光ディスク装置のデータ測定装置およびデータ測定方法
【課題】有効な測定データの取得数を効率的に増大させる、光ディスク装置のデータ測定装置およびデータ測定方法を提供する。
【解決手段】最初の測定において設定した、測定条件を定義する複数の設定パラメータを、複数の設定パラメータのパラメータ距離が小さい順に、それぞれ順次変化させてデータの測定を行なうことを特徴とする。
【解決手段】最初の測定において設定した、測定条件を定義する複数の設定パラメータを、複数の設定パラメータのパラメータ距離が小さい順に、それぞれ順次変化させてデータの測定を行なうことを特徴とする。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスク装置のデータ測定装置およびデータ測定方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
光ディスク装置の評価においては、通常、測定条件を定義する諸パラメータを一方向にスキャンさせてデータを取得する。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
しかし、諸パラメータを一方向にスキャンさせると、該パラメータが適正値からずれてきて、光ディスク装置の動作が不安定な状態となる場合がある。このような状態になると、測定不能となったり測定時間の増大を招いて測定が打ち切られたりすることにより、有効な測定データが少なくなるという問題がある。
【０００４】
本発明は、このような問題を解決するためになされたものであり、有効な測定データの取得数を効率的に増大させることを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
本発明に係る光ディスク装置のデータ測定装置は、最初の測定において設定した、前記複数の設定パラメータを、前記複数の設定パラメータのパラメータ距離が小さい順に、それぞれ順次変化させてデータの測定を行なうデータ測定手段を有することを特徴とする。
【０００６】
また、本発明に係る光ディスク装置のデータ測定装置は、測定開始において設定した、測定条件を定義する複数の設定パラメータを、予め設定した指標に基づいて、それぞれ順次変化させてデータの測定を行なうデータ測定手段を有することを特徴としてもよい。
【０００７】
前記課題を解決するために、本発明に係る光ディスク装置のデータ測定方法は、最初の測定において設定した、測定条件を定義する複数の設定パラメータを、前記複数の設定パラメータのパラメータ距離が小さい順に、それぞれ順次変化させてデータの測定を行なうことを特徴とする。
【０００８】
また、本発明に係る光ディスク装置のデータ測定方法は、測定開始において設定した、測定条件を定義する複数の設定パラメータを、予め設定した指標に基づいて、それぞれ順次変化させてデータの測定を行なうことを特徴としてもよい。
【０００９】
すなわち、本発明に係る光ディスク装置のデータ測定装置およびデータ測定方法は、前記複数の設定パラメータの適正値からのずれ量が小さい順となるように複数の設定パラメータを変化させる順序を決定し、該順序でデータの測定を行なう。
【発明の効果】
【００１０】
本発明に係る光ディスク装置のデータ測定装置およびデータ測定方法によれば、有効な測定データの取得数を効率的に増大させることができる。
【図面の簡単な説明】
【００１１】
【図１】本発明の第１実施形態に係る光ディスク装置のデータ測定方法を示すフローチャートを示す図である。
【図２】トラッキングオフセットとフォーカスオフセットとを複数の設定パラメータとしたときの本実施形態によるジッタの測定結果の例を示す図である。
【図３】従来の光ディスク装置の評価において行なわれる設定パラメータのスキャン方法を示す図である。
【図４】本発明の第１実施形態における決定した複数の設定パラメータの設定順序の例を示す図である。
【図５】本発明の第１実施形態において、複数の設定パラメータの数が３である場合の、決定した複数の設定パラメータの設定順序の例を示す図である。
【図６】本発明の第２実施形態に係る光ディスク装置のデータ測定方法を示すフローチャートを示す図である。
【図７】ライトパワとεとを２つの設定パラメータとしたときのＢＥＲの測定結果を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１２】
以下、本発明の実施形態に係る光ディスク装置のデータ測定装置およびデータ測定方法について詳細に説明する。
【００１３】
本実施形態が適用される光ディスク装置は、主に、記録可能なブルーレイディスク（ＢＤ−ＲＥ、ＢＤ−Ｒなど）に対する再生、記録、または消去を行う装置である。しかし、たとえば、コンパクトディスク（ＣＤ−ＲＯＭ、ＣＤ−Ｒ、ＣＤ−ＲＷなど）、ディジタル多目的ディスク（ＤＶＤ−ＲＯＭ、ＤＶＤ−Ｒ、ＤＶＤ＋Ｒ、ＤＶＤ−ＲＷ、ＤＶＤ−ＲＡＭなど）にも適用することができる。
