説明

シンクロトロンおよびそれを用いた粒子線治療装置

【課題】シンクロトロンの小型化が可能なビーム取り出し方法、ならびにそれを用いた小型粒子線治療システムを提供する。
【解決手段】上記課題を解決する本発明の特徴は、第1番目の出射用偏向器と第2番目の出射用偏向器を出射ビームの変位符号が同じ領域に設置し、第2番目の出射用偏向器の偏向方向を第1番目の出射用偏向器と逆方向とする。第2番目の出射用偏向器で偏向された出射ビームは周回軌道を交差し、変位の符号は逆転する。出射ビームは第1番目の出射用偏向器出口での軌道変位とは逆符号側で、十分なセパレーションがとれる位置に設置した第3目の出射用偏向器によってシンクロトロンから取り出す。

【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明はシンクロトロンの小型化に好適なビーム取り出し方法とそれを用いたシンクロトロン、及び当該シンクロトロンを用いた粒子線治療システムに関する。
【背景技術】
【0002】
近年の高齢化社会を反映し、がん治療法の一つとして、低侵襲で体に負担が少なく、治療後の生活の質が高く維持できる放射線治療が注目されている。その中でも、シンクロトロンで加速した陽子や炭素などの荷電粒子ビームを用いた粒子線治療システムが、患部への優れた線量集中性のため特に有望視されている。粒子線治療システムはシンクロトロンにビームを供給する入射器と荷電粒子ビームを光速近くまで加速するシンクロトロンと、シンクロトロンから取り出した荷電粒子ビームを患部の位置や形状に合わせて患者に照射する照射装置を備える。粒子線治療システムの普及を進めるうえでこれらの装置の小型化・低コスト化が望まれている。
【0003】
前記シンクロトロンからビームを取り出す方法の一つに遅い取り出し法(共鳴取り出し法)と呼ばれる取り出し方法がある。遅い取り出し法を用いれば、荷電粒子ビームがシンクロトロンを1周する間にすべてのビームを取り出す速い取り出し法と異なり、複数周にわたってゆっくりと取り出すことができる。取り出したビームは粒子線治療や物理学実験で主に利用される。
【0004】
図3に従来のシンクロトロンの1番目の例を示す。シンクロトロン200は前段加速器101で事前に加速されたビームを入射するための入射用偏向装置201,入射したビームを偏向して周回させるための偏向電磁石202,ビームが安定して周回するように収束・発散させるための四極電磁石203,ビームを加速・減速する高周波加速空洞204,遅い取り出しを行う際にビーム振動(ベータトロン振動)の安定限界を形成するための共鳴励起用多極電磁石205,ビーム振動振幅を増大させ安定限界を超えさせるための出射用高周波装置206,加速・減速したビームを照射装置400に導くためにビーム軌道を偏向しシンクロトロンからビームを取り出すための第1出射用偏向器207,第2出射用偏向器208,第3出射用偏向器209を備え、シンクロトロン制御装置211で制御され、各機器は電源201a〜209aによって励磁,励振される。このシンクロトロンから遅い取り出し方法でビームを取り出す際、共鳴励起用多極電磁石205により共鳴を励起し、安定周回限界(セパラトリックス)を形成し、出射用高周波装置206によりビームの振幅を増大させ前記安定周回限界の外側にビームを導く。安定周回限界の外側に導かれたビームはさらに振幅を増し、第1出射用偏向器207に入る。第1出射用偏向器207に入った出射ビームは電場によって周回ビームから遠ざける方向に偏向される。
【0005】
図5に第1出射用偏向器207で偏向したビームの軌道変化を模式的に示す。ビームの軌道は模式的には正弦波であらわされる。A点:基準点θ=0°(第1出射用偏向器207の位置)で偏向された出射ビームの軌道変位は偏向された位置から徐々に大きくなり、B点:θ=90°で最大になる。その後再び小さくなり、出射ビームと周回ビームはC点:θ=180°で交差して今度は逆方向に変位が大きくなる。その後再びD点:θ=270°で最大値変位に到達し減少に転じる。このようにある1点で偏向された出射ビームは周回軌道のまわりを振動する。
