の上方に示すメモリ品質評価表が参照され、ＤＲＡＭ２０内の不良領域が特定される。図４−１では、ＤＲＡＭ２０の全領域（１）〜（２０）のうち、異常であると診断された領域（３）及び（１９）が、不良領域として特定される。
【００４８】
続いて、図４−１の下方に示すように、診断プログラム展開部３１４によって、ＤＲＡＭ２０の全領域うち、不良領域特定部３１３により特定された不良領域を除く領域の一部が、メモリ診断部３１１によって次に実行されるメモリ診断プログラム３２ｂを展開する展開対象領域として設定される。図４−１では、ＤＲＡＭ２０の全領域（１）〜（２０）のうち、不良領域（３）及び（１９）を除く領域の一部が、次のメモリ診断プログラム３２ｂの展開対象領域として設定されている。
【００４９】
続いて、メモリ診断部３１１によってメモリ診断プログラム３２ｂが実行されると、ＤＲＡＭ２０の全領域（１）〜（２０）のうち、不良領域（３）及び（１９）を除く領域が新たに診断される。
【００５０】
続いて、図４−２の上方に示すように、メモリ品質評価表作成部３１２によって、メモリ診断部３１１による新たな診断結果を用いてメモリ品質評価表が更新される。すなわち、このメモリ品質評価表では、ＤＲＡＭ２０の全領域のうち、メモリ診断部３１１によって正常であると新たに診断された領域のアドレスに、メモリ診断結果として「２」が新たに設定され、メモリ診断部３１１によって異常であると診断された領域のアドレスに、メモリ診断結果として「１」の設定が維持される。図４−２では、メモリ診断結果「１」の設定された領域（５）及び（２０）が異常であると新たに診断されている。
【００５１】
続いて、図４−２の下方に示すように、不良領域特定部３１３によって、図４−２の上方に示すメモリ品質評価表が参照され、ＤＲＡＭ２０の全領域（１）〜（２０）のうち、不良領域（３）及び（１９）を除く領域から新たな不良領域が特定される。図４−２では、ＤＲＡＭ２０の全領域（１）〜（２０）のうち、不良領域（３）及び（１９）を除く領域から、新たに異常であると診断された領域（５）及び（２０）が、不良領域として新たに特定される。
【００５２】
続いて、図４−２の下方に示すように、診断プログラム展開部３１４によって、ＤＲＡＭ２０の全領域うち、不良領域特定部３１３により特定された不良領域を除く領域の一部が、メモリ診断部３１１によって次に実行されるメモリ診断プログラム３２ｃを展開する展開対象領域として新たに設定される。図４−２では、ＤＲＡＭ２０の全領域（１）〜（２０）のうち、不良領域（３）、（５）、（１９）、及び（２０）を除く領域の一部が、メモリ診断プログラム３２ｃの展開対象領域として新たに設定されている。
【００５３】
続いて、メモリ診断部３１１によってメモリ診断プログラム３２ｃが実行されると、ＤＲＡＭ２０の全領域（１）〜（２０）のうち、不良領域（３）、（５）、（１９）、及び（２０）を除く領域が新たに診断される。
【００５４】
続いて、図４−３の上方に示すように、メモリ品質評価表作成部３１２によって、メモリ診断部３１１による新たな診断結果を用いてメモリ品質評価表が更新される。すなわち、このメモリ品質評価表では、ＤＲＡＭ２０の全領域のうち、メモリ診断部３１１によって正常であると新たに診断された領域のアドレスに、メモリ診断結果として「３」が新たに設定され、メモリ診断部３１１によって異常であると診断された領域のアドレスに、メモリ診断結果として「２」の設定が維持される。図４−３では、メモリ診断結果「２」の設定された領域（４）が異常であると新たに診断されている。
【００５５】
以上のような処理を行うことにより、図４−３の下方に示すように、ＢＩＯＳプログラム３１により実行されるメモリ診断処理による最終的なメモリ診断結果が得られる。
【００５６】
次に、図５を参照して、図１に示すコンピュータ装置１のメモリ診断処理について説明する。図５は、図１に示すコンピュータ装置１のメモリ診断処理を示すフローチャートである。なお、図５に示すメモリ診断処理は、コンピュータ装置１の電源が投入された後、ＣＰＵ１０が、ＢＩＯＳプログラム３１をＲＯＭ３０から読み出して実行することにより、実行される処理である。
【００５７】
図５に示すように、まず、ＢＩＯＳプログラム３１のメモリ診断部３１１は、複数のメモリ診断プログラム３２のうち、１のメモリ診断プログラム３２ａを実行し（ステップＳ１０）、ＤＲＡＭ２０の全領域を、１つの領域ごとに診断する（ステップＳ１１）。このとき、メモリ診断部３１１は、メモリ診断プログラム３２ａを、ＤＲＡＭ２０上に展開することなく実行する。そして、メモリ診断部３１１は、メモリ診断結果と、ＤＲＡＭ２０のアドレス情報とを関連付けてＤＲＡＭ２０の各領域に記憶する（ステップＳ１２）。
【００５８】
続いて、メモリ診断部３１１は、ＤＲＡＭ２０の全領域に、未診断の領域が有るか否かを判定する（ステップＳ１３）。この判定は、ＤＲＡＭ２０の各領域のアドレス情報に、メモリ診断結果が関連付けられているか否かを判定することにより行われる。そして、ＤＲＡＭ２０の全領域に、未診断の領域が有ると判定すると（ステップＳ１３：Ｙｅｓ）、メモリ診断部３１１は、ＤＲＡＭ２０の全領域に、未診断の領域が無くなるまで、ステップＳ１１〜ステップＳ１３の処理を繰り返す。
【００５９】
一方、ＤＲＡＭ２０の全領域に、未診断の領域が無いと判定すると（ステップＳ１３：Ｎｏ）、メモリ診断部３１１は、メモリ品質評価表作成部３１２にメモリ品質評価表を作成するよう要求する。この要求を受け付けると、メモリ品質評価表作成部３１２は、メモリ診断部３１１によるメモリ診断結果と、ＤＲＡＭ２０のアドレス情報とを関連付けたメモリ品質評価表を作成し（ステップＳ１４）、作成したメモリ品質評価表を不良領域特定部３１３へ送信する。
【００６０】
そして、不良領域特定部３１３は、受信したメモリ品質評価表を参照することによって、メモリ診断部３１１により異常であると診断されたＤＲＡＭ２０のアドレス情報を抽出し、この抽出したアドレス情報に従って、ＤＲＡＭ２０内の不良領域を特定する（ステップＳ１５）。
【００６１】
そして、診断プログラム展開部３１４は、ＤＲＡＭ２０の全領域のうち、ステップＳ１５にて不良領域特定部３１３により特定された不良領域以外の領域の一部を、展開対象領域として設定し（ステップＳ１６）、その展開対象領域に次のメモリ診断プログラム３２ｂを展開する（ステップＳ１７）。
【００６２】
続いて、メモリ診断部３１１は、展開されたメモリ診断プログラム３２ｂを実行することにより、ＤＲＡＭ２０の全領域のうち、不良領域以外の領域を、１つの領域ごとに診断する（ステップＳ１８）。そして、メモリ診断部３１１は、メモリ診断結果と、ＤＲＡＭ２０のアドレス情報とを関連付けてＤＲＡＭ２０の各領域に記憶する（ステップＳ１９）。
【００６３】
そして、メモリ診断部３１１は、ＤＲＡＭ２０の全領域のうち、不良領域以外の領域に、未診断の領域があるか否かを判定する（ステップＳ２０）。そして、ＤＲＡＭ２０の全領域に、未診断の領域が有ると判定すると（ステップＳ２０：Ｙｅｓ）、メモリ診断部３１１は、ＤＲＡＭ２０の全領域のうち、不良領域以外の領域に、未診断の領域が無くなるまで、ステップＳ１８〜ステップＳ２０の処理を繰り返す。
【００６４】
一方、ＤＲＡＭ２０の全領域のうち、不良領域以外の領域に、未診断の領域が無いと判定すると（ステップＳ２０：Ｎｏ）、メモリ診断部３１１は、メモリ品質評価表作成部３１２にメモリ品質評価表を更新するよう要求する。この要求を受け付けると、メモリ品質評価表作成部３１２は、メモリ品質評価表を更新する（ステップＳ２１）。
【００６５】
その後、メモリ診断部３１１は、全てのメモリ診断プログラム３２ａ〜３２ｃを実行したか否かを判定する（ステップＳ２２）。そして、全てのメモリ診断プログラム３１ａ〜３１ｃを実行していないと判定すると（ステップＳ２２：Ｎｏ）、処理をステップＳ１５に戻す。そして、全てのメモリ診断プログラム３１ａ〜３１ｃを実行し終えるまで、ステップＳ１５〜ステップＳ２２の処理が繰り返される。
【００６６】
一方、全てのメモリ診断プログラム３１ａ〜３１ｃを実行したと判定すると（ステップＳ２２：Ｙｅｓ）、メモリ診断部３１１は、処理をステップＳ２３へ移す。
【００６７】
ステップＳ２３において、ＯＳ異常検知部３１５は、ＯＳの起動異常が有るか否かを検知する。この検知の結果、ＯＳの起動異常を検知すると（ステップＳ２３：Ｙｅｓ）、ＯＳ異常検知部３１５は、その検知信号を診断結果告知部３１６へ送信する。ＯＳ異常検知部３１５からの検知信号を受信すると、診断結果告知部３１６は、ステップＳ２１においてメモリ品質評価表作成部３１２によって更新されたメモリ品質評価表を、ＤＲＡＭ２０のメモリ診断結果として、表示コントローラ４０へ表示出力する。その後、メモリ品質評価表は、ディスプレイ５０に表示され（ステップＳ２４）、メモリ診断処理が終了する。一方、ＯＳの起動異常がないと検知すると（ステップＳ２３：Ｎｏ）、ＯＳ異常検知部３１５は、メモリ診断処理を終了する。
【００６８】