【００１４】
（第１実施形態）
図１は、本発明の第１実施形態に係る光ディスク装置のデータ測定方法を示すフローチャートを示す図である。
【００１５】
本実施形態に係る光ディスク装置のデータ測定方法は、光ディスク装置に通常実装されているデータ測定装置（例えば、ジッタ測定部やＢＥＲ（Ｂｉｔ Ｅｒｒｏｒ Ｒａｔｅ）測定部）を利用することができる。すなわち、光ディスク装置にコンピュータを接続し、コンピュータプログラムにより光ディスク装置の状態が所望の測定条件となるように光ディスク装置を制御するとともに、光ディスク装置から測定データを取得することができる。
【００１６】
本実施形態に係る光ディスク装置のデータ測定装置は、本実施形態に係る光ディスク装置のデータ測定方法を実行するためのコンピュータプログラム（データ測定手段）と、上記のように光ディスク装置に接続されたコンピュータ（データ測定手段）と、光ディスク装置（データ測定手段）と、により構成することができる。
【００１７】
複数の設定パラメータの設定順序を決定する（Ｓ１００）。すなわち、データ測定において設定される複数の設定パラメータの設定順序を決定する。設定パラメータとは、測定条件を定義するために設定されるパラメータをいう。例えば、光パワ、ライトストラテジの各ファクタ、トラッキングオフセット、フォーカスオフセットであり得る。複数の設定パラメータの設定順序は、複数の設定パラメータのパラメータ距離が小さい順となるように決定する。設定パラメータの設定順序をパラメータ距離に基づいて決定するのは、設定パラメータの適正値からのずれを最も単純かつ的確に示すものがパラメータ距離であるからである。
【００１８】
複数の設定パラメータの設定順序は、複数の設定パラメータ（すなわち、複数の設定パラメータの組合せ）に番号を付すことにより決定される。
【００１９】
図２は、トラッキングオフセット（以下、「ＴＯＦ」と称する）とフォーカスオフセット（以下、「ＦＯＦ」と称する）とを複数の設定パラメータとしたときの本実施形態によるジッタの測定結果の例を示す図である。図２に示すように、各設定パラメータの単位は[％]であり、複数の設定パラメータのパラメータ距離ｌは、下記式（１）で定義される。
【００２０】
【数１】
【００２１】
ここで、ｘｎ２は、各設定パラメータの値[％]を示し、ｎは設定パラメータの個数を示す。
【００２２】
パラメータ距離ｌには重み付けをすることもできる。下記式（２）は、重み付けをする場合のパラメータ距離ｌを定義する式である。
【００２３】
【数２】
【００２４】
ここで、ａnは、各設定パラメータの値ｘｎ２に対する重み付け係数を示す。
【００２５】
このようにパラメータ距離ｌに重み付けをすることにより、測定項目ごとに複数の設定パラメータを変化させる順序を最適化することができるため、有効な測定データの取得数をさらに効率的に増大させることができる。
【００２６】
図２に示す測定結果は、ＴＯＦを０[％]、かつ、ＦＯＦを０[％]に設定した条件で最初に測定し（以下、最初の測定における設定パラメータを「測定開始点」と称する）、次に、パラメータ距離ｌが５[％]となるような各設定パラメータ（すなわち、ＴＯＦが５[％]でＦＯＦが０[％]、ＴＯＦが−５[％]でＦＯＦが０[％]、ＴＯＦが０[％]でＦＯＦが５[％]、ＴＯＦが０[％]でＦＯＦが−５[％]、のいずれかの組合せ）でジッタを測定している。そして、以降、パラメータ距離ｌが、√５０、１０、・・・となる各設定パラメータでジッタを測定している。すなわち、設定パラメータであるＴＯＦおよびＦＯＦの設定順序をパラメータ距離ｌが小さい順となるように決定している。
【００２７】
図３は、従来の光ディスク装置の評価において行なわれる設定パラメータのスキャン方法を示す図である。
【００２８】
図３のＡ、Ｂにそれぞれ示す番号は、設定パラメータの設定順序を示す。図３のＡに示すように、設定パラメータを一方向にスキャンさせると、設定パラメータが適正値からずれてきて、光ディスク装置の動作が不安定な状態となる場合がある。このような状態になると、測定不能となったり測定時間の増大を招いて測定が打ち切られたりすることにより、有効な測定データが少なくなるという問題がある。
【００２９】
図３のＢは、図３のＡのように設定パラメータを一方向にスキャンさせていないため、上記問題は緩和されると考えることもできるが、図３のＢに示すような渦巻き状の設定パラメータの設定順序は、数式で表現し難く、設定パラメータが３つ以上になると実施が困難になるという問題がある。
【００３０】
図４は、本実施形態における決定した複数の設定パラメータの設定順序の例を示す図である。図４の矢印は、２つの設定パラメータ（すなわち、第１設定パラメータと第２設定パラメータ）の数値が大きくなる方向を示す。
【００３１】