【0006】
1番目の例に戻り、第1出射用偏向器207で偏向された取り出しビームの振動を模式的に示すと図6のようになる。第1出射用偏向器207で正方向に偏向されたビームの変位は偏向された位置から正方向に徐々に広がる。取り出しビームと周回ビームのセパレーションが必要量とれた所に第2出射用偏向器208を設置し第1出射用偏向器と同じ方向(正方向)に偏向し、さらにセパレーションを大きくする。さらに必要に応じて第3出射用偏向器209で第1出射用偏向器と同じ方向(正方向)に偏向させシンクロトロンから取り出される。この例の場合、第1〜3出射用偏向器207〜209は出射ビームの変位が同一の符号(正)である領域に配置され、同一の方向(正方向)に偏向する。(例えば、公知文献1参照)。
【0007】
図4に従来のシンクロトロン構成の2番目の例を示す。またこのときの出射ビームの振動を模式的に図7に示す。第1出射用偏向器207にビームが入るまでは第1番目の例と同じである。この例では第1出射用偏向器207と第2出射用偏向器208の間に四極電磁石,偏向電磁石を設置している(例えば、特許文献1参照)。これにより第1出射用偏向器207と第2出射用偏向器208の距離が長くでき、かつその位相差を90度近傍になるように設計することで第2出射用偏向器208でのビームセパレーションを効果的に大きくすることができる。この場合も第1番目の例と同じく第1出射用偏向器207で正方向に偏向し周回ビームと出射ビームのセパレーションを作り、第2出射用偏向器208で第1出射用偏向器207と同じ方向(正方向)に偏向し、シンクロトロンからビームを取り出す。この例の場合もすべての出射用偏向器は出射ビームの変位が同一の符号である領域に配置され、同一の方向に偏向する。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0008】
【特許文献1】特開平10―162999号公報
【非特許文献】
【0009】
【非特許文献1】“AN ION SYNCHROTRON FOR MULTI-PURPOSES USE OF ENERGY RESEARCH CENTER,WAKASA BAY”,Proceedings of APAC 1998, Japan
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0010】
従来例1の場合、高エネルギーのビームは偏向されにくいため、出射エネルギーを高くする場合、出射用偏向器が大型化する。そのため直線部を長くする必要がある。例2の場合は第1出射用偏向器207と第2出射用偏向器208までの位相進みを90度+180度×n近傍とする必要がある。ここでnは0,1,2・・・であり、例2ではn=0に相当する。また第2出射用偏向器208,第3出射用偏向器209はシンクロトロンの構成機器である四極電磁石や偏向電磁石等に当たらないようにビームを取り出すため、大きく偏向させる必要がある。すなわち磁場を強くする必要があり、そのためにはセプタム厚を厚くしなければならなかった。結果、取り出しビームと周回ビームのセパレーションを大きくする必要があるため、第1出射用偏向器207の必要偏向角も大きくなり、第1出射用偏向器207の負荷が増えていた。第1出射用偏向器207はビームロスを低減するためセプタム厚を薄くする必要があり、静電デフレクタと呼ばれる装置が使用される。しかし静電デフレクタの単位長さ当たりの蹴り角はセプタム電磁石と比較すると小さく、必要な偏向角を得るには長い静電デフレクタが必要となり、出射用偏向器の小型化,シンクロトロンの小型化に限界があった。本発明では出射偏向器の小型化が可能で、かつ出射偏向器の配置の自由度を増したビーム取り出し法ならびにその取り出し法を用いた小型シンクロトロンと当該シンクロトロンを用いた粒子線治療システムを提供する。
【課題を解決するための手段】
【0011】