上述してきたように、本実施例では、メモリ診断部３１１は、第１のメモリ診断プログラムであるメモリ診断プログラム３２ａを実行することにより、ＤＲＡＭ２０を診断し、不良領域特定部３１３は、メモリ診断部３１１による診断結果に基づいて、ＤＲＡＭ２０内の不良領域を特定し、これらメモリ診断部３１１及び不良領域特定部３１３は、第１のメモリ診断手段として機能する。また、診断プログラム展開部３１４は、ＤＲＡＭ２０のうち、不良領域を除く領域の一部に、メモリ診断部３１１により次に実行されるメモリ診断プログラム３２ｂを展開し、メモリ診断部３１１は、診断プログラム展開部３１４により展開されたメモリ診断プログラム３２ｂを実行することにより、ＤＲＡＭ２０のうち、不良領域特定部３１３により特定された不良領域を除く領域を新たに診断し、これら診断プログラム展開部３１４及びメモリ診断部３１１は、第２のメモリ診断手段として機能する。したがって、メインメモリのうち、メモリ機能の正常に機能しない不良領域に、メモリ診断プログラムを展開することを回避して、メモリ診断プログラムの正常な実行が不能になるという事態を回避することができる。
【００６９】
また、メモリ診断部３１１は、第１のメモリ診断手段として機能することで、メモリ診断プログラム３２ａを、ＤＲＡＭ２０上に展開することなく実行する。したがって、メインメモリに不良領域が存在しているか否かが不明な段階で、メモリ診断プログラムをメインメモリ上に展開することを回避することができるので、メモリ診断プログラムが実行不能となる事態をより確実に回避することができる。
【００７０】
また、メモリ品質評価表作成部３１２は、メモリ診断部３１１による診断結果と、ＤＲＡＭ２０のアドレス情報とを関連付けたメモリ品質評価表を作成することとしたので、ＤＲＡＭ２０の全領域のうち、不良領域と不良領域以外の領域との区別を容易化することができ、メモリ診断処理を高効率化することができる。
【００７１】
また、不良領域特定部３１３は、第２のメモリ診断手段として機能することで、メモリ診断部３１１により異常であると診断されたＤＲＡＭ２０のアドレス情報を抽出し、当該抽出したアドレス情報に対応する領域を、不良領域として、ＤＲＡＭ２０のうち、第２のメモリ診断プログラム３２ｂを展開する領域から除外することとした。したがって、ＤＲＡＭ２０の全領域のうち、不良領域と不良領域以外の領域との区別を容易化することによって、不良領域の特定を容易化することができ、メモリ診断処理を高効率化することができる。
【００７２】
また、ＯＳ異常検知部３１５は、ＯＳの起動異常を検知し、診断結果告知部３１６は、ＯＳ異常検知部３１５がＯＳの起動異常を検知した場合に、メモリ診断部３１１による診断結果を告知することとしたので、ユーザは、メモリ診断部３１１による診断結果を確認することで、ＤＲＡＭ２０内の不良領域を即座に知ることができ、その不良領域を交換する等の適切な対処をとることができる。
【００７３】
また、各機能部３１１〜３１６は、電源の投入時に起動して、ＤＲＡＭ２０に対するデータの入出力を制御するＢＩＯＳプログラム３１内に組み込まれており、当該ＢＩＯＳプログラム３１の起動時に実行状態となることとしたので、ＯＳ起動前に、ＤＲＡＭ２０のメモリ診断処理を実行することができ、ＯＳが起動しない場合であっても、メモリ診断プログラムを正常に実行することが可能となる。
【００７４】
これまで本発明の実施例について説明したが、本発明は上述した実施例以外にも、上記特許請求の範囲に記載した技術的思想の範囲内において種々の異なる実施例にて実施されてもよいものである。
【００７５】
例えば、本実施例では、第１のメモリ診断プログラムが、第１のメモリ診断手段によってメインメモリ上に展開されることなく実行される構成としたが、これに限らず、メインメモリ上に展開した時の占有面積が比較的に小さい第１のメモリ診断プログラムが、第１のメモリ診断手段によりメインメモリ上に展開されて実行されることにより、メインメモリの簡易な診断が最初に実行されるように構成しても良い。この場合、第１のメモリ診断手段による診断結果を利用して、メインメモリ上に展開した時の占有面積がより大きい第２、第３のメモリ診断プログラムが第２、第３のメモリ診断手段によりメインメモリ上に順次展開されて実行される。これにより、徐々に高度なメモリ機能の診断が行われる。
【００７６】
また、本実施例では、メインメモリであるＤＲＡＭの診断を行うメモリ診断処理について説明したが、これに限らず、ＣＰＵ内部に設けられ、高速な読み書きの可能なメモリであるキャッシュメモリの診断を行うメモリ診断処理について適用することができる。
【００７７】
また、本実施例のＢＩＯＳプログラム３１やメモリ診断プログラム３２は、必ずしもＲＯＭ３０に記憶されている必要はなく、例えば、フラッシュメモリ等の書き換え可能な不揮発性のメモリに記憶しておき、このプログラムを、ＣＰＵ１０が読み出して実行するようにしてもよい。また、本実施例のＢＩＯＳプログラム３１やメモリ診断プログラム３２は、例えば、ネットワークに接続されたサーバ等からフラッシュメモリにダウンロードされるようにしてもよく、さらには、ＣＤ−ＲＯＭ等の記録媒体に記録されてから記録媒体のドライブを介して、フラッシュメモリに読み込まれるようにしてもよい。
【００７８】
以上の実施例を含む実施形態に関し、さらに以下の付記を開示する。
【００７９】
（付記１）メインメモリを有するコンピュータ装置であって、
第１のメモリ診断プログラムを実行することにより、前記メインメモリの不良領域の特定を行う第１のメモリ診断手段と、
再配置可能な第２のメモリ診断プログラムが記憶された記憶手段と、
前記メインメモリのうち、前記第１のメモリ診断手段により特定された不良領域を除く領域に、前記記憶手段に記憶されている前記第２のメモリ診断プログラムを展開し、実行する第２のメモリ診断手段と、
を有することを特徴とするコンピュータ装置。
【００８０】
（付記２）前記第１のメモリ診断手段は、前記第１のメモリ診断プログラムを、前記メインメモリ上に展開することなく実行することを特徴とする付記１に記載のコンピュータ装置。
【００８１】
（付記３）前記第１のメモリ診断手段による前記メインメモリの診断結果と、前記メインメモリのアドレス情報とを関連付けたメモリ品質評価表を作成するメモリ品質評価表作成手段を有することを特徴とする付記１又は２に記載のコンピュータ装置。
【００８２】
（付記４）前記第２のメモリ診断手段は、前記メモリ品質評価表を参照することによって、前記第１のメモリ診断手段により異常であると診断された前記メインメモリのアドレス情報を抽出し、当該抽出したアドレス情報に対応する領域を、前記不良領域として、前記メインメモリのうち、前記第２のメモリ診断プログラムを展開する領域から除外することを特徴とする付記３に記載のコンピュータ装置。
【００８３】
（付記５）ＯＳの起動異常を検知するＯＳ異常検知手段と、
前記ＯＳ異常検知手段が前記起動異常を検知した場合に、前記第２のメモリ診断手段による前記メインメモリの診断結果を告知する診断結果告知手段と、
を有することを特徴とする付記１〜４のいずれか１つに記載のコンピュータ装置。
【００８４】
（付記６）前記各手段は、電源の投入時に起動して、前記メインメモリに対するデータの入出力を制御する制御プログラムである基本入出力プログラム内に組み込まれており、当該基本入出力プログラムの起動時に実行状態となることを特徴とする付記１〜５のいずれか１つに記載のコンピュータ装置。
【００８５】
（付記７）コンピュータ装置のメインメモリの診断を行うメモリ診断方法であって、
第１のメモリ診断プログラムを実行することにより、前記メインメモリの不良領域の特定を行う第１のメモリ診断ステップと、
前記メインメモリのうち、前記第１のメモリ診断ステップにより特定された不良領域を除く領域に、第２のメモリ診断プログラムを展開し、実行する第２のメモリ診断ステップと、
を有することを特徴とするメモリ診断方法。
【００８６】
（付記８）前記第１のメモリ診断ステップにおいて、前記第１のメモリ診断プログラムを、前記メインメモリ上に展開することなく実行することを特徴とする付記７に記載のメモリ診断方法。
【００８７】
（付記９）前記第１のメモリ診断ステップによる前記メインメモリの診断結果と、前記メインメモリのアドレス情報とを関連付けたメモリ品質評価表を作成するメモリ品質評価表作成ステップを有することを特徴とする付記７又は８に記載のメモリ診断方法。
【００８８】
（付記１０）前記第２のメモリ診断ステップにおいて、前記メモリ品質評価表を参照することによって、前記第１のメモリ診断ステップにより異常であると診断された前記メインメモリのアドレス情報を抽出し、当該抽出したアドレス情報に対応する領域を、前記不良領域として、前記メインメモリのうち、前記第２のメモリ診断プログラムを展開する領域から除外することを特徴とする付記９に記載のメモリ診断方法。
【００８９】
（付記１１）ＯＳの起動異常を検知するＯＳ異常検知ステップと、
前記ＯＳ異常検知ステップにて前記起動異常を検知した場合に、前記第２のメモリ診断ステップによる前記メインメモリの診断結果を告知する診断結果告知ステップと、
を有することを特徴とする付記７〜１０のいずれか１つに記載のメモリ診断方法。
【００９０】
（付記１２）前記各ステップは、電源の投入時に起動して、前記メインメモリに対するデータの入出力を制御する制御プログラムである基本入出力プログラム内に組み込まれており、当該基本入出力プログラムの起動時に実行状態となることを特徴とする付記７〜１１のいずれか１つに記載のメモリ診断方法。
【００９１】
（付記１３）コンピュータ装置のメインメモリの診断を行うメモリ診断制御プログラムであって、