図４のＡに示すように、複数の設定パラメータの設定順序は、測定開始点における各パラメータの値に対し増加および減少させるように、パラメータ距離が小さい順に決定することができる。一方、図４のＢに示すように、複数の設定パラメータの設定順序を、測定開始点における各パラメータの値に対し増加させるように、パラメータ距離が小さい順に決定することもできる。
【００３２】
測定開始点は、例えば、設計中心（設計における標準値）であってもよく、測定者による経験値であってもよい。
【００３３】
第１内部カウンタ値ｍを１に、第２内部カウンタ値ｉを０にそれぞれ設定する。各内部カウンタ値は、コンピュータプログラムにおいて設定されてもよい。第１内部カウンタ値ｍは、次に測定される設定パラメータの番号を示す。第２内部カウンタ値ｉは、一の測定項目（例えば、ジッタ）において、測定不能となった設定パラメータの累積数を示す。
【００３４】
カウンタ値ｍの番号の設定パラメータに光ディスク装置を設定し、データを測定し（Ｓ１０２）、内部カウンタ値ｍをインクリメントする（Ｓ１０３）。
【００３５】
ステップＳ１０２におけるデータの測定において、測定不能でないと判断されたときは（Ｓ１０４、Ｎｏ）、ステップＳ１０２に戻ってデータの測定を継続する。
【００３６】
ステップＳ１０２におけるデータの測定が、測定不能であると判断されたときは（Ｓ１０４、Ｙｅｓ）、内部カウンタ値ｍおよび内部カウンタ値ｉをインクリメントする。ステップＳ１０２において内部カウンタ値ｍをインクリメントするのは測定不能と判断された設定パラメータでの再度のデータ測定を回避するためである。
【００３７】
内部カウンタ値ｉがインクリメントされた結果、内部カウンタ値ｉが５となった場合は（Ｓ１０６、Ｎｏ）、データの測定は終了する。すなわち、本実施形態においては、測定不能となったデータの測定回数に閾値５を設け、測定不能となったデータの測定回数が５以上となった場合は、測定を中止する。内部カウンタ値ｉが５未満である場合は、ステップＳ１０２に戻って、測定不能となった設定パラメータの次の番号の設定パラメータでデータの測定を継続する。
【００３８】
本実施形態に係る光ディスク装置のデータ測定装置およびデータ測定方法によれば、複数の設定パラメータの適正値からのずれ量が小さい順となるように複数の設定パラメータを変化させる順序を決定し、該順序でデータの測定を行なう。これにより、有効な測定データの取得数を効率的に増大させることができる。
【００３９】
以上、本発明の第１実施形態に係る光ディスク装置のデータ測定装置およびデータ測定方法について説明したが、本実施形態は上述した実施形態に限定されるものではない。
【００４０】
例えば、複数の設定パラメータの数を３以上とすることもできる。図５は、複数の設定パラメータの数が３である場合の、決定した複数の設定パラメータの設定順序の例を示す図である。図５の矢印は、３つの各設定パラメータの数値が大きくなる方向を示す。図５に示す番号は、パラメータ距離ｌが小さい順となる設定パラメータの設定順序の例を示す。
【００４１】
また、例えば、ステップＳ１０６においては、測定不能となったデータの測定回数が閾値を越えた場合は測定を中止するが、これに代えて、データの測定時間が閾値を超えた場合に測定を中止するようにしてもよい。
【００４２】
（第２実施形態）
本発明の第２実施形態に係る光ディスク装置のデータ測定装置およびデータ測定方法は、複数の設定パラメータを、予め設定した指標に基づいて、それぞれ順次変化させてデータの測定を行なうことを特徴とする。ここで、指標は、被測定対象である光ディスク装置から取得したデータの測定結果に基づいて設定してもよい。上記以外の点については第１実施形態と同様であるため重複となる説明は省略する。
【００４３】
本実施形態に係る光ディスク装置のデータ測定装置は、本実施形態に係る光ディスク装置のデータ測定方法を実行するためのコンピュータプログラム（データ測定手段、選択手段）と、上記のように光ディスク装置に接続されたコンピュータ（データ測定手段、選択手段）と、光ディスク装置（データ測定手段）と、により構成することができる。
【００４４】
図６は、本発明の第２実施形態に係る光ディスク装置のデータ測定方法を示すフローチャートを示す図である。
【００４５】
事前測定を実施する（Ｓ６００）。事前測定は、測定により取得したデータから指標を設定するために実施する。
【００４６】
図７は、ライトパワとεとを２つの設定パラメータとしたときのＢＥＲの測定結果を示す図である。図７においては、ＢＥＲが低くなる設定パラメータを薄く、ＢＥＲが高くなる設定パラメータを濃く、というようにＢＥＲを濃淡で示している。
【００４７】
図７において×印で示す点は測定開始点を示す。事前測定は太線の四角で囲んだ領域における測定点の設定パラメータで行なう。例えば、測定点を２５個とすることができる。また、事前測定においては、第１実施形態を適用して、パラメータ距離が小さい順となるように設定パラメータを変化させてデータを取得してもよい。
【００４８】