本発明の特徴は、第1出射用偏向器207で出射ビームを偏向して周回ビームとのセパレーションを取ったのち、第1出射用偏向器207出口における出射ビーム変位と符号が同じ領域に設置した第2出射用偏向器208で第1出射用偏向器207とは逆方向に偏向する。偏向された出射ビームは周回ビームと交差して変位の符号は逆転する。出射ビームは第1出射用偏向器207出口での軌道変位とは逆符号側で十分なセパレーションがとれる位置に設置した第3出射用偏向器209によってシンクロトロンから取り出す。また偏向電磁石202の端部面の傾き(エッジ角)を矩形型偏向電磁石とは逆方向とした偏向電磁石を用いる。
【発明の効果】
【0012】
本発明によれば、第1出射用機器で周回ビームとのセパレーションを取ったのち、より偏向角の大きな、例えばセプタム電磁石のような第2出射用機器で第1出射用機器とは逆方向に偏向させることにより、出射用機器が小型化でき、かつ出射用機器配置の自由度が増すことでシンクロトロンの小型化が可能となる。
【図面の簡単な説明】
【0013】
【図1】この発明の好適な一実施例(実施例1)であるシンクロトロンの構成を示した図である。
【図2】この発明の好適な一実施例(実施例2)であるシンクロトロンの構成を示した図である。
【図3】従来技術の第1の例であるシンクロトロンの構成を示した図である。
【図4】従来技術の第2の例であるシンクロトロンの構成を示した図である。
【図5】シンクロトロンにおけるビームの振動を模式的に示した図である。
【図6】従来技術の第1の例であるシンクロトロンの構成下における出射ビームの振動を模式的に示した図である。
【図7】従来技術の第2の例であるシンクロトロンの構成下における出射ビームの振動を模式的に示した図である。
【図8】この発明の好適な一実施例(実施例1)であるシンクロトロンの構成下における出射ビームの振動を模式的に示した図である。
【図9】この発明の好適な一実施例(実施例2)であるシンクロトロンの構成下における出射ビームの振動を模式的に示した図である。
【図10】この発明の好適な一実施例(実施例3)であるシンクロトロンの構成を示した図である。
【図11】従来技術の偏向電磁石の平面形状を示した図である。
【図12】この発明の効果をさらに強める偏向電磁石の平面形状を示した図である。
【図13】この発明の効果をさらに強める偏向電磁石の平面形状を示した図である。
【図14】この発明の効果をさらに強める偏向電磁石の平面形状を示した図である。
【図15】この発明の好適な一実施例(実施例4)であるシンクロトロンの構成を示した図である。
【発明を実施するための形態】
【0014】
本発明の実施の形態を、図面を用いて説明する。
【実施例1】
【0015】
以下、図1ならびに図8を用いて、本発明の第1の実施形態によるシンクロトロンの構成ならびにビーム取り出し方法について説明する。
【0016】
粒子線治療システムは入射に適したエネルギーまで荷電粒子ビーム(以下、ビーム)を加速する前段加速器と加速したビームを輸送する輸送系から構成される入射系100と、入射されたビームを所望のエネルギーまで加速するシンクロトロン200と、加速後、取り出したビームを照射装置まで輸送する高エネルギービーム輸送系300と照射対象にビームを照射する照射装置400を備える。また前記入射系100,シンクロトロン200,高エネルギービーム輸送系300,照射装置400を制御する制御系(入射系制御装置111,シンクロトロン制御装置211,高エネルギービーム輸送系制御装置311,照射系制御装置411)と治療システム全体を制御する中央制御装置500を備える。
【0017】
入射系100は、イオン源(図示せず),前段加速器101及び第1のビーム輸送系を有する。第1のビーム輸送系は、ビーム経路に沿って偏向電磁石102及び四極電磁石103を有する。
【0018】
シンクロトロン200は、ビームを入射する入射用偏向装置201,入射したビームを偏向する偏向電磁石202,ビームを収束・発散させる四極電磁石203,ビームを加速する高周波加速空洞204,ビーム振動(ベータトロン振動)の安定限界(セパラトリクス)を形成するための共鳴励起用多極電磁石205,ビーム振動振幅を増大させ安定限界を超えさせるための出射用高周波装置206,ビーム軌道を偏向しシンクロトロンからビームを取り出すための第1出射用偏向器207,第2出射用偏向器208,第3出射用偏向器209を備える。