第１のメモリ診断プログラムを実行することにより、前記メインメモリの不良領域の特定を行う第１のメモリ診断手順と、
前記メインメモリのうち、前記第１のメモリ診断手順により特定された不良領域を除く領域に、第２のメモリ診断プログラムを展開し、実行する第２のメモリ診断手順と、
をコンピュータに実行させることを特徴とするメモリ診断制御プログラム。
【００９２】
（付記１４）前記第１のメモリ診断手順において、前記第１のメモリ診断プログラムを、前記メインメモリ上に展開することなく実行する処理を、コンピュータに実行させることを特徴とする付記１３に記載のメモリ診断制御プログラム。
【００９３】
（付記１５）前記第１のメモリ診断手順による前記メインメモリの診断結果と、前記メインメモリのアドレス情報とを関連付けたメモリ品質評価表を作成するメモリ品質評価表作成手順を、コンピュータに実行させることを特徴とする付記１３又は１４に記載のメモリ診断制御プログラム。
【００９４】
（付記１６）前記第２のメモリ診断手順において、前記メモリ品質評価表を参照することによって、前記第１のメモリ診断ステップにより異常であると診断された前記メインメモリのアドレス情報を抽出し、当該抽出したアドレス情報に対応する領域を、前記不良領域として、前記メインメモリのうち、前記第２のメモリ診断プログラムを展開する領域から除外する処理を、コンピュータに実行させることを特徴とする付記１５に記載のメモリ診断制御プログラム。
【００９５】
（付記１７）ＯＳの起動異常を検知するＯＳ異常検知手順と、
前記起動異常を検知した場合に、前記第２のメモリ診断手順による前記メインメモリの診断結果を告知する診断結果告知手順と、
を、コンピュータに実行させることを特徴とする付記１３〜１６のいずれか１つに記載のメモリ診断制御プログラム。
【００９６】
（付記１８）前記各手順は、電源の投入時に起動して、前記メインメモリに対するデータの入出力を制御する制御プログラムである基本入出力プログラム内に組み込まれており、当該基本入出力プログラムの起動時に実行状態となることを特徴とする付記１３〜１７のいずれか１つに記載のメモリ診断制御プログラム。
【図面の簡単な説明】
【００９７】
【図１】本実施例に係るコンピュータ装置の構成を示す機能ブロック図である。
【図２】図１に示すＤＲＡＭの詳細を示す説明図である。
【図３】図１に示すＢＩＯＳプログラムの詳細を示す機能ブロック図である。
【図４−１】図１に示すＢＩＯＳプログラムがＤＲＡＭのメモリ診断処理を行う処理手順を示す説明図である。
【図４−２】図１に示すＢＩＯＳプログラムがＤＲＡＭのメモリ診断処理を行う処理手順を示す説明図である。
【図４−３】図１に示すＢＩＯＳプログラムがＤＲＡＭのメモリ診断処理を行う処理手順を示す説明図である。
【図５】本実施形態に係るコンピュータ装置のメモリ診断処理の処理手順を示すフローチャートである。
【符号の説明】
【００９８】
１ コンピュータ装置
２０ メインメモリ（ＤＲＡＭ）
３１ 基本入出力プログラム（ＢＩＯＳプログラム）
３２ メモリ診断プログラム
３２ａ、３２ｂ、３２ｃ メモリ診断プログラム
３１１ メモリ診断部
３１２ メモリ品質評価表作成部
３１３ 不良領域特定部
３１４ 診断プログラム展開部
３１５ ＯＳ異常検知部
３１６ 診断結果告知部
【技術分野】
【０００１】
この発明は、コンピュータ装置、メモリ診断方法、及びメモリ診断制御プログラムに関し、特に、複雑なメモリ診断プログラムであってもＯＳ起動前に正常に実行することのできるコンピュータ装置、メモリ診断方法、及びメモリ診断制御プログラムに関する。
【背景技術】
【０００２】
従来より、コンピュータ装置では、内蔵された各デバイスの不良箇所を診断する種々の診断テストが行われている。このような診断テストを行うコンピュータ装置の一例として、特許文献１には、内蔵された各メモリにおけるメモリ機能が正常に機能するか否か（例えば、メモリに所定のデータが正常に読み書きできるか否か）を診断するメモリ診断テストを実行するものが開示されている。
【０００３】
このメモリ診断テストの一番簡単なものとして、コンピュータ装置のＢＩＯＳ（Basic Input/Output System）の一部にメモリ診断プログラムを予め記憶しておき、該コンピュータ装置の起動時に、ＢＩＯＳと同時に上記メモリ診断プログラムを動作させるものがある。
【０００４】
しかしながら、一般にＢＩＯＳは、容量が非常に小さく、この領域には、ＩＰＬ（Initial Program Loader）などの他のプログラムも記憶されていることから、メモリ診断プログラムとして簡易なものしか記憶できない。このため、従来のコンピュータ装置では、複雑なメモリチェックを行うためのメモリ診断プログラムは、一般に、ＢＩＯＳの動作後、ＯＳ（Ｏｐｅｒａｔｉｏｎ Ｓｙｓｔｅｍ）を起動させた後に、ＯＳによってＲＡＭ（Ｒａｎｄｏｍ Ａｃｃｅｓｓ Ｍｅｍｏｒｙ）等のメインメモリ上に展開され、実行されていた。
【０００５】
ところで、従来のコンピュータ装置では、メインメモリ内の全てのアドレスに不良がない場合に初めて、その正常動作が可能であった。しかし、近年では、先にメモリチェックを行い、メインメモリの不良領域を利用しないようにすることにより、メインメモリ内に多少の不良領域があっても、正常動作するコンピュータ装置が、新たなコンピュータ装置として望まれてきている。
【０００６】
【特許文献１】特開平６−４４１３号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
メインメモリ内に多少の不良領域があっても、コンピュータ装置を正常動作させるためには、ＯＳ起動前に、メインメモリ内の不良領域を検出しておく必要がある。
【０００８】
しかしながら、上記したＢＩＯＳに記憶されているメモリ診断プログラムによる診断では、ＯＳを正常動作できる程度のメモリ診断ができない。
【０００９】
ここで、ＢＩＯＳ以外のＲＯＭなどの記憶手段に、従来、ＯＳで処理していたような複雑なメモリ診断プログラムを記憶させておき、かつ、ＢＩＯＳに、この複雑なメモリ診断プログラムをメインメモリ上の所定アドレスに展開させ、実行させるプログラムを記憶させておくことで、コンピュータ装置の起動時に複雑なメモリ診断プログラムを起動させることも考えられる。
【００１０】
しかしながら、この構成では、メモリ診断前のメインメモリにメモリ診断プログラムを展開して実行することになる。即ち、メモリ診断プログラムを展開するメインメモリの領域が不良領域か否かが不明である状態で、メモリ診断プログラムをメインメモリに展開することになり、メモリ診断プログラム自体が実行できない可能性がある。
【００１１】
開示の技術は、上述した従来技術による問題点を解消するためになされたものであり、複雑なメモリ診断プログラムであってもＯＳ起動前にこれを正常に実行することのできるコンピュータ装置、メモリ診断方法、メモリ診断制御プログラムを提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１２】
上述した課題を解決し、目的を達成するため、本願の開示するコンピュータ装置は、メインメモリの不良領域の特定を行う第１のメモリ診断手段と、再配置可能な第２のメモリ診断プログラムが記憶された記憶手段と、前記メインメモリのうち、前記第１のメモリ診断不良領域を除く領域に、前記記憶手段に記憶されている前記第２のメモリ診断プログラムを展開し、実行させる第２のメモリ診断手段と、を有する。
【発明の効果】
【００１３】
この態様によれば、まずは、メインメモリを利用しないもしくはメインメモリ上での占有の少ない第１のメモリ診断プログラムを実行して、メインメモリの簡易な診断を行い、この診断結果を利用して、メインメモリに展開が必要で詳細なメモリ診断が行える第２のメモリ診断プログラムの配置場所を特定できるようになるので、第２のメモリ診断プログラムがメインメモリの不良領域に展開されるという可能性が低くなり、第２のメモリ診断プログラムが実行できないという事態を極力回避することができるようになる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１４】
以下に添付図面を参照して、本願の開示するコンピュータ装置、メモリ診断方法、及びメモリ診断制御プログラムの好適な実施の形態を詳細に説明する。
【実施例】
【００１５】
まず、本実施例に係るコンピュータ装置の概要について説明する。本実施例に係るコンピュータ装置は、メインメモリを有するコンピュータ装置であって、第１のメモリ診断プログラムを実行することにより、前記メインメモリの不良領域の特定を行う第１のメモリ診断手段と、再配置可能な第２のメモリ診断プログラムが記憶された記憶手段と、前記メインメモリのうち、前記第１のメモリ診断手段により特定された不良領域を除く領域に、前記記憶手段に記憶されている前記第２のメモリ診断プログラムを展開し、実行する第２のメモリ診断手段と、を有するものである。
【００１６】
すなわち、本実施例に係るコンピュータ装置は、複数のメモリ診断プログラムを実行することにより、コンピュータ装置が有するＤＲＡＭ（Ｄｙｎａｍｉｃ Ｒａｎｄｏｍ Ａｃｃｅｓｓ Ｍｅｍｏｒｙ）等のメインメモリの診断を行う。
【００１７】
