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Fターム[5D090JJ01]の内容

光学的記録再生 (53,787) | 試験、測定、検査、判別 (2,609) | 記録再生装置自体の試験、測定、検査 (160)

Fターム[5D090JJ01]に分類される特許

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【課題】光ディスクライブラリ装置において、各光ディスク装置の使用頻度の偏りによる劣化を防ぐこと。
【解決手段】複数の光ディスク装置を使用した光ディスクライブラリ装置において、光ディスク装置により光ディスクに情報を記録又は再生を実施する前に、自己監視情報を光ディスク監視部から取得し、前記自己監視情報に含まれる使用頻度情報又は劣化情報に基づいて光ディスク装置の使用優先順位を評価し、前記使用優先順位に基づいて情報の記録又は再生に使用する光ディスク装置を選択することを特徴とする光ディスクライブラリ装置。 (もっと読む)


【課題】複数のフォーマットのディスクに対応する光ディスク装置に関して、個体ばらつきに起因する受光信号レベルのばらつき補正のための補正値を求める工程に要する時間を短縮化して、製品コストの削減を図る。
【解決手段】フォーマットごとの補正値の取得を、共通の反射体を用いて行うものとする。これにより、各フォーマットの基準ディスクを用いてそれぞれのフォーマットの補正値の取得を行う従来との比較で、補正値を求める工程に要する時間を効果的に短縮でき、結果、補正値を求めるための工程に要する人件費等を削減でき、製品コストの削減を図ることができる。 (もっと読む)


【課題】光ディスクライブラリ装置において、光ディスク及び光ドライブの劣化の状態を各々評価可能とすること。
【解決手段】第1の光ディスクと第1の光ドライブの組合せにおいて光ディスクの特定の領域を再生して第1の再生エラーレートを測定し、所定の閾値以上であったら、第2の光ディスクと第1の光ドライブの組合せで第2の再生エラーレートを測定し、第1の光ディスクと第2の光ドライブの組合せで第3の再生エラーレートを測定し、第2および第3の再生エラーレートに基づいて第1の光ディスクと第1の光ドライブの劣化状態を評価する。 (もっと読む)


【課題】光位相多値記録再生システムにおいて互換性を確保するための再生信号評価手段を提供する。また、回路規模を抑えた復号手段を提供する。
【解決手段】ユーザデータによって光の位相を変調し、その位相情報を記録媒体に記録する。そして記録媒体に記録された位相情報を光学的に再生し、記録された位相情報を電気信号に変換し、その信号を適応等化し、PRML復号する。再生された位相情報から指定されたパターンのターゲット波形との時間軸方向のずれを検出し、統計平均を算出する。また、再生された位相情報から、指定されたパターンから再生された位相の値を抽出し、統計平均を算出する。 (もっと読む)


【課題】記録再生の両方に対応可能で、かつ、安価な光情報記録再生装置を提供する。
【解決手段】本発明に係る光情報記録再生装置は、光源と、光源に電流を供給する電流ドライバと、光源からの光を記録媒体に集光する光学系と、光源の発光パワーをモニタするモニタ部と、電流ドライバの出力電流を制御する電流ドライバ制御部と、電流ドライバ制御部の動作を制御する演算制御部とを備える。情報の記録を実施する前に、演算制御部は、閉ループ回路を用いて光源を発光させる第1のテスト発光と、開ループ回路を用いて光源を発光させる第2のテスト発光とを順に行い、第1のテスト発光期間にモニタ部の出力からサンプリングした第1のサンプリング値と、第2のテスト発光期間にモニタ部の出力からサンプリングした第2のサンプリング値とを比較する。 (もっと読む)


【課題】ホスト装置の電源供給能力に起因する動作の不具合を改善した光ディスク装置、および光ディスク装置の動作モード設定方法を提供する。
【解決手段】ODDをPCに接続し起動した後に、ODDは消費電流の大きい動作を所定時間だけ実行し、その間にパワーオンリセットがかかるか否かを判定する。パワーオンリセットがかからない場合には、ODDを最高仕様で動作できるようにし、パワーオンリセットがかかった場合には、仕様を抑えて消費電流の小さい動作を行うようにする。 (もっと読む)


【課題】 光ディスクの装てん後に開始されるパワーコントロールで信号面に照射されるレーザパワーを迅速に所定の規定値とする。
【解決手段】 コントロールマイコン44は非読み取り時に、光ピックアップ5が待機位置に移動されて反射面26を有する覆い板20で対物レンズ11の前が覆われた状態で、パワーコントロール部16によりフィードバック制御オフ下で可変の駆動電流でレーザ発光部10を発光させたときのモニタ用光検出部15の検出出力から、光ディスク2の信号面に照射されるレーザパワーを所定の規定値にするための駆動電流を求め、デフォルト値として更新記憶する。読み取り時、光ピックアップ5を待機位置から移動し、覆い板20を対物レンズ11の前から外し、最初デフォルト値でレーザ発光部10の発光を開始させ、モニタ用光検出部15の検出出力に基づき、光ディスク2の信号面に照射されるレーザパワーを所定の規定値にフィードバック制御させる。 (もっと読む)