【0019】
高エネルギービーム輸送系300は、四極電磁石301, 偏向電磁石302, 照射装置303を有する。四極電磁石301は、通過するビームに四極磁場を印加し、ビームを収束又は発散させる。偏向電磁石302は、通過するビームを偏向してビーム軌道を変更する。四極電磁石301及び偏向電磁石302を通過したビームが照射装置400に輸送される。照射装置303は、高エネルギービーム輸送系300から入射された荷電粒子ビームを照射対象に出射する。
シンクロトロンから遅い取り出し方法でビームを取り出す際、共鳴励起用多極電磁石205により共鳴を励起し、安定周回限界(セパラトリックス)を形成し、出射用高周波装置206によりビームの振幅を増大させ前記安定周回限界の外側にビームを導く。安定周回限界の外側に導かれたビームはさらに振幅を増し、第1出射用偏向器207に入る。図8に第1出射用偏向器207以降の出射ビーム軌道を模式的に示す。第1出射用偏向器207で出射ビームは周回ビームから遠ざける方向に偏向される。本実施例ではx方向負側に偏向する。
第1出射用偏向器207は周回ビームと出射ビームを切り分ける作用を持つため、できるだけセプタム厚を薄くし、ビームロスを低減する必要がある。そのため本実施例1では第1出射用偏向器207として静電デフレクタを用いる。ただし、静電デフレクタの場合、単位長さ当たりに偏向できる角度はセプタム電磁石と比較して小さいため、第1出射用偏向器207を小型化するには偏向角をできるだけ小さくする必要がある。そこで本実施例では第1出射用偏向器207と第2出射用偏向器208を出射ビーム変位の符号が同一の領域に配置し、第2出射用偏向器208は第1出射用偏向器207のとは逆方向(x方向正側)に偏向する。本実施例では第2出射用偏向器208は第1出射用偏向器207の下流側に四極電磁石203を挟んで配置する。第2出射用偏向器208によって偏向されたビームは周回ビームと交差したのち、x方向正側でセパレーションが十分取れた位置に配置した第3出射用偏向器209によってx方向正側に取り出す。このように第2出射用偏向器208と第3出射用偏向器209を配置することにより、従来、第2出射用偏向器208と第3出射用偏向器209を近接して設置していた場合と比較して、第2出射用偏向器208による偏向で生じるセパレーションを効果的に利用できる。すなわち第2出射用偏向器208の偏向角を小さくしても第3出射用偏向器209で必要なセパレーションを確保できる。第2出射用偏向器208の偏向角が小さいということはセプタム厚を薄くでき、第2出射用偏向器208位置で必要なセパレーションを小さくできる。結果、第1出射用偏向器207の偏向角は小さくてよく、「第1出射用偏向器207の偏向角を小さくする」という目的が達成できる。この例のように第1出射用偏向器207,第2出射用偏向器208を近接させて配置した場合、第3出射用偏向器209の設置する位置は第1出射用偏向器207から120°下流側近傍となる。またこれは第1〜3出射用偏向器の配置と第1,2出射用偏向器の偏向角によって調整が可能である。これにより従来のように第1出射用偏向器207と第3出射用偏向器209の位相差を90度+180度×n近傍に取る必要がなくなり、シンクロトロン設計ならびに出射機器配置の自由度が増す。以上、出射機器の小型化と出射機器配置の自由度向上によりシンクロトロンの小型化が可能となる。さらには第2出射用偏向器208で逆方向に偏向し、周回ビームと交差させた後に反対側でビームを取り出すため、出射ビームが通過する領域の機器のアパーチャが広がらず、シンクロトロンを構成する機器の小型化が可能となる。
【0020】