具体的には、コンピュータ装置内部のＲＯＭ（Ｒｅａｄ Ｏｎｌｙ Ｍｅｍｏｒｙ）などの記憶手段に、互いに異なる複数のメモリ診断プログラムが予め記憶されており、第１のメモリ診断手段は、この複数のメモリ診断プログラムのうち、第１のメモリ診断プログラムを実行することにより、メインメモリを診断する。
【００１８】
ここで、複数のメモリ診断プログラムは、それぞれ異なるメモリ機能の診断を行うものであり、そのメモリ機能の診断レベルに応じて、異なるプログラムサイズを有している。つまり、複数のメモリ診断プログラムのうち、より高度なメモリ機能の診断を行うものほど、そのプログラムサイズが大きくなっている。なお、第１のメモリ診断プログラムは、複数のメモリ診断プログラムのうち、メモリ機能の診断レベルの最も低く、そのプログラムサイズの最も小さいメモリ診断プログラムである。
【００１９】
本実施例に係る第１のメモリ診断手段は、第１のメモリ診断プログラムを、メインメモリ上に展開することなく実行する。これにより、第１のメモリ診断手段によって、メインメモリを使用することなく、最初に簡易なメモリ機能の診断が行われ、その後、第２のメインメモリ診断手段によって徐々に高度なメモリ機能の診断が行われることになる。したがって、メインメモリに不良領域が存在しているか否かが不明な段階で、メモリ診断プログラムをメインメモリ上に展開することを回避することができるので、メモリ診断プログラムが実行不能となる事態を回避することができる。
【００２０】
なお、メインメモリ上に展開したときの第１のメモリ診断プログラムのメインメモリ上における占有面積が比較的に小さい場合には、第１のメモリ診断手段が、第１のメインメモリ診断プログラムをメインメモリ上に展開するようにしても良い。
【００２１】
そして、第２のメモリ診断手段は、メインメモリのうち、第１のメモリ診断手段により特定された不良領域を除く領域に、ＲＯＭ等の記憶手段に記憶されている第２のメモリ診断プログラムを展開し、実行する。言い換えると、第２のメモリ診断手段は、第１のメモリ診断手段により特定された不良領域を、メインメモリのうち、第２のメモリ診断プログラムを展開する領域から除外するのである。なお、不良領域とは、メインメモリの全領域のうち、読み書き機能などのメモリ機能が正常に機能しない領域を言う。また、第２のメモリ診断プログラムは、複数のメモリ診断プログラムのうち、第１のメモリ診断プログラムよりもメモリ機能の診断レベルが高く、そのプログラムサイズが大きいメモリ診断プログラムである。
【００２２】
このようにすることによって、本実施例に係るコンピュータ装置は、メインメモリのうち、不良領域に誤って第２のメモリ診断プログラムが展開され、第２のメモリ診断プログラムを正常に実行することができない事態を回避することができる。
【００２３】
そして、第２のメモリ診断手段は、不良領域を除く領域の一部に展開した第２のメモリ診断プログラムを実行することにより、再びメインメモリを診断する。次いで、第２のメモリ診断手段は、第２のメモリ診断プログラムによるメインメモリの診断結果に基づいて、メインメモリの全領域のうち、以前特定された不良領域を除く領域から新たに不良領域を特定する。さらに、第２のメモリ診断手段は、以前特定された不良領域、及び新たに特定された不良領域を、共に不良領域として、次に実行されるメモリ診断プログラム（すなわち、第３のメモリ診断プログラム以降のメモリ診断プログラム）を展開する展開対象領域から除外する。これらの処理は、ＲＯＭ等の記憶手段に記憶されている全てのメモリ診断プログラムの実行が終了するまで、繰り返し実行される。このため、複数のメモリ診断プログラムのうち、第２のメモリ診断プログラム以降のメモリ診断プログラムは、メインメモリのうち、不良領域を除く正常な領域に、常に展開されることになる。したがって、メモリ診断プログラムを正常に実行することが可能となる。
【００２４】
このように、本実施例では、まずは、メインメモリを利用しないもしくはメインメモリ上での占有の少ない第１のメモリ診断プログラムを実行して、メインメモリの簡易な診断を行い、この診断結果を利用して、メインメモリに展開が必要で詳細なメモリ診断が行える第２のメモリ診断プログラムの配置場所を特定する。したがって、メインメモリのうち、メモリ機能の正常に機能しない不良領域に、第２のメモリ診断プログラム以降のメモリ診断プログラムが展開されるという可能性が低減し、第２のメモリ診断プログラム以降のメモリ診断プログラムが実行できないという事態を回避することができる。
【００２５】
次に、図１を参照して、本実施例に係るコンピュータ装置の構成について説明する。図１は、本実施例に係るコンピュータ装置１の構成を示す機能ブロック図であり、図２は、図１に示すＤＲＡＭの詳細を示す説明図である。
【００２６】
図１に示すように、コンピュータ装置１は、ＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ Ｕｎｉｔ）１０と、ＤＲＡＭ２０と、ＲＯＭ３０と、表示コントローラ４０と、それらを互いに接続するバス６０と、を有する。
【００２７】
ＣＰＵ１０は、コンピュータ装置１の全体を制御する制御部である。具体的には、ＣＰＵ１０は、コンピュータ装置１の起動時に、後述するＢＩＯＳ（Ｂａｓｉｃ Ｉｎｐｕｔ Ｏｕｔｐｕｔ Ｓｙｓｔｅｍ）プログラム３１をＲＯＭ３０から読み出して実行し、ＤＲＡＭ２０等の各種デバイスに異常がないかを検査する。また、ＣＰＵ１０は、ＢＩＯＳプログラム３１の実行により、ＯＳ（Ｏｐｅｒａｔｉｎｇ Ｓｙｓｔｅｍ）の起動や各種デバイスの制御を実行する。
【００２８】
ＤＲＡＭ２０は、コンピュータ装置１のメインメモリ（主記憶装置）である。具体的には、ＤＲＡＭ２０は、ＣＰＵ１０の実行対象となるプログラム（ＢＩＯＳプログラム３１を含む）が展開され、かかるプログラムによる各種データなどが一時的に格納されるワーキングメモリとして用いられる。また、ＤＲＡＭ２０は、図２に示すように、ＣＰＵ１０の実行対象となるプログラムを展開するために、複数の領域（１）〜（２０）に区分されているものとする。
【００２９】
ＲＯＭ３０は、記憶手段として機能するものであり、ＣＰＵ１０が実行する各種プログラムやデータを記憶している。ＲＯＭ３０に記憶されているプログラムには、ＢＩＯＳプログラム３１、複数のメモリ診断プログラム３２等が含まれている。
【００３０】
ＢＩＯＳプログラム３１は、基本入出力プログラムのことである。具体的には、ＢＩＯＳプログラム３１は、コンピュータ装置１の電源投入時に起動して、ＯＳやアプリケーションプログラムと、ＤＲＡＭ２０や周辺機器（ディスプレイ、キーボード等）との間でのデータの入出力を制御する制御プログラムである。また、ＢＩＯＳプログラム３１は、ＤＲＡＭ２０にデータが正常に読み書きできるか否か、メモリ保護機能、及びエラー訂正機能等の関連する機能が正常に動作するか否かなどを確認するメモリ診断処理を行う。なお、ＢＩＯＳプログラム３１がメモリ診断処理を行う具体的な構成については、別途詳細に説明する。
【００３１】
複数のメモリ診断プログラム３２は、ＢＩＯＳプログラム３１がＤＲＡＭ２０のメモリ診断処理を行う際に実行するものであり、ＤＲＡＭ２０の種々のメモリ機能が正常に機能するか否か（例えば、メモリに所定のデータが正常に読み書きできるか否か）を診断するためのプログラム群である。本実施例では、３つメモリ診断プログラム３２ａ、３２ｂ、３２ｃにより構成されている。これらメモリ診断プログラム３２ａ、３２ｂ、３２ｃは、それぞれ異なるメモリ機能の診断を行うものであり、そのメモリ機能の診断のレベルに応じてプログラムサイズを異にしている。例えば、本実施例では、３つのメモリ診断プログラム３２ａ、３２ｂ、３２ｃのメモリ機能の診断レベルは、この順番で高くなっており、そのプログラムサイズは、この順番で大きくなっている。また、メモリ診断プログラム３２ａは、複数のメモリ診断プログラムのうち、メモリ機能の診断レベルの最も低く、そのプログラムサイズの最も小さいメモリ診断プログラムである。
【００３２】
表示コントローラ４０には、ディスプレイ５０が接続されており、ＤＲＡＭ２０のメモリ診断結果などの表示出力が表示コントローラ４０から出力される。ディスプレイ５０は、画像表示装置であって、表示コントローラ４０からの表示出力を視認可能に表示する。
【００３３】
次に、図３を参照して、図１に示すＢＩＯＳプログラム３１がＤＲＡＭ２０のメモリ診断処理を行う具体的な構成について詳細に説明する。図３は、図１に示すＢＩＯＳプログラム３１の詳細を示す機能ブロック図である。なお、図３では、ＲＯＭ３０に記憶されたＢＩＯＳプログラム３１がＣＰＵ１０によって実行されることにより実現される機能を機能ブロックとして示している。
【００３４】
ＢＩＯＳプログラム３１は、メモリ診断部３１１と、メモリ品質評価表作成部３１２と、不良領域特定部３１３と、診断プログラム展開部３１４と、ＯＳ異常検知部３１５と、診断結果告知部３１６と、を機能部として有している。これら各機能部３１１〜３１６は、ＢＩＯＳプログラム３１の起動時（実行時）に実行状態となる。
【００３５】
このＢＩＯＳプログラム３１は、前述したように、コンピュータ装置１の起動時に最初に実行される。したがって、ＯＳ起動前に、ＤＲＡＭ２０のメモリ診断処理を実行することとなるので、ＯＳが起動しない場合であっても、メモリ診断プログラムを正常に実行することが可能となる。