事前測定データに基づき近似関数を計算する（Ｓ６０１）。本実施形態においては、指標は、測定データの推定値を与える、設定パラメータの近似関数としている。近似関数は、事前測定で測定したデータから最小二乗法により得ることができる。
【００４９】
近似関数に基づき、設定パラメータの設定順序を決定する（Ｓ６０２）。近似関数により、設定パラメータに対する測定データの推定値が得られる。したがって、近似関数から近似の信頼を示す相関係数を計算し、相関係数に基づいて設定パラメータを変化させる方法を逐次選択する。
【００５０】
相関係数が高い場合（すなわち、指標とデータの測定結果との相関関係が高い場合）は、近似関数による推定値が良好な順に設定パラメータを変化させてもよい。すなわち、例えば、測定データがＢＥＲの場合は、最もＢＥＲが小さい推定値を与える設定パラメータの順に設定パラメータを設定しデータを測定してもよい。
【００５１】
相関係数が低い場合（すなわち、指標とデータの測定結果との相関関係が低い場合）は、近似の信頼度が低いため、近似関数を利用せず、第１実施形態と同様にパラメータ距離が小さい順となるように設定パラメータを設定してデータを測定する。
【００５２】
本実施形態に係る光ディスク装置のデータ測定装置およびデータ測定方法は、第１実施形態と同様な効果を奏する。
【００５３】
以上、本発明の第２実施形態に係る光ディスク装置のデータ測定装置およびデータ測定方法について説明したが、本実施形態は上述した実施形態に限定されるものではない。
【００５４】
例えば、指標に範囲を設け、範囲外のデータの測定は行なわないようにすることもできる。すなわち、指標に近似関数を用いる場合は、ＢＡＲの推定値が閾値を超える場合は、そのようなＢＡＲの推定値を与える設定パラメータでのデータの測定を行なわないようにしてもよい。また、設定パラメータに指標としての範囲を設け、範囲外の設定パラメータでのデータの測定は行なわないようにすることもできる。
【００５５】
また、例えば、第１実施形態に係る光ディスク装置のデータ測定方法と第２実施形態に係る光ディスク装置のデータ測定方法を自由に切り替えてデータの測定をすることもできる。
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスク装置のデータ測定装置およびデータ測定方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
光ディスク装置の評価においては、通常、測定条件を定義する諸パラメータを一方向にスキャンさせてデータを取得する。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
しかし、諸パラメータを一方向にスキャンさせると、該パラメータが適正値からずれてきて、光ディスク装置の動作が不安定な状態となる場合がある。このような状態になると、測定不能となったり測定時間の増大を招いて測定が打ち切られたりすることにより、有効な測定データが少なくなるという問題がある。
【０００４】
本発明は、このような問題を解決するためになされたものであり、有効な測定データの取得数を効率的に増大させることを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
本発明に係る光ディスク装置のデータ測定装置は、最初の測定において設定した、前記複数の設定パラメータを、前記複数の設定パラメータのパラメータ距離が小さい順に、それぞれ順次変化させてデータの測定を行なうデータ測定手段を有することを特徴とする。
【０００６】
また、本発明に係る光ディスク装置のデータ測定装置は、測定開始において設定した、測定条件を定義する複数の設定パラメータを、予め設定した指標に基づいて、それぞれ順次変化させてデータの測定を行なうデータ測定手段を有することを特徴としてもよい。
【０００７】
前記課題を解決するために、本発明に係る光ディスク装置のデータ測定方法は、最初の測定において設定した、測定条件を定義する複数の設定パラメータを、前記複数の設定パラメータのパラメータ距離が小さい順に、それぞれ順次変化させてデータの測定を行なうことを特徴とする。
【０００８】
また、本発明に係る光ディスク装置のデータ測定方法は、測定開始において設定した、測定条件を定義する複数の設定パラメータを、予め設定した指標に基づいて、それぞれ順次変化させてデータの測定を行なうことを特徴としてもよい。
【０００９】
すなわち、本発明に係る光ディスク装置のデータ測定装置およびデータ測定方法は、前記複数の設定パラメータの適正値からのずれ量が小さい順となるように複数の設定パラメータを変化させる順序を決定し、該順序でデータの測定を行なう。
【発明の効果】
【００１０】
本発明に係る光ディスク装置のデータ測定装置およびデータ測定方法によれば、有効な測定データの取得数を効率的に増大させることができる。