本実施例では第1出射用偏向器207と第2出射用偏向器208を四極電磁石203を挟んで近接して配置した。収束用四極電磁石を挟んだ場合にはこの四極電磁石による偏向を利用することができ、第2出射用偏向器208の偏向角を軽減する効果がある。また発散用四極電磁石とした場合には第2出射用偏向器208でのセパレーションを大きくすることができ、第2出射用偏向器208の偏向角を大きくできる効果がある。しかし、四極電磁石を挟まない場合であっても出射機器の小型化と出射機器配置の自由度向上に関して同様の効果を得ることができる。
【0021】
また第1出射用偏向器207として1台の静電セプタム、第2出射用偏向器208として1台のセプタム電磁石の例を示したが、それぞれが複数の機器で構成されていても効果は同じである。また複数の機器が静電デフレクタとセプタム電磁石の組み合わせで構成されていてもよい。
【0022】
また第1出射用偏向器207と第2出射用偏向器208に挟まれる四極電磁石が複数であってもよい。
【0023】
さらに、本実施例ではビームを取り出す方向をx方向正側としたが、これを負側に取り出しもよい。この場合、第1出射用偏向器ではx方向正側に偏向し、続く第2出射用偏向器は負側に偏向、第3出射用偏向器も負側に偏向すればよい。
【実施例2】
【0024】
以下、図2ならびに図9を用いて、本発明の第2の実施形態によるシンクロトロンの構成ならびにビーム取り出し方法について説明する。
【0025】
シンクロトロン200の基本構成は符号201〜206までは実施例1と同じである。
また遅い取り出し法で第1出射用偏向器207に出射ビームが導かれるまでも実施例1と同様である。第1出射用偏向器207に導かれた出射ビームは周回ビームから遠ざける方向に偏向される。図9に第1出射用偏向器207以降の出射ビーム軌道を模式的に示す。
本実施例では第1出射用偏向器207はx方向、負側に出射ビームを偏向する。第1出射用偏向器207は静電デフレクタを用いる。第2出射用偏向器208は第1出射用偏向器207で偏向されたビームの変位符号が同一の領域で振幅が最大となる近傍に設置し、第1出射用偏向器207とは逆方向(x方向正側)に偏向する。第2出射用偏向器208によって偏向されたビームは周回ビームと交差したのち、x方向正側でセパレーションが十分取れた位置に配置した第3出射用偏向器209によってx方向正側に取り出される。この方法であれば第2出射用偏向器208と第3出射用偏向器209が近接して置かれている場合と比べて、第2出射用偏向器208による偏向で生じるセパレーションを効果的に利用でき、第3出射用偏向器209でのビームセパレーションが取りやすい。したがって、第2出射用偏向器208の偏向角は小さくてよく、結果第2出射用偏向器208のセプタム厚を薄くできる。第2出射用偏向器208のセプタム厚が薄いため、その点でのセパレーションも小さくてよい。すなわち第1出射用偏向器207の偏向角も小さくでき、第1出射用偏向器207の小型化が可能となる。以上から個々の出射用偏向器が小型化でき、かつ第1出射用偏向器207と第3出射用偏向器209の位相差を180°近傍に取ることができ、設計の自由度が増すことで小型のシンクロトロンが実現できる。さらには第2出射用偏向器208で逆方向に偏向し、周回ビームと交差させた後に反対側でビームを取り出すため、出射ビームが通過する領域の機器のアパーチャが広がらず、シンクロトロンを構成する機器の小型化が可能となる。
【0026】
本実施例では第1出射用偏向器207と第2出射用偏向器208の間に、四極電磁石が複数台設置されていてもよい。また偏向電磁石が設置されていても効果は同じである。
【0027】
また実施例1と同様、第1出射用偏向器207,第2出射用偏向器208が、それぞれ複数の機器で構成されていても効果は同じである。また複数の機器が静電デフレクタとセプタム電磁石の組み合わせで構成されていてもよい。
【0028】
さらに、本実施例ではビームを取り出す方向をx方向正側としたが、これを負側に取り出しもよい。この場合、第一出射機器ではx方向正側に偏向し、続く第二偏向器は負側に偏向,第三偏向器も負側に偏向すればよい。
【実施例3】
【0029】
以下、図10〜14を用いて、本発明の第3の実施形態によるシンクロトロンの構成について説明する。