【００３６】
メモリ診断部３１１は、複数のメモリ診断プログラム３２のうち、第１のメモリ診断プログラムであるメモリ診断プログラム３２ａを実行することにより、ＤＲＡＭ２０を診断する。また、メモリ診断部３１１は、メモリ診断プログラム３２ａを、ＤＲＡＭ２０上に展開することなく実行する。上述したように、メモリ診断プログラム３２ａは、複数のメモリ診断プログラムのうち、メモリ機能の診断レベルの最も低く、そのプログラムサイズの最も小さいメモリ診断プログラムである。ここでは、メモリ診断プログラム３２ａのプログラムサイズが、ＤＲＡＭ２０上に展開する必要のない程度に小さく設定されている。これにより、ＤＲＡＭ２０に不良領域が存在するか否かが不明である段階で、ＤＲＡＭ２０にメモリ診断プログラムを展開することを回避することができる。
【００３７】
メモリ品質評価表作成部３１２は、メモリ診断部３１１による診断結果と、ＤＲＡＭ２０のアドレス情報とを関連付けたメモリ品質評価表を作成する。なお、メモリ品質評価表については、後にメモリ診断処理の手順を説明する際に、別途詳細に説明する。
【００３８】
不良領域特定部３１３は、メモリ診断部３１１による診断結果に基づいて、ＤＲＡＭ２０内の不良領域を特定する。具体的には、不良領域特定部３１３は、メモリ品質評価表作成部３１２により作成されたメモリ品質評価表を参照することによって、メモリ診断部３１１により異常であると診断されたＤＲＡＭ２０のアドレス情報を抽出し、この抽出したアドレス情報に従って、ＤＲＡＭ２０内の不良領域を特定する。このとき、メモリ診断部３１１及び不良領域特定部３１３は、第１のメモリ診断プログラム３２ａを実行することにより、メインメモリであるＤＲＡＭ２０の不良領域の特定を行う第１のメモリ診断手段として機能する。
【００３９】
診断プログラム展開部３１４は、ＤＲＡＭ２０の全領域（１）〜（２０）のうち、不良領域特定部３１３により特定された不良領域を除く領域に、ＲＯＭ３０に記憶されている第２のメモリ診断プログラムであるメモリ診断プログラム３２ｂを展開する。具体的には、診断プログラム展開部３１４は、メモリ品質評価表作成部３１２により作成されたメモリ品質評価表を参照することによって、メモリ診断部３１１により異常であると診断されたＤＲＡＭ２０のアドレス情報を抽出し、当該抽出したアドレス情報に対応する領域を、不良領域として、ＤＲＡＭ２０のうち、メモリ診断プログラム３２ｂを展開する領域（メモリ診断プログラム３２ｂの展開対象領域）から除外する。言い換えると、診断プログラム展開部３１４は、ＤＲＡＭ２０の全領域（１）〜（２０）のうち、不良領域特定部３１３により特定された不良領域を除く領域の一部を、第２のメモリ診断プログラム３２ｂの展開対象領域として設定する。
【００４０】
そして、メモリ診断部３１１は、診断プログラム展開部３１４により展開されたメモリ診断プログラム３２ｂを実行することにより、ＤＲＡＭ２０の全領域（１）〜（２０）のうち、不良領域特定部３１３により特定された不良領域を除く領域を新たに診断する。このとき、診断プログラム展開部３１４及びメモリ診断部３１１は、ＤＲＡＭ２０のうち、不良領域特定部３１３により特定された不良領域を除く領域に、ＲＯＭ３０に記憶されている第２のメモリ診断プログラム３２ｂを展開し、実行する第２のメモリ診断手段として機能する。
【００４１】
次いで、不良領域特定部３１３は、メモリ診断部３１１による新たな診断結果に基づいて、ＤＲＡＭ２０の全領域（１）〜（２０）のうち、不良領域特定部３１３により以前特定された不良領域を除く領域から新たに不良領域を特定する。診断プログラム展開部３１４は、不良領域特定部３１３により以前特定された不良領域、及び新たに特定された不良領域を、共に不良領域として、メモリ診断部３１１によって次に実行されるメモリ診断プログラム３２ｃを展開する展開対象領域から除外する。
【００４２】
これら各機能部３１１〜３１４の処理は、メモリ診断部３１１によって全てのメモリ診断プログラム３２（３２ａ〜３２ｃ）が実行されるまで、繰り返し実行される。このため、メモリ診断プログラム３２は、ＤＲＡＭ２０のうち、不良領域を除く正常な領域に、常に展開されることになる。したがって、メモリ診断プログラムを正常に実行することが可能となる。
【００４３】
ＯＳ異常検知部３１５は、ＯＳの起動異常を検知する。ＯＳの起動異常としては、例えば、コンピュータ装置１が停止しキーボードやマウスの入力を受け付けなくなる状態（いわゆる、ハングアップ）や、ＯＳ自体の処理が継続不可能になる状態（いわゆる、青画面、黒画面）等が含まれる。このＯＳ異常検知部３１５は、例えば、正常時のコンピュータ装置１の起動時間を予め測定し、タイムアウト時間を決めてＲＯＭ３０内の所定領域に記憶しておき、ＯＳがタイムアウト時を経過した後もなおハングアップ、青画面、黒画面の状態にある場合に、ＯＳの起動異常を検知するようにしている。
【００４４】
診断結果告知部３１６は、ＯＳ異常検知部３１５がＯＳの起動異常を検知した場合に、メモリ診断部３１１によるＤＲＡＭ２０のメモリ診断結果を告知する診断結果告知手段として、メモリ診断部３１１によるＤＲＡＭ２０のメモリ診断結果を表示コントローラ４０へ表示出力する。このとき、診断結果告知部３１６は、メモリ品質評価表作成部３１２により作成されたメモリ品質評価表を、メモリ診断部３１１によるＤＲＡＭ２０のメモリ診断結果として表示出力するようにしている。
【００４５】
次に、図４−１〜図４−３を参照して、図１に示すＢＩＯＳプログラム３１がＤＲＡＭ２０のメモリ診断処理を行う処理手順について具体的に説明する。図４−１〜図４−３は、図１に示すＢＩＯＳプログラム３１がＤＲＡＭ２０のメモリ診断処理を行う処理手順を示す説明図である。また、図４−１、図４−２では、メモリ診断プログラム３２ａ、３２ｂを実行した後にメモリ品質評価表作成部３１２により作成されたメモリ品質評価表を上方にそれぞれ示し、診断プログラム展開部３１４により設定された、次のメモリ診断プログラム３２ｂ、３２ｃの展開対象領域を下方にそれぞれ示している。また、図４−３では、メモリ診断プログラム３２ｃを実行した後にメモリ品質評価表作成部３１２により作成されたメモリ品質評価表を上方に示し、ＤＲＡＭ２０の最終的なメモリ診断結果を下方に示している。
【００４６】
まず、図４−１の上方に示すように、メモリ診断部３１１によってメモリ診断プログラム３２ａが実行されると、メモリ品質評価表作成部３１２によって、メモリ診断部３１１による診断結果と、ＤＲＡＭ２０のアドレス情報とを関連付けたメモリ品質評価表が作成される。このとき、メモリ診断プログラム３２ａは、ＤＲＡＭ２０上に展開されることなくメモリ診断部３１１によって実行される。メモリ品質評価表作成部３１２により作成されたメモリ品質評価表では、ＤＲＡＭ２０の全領域のうち、メモリ診断部３１１によって正常であると診断された領域のアドレスに、ＤＲＡＭ２０のメモリ診断結果として「１」が設定され、メモリ診断部３１１によって異常であると診断された領域のアドレスに、ＤＲＡＭ２０のメモリ診断結果として「０」が設定される。図４−１では、メモリ診断結果「０」の設定された領域（３）及び領域（１９）が異常であると診断されている。
【００４７】
続いて、図４−１の下方に示すように、不良領域特定部３１３によって、図４−１の上方に示すメモリ品質評価表が参照され、ＤＲＡＭ２０内の不良領域が特定される。図４−１では、ＤＲＡＭ２０の全領域（１）〜（２０）のうち、異常であると診断された領域（３）及び（１９）が、不良領域として特定される。
【００４８】
続いて、図４−１の下方に示すように、診断プログラム展開部３１４によって、ＤＲＡＭ２０の全領域うち、不良領域特定部３１３により特定された不良領域を除く領域の一部が、メモリ診断部３１１によって次に実行されるメモリ診断プログラム３２ｂを展開する展開対象領域として設定される。図４−１では、ＤＲＡＭ２０の全領域（１）〜（２０）のうち、不良領域（３）及び（１９）を除く領域の一部が、次のメモリ診断プログラム３２ｂの展開対象領域として設定されている。
【００４９】
続いて、メモリ診断部３１１によってメモリ診断プログラム３２ｂが実行されると、ＤＲＡＭ２０の全領域（１）〜（２０）のうち、不良領域（３）及び（１９）を除く領域が新たに診断される。
【００５０】
続いて、図４−２の上方に示すように、メモリ品質評価表作成部３１２によって、メモリ診断部３１１による新たな診断結果を用いてメモリ品質評価表が更新される。すなわち、このメモリ品質評価表では、ＤＲＡＭ２０の全領域のうち、メモリ診断部３１１によって正常であると新たに診断された領域のアドレスに、メモリ診断結果として「２」が新たに設定され、メモリ診断部３１１によって異常であると診断された領域のアドレスに、メモリ診断結果として「１」の設定が維持される。図４−２では、メモリ診断結果「１」の設定された領域（５）及び（２０）が異常であると新たに診断されている。
【００５１】
続いて、図４−２の下方に示すように、不良領域特定部３１３によって、図４−２の上方に示すメモリ品質評価表が参照され、ＤＲＡＭ２０の全領域（１）〜（２０）のうち、不良領域（３）及び（１９）を除く領域から新たな不良領域が特定される。図４−２では、ＤＲＡＭ２０の全領域（１）〜（２０）のうち、不良領域（３）及び（１９）を除く領域から、新たに異常であると診断された領域（５）及び（２０）が、不良領域として新たに特定される。