【図面の簡単な説明】
【００１１】
【図１】本発明の第１実施形態に係る光ディスク装置のデータ測定方法を示すフローチャートを示す図である。
【図２】トラッキングオフセットとフォーカスオフセットとを複数の設定パラメータとしたときの本実施形態によるジッタの測定結果の例を示す図である。
【図３】従来の光ディスク装置の評価において行なわれる設定パラメータのスキャン方法を示す図である。
【図４】本発明の第１実施形態における決定した複数の設定パラメータの設定順序の例を示す図である。
【図５】本発明の第１実施形態において、複数の設定パラメータの数が３である場合の、決定した複数の設定パラメータの設定順序の例を示す図である。
【図６】本発明の第２実施形態に係る光ディスク装置のデータ測定方法を示すフローチャートを示す図である。
【図７】ライトパワとεとを２つの設定パラメータとしたときのＢＥＲの測定結果を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１２】
以下、本発明の実施形態に係る光ディスク装置のデータ測定装置およびデータ測定方法について詳細に説明する。
【００１３】
本実施形態が適用される光ディスク装置は、主に、記録可能なブルーレイディスク（ＢＤ−ＲＥ、ＢＤ−Ｒなど）に対する再生、記録、または消去を行う装置である。しかし、たとえば、コンパクトディスク（ＣＤ−ＲＯＭ、ＣＤ−Ｒ、ＣＤ−ＲＷなど）、ディジタル多目的ディスク（ＤＶＤ−ＲＯＭ、ＤＶＤ−Ｒ、ＤＶＤ＋Ｒ、ＤＶＤ−ＲＷ、ＤＶＤ−ＲＡＭなど）にも適用することができる。
【００１４】
（第１実施形態）
図１は、本発明の第１実施形態に係る光ディスク装置のデータ測定方法を示すフローチャートを示す図である。
【００１５】
本実施形態に係る光ディスク装置のデータ測定方法は、光ディスク装置に通常実装されているデータ測定装置（例えば、ジッタ測定部やＢＥＲ（Ｂｉｔ Ｅｒｒｏｒ Ｒａｔｅ）測定部）を利用することができる。すなわち、光ディスク装置にコンピュータを接続し、コンピュータプログラムにより光ディスク装置の状態が所望の測定条件となるように光ディスク装置を制御するとともに、光ディスク装置から測定データを取得することができる。
【００１６】
本実施形態に係る光ディスク装置のデータ測定装置は、本実施形態に係る光ディスク装置のデータ測定方法を実行するためのコンピュータプログラム（データ測定手段）と、上記のように光ディスク装置に接続されたコンピュータ（データ測定手段）と、光ディスク装置（データ測定手段）と、により構成することができる。
【００１７】
複数の設定パラメータの設定順序を決定する（Ｓ１００）。すなわち、データ測定において設定される複数の設定パラメータの設定順序を決定する。設定パラメータとは、測定条件を定義するために設定されるパラメータをいう。例えば、光パワ、ライトストラテジの各ファクタ、トラッキングオフセット、フォーカスオフセットであり得る。複数の設定パラメータの設定順序は、複数の設定パラメータのパラメータ距離が小さい順となるように決定する。設定パラメータの設定順序をパラメータ距離に基づいて決定するのは、設定パラメータの適正値からのずれを最も単純かつ的確に示すものがパラメータ距離であるからである。
【００１８】
複数の設定パラメータの設定順序は、複数の設定パラメータ（すなわち、複数の設定パラメータの組合せ）に番号を付すことにより決定される。
【００１９】
図２は、トラッキングオフセット（以下、「ＴＯＦ」と称する）とフォーカスオフセット（以下、「ＦＯＦ」と称する）とを複数の設定パラメータとしたときの本実施形態によるジッタの測定結果の例を示す図である。図２に示すように、各設定パラメータの単位は[％]であり、複数の設定パラメータのパラメータ距離ｌは、下記式（１）で定義される。
【００２０】
【数１】
【００２１】
ここで、ｘｎ２は、各設定パラメータの値[％]を示し、ｎは設定パラメータの個数を示す。
【００２２】
パラメータ距離ｌには重み付けをすることもできる。下記式（２）は、重み付けをする場合のパラメータ距離ｌを定義する式である。
【００２３】
【数２】
【００２４】
ここで、ａnは、各設定パラメータの値ｘｎ２に対する重み付け係数を示す。
【００２５】
このようにパラメータ距離ｌに重み付けをすることにより、測定項目ごとに複数の設定パラメータを変化させる順序を最適化することができるため、有効な測定データの取得数をさらに効率的に増大させることができる。
【００２６】
図２に示す測定結果は、ＴＯＦを０[％]、かつ、ＦＯＦを０[％]に設定した条件で最初に測定し（以下、最初の測定における設定パラメータを「測定開始点」と称する）、次に、パラメータ距離ｌが５[％]となるような各設定パラメータ（すなわち、ＴＯＦが５[％]でＦＯＦが０[％]、ＴＯＦが−５[％]でＦＯＦが０[％]、ＴＯＦが０[％]でＦＯＦが５[％]、ＴＯＦが０[％]でＦＯＦが−５[％]、のいずれかの組合せ）でジッタを測定している。そして、以降、パラメータ距離ｌが、√５０、１０、・・・となる各設定パラメータでジッタを測定している。すなわち、設定パラメータであるＴＯＦおよびＦＯＦの設定順序をパラメータ距離ｌが小さい順となるように決定している。