【0030】
図10に示すシンクロトロン200の基本構成ならびに遅い取り出し法でビームをシンクロトロンから取り出す手法は実施例1と同様である。本実施例では偏向電磁石の端面の傾き(エッジ角)により水平方向に収束力をもたせた偏向電磁石202を用いる。従来の偏向電磁石の平面図を図11に示す。従来の偏向電磁石には図11(a)に示すセクター型と呼ばれる扇形偏向電磁石と図11(b)に示すレクタンギュラ型と呼ばれる矩形型偏向電磁石がある。ここで磁極面のなす角度εを扇型偏向電磁石の場合をε=0とし、扇型偏向電磁石から矩形型偏向電磁石に近づく方向を正(ε>0)とすると、前記扇型偏向電磁石はビームの入口側エッジ角εi、出口側エッジ角εoはεi=εo=0となる。また、前記矩形型偏向電磁石は入口側エッジ角εi、出口側エッジ角εoはεi=εo=θ/2>0と表せる。ここでθは偏向電磁石の偏向角である。図11(b)中で+,−の符号は中心軌道に対し磁場領域が長い場合を+、短い場合を−で示している。図11(a)の扇形偏向電磁石に平行ビームが入射した場合、ビームの水平方向サイズは偏向電磁石通過後も変化しないが、図11(a)の矩形型偏向電磁石の場合は、外側(x(水平)方向正側)のビームは磁場の影響を受ける領域が中心軌道(設計軌道)と比較すると短いため曲げられる角度が小さくなる。また内側(x(水平)方向負側)のビームは磁場の影響を受ける領域が長いため曲げ角は大きくなる。結果、ビームは偏向電磁石を通過した後、水平方向に発散する(拡がる)。一方、図12に示す偏向電磁石202の特徴は図11(b)に示すレクタンギュラ型偏向電磁石とは逆方向に端面の傾き(エッジ)を切っている点である。すなわちエッジ角はεi<0,εo<0となる。このときεi=εoであっても、εi≠εoであってもよい。このようにエッジを切ることによって、外側のビームは中心軌道と比較すると大きく曲げられ、内側のビームは曲げ角が小さくなり、結果として偏向電磁石通過後、ビームは水平方向に収束される。
【0031】
すなわち、このような偏向電磁石を用いることにより、収束用四極電磁石の台数を減らしたり、もしくは収束用四極電磁石の負荷(励磁量)を軽減することが可能となる。すなわち、収束用四極電磁石のサイズを小さくすることができ、結果、シンクロトロンの小型化が可能となる。同様に図13に示すようにεi=0,εo<0としてもよいし、図14に示すようにεi>0,εo<0としてもよい。この場合も|εi|=|εo|であっても、|εi|≠|εo|であってもよい。
【0032】
この偏向電磁石202を用いることにより図10に示すように偏向電磁石202で挟まれた四極電磁石203が不要となり実施例1で示したシンクロトロンをさらに小型化できる。当然、入口と出口を逆にした場合も、同様の効果を得ることができる。ここでは図12〜図14で示す偏向電磁石202の効果として四極電磁石203を削減できる場合について説明したが、それぞれの四極電磁石203の励磁量を減らし四極電磁石203の磁極長さを短くでき、実施例1で示したシンクロトロンを小型化する効果を得ることができる。
さらにはこれらの偏向電磁石202を用いればビームを収束,発散させる効果を持つ要素が分散して配置されることになり、ビームサイズの広がりを抑えやすくなる。これによりシンクロトロンを構成する各機器のサイズを小さくし、シンクロトロンの小型化が可能となる。
【実施例4】
【0033】
図15を用いて、本発明の第4の実施形態によるシンクロトロンの構成について説明する。
【0034】
図15に示すシンクロトロン200の基本構成ならびに遅い取り出し法でビームをシンクロトロンから取り出す手法は実施例2と同様である。この場合においても実施例3と同様に図12,13,14の偏向電磁石202を用いることにより、四極電磁石203の励磁量を低減し、電磁石の長さを短くできる。もしくは四極電磁石203の台数削減の効果を得ることができる。これによりシンクロトロンの小型化が可能となる。
【符号の説明】
【0035】
100 入射系