【００５２】
続いて、図４−２の下方に示すように、診断プログラム展開部３１４によって、ＤＲＡＭ２０の全領域うち、不良領域特定部３１３により特定された不良領域を除く領域の一部が、メモリ診断部３１１によって次に実行されるメモリ診断プログラム３２ｃを展開する展開対象領域として新たに設定される。図４−２では、ＤＲＡＭ２０の全領域（１）〜（２０）のうち、不良領域（３）、（５）、（１９）、及び（２０）を除く領域の一部が、メモリ診断プログラム３２ｃの展開対象領域として新たに設定されている。
【００５３】
続いて、メモリ診断部３１１によってメモリ診断プログラム３２ｃが実行されると、ＤＲＡＭ２０の全領域（１）〜（２０）のうち、不良領域（３）、（５）、（１９）、及び（２０）を除く領域が新たに診断される。
【００５４】
続いて、図４−３の上方に示すように、メモリ品質評価表作成部３１２によって、メモリ診断部３１１による新たな診断結果を用いてメモリ品質評価表が更新される。すなわち、このメモリ品質評価表では、ＤＲＡＭ２０の全領域のうち、メモリ診断部３１１によって正常であると新たに診断された領域のアドレスに、メモリ診断結果として「３」が新たに設定され、メモリ診断部３１１によって異常であると診断された領域のアドレスに、メモリ診断結果として「２」の設定が維持される。図４−３では、メモリ診断結果「２」の設定された領域（４）が異常であると新たに診断されている。
【００５５】
以上のような処理を行うことにより、図４−３の下方に示すように、ＢＩＯＳプログラム３１により実行されるメモリ診断処理による最終的なメモリ診断結果が得られる。
【００５６】
次に、図５を参照して、図１に示すコンピュータ装置１のメモリ診断処理について説明する。図５は、図１に示すコンピュータ装置１のメモリ診断処理を示すフローチャートである。なお、図５に示すメモリ診断処理は、コンピュータ装置１の電源が投入された後、ＣＰＵ１０が、ＢＩＯＳプログラム３１をＲＯＭ３０から読み出して実行することにより、実行される処理である。
【００５７】
図５に示すように、まず、ＢＩＯＳプログラム３１のメモリ診断部３１１は、複数のメモリ診断プログラム３２のうち、１のメモリ診断プログラム３２ａを実行し（ステップＳ１０）、ＤＲＡＭ２０の全領域を、１つの領域ごとに診断する（ステップＳ１１）。このとき、メモリ診断部３１１は、メモリ診断プログラム３２ａを、ＤＲＡＭ２０上に展開することなく実行する。そして、メモリ診断部３１１は、メモリ診断結果と、ＤＲＡＭ２０のアドレス情報とを関連付けてＤＲＡＭ２０の各領域に記憶する（ステップＳ１２）。
【００５８】
続いて、メモリ診断部３１１は、ＤＲＡＭ２０の全領域に、未診断の領域が有るか否かを判定する（ステップＳ１３）。この判定は、ＤＲＡＭ２０の各領域のアドレス情報に、メモリ診断結果が関連付けられているか否かを判定することにより行われる。そして、ＤＲＡＭ２０の全領域に、未診断の領域が有ると判定すると（ステップＳ１３：Ｙｅｓ）、メモリ診断部３１１は、ＤＲＡＭ２０の全領域に、未診断の領域が無くなるまで、ステップＳ１１〜ステップＳ１３の処理を繰り返す。
【００５９】
一方、ＤＲＡＭ２０の全領域に、未診断の領域が無いと判定すると（ステップＳ１３：Ｎｏ）、メモリ診断部３１１は、メモリ品質評価表作成部３１２にメモリ品質評価表を作成するよう要求する。この要求を受け付けると、メモリ品質評価表作成部３１２は、メモリ診断部３１１によるメモリ診断結果と、ＤＲＡＭ２０のアドレス情報とを関連付けたメモリ品質評価表を作成し（ステップＳ１４）、作成したメモリ品質評価表を不良領域特定部３１３へ送信する。
【００６０】
そして、不良領域特定部３１３は、受信したメモリ品質評価表を参照することによって、メモリ診断部３１１により異常であると診断されたＤＲＡＭ２０のアドレス情報を抽出し、この抽出したアドレス情報に従って、ＤＲＡＭ２０内の不良領域を特定する（ステップＳ１５）。
【００６１】
そして、診断プログラム展開部３１４は、ＤＲＡＭ２０の全領域のうち、ステップＳ１５にて不良領域特定部３１３により特定された不良領域以外の領域の一部を、展開対象領域として設定し（ステップＳ１６）、その展開対象領域に次のメモリ診断プログラム３２ｂを展開する（ステップＳ１７）。
【００６２】
続いて、メモリ診断部３１１は、展開されたメモリ診断プログラム３２ｂを実行することにより、ＤＲＡＭ２０の全領域のうち、不良領域以外の領域を、１つの領域ごとに診断する（ステップＳ１８）。そして、メモリ診断部３１１は、メモリ診断結果と、ＤＲＡＭ２０のアドレス情報とを関連付けてＤＲＡＭ２０の各領域に記憶する（ステップＳ１９）。
【００６３】
そして、メモリ診断部３１１は、ＤＲＡＭ２０の全領域のうち、不良領域以外の領域に、未診断の領域があるか否かを判定する（ステップＳ２０）。そして、ＤＲＡＭ２０の全領域に、未診断の領域が有ると判定すると（ステップＳ２０：Ｙｅｓ）、メモリ診断部３１１は、ＤＲＡＭ２０の全領域のうち、不良領域以外の領域に、未診断の領域が無くなるまで、ステップＳ１８〜ステップＳ２０の処理を繰り返す。
【００６４】
一方、ＤＲＡＭ２０の全領域のうち、不良領域以外の領域に、未診断の領域が無いと判定すると（ステップＳ２０：Ｎｏ）、メモリ診断部３１１は、メモリ品質評価表作成部３１２にメモリ品質評価表を更新するよう要求する。この要求を受け付けると、メモリ品質評価表作成部３１２は、メモリ品質評価表を更新する（ステップＳ２１）。
【００６５】
その後、メモリ診断部３１１は、全てのメモリ診断プログラム３２ａ〜３２ｃを実行したか否かを判定する（ステップＳ２２）。そして、全てのメモリ診断プログラム３１ａ〜３１ｃを実行していないと判定すると（ステップＳ２２：Ｎｏ）、処理をステップＳ１５に戻す。そして、全てのメモリ診断プログラム３１ａ〜３１ｃを実行し終えるまで、ステップＳ１５〜ステップＳ２２の処理が繰り返される。
【００６６】
一方、全てのメモリ診断プログラム３１ａ〜３１ｃを実行したと判定すると（ステップＳ２２：Ｙｅｓ）、メモリ診断部３１１は、処理をステップＳ２３へ移す。
【００６７】
ステップＳ２３において、ＯＳ異常検知部３１５は、ＯＳの起動異常が有るか否かを検知する。この検知の結果、ＯＳの起動異常を検知すると（ステップＳ２３：Ｙｅｓ）、ＯＳ異常検知部３１５は、その検知信号を診断結果告知部３１６へ送信する。ＯＳ異常検知部３１５からの検知信号を受信すると、診断結果告知部３１６は、ステップＳ２１においてメモリ品質評価表作成部３１２によって更新されたメモリ品質評価表を、ＤＲＡＭ２０のメモリ診断結果として、表示コントローラ４０へ表示出力する。その後、メモリ品質評価表は、ディスプレイ５０に表示され（ステップＳ２４）、メモリ診断処理が終了する。一方、ＯＳの起動異常がないと検知すると（ステップＳ２３：Ｎｏ）、ＯＳ異常検知部３１５は、メモリ診断処理を終了する。
【００６８】
上述してきたように、本実施例では、メモリ診断部３１１は、第１のメモリ診断プログラムであるメモリ診断プログラム３２ａを実行することにより、ＤＲＡＭ２０を診断し、不良領域特定部３１３は、メモリ診断部３１１による診断結果に基づいて、ＤＲＡＭ２０内の不良領域を特定し、これらメモリ診断部３１１及び不良領域特定部３１３は、第１のメモリ診断手段として機能する。また、診断プログラム展開部３１４は、ＤＲＡＭ２０のうち、不良領域を除く領域の一部に、メモリ診断部３１１により次に実行されるメモリ診断プログラム３２ｂを展開し、メモリ診断部３１１は、診断プログラム展開部３１４により展開されたメモリ診断プログラム３２ｂを実行することにより、ＤＲＡＭ２０のうち、不良領域特定部３１３により特定された不良領域を除く領域を新たに診断し、これら診断プログラム展開部３１４及びメモリ診断部３１１は、第２のメモリ診断手段として機能する。したがって、メインメモリのうち、メモリ機能の正常に機能しない不良領域に、メモリ診断プログラムを展開することを回避して、メモリ診断プログラムの正常な実行が不能になるという事態を回避することができる。
【００６９】
また、メモリ診断部３１１は、第１のメモリ診断手段として機能することで、メモリ診断プログラム３２ａを、ＤＲＡＭ２０上に展開することなく実行する。したがって、メインメモリに不良領域が存在しているか否かが不明な段階で、メモリ診断プログラムをメインメモリ上に展開することを回避することができるので、メモリ診断プログラムが実行不能となる事態をより確実に回避することができる。
【００７０】
また、メモリ品質評価表作成部３１２は、メモリ診断部３１１による診断結果と、ＤＲＡＭ２０のアドレス情報とを関連付けたメモリ品質評価表を作成することとしたので、ＤＲＡＭ２０の全領域のうち、不良領域と不良領域以外の領域との区別を容易化することができ、メモリ診断処理を高効率化することができる。
【００７１】
また、不良領域特定部３１３は、第２のメモリ診断手段として機能することで、メモリ診断部３１１により異常であると診断されたＤＲＡＭ２０のアドレス情報を抽出し、当該抽出したアドレス情報に対応する領域を、不良領域として、ＤＲＡＭ２０のうち、第２のメモリ診断プログラム３２ｂを展開する領域から除外することとした。したがって、ＤＲＡＭ２０の全領域のうち、不良領域と不良領域以外の領域との区別を容易化することによって、不良領域の特定を容易化することができ、メモリ診断処理を高効率化することができる。