【００２７】
図３は、従来の光ディスク装置の評価において行なわれる設定パラメータのスキャン方法を示す図である。
【００２８】
図３のＡ、Ｂにそれぞれ示す番号は、設定パラメータの設定順序を示す。図３のＡに示すように、設定パラメータを一方向にスキャンさせると、設定パラメータが適正値からずれてきて、光ディスク装置の動作が不安定な状態となる場合がある。このような状態になると、測定不能となったり測定時間の増大を招いて測定が打ち切られたりすることにより、有効な測定データが少なくなるという問題がある。
【００２９】
図３のＢは、図３のＡのように設定パラメータを一方向にスキャンさせていないため、上記問題は緩和されると考えることもできるが、図３のＢに示すような渦巻き状の設定パラメータの設定順序は、数式で表現し難く、設定パラメータが３つ以上になると実施が困難になるという問題がある。
【００３０】
図４は、本実施形態における決定した複数の設定パラメータの設定順序の例を示す図である。図４の矢印は、２つの設定パラメータ（すなわち、第１設定パラメータと第２設定パラメータ）の数値が大きくなる方向を示す。
【００３１】
図４のＡに示すように、複数の設定パラメータの設定順序は、測定開始点における各パラメータの値に対し増加および減少させるように、パラメータ距離が小さい順に決定することができる。一方、図４のＢに示すように、複数の設定パラメータの設定順序を、測定開始点における各パラメータの値に対し増加させるように、パラメータ距離が小さい順に決定することもできる。
【００３２】
測定開始点は、例えば、設計中心（設計における標準値）であってもよく、測定者による経験値であってもよい。
【００３３】
第１内部カウンタ値ｍを１に、第２内部カウンタ値ｉを０にそれぞれ設定する。各内部カウンタ値は、コンピュータプログラムにおいて設定されてもよい。第１内部カウンタ値ｍは、次に測定される設定パラメータの番号を示す。第２内部カウンタ値ｉは、一の測定項目（例えば、ジッタ）において、測定不能となった設定パラメータの累積数を示す。
【００３４】
カウンタ値ｍの番号の設定パラメータに光ディスク装置を設定し、データを測定し（Ｓ１０２）、内部カウンタ値ｍをインクリメントする（Ｓ１０３）。
【００３５】
ステップＳ１０２におけるデータの測定において、測定不能でないと判断されたときは（Ｓ１０４、Ｎｏ）、ステップＳ１０２に戻ってデータの測定を継続する。
【００３６】
ステップＳ１０２におけるデータの測定が、測定不能であると判断されたときは（Ｓ１０４、Ｙｅｓ）、内部カウンタ値ｍおよび内部カウンタ値ｉをインクリメントする。ステップＳ１０２において内部カウンタ値ｍをインクリメントするのは測定不能と判断された設定パラメータでの再度のデータ測定を回避するためである。
【００３７】
内部カウンタ値ｉがインクリメントされた結果、内部カウンタ値ｉが５となった場合は（Ｓ１０６、Ｎｏ）、データの測定は終了する。すなわち、本実施形態においては、測定不能となったデータの測定回数に閾値５を設け、測定不能となったデータの測定回数が５以上となった場合は、測定を中止する。内部カウンタ値ｉが５未満である場合は、ステップＳ１０２に戻って、測定不能となった設定パラメータの次の番号の設定パラメータでデータの測定を継続する。
【００３８】
本実施形態に係る光ディスク装置のデータ測定装置およびデータ測定方法によれば、複数の設定パラメータの適正値からのずれ量が小さい順となるように複数の設定パラメータを変化させる順序を決定し、該順序でデータの測定を行なう。これにより、有効な測定データの取得数を効率的に増大させることができる。
【００３９】
以上、本発明の第１実施形態に係る光ディスク装置のデータ測定装置およびデータ測定方法について説明したが、本実施形態は上述した実施形態に限定されるものではない。
【００４０】
例えば、複数の設定パラメータの数を３以上とすることもできる。図５は、複数の設定パラメータの数が３である場合の、決定した複数の設定パラメータの設定順序の例を示す図である。図５の矢印は、３つの各設定パラメータの数値が大きくなる方向を示す。図５に示す番号は、パラメータ距離ｌが小さい順となる設定パラメータの設定順序の例を示す。
【００４１】
また、例えば、ステップＳ１０６においては、測定不能となったデータの測定回数が閾値を越えた場合は測定を中止するが、これに代えて、データの測定時間が閾値を超えた場合に測定を中止するようにしてもよい。
【００４２】
（第２実施形態）