101 前段加速器
101a 前段加速器電源
102 ビーム輸送系偏向電磁石
102a ビーム輸送系偏向電磁石電源
103 ビーム輸送系四極電磁石
103a ビーム輸送系四極電磁石電源
111 入射系御装置
200 シンクロトロン
201 入射用偏向装置
201a 入射用偏向装置用電源
202 偏向電磁石
202a 偏向電磁石用電源
203 四極電磁石
203a 四極電磁石用電源
204 高周波加速空胴
204a 高周波加速空胴用電源
205 共鳴励起用多極電磁石
205a 共鳴励起用多極電磁石用電源
206 出射用高周波装置
206a 出射用高周波装置用電源
207 第1出射用偏向器
207a 第1出射用偏向器用電源
208 第2出射用偏向器
208a 第2出射用偏向器用電源
209 第3出射用偏向器
209a 第3出射用偏向器用電源
211 シンクロトロン制御装置
300 高エネルギービーム輸送系
301 高エネルギービーム輸送系四極電磁石
301a 高エネルギービーム輸送系四極電磁石電源
302 高エネルギービーム輸送系偏向電磁石
302a 高エネルギービーム輸送系偏向電磁石電源
311 高エネルギービーム輸送系制御装置
400 照射装置
400a 照射装置電源
411 照射系制御装置
500 中央制御装置

【特許請求の範囲】
【請求項1】
周回する荷電粒子ビームを加速・減速するシンクロトロンと、
前記シンクロトロンを制御する加速器制御装置とを備え、
前記シンクロトロンは、加速・減速した前記荷電粒子ビームを取り出すための複数の出射用偏向器を備え、
取り出しビームの変位が同じ符号である領域に配置した複数の前記出射用偏向器の少なくとも一つの出射用偏向器の偏向方向が他の出射用偏向器の偏向方向とは逆方向であることを特徴とするシンクロトロン。
【請求項2】
前記出射用偏向器は
少なくとも1台の静電デフレクタと、
少なくとも1台のセプタム電磁石を有し、
前記セプタム電磁石の少なくとも1台は、静電デフレクタで偏向された出射ビームの変位の符号が同じ領域に配置され、
前記セプタム電磁石の偏向方向は前記静電デフレクタの偏向方向とは逆方向であることを特徴とするシンクロトロン。
【請求項3】
請求項2に記載のシンクロトロンにおいて、
前記静電デフレクタのうち、ビーム進行方向の最も下流側に配置される静電デフレクタと、前記静電デフレクタで偏向されたビームの変位符号と同じ符号の領域に配置された前記セプタム電磁石のうち、ビーム進行方向の最も上流側に配置されるセプタム電磁石を隣接させて配置したことを特徴とするシンクロトロン。
【請求項4】
請求項2に記載のシンクロトロンにおいて、
前記静電デフレクタのうち、ビーム進行方向の最も下流側に配置される静電デフレクタと、前記静電デフレクタで偏向されたビームの変位符号と同じ符号の領域に配置された前記セプタム電磁石のうち、ビーム進行方向の最も上流側に配置されるセプタム電磁石を、四極電磁石を挟んで隣接させて配置したことを特徴とするシンクロトロン。
【請求項5】
請求項2に記載のシンクロトロンにおいて、
前記静電デフレクタのうち、ビーム進行方向の最も下流側に配置される静電デフレクタと、前記静電デフレクタで偏向されたビームの変位符号と同じ符号の領域に配置された1台以上のセプタム電磁石のうち、ビーム進行方向の最も上流側に配置されるセプタム電磁石を、前記静電デフレクタで偏向した出射ビームと周回ビームのセパレーションが最大となる場所の近傍に設置したことを特徴とするシンクロトロン。
【請求項6】
請求項1乃至5のいずれか1項に記載のシンクロトロンにおいて、
前記偏向電磁石の入口,出口エッジ角を矩形型偏向電磁石とは逆方向に付けた偏向電磁石を用いることを特徴とするシンクロトロン。
【請求項7】
請求項1乃至5のいずれか1項に記載のシンクロトロンにおいて、
前記偏向電磁石の入口,出口エッジ角の一方を矩形型偏向電磁石とは逆方向に付け、もう一方はエッジ角をつけないセクター型とした偏向電磁石を用いることを特徴とするシンクロトロン。
【請求項8】
請求項1乃至5のいずれか1項に記載のシンクロトロンにおいて、