【課題】 本発明は、少ない部品点数で生産コストを低減した光ディスク装置を提供すること。
【解決手段】 光ディスク駆動部20への光ディスク1の搬送、およびこの光ディスク駆動部20からの光ディスク1の排出を行う光ディスク搬送部17と、光ディスク駆動部20の動作状態を自己診断する自己診断部と、光ディスク駆動部20、光ディスク搬送部17、自己診断部の動作制御を行う制御部10とを備え、制御部10は、自己診断部の診断結果に基づき、光ディスク搬送部17による光ディスク1の排出モードを可変する構成とする。 (もっと読む)


【課題】ODDをはじめとするストレージ装置におけるSATAインタフェース部の物理層の検査に際して、検査するための動作モードであるBISTモードから外れて誤った測定値を得、或いは検査時間が増大する問題を解消する。
【解決手段】例えばLEDによる点灯表示、スレッドモータの回転による音や振動の発生により、ストレージ装置がBISTモードであることを操作者に知らせる。ストレージ装置が元来有する構成要素を利用することで、部品点数の増大を防ぐ。BISTモードの解除は、COMRESET信号のみで行うことにより、例えば光ディスクを排出するためのイジェクトスイッチが誤って押されたことによって、BISTモードが解除されることを防止する。 (もっと読む)


【課題】未記録の光ディスクであっても、高品質なマークが記録された光ディスクを用いた場合と同様の品質のRF信号を得られるようにし、RF信号を指標とした各種調整を実施できるようにする。
【解決手段】レーザに直流電流と交流電流を供給するとともに発光パワーを検出し、発光パワーが目標パワーとなるよう直流電流供給手段の供給電流を制御するとともに、直流電流供給手段の供給電流は、少なくともレーザのしきい値電流以上であって、交流電流供給手段の供給電流は、直流電流供給手段の供給電流の上に重畳される。 (もっと読む)


【課題】ディレイラインについての遅延量校正のために校正用ディレイラインを不要とし、また校正のバラツキをなくす。
【解決手段】入力信号(エッジパルス)を遅延させるディレイラインに対し、例えば9T区間などの校正期間に、例えば1T時間分などの単位遅延量を設定する。そして入力信号にテストパルスを重畳させ、また該テストパルスに対して単位遅延量を持つ比較用パルスを発生させる。そして比較用パルスと、ディレイラインを経て単位遅延量が与えられたテストパルスとの位相比較を行い、単位遅延量に相当する単位遅延制御値を判定する。この判定した単位遅延制御値を校正結果の単位遅延制御値として、以後のディレイラインの遅延量の設定に用いる。 (もっと読む)


【課題】調整されたライトストラテジーが夫々の光ディスク装置に適用できるか否かの再生品質等の解析を不要とし且つ、光ディスク装置毎の最適化を不要とするライトストラテジーの調整に資する光ディスク装置を選定する。
【解決手段】光ディスク装置(10)に搭載され、光ディスク(1)に対するデータの書き込みと読み出しを制御するための半導体装置(4)は、光ディスクから読み出されたデータに基づいて再生品質を評価するための評価データを生成すると共に、他の複数の光ディスク装置に対応する前記評価データを入力する。そして、前記半導体装置は、入力した前記評価データに基づいて、目標とする評価品質から逸脱した光ディスク装置を判別し、判別結果に基づいてライトストラテジーを調整するための候補となる光ディスク装置を選定するための処理を実行する。 (もっと読む)


【課題】ディスクの読み出しデータとサーボ制御部のサーボ信号との両者から総合的な評価を可能とする。
【解決手段】ディスクドライブ記録再生装置0001に搭載可能な半導体集積回路LSIは、ピックアップから読み出されるRF信号の信号処理部0107、ピックアップから読み出されるサーボ誤差信号に応答するサーボ制御部0106、メモリ制御部0108、外部インターフェース0110を含む。メモリ制御部0108に読み出しデータA002とサーボ信号A001とが供給され、メモリ制御部0108は読み出しデータA002とサーボ信号A001とを時分割処理によってバッファメモリ0109に格納する。バッファメモリに格納された読み出しデータA002とサーボ信号A001とはメモリ制御部0108によって外部インターフェース0110を介して外部装置0002に転送可能とされる。 (もっと読む)