本発明の第２実施形態に係る光ディスク装置のデータ測定装置およびデータ測定方法は、複数の設定パラメータを、予め設定した指標に基づいて、それぞれ順次変化させてデータの測定を行なうことを特徴とする。ここで、指標は、被測定対象である光ディスク装置から取得したデータの測定結果に基づいて設定してもよい。上記以外の点については第１実施形態と同様であるため重複となる説明は省略する。
【００４３】
本実施形態に係る光ディスク装置のデータ測定装置は、本実施形態に係る光ディスク装置のデータ測定方法を実行するためのコンピュータプログラム（データ測定手段、選択手段）と、上記のように光ディスク装置に接続されたコンピュータ（データ測定手段、選択手段）と、光ディスク装置（データ測定手段）と、により構成することができる。
【００４４】
図６は、本発明の第２実施形態に係る光ディスク装置のデータ測定方法を示すフローチャートを示す図である。
【００４５】
事前測定を実施する（Ｓ６００）。事前測定は、測定により取得したデータから指標を設定するために実施する。
【００４６】
図７は、ライトパワとεとを２つの設定パラメータとしたときのＢＥＲの測定結果を示す図である。図７においては、ＢＥＲが低くなる設定パラメータを薄く、ＢＥＲが高くなる設定パラメータを濃く、というようにＢＥＲを濃淡で示している。
【００４７】
図７において×印で示す点は測定開始点を示す。事前測定は太線の四角で囲んだ領域における測定点の設定パラメータで行なう。例えば、測定点を２５個とすることができる。また、事前測定においては、第１実施形態を適用して、パラメータ距離が小さい順となるように設定パラメータを変化させてデータを取得してもよい。
【００４８】
事前測定データに基づき近似関数を計算する（Ｓ６０１）。本実施形態においては、指標は、測定データの推定値を与える、設定パラメータの近似関数としている。近似関数は、事前測定で測定したデータから最小二乗法により得ることができる。
【００４９】
近似関数に基づき、設定パラメータの設定順序を決定する（Ｓ６０２）。近似関数により、設定パラメータに対する測定データの推定値が得られる。したがって、近似関数から近似の信頼を示す相関係数を計算し、相関係数に基づいて設定パラメータを変化させる方法を逐次選択する。
【００５０】
相関係数が高い場合（すなわち、指標とデータの測定結果との相関関係が高い場合）は、近似関数による推定値が良好な順に設定パラメータを変化させてもよい。すなわち、例えば、測定データがＢＥＲの場合は、最もＢＥＲが小さい推定値を与える設定パラメータの順に設定パラメータを設定しデータを測定してもよい。
【００５１】
相関係数が低い場合（すなわち、指標とデータの測定結果との相関関係が低い場合）は、近似の信頼度が低いため、近似関数を利用せず、第１実施形態と同様にパラメータ距離が小さい順となるように設定パラメータを設定してデータを測定する。
【００５２】
本実施形態に係る光ディスク装置のデータ測定装置およびデータ測定方法は、第１実施形態と同様な効果を奏する。
【００５３】
以上、本発明の第２実施形態に係る光ディスク装置のデータ測定装置およびデータ測定方法について説明したが、本実施形態は上述した実施形態に限定されるものではない。
【００５４】
例えば、指標に範囲を設け、範囲外のデータの測定は行なわないようにすることもできる。すなわち、指標に近似関数を用いる場合は、ＢＡＲの推定値が閾値を超える場合は、そのようなＢＡＲの推定値を与える設定パラメータでのデータの測定を行なわないようにしてもよい。また、設定パラメータに指標としての範囲を設け、範囲外の設定パラメータでのデータの測定は行なわないようにすることもできる。
【００５５】
また、例えば、第１実施形態に係る光ディスク装置のデータ測定方法と第２実施形態に係る光ディスク装置のデータ測定方法を自由に切り替えてデータの測定をすることもできる。
【特許請求の範囲】
【請求項１】
最初の測定において設定した、測定条件を定義する複数の設定パラメータを、前記複数の設定パラメータのパラメータ距離が小さい順に、それぞれ順次変化させてデータの測定を行なうデータ測定手段を有することを特徴とする光ディスク装置のデータ測定装置。
【請求項２】
前記パラメータ距離は、前記パラメータごとの重み付けがされたパラメータ距離であることを特徴とする請求項１に記載の光ディスク装置のデータ測定装置。
【請求項３】
前記データ測定手段は、測定時間が閾値を超えた場合、または、測定不可能となった前記データの測定回数が閾値を超えた場合に前記データの測定を中止することを特徴とする請求項１または２に記載の光ディスク装置のデータ測定装置。
【請求項４】
測定開始において設定した、測定条件を定義する複数の設定パラメータを、予め設定した指標に基づいて、それぞれ順次変化させてデータの測定を行なうデータ測定手段を有することを特徴とする光ディスク装置のデータ測定装置。
【請求項５】
前記指標は、前記データの測定結果に基づいて得られた、前記データの推定値を与える前記複数の設定パラメータの近似関数であることを特徴とする請求項４に記載の光ディスク装置のデータ測定装置。