前記偏向電磁石の入口,出口エッジ角の一方を矩形型偏向電磁石とは逆方向に付け、もう一方は通常の矩形型偏向電磁石と同じ方向にエッジ角をつけた偏向電磁石を用いることを特徴とするシンクロトロン。
【請求項9】
請求項1乃至5のいずれか1項に記載のシンクロトロンにおいて、
前記偏向電磁石の入口,出口エッジ角を矩形型偏向電磁石とは逆方向に付けた偏向電磁石、
前記偏向電磁石の入口,出口エッジ角の一方を矩形型偏向電磁石とは逆方向に付け、もう一方はエッジ角をつけないセクター型とした偏向電磁石、
及び前記偏向電磁石の入口,出口エッジ角の一方を矩形型偏向電磁石とは逆方向に付け、もう一方は通常の矩形型偏向電磁石と同じ方向にエッジ角をつけた偏向電磁石のうち、少なくとも2つの偏向電磁石を備えることを特徴とするシンクロトロン。
【請求項10】
請求項1乃至5のいずれか1項に記載のシンクロトロンにおいて、
前記偏向電磁石の入口,出口エッジ角を矩形型偏向電磁石とは逆方向に付けた偏向電磁石と、偏向電磁石の入口,出口エッジ角の一方を矩形型偏向電磁石とは逆方向に付け、もう一方はエッジ角をつけないセクター型とした偏向電磁石と、
前記偏向電磁石の入口,出口エッジ角の一方を矩形型偏向電磁石とは逆方向に付け、もう一方は通常の矩形型偏向電磁石と同じ方向にエッジ角をつけた偏向電磁石を組み合わせたことを特徴とするシンクロトロン。
【請求項11】
請求項1乃至9のいずれか1項に記載のシンクロトロンと、
前記シンクロトロンから出射された前記荷電粒子ビームを照射装置まで輸送するビーム輸送系と照射対象に照射する照射装置を備えることを特徴とする粒子線治療システム。

【図1】
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【図2】
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【図3】
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【図4】
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【図5】
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【図6】
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【図7】
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【図8】
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【図9】
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【図10】
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【図11】
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【図12】
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【図13】
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【図14】
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【図15】
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【公開番号】特開2012−22776(P2012−22776A)
【公開日】平成24年2月2日(2012.2.2)
【国際特許分類】
【出願番号】特願2010−157434(P2010−157434)
【出願日】平成22年7月12日(2010.7.12)
【出願人】(000005108)株式会社日立製作所 (27,607)
【Fターム(参考)】