【００７２】
また、ＯＳ異常検知部３１５は、ＯＳの起動異常を検知し、診断結果告知部３１６は、ＯＳ異常検知部３１５がＯＳの起動異常を検知した場合に、メモリ診断部３１１による診断結果を告知することとしたので、ユーザは、メモリ診断部３１１による診断結果を確認することで、ＤＲＡＭ２０内の不良領域を即座に知ることができ、その不良領域を交換する等の適切な対処をとることができる。
【００７３】
また、各機能部３１１〜３１６は、電源の投入時に起動して、ＤＲＡＭ２０に対するデータの入出力を制御するＢＩＯＳプログラム３１内に組み込まれており、当該ＢＩＯＳプログラム３１の起動時に実行状態となることとしたので、ＯＳ起動前に、ＤＲＡＭ２０のメモリ診断処理を実行することができ、ＯＳが起動しない場合であっても、メモリ診断プログラムを正常に実行することが可能となる。
【００７４】
これまで本発明の実施例について説明したが、本発明は上述した実施例以外にも、上記特許請求の範囲に記載した技術的思想の範囲内において種々の異なる実施例にて実施されてもよいものである。
【００７５】
例えば、本実施例では、第１のメモリ診断プログラムが、第１のメモリ診断手段によってメインメモリ上に展開されることなく実行される構成としたが、これに限らず、メインメモリ上に展開した時の占有面積が比較的に小さい第１のメモリ診断プログラムが、第１のメモリ診断手段によりメインメモリ上に展開されて実行されることにより、メインメモリの簡易な診断が最初に実行されるように構成しても良い。この場合、第１のメモリ診断手段による診断結果を利用して、メインメモリ上に展開した時の占有面積がより大きい第２、第３のメモリ診断プログラムが第２、第３のメモリ診断手段によりメインメモリ上に順次展開されて実行される。これにより、徐々に高度なメモリ機能の診断が行われる。
【００７６】
また、本実施例では、メインメモリであるＤＲＡＭの診断を行うメモリ診断処理について説明したが、これに限らず、ＣＰＵ内部に設けられ、高速な読み書きの可能なメモリであるキャッシュメモリの診断を行うメモリ診断処理について適用することができる。
【００７７】
また、本実施例のＢＩＯＳプログラム３１やメモリ診断プログラム３２は、必ずしもＲＯＭ３０に記憶されている必要はなく、例えば、フラッシュメモリ等の書き換え可能な不揮発性のメモリに記憶しておき、このプログラムを、ＣＰＵ１０が読み出して実行するようにしてもよい。また、本実施例のＢＩＯＳプログラム３１やメモリ診断プログラム３２は、例えば、ネットワークに接続されたサーバ等からフラッシュメモリにダウンロードされるようにしてもよく、さらには、ＣＤ−ＲＯＭ等の記録媒体に記録されてから記録媒体のドライブを介して、フラッシュメモリに読み込まれるようにしてもよい。
【００７８】
以上の実施例を含む実施形態に関し、さらに以下の付記を開示する。
【００７９】
（付記１）メインメモリを有するコンピュータ装置であって、
第１のメモリ診断プログラムを実行することにより、前記メインメモリの不良領域の特定を行う第１のメモリ診断手段と、
再配置可能な第２のメモリ診断プログラムが記憶された記憶手段と、
前記メインメモリのうち、前記第１のメモリ診断手段により特定された不良領域を除く領域に、前記記憶手段に記憶されている前記第２のメモリ診断プログラムを展開し、実行する第２のメモリ診断手段と、
を有することを特徴とするコンピュータ装置。
【００８０】
（付記２）前記第１のメモリ診断手段は、前記第１のメモリ診断プログラムを、前記メインメモリ上に展開することなく実行することを特徴とする付記１に記載のコンピュータ装置。
【００８１】
（付記３）前記第１のメモリ診断手段による前記メインメモリの診断結果と、前記メインメモリのアドレス情報とを関連付けたメモリ品質評価表を作成するメモリ品質評価表作成手段を有することを特徴とする付記１又は２に記載のコンピュータ装置。
【００８２】
（付記４）前記第２のメモリ診断手段は、前記メモリ品質評価表を参照することによって、前記第１のメモリ診断手段により異常であると診断された前記メインメモリのアドレス情報を抽出し、当該抽出したアドレス情報に対応する領域を、前記不良領域として、前記メインメモリのうち、前記第２のメモリ診断プログラムを展開する領域から除外することを特徴とする付記３に記載のコンピュータ装置。
【００８３】
（付記５）ＯＳの起動異常を検知するＯＳ異常検知手段と、
前記ＯＳ異常検知手段が前記起動異常を検知した場合に、前記第２のメモリ診断手段による前記メインメモリの診断結果を告知する診断結果告知手段と、
を有することを特徴とする付記１〜４のいずれか１つに記載のコンピュータ装置。
【００８４】
（付記６）前記各手段は、電源の投入時に起動して、前記メインメモリに対するデータの入出力を制御する制御プログラムである基本入出力プログラム内に組み込まれており、当該基本入出力プログラムの起動時に実行状態となることを特徴とする付記１〜５のいずれか１つに記載のコンピュータ装置。
【００８５】
（付記７）コンピュータ装置のメインメモリの診断を行うメモリ診断方法であって、
第１のメモリ診断プログラムを実行することにより、前記メインメモリの不良領域の特定を行う第１のメモリ診断ステップと、
前記メインメモリのうち、前記第１のメモリ診断ステップにより特定された不良領域を除く領域に、第２のメモリ診断プログラムを展開し、実行する第２のメモリ診断ステップと、
を有することを特徴とするメモリ診断方法。
【００８６】
（付記８）前記第１のメモリ診断ステップにおいて、前記第１のメモリ診断プログラムを、前記メインメモリ上に展開することなく実行することを特徴とする付記７に記載のメモリ診断方法。
【００８７】
（付記９）前記第１のメモリ診断ステップによる前記メインメモリの診断結果と、前記メインメモリのアドレス情報とを関連付けたメモリ品質評価表を作成するメモリ品質評価表作成ステップを有することを特徴とする付記７又は８に記載のメモリ診断方法。
【００８８】
（付記１０）前記第２のメモリ診断ステップにおいて、前記メモリ品質評価表を参照することによって、前記第１のメモリ診断ステップにより異常であると診断された前記メインメモリのアドレス情報を抽出し、当該抽出したアドレス情報に対応する領域を、前記不良領域として、前記メインメモリのうち、前記第２のメモリ診断プログラムを展開する領域から除外することを特徴とする付記９に記載のメモリ診断方法。
【００８９】
（付記１１）ＯＳの起動異常を検知するＯＳ異常検知ステップと、
前記ＯＳ異常検知ステップにて前記起動異常を検知した場合に、前記第２のメモリ診断ステップによる前記メインメモリの診断結果を告知する診断結果告知ステップと、
を有することを特徴とする付記７〜１０のいずれか１つに記載のメモリ診断方法。
【００９０】
（付記１２）前記各ステップは、電源の投入時に起動して、前記メインメモリに対するデータの入出力を制御する制御プログラムである基本入出力プログラム内に組み込まれており、当該基本入出力プログラムの起動時に実行状態となることを特徴とする付記７〜１１のいずれか１つに記載のメモリ診断方法。
【００９１】
（付記１３）コンピュータ装置のメインメモリの診断を行うメモリ診断制御プログラムであって、
第１のメモリ診断プログラムを実行することにより、前記メインメモリの不良領域の特定を行う第１のメモリ診断手順と、
前記メインメモリのうち、前記第１のメモリ診断手順により特定された不良領域を除く領域に、第２のメモリ診断プログラムを展開し、実行する第２のメモリ診断手順と、
をコンピュータに実行させることを特徴とするメモリ診断制御プログラム。
【００９２】
（付記１４）前記第１のメモリ診断手順において、前記第１のメモリ診断プログラムを、前記メインメモリ上に展開することなく実行する処理を、コンピュータに実行させることを特徴とする付記１３に記載のメモリ診断制御プログラム。
【００９３】
（付記１５）前記第１のメモリ診断手順による前記メインメモリの診断結果と、前記メインメモリのアドレス情報とを関連付けたメモリ品質評価表を作成するメモリ品質評価表作成手順を、コンピュータに実行させることを特徴とする付記１３又は１４に記載のメモリ診断制御プログラム。
【００９４】
（付記１６）前記第２のメモリ診断手順において、前記メモリ品質評価表を参照することによって、前記第１のメモリ診断ステップにより異常であると診断された前記メインメモリのアドレス情報を抽出し、当該抽出したアドレス情報に対応する領域を、前記不良領域として、前記メインメモリのうち、前記第２のメモリ診断プログラムを展開する領域から除外する処理を、コンピュータに実行させることを特徴とする付記１５に記載のメモリ診断制御プログラム。
【００９５】
（付記１７）ＯＳの起動異常を検知するＯＳ異常検知手順と、
前記起動異常を検知した場合に、前記第２のメモリ診断手順による前記メインメモリの診断結果を告知する診断結果告知手順と、
を、コンピュータに実行させることを特徴とする付記１３〜１６のいずれか１つに記載のメモリ診断制御プログラム。
【００９６】
（付記１８）前記各手順は、電源の投入時に起動して、前記メインメモリに対するデータの入出力を制御する制御プログラムである基本入出力プログラム内に組み込まれており、当該基本入出力プログラムの起動時に実行状態となることを特徴とする付記１３〜１７のいずれか１つに記載のメモリ診断制御プログラム。