【請求項６】
前記データ測定手段は、前記指標に範囲を設け、前記範囲内の指標のみに基づいて、前記複数の設定パラメータを変化させることを特徴とする請求項４または５に記載の光ディスク装置のデータ測定装置。
【請求項７】
請求項１〜３のいずれかに記載のデータ測定装置と、請求項４〜６のいずれかに記載のデータ測定装置と、のいずれかを選択する選択手段をさらに有し、
前記選択手段が選択したデータ測定装置によりデータを測定することを特徴とする光ディスク装置のデータ測定装置。
【請求項８】
前記選択手段は、前記指標と前記データの測定結果との相関関係が高いと判断した場合は、請求項４〜６のいずれかに記載の光ディスク装置のデータ測定方法を選択することを特徴とする請求項７に記載の光ディスク装置のデータ測定装置。
【請求項９】
最初の測定において設定した、測定条件を定義する複数の設定パラメータを、前記複数の設定パラメータのパラメータ距離が小さい順に、それぞれ順次変化させてデータの測定を行なうことを特徴とする光ディスク装置のデータ測定方法。
【請求項１０】
測定開始において設定した、測定条件を定義する複数の設定パラメータを、予め設定した指標に基づいて、それぞれ順次変化させてデータの測定を行なうことを特徴とする光ディスク装置のデータ測定方法。
【請求項１】
最初の測定において設定した、測定条件を定義する複数の設定パラメータを、前記複数の設定パラメータのパラメータ距離が小さい順に、それぞれ順次変化させてデータの測定を行なうデータ測定手段を有することを特徴とする光ディスク装置のデータ測定装置。
【請求項２】
前記パラメータ距離は、前記パラメータごとの重み付けがされたパラメータ距離であることを特徴とする請求項１に記載の光ディスク装置のデータ測定装置。
【請求項３】
前記データ測定手段は、測定時間が閾値を超えた場合、または、測定不可能となった前記データの測定回数が閾値を超えた場合に前記データの測定を中止することを特徴とする請求項１または２に記載の光ディスク装置のデータ測定装置。
【請求項４】
測定開始において設定した、測定条件を定義する複数の設定パラメータを、予め設定した指標に基づいて、それぞれ順次変化させてデータの測定を行なうデータ測定手段を有することを特徴とする光ディスク装置のデータ測定装置。
【請求項５】
前記指標は、前記データの測定結果に基づいて得られた、前記データの推定値を与える前記複数の設定パラメータの近似関数であることを特徴とする請求項４に記載の光ディスク装置のデータ測定装置。
【請求項６】
前記データ測定手段は、前記指標に範囲を設け、前記範囲内の指標のみに基づいて、前記複数の設定パラメータを変化させることを特徴とする請求項４または５に記載の光ディスク装置のデータ測定装置。
【請求項７】
請求項１〜３のいずれかに記載のデータ測定装置と、請求項４〜６のいずれかに記載のデータ測定装置と、のいずれかを選択する選択手段をさらに有し、
前記選択手段が選択したデータ測定装置によりデータを測定することを特徴とする光ディスク装置のデータ測定装置。
【請求項８】
前記選択手段は、前記指標と前記データの測定結果との相関関係が高いと判断した場合は、請求項４〜６のいずれかに記載の光ディスク装置のデータ測定方法を選択することを特徴とする請求項７に記載の光ディスク装置のデータ測定装置。
【請求項９】
最初の測定において設定した、測定条件を定義する複数の設定パラメータを、前記複数の設定パラメータのパラメータ距離が小さい順に、それぞれ順次変化させてデータの測定を行なうことを特徴とする光ディスク装置のデータ測定方法。
【請求項１０】
測定開始において設定した、測定条件を定義する複数の設定パラメータを、予め設定した指標に基づいて、それぞれ順次変化させてデータの測定を行なうことを特徴とする光ディスク装置のデータ測定方法。
【図１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【公開番号】特開２０１１−１３４３９５（Ｐ２０１１−１３４３９５Ａ）
【公開日】平成２３年７月７日（２０１１．７．７）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２００９−２９３４１９（Ｐ２００９−２９３４１９）
【出願日】平成２１年１２月２４日（２００９．１２．２４）
【出願人】（５９８０４５０５８）株式会社サムスン横浜研究所 (294)
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成２３年７月７日（２０１１．７．７）
【国際特許分類】
【出願日】平成２１年１２月２４日（２００９．１２．２４）
【出願人】（５９８０４５０５８）株式会社サムスン横浜研究所 (294)
【Ｆターム（参考）】
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