【課題】或る記録エッジの調整が他のマークエッジ位置に与える影響を考慮したウォーキングライトストラテジ調整を実現しつつ、調整区間での記録品質の悪化の防止が図られるようにする。
【解決手段】各ストラテジ調整区間での各記録エッジ位置のシフト量を、既記録部分で測定した評価値と、記録エッジ位置のシフト量に対する各マークエッジ位置についての上記評価値の挙動を表す干渉感度の情報とに基づき求める。このようにすることで、或る記録エッジの調整が他のマークエッジ位置に与える影響(相互干渉)を考慮したストラテジを求めるにあたり、従来手法を踏襲する場合のようにストラテジを何度も振るといった必要性はないものとでき、その結果、相互干渉を考慮したストラテジ調整を、ユーザデータエリア内での記録品質の悪化の防止を図りつつ実現できる。 (もっと読む)


【課題】光ディスク装置において、ライトストラテジ信号のチャンネル間位相ずれの調整時と実際のライト時とで同一パスを使用することにより、ライトストラテジ信号のチャンネル間位相ずれを低減する。
【解決手段】光ディスク装置(10)は、レーザーダイオードと、レーザーダイオードドライバと、半導体集積回路(24)とを含む。半導体集積回路は、ライトストラテジ回路と、上記ライトストラテジ回路の動作制御を行う制御部とを含む。光ディスクに対する実際のライト時にパルス信号をパルス生成回路からレーザーダイオードドライバにまで伝達するための信号パスと同一パスを使用して、チャンネル間遅延調整のための情報収集を行う。それに基づいて、光ディスクにレーザー光を照射する場合のチャンネル間遅延量を設定することで、ライトストラテジ信号のチャンネル間位相ずれの低減を図る。 (もっと読む)


【課題】高密度記録に対応する記録条件の調整に関して、マークのエッジ位置を高精度に制御可能な記録調整方法を提供する。
【解決手段】光ディスクから得た再生信号波形を適応等化方式とPRML方式前記PRML方式によって2値化して得た2値化ビット列に基づいて、長さNTの記録マークを形成するために(N−1)本のパルスで構成されたパルス列を用い,エッジシフト評価値が最小になるように,パルス列における最終のパルスであるラストパルスの開始位置を調整する。これにより、記録パルス調整単位がチャネルビット周期の1/16である条件においても,マークの後エッジ位置を高精度に制御できる。 (もっと読む)


【課題】有効な測定データの取得数を効率的に増大させる、光ディスク装置のデータ測定装置およびデータ測定方法を提供する。
【解決手段】最初の測定において設定した、測定条件を定義する複数の設定パラメータを、複数の設定パラメータのパラメータ距離が小さい順に、それぞれ順次変化させてデータの測定を行なうことを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】装着されたディスクに最適な高周波信号の振幅を、簡易な構成によって、迅速に求める方法を提供する。
【解決手段】高周波信号が重畳された信号によって駆動される光源と、前記光源からの光の反射光を検出する検出器と、前記光源の駆動信号に重畳される高周波信号の振幅を制御する制御部と、を備え、前記検出器からの信号によって装着されたディスクからデータを読み出す光ディスク装置であって、前記制御部は、前記光検出器から出力される信号の非対称性に基づいて、前記光源駆動信号に重畳される高周波信号の振幅を決定する。 (もっと読む)


【課題】光ピックアップから出力される再生信号を処理する信号処理部及び光ピックアップの制御を行う制御部を有する集積回路を実装している制御基板の種類と光ピックアップの種類とを1対1対応させる必要がなく、光ピックアップの種類の識別を実現するために必要なコストアップがほとんどない光ピックアップを提供する。
【解決手段】外部からの制御信号(例えばモード切替制御信号)を入力する所定の入力ポート(例えばモード切替用入力ポートP11)と、前記所定の入力ポートに外部からの制御信号が入力されていないときに前記所定の入力ポートを所定の電圧に設定する電圧設定部(例えばプルアップ用の抵抗R1)とを備える光ピックアップ。 (もっと読む)


【課題】ディスクにおいてユーザデータゾーンを使用してテスト記録などの調整を行うことを可能とし、調整精度の向上を図れる記録装置を提供する。
【解決手段】ユーザデータゾーンで記録テストを行うことを可能にするために、ユーザデータゾーンの一部を交替領域で交替して調整用領域である記録テスト用の領域として設定する。ユーザデータゾーンに設定される記録テスト用の領域としては、例えば光ディスクの領域が4倍速、6倍速、8倍速の記録速度で記録可能な3つのエリアに区分されている場合、4倍速と6倍速の速度変化点を含むエリアと、6倍速と8倍速の速度変化点を含むエリアに設定すればよい。これにより、4倍速、6倍速、8倍速の最適記録条件をそれぞれ記録テストで得られた実測値をもとに決めることが可能になる。 (もっと読む)


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