【図面の簡単な説明】
【００９７】
【図１】本実施例に係るコンピュータ装置の構成を示す機能ブロック図である。
【図２】図１に示すＤＲＡＭの詳細を示す説明図である。
【図３】図１に示すＢＩＯＳプログラムの詳細を示す機能ブロック図である。
【図４−１】図１に示すＢＩＯＳプログラムがＤＲＡＭのメモリ診断処理を行う処理手順を示す説明図である。
【図４−２】図１に示すＢＩＯＳプログラムがＤＲＡＭのメモリ診断処理を行う処理手順を示す説明図である。
【図４−３】図１に示すＢＩＯＳプログラムがＤＲＡＭのメモリ診断処理を行う処理手順を示す説明図である。
【図５】本実施形態に係るコンピュータ装置のメモリ診断処理の処理手順を示すフローチャートである。
【符号の説明】
【００９８】
１ コンピュータ装置
２０ メインメモリ（ＤＲＡＭ）
３１ 基本入出力プログラム（ＢＩＯＳプログラム）
３２ メモリ診断プログラム
３２ａ、３２ｂ、３２ｃ メモリ診断プログラム
３１１ メモリ診断部
３１２ メモリ品質評価表作成部
３１３ 不良領域特定部
３１４ 診断プログラム展開部
３１５ ＯＳ異常検知部
３１６ 診断結果告知部
【特許請求の範囲】
【請求項１】
メインメモリを有するコンピュータ装置であって、
第１のメモリ診断プログラムを実行することにより、前記メインメモリの不良領域の特定を行う第１のメモリ診断手段と、
再配置可能な第２のメモリ診断プログラムが記憶された記憶手段と、
前記メインメモリのうち、前記第１のメモリ診断手段により特定された不良領域を除く領域に、前記記憶手段に記憶されている前記第２のメモリ診断プログラムを展開し、実行する第２のメモリ診断手段と、
を有することを特徴とするコンピュータ装置。
【請求項２】
前記第１のメモリ診断手段は、前記第１のメモリ診断プログラムを、前記メインメモリ上に展開することなく実行することを特徴とする請求項１に記載のコンピュータ装置。
【請求項３】
前記第１のメモリ診断手段による前記メインメモリの診断結果と、前記メインメモリのアドレス情報とを関連付けたメモリ品質評価表を作成するメモリ品質評価表作成手段を有することを特徴とする請求項１又は２に記載のコンピュータ装置。
【請求項４】
前記第２のメモリ診断手段は、前記メモリ品質評価表を参照することによって、前記第１のメモリ診断手段により異常であると診断された前記メインメモリのアドレス情報を抽出し、当該抽出したアドレス情報に対応する領域を、前記不良領域として、前記メインメモリのうち、前記第２のメモリ診断プログラムを展開する領域から除外することを特徴とする請求項３に記載のコンピュータ装置。
【請求項５】
ＯＳの起動異常を検知するＯＳ異常検知手段と、
前記ＯＳ異常検知手段が前記起動異常を検知した場合に、前記第２のメモリ診断手段による前記メインメモリの診断結果を告知する診断結果告知手段と、
を有することを特徴とする請求項１〜４のいずれか１つに記載のコンピュータ装置。
【請求項６】
前記各手段は、電源の投入時に起動して、前記メインメモリに対するデータの入出力を制御する制御プログラムである基本入出力プログラム内に組み込まれており、当該基本入出力プログラムの起動時に実行状態となることを特徴とする請求項１〜５のいずれか１つに記載のコンピュータ装置。
【請求項７】
コンピュータ装置のメインメモリの診断を行うメモリ診断方法であって、
第１のメモリ診断プログラムを実行することにより、前記メインメモリの不良領域の特定を行う第１のメモリ診断ステップと、
前記メインメモリのうち、前記第１のメモリ診断ステップにより特定された不良領域を除く領域に、第２のメモリ診断プログラムを展開し、実行する第２のメモリ診断ステップと、
を有することを特徴とするメモリ診断方法。
【請求項８】
前記第１のメモリ診断ステップにおいて、前記第１のメモリ診断プログラムを、前記メインメモリ上に展開することなく実行することを特徴とする請求項７に記載のメモリ診断方法。
【請求項９】
コンピュータ装置のメインメモリの診断を行うメモリ診断制御プログラムであって、
第１のメモリ診断プログラムを実行することにより、前記メインメモリの不良領域の特定を行う第１のメモリ診断手順と、
前記メインメモリのうち、前記第１のメモリ診断手順により特定された不良領域を除く領域に、第２のメモリ診断プログラムを展開し、実行する第２のメモリ診断手順と、
をコンピュータに実行させることを特徴とするメモリ診断制御プログラム。
【請求項１０】
前記第１のメモリ診断手順において、前記第１のメモリ診断プログラムを、前記メインメモリ上に展開することなく実行する処理を、コンピュータに実行させることを特徴とする請求項９に記載のメモリ診断制御プログラム。
【請求項１】
メインメモリを有するコンピュータ装置であって、
第１のメモリ診断プログラムを実行することにより、前記メインメモリの不良領域の特定を行う第１のメモリ診断手段と、
再配置可能な第２のメモリ診断プログラムが記憶された記憶手段と、
前記メインメモリのうち、前記第１のメモリ診断手段により特定された不良領域を除く領域に、前記記憶手段に記憶されている前記第２のメモリ診断プログラムを展開し、実行する第２のメモリ診断手段と、
を有することを特徴とするコンピュータ装置。
【請求項２】
前記第１のメモリ診断手段は、前記第１のメモリ診断プログラムを、前記メインメモリ上に展開することなく実行することを特徴とする請求項１に記載のコンピュータ装置。
【請求項３】
前記第１のメモリ診断手段による前記メインメモリの診断結果と、前記メインメモリのアドレス情報とを関連付けたメモリ品質評価表を作成するメモリ品質評価表作成手段を有することを特徴とする請求項１又は２に記載のコンピュータ装置。
【請求項４】
前記第２のメモリ診断手段は、前記メモリ品質評価表を参照することによって、前記第１のメモリ診断手段により異常であると診断された前記メインメモリのアドレス情報を抽出し、当該抽出したアドレス情報に対応する領域を、前記不良領域として、前記メインメモリのうち、前記第２のメモリ診断プログラムを展開する領域から除外することを特徴とする請求項３に記載のコンピュータ装置。
【請求項５】
ＯＳの起動異常を検知するＯＳ異常検知手段と、
前記ＯＳ異常検知手段が前記起動異常を検知した場合に、前記第２のメモリ診断手段による前記メインメモリの診断結果を告知する診断結果告知手段と、
を有することを特徴とする請求項１〜４のいずれか１つに記載のコンピュータ装置。
【請求項６】
前記各手段は、電源の投入時に起動して、前記メインメモリに対するデータの入出力を制御する制御プログラムである基本入出力プログラム内に組み込まれており、当該基本入出力プログラムの起動時に実行状態となることを特徴とする請求項１〜５のいずれか１つに記載のコンピュータ装置。
【請求項７】
コンピュータ装置のメインメモリの診断を行うメモリ診断方法であって、
第１のメモリ診断プログラムを実行することにより、前記メインメモリの不良領域の特定を行う第１のメモリ診断ステップと、
前記メインメモリのうち、前記第１のメモリ診断ステップにより特定された不良領域を除く領域に、第２のメモリ診断プログラムを展開し、実行する第２のメモリ診断ステップと、
を有することを特徴とするメモリ診断方法。
【請求項８】
前記第１のメモリ診断ステップにおいて、前記第１のメモリ診断プログラムを、前記メインメモリ上に展開することなく実行することを特徴とする請求項７に記載のメモリ診断方法。
【請求項９】
コンピュータ装置のメインメモリの診断を行うメモリ診断制御プログラムであって、
第１のメモリ診断プログラムを実行することにより、前記メインメモリの不良領域の特定を行う第１のメモリ診断手順と、
前記メインメモリのうち、前記第１のメモリ診断手順により特定された不良領域を除く領域に、第２のメモリ診断プログラムを展開し、実行する第２のメモリ診断手順と、
をコンピュータに実行させることを特徴とするメモリ診断制御プログラム。
【請求項１０】
前記第１のメモリ診断手順において、前記第１のメモリ診断プログラムを、前記メインメモリ上に展開することなく実行する処理を、コンピュータに実行させることを特徴とする請求項９に記載のメモリ診断制御プログラム。
【図１】
【図２】
【図３】
【図４−１】
【図４−２】
【図４−３】
【図５】
【図２】
【図３】
【図４−１】
【図４−２】
【図４−３】
【図５】
【公開番号】特開２０１０−９２１２５（Ｐ２０１０−９２１２５Ａ）
【公開日】平成２２年４月２２日（２０１０．４．２２）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２００８−２５８９７４（Ｐ２００８−２５８９７４）
【出願日】平成２０年１０月３日（２００８．１０．３）
【出願人】（０００００５２２３）富士通株式会社 (25,993)
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成２２年４月２２日（２０１０．４．２２）
【国際特許分類】
【出願日】平成２０年１０月３日（２００８．１０．３）
【出願人】（０００００５２２３）富士通株式会社 (25,993)
【Ｆターム（参考）】
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