固体試料の直接ＩＣＰ発光分光分析法
【課題】固体試料をＩＣＰにより分析する方法について、分析結果の信頼性を確保することができる方法を提供する。
【解決手段】固体試料を微粒子にして誘導結合プラズマ発光分析装置に直接導入して分析する分析方法において、分析元素を含む濃度既知の液体標準試料を前記誘導結合プラズマ発光分析装置に導入して分析し、各分析元素についての液体試料用検量線を作成した後、前記分析元素を含む少なくとも１の濃度既知の固体標準試料を微粒子にして分析し、所定の方法により換算係数を求め、前記固体試料を微粒子として分析したときに得られる結果を、前記換算係数に基づき補正することを特徴とする分析方法である。
【解決手段】固体試料を微粒子にして誘導結合プラズマ発光分析装置に直接導入して分析する分析方法において、分析元素を含む濃度既知の液体標準試料を前記誘導結合プラズマ発光分析装置に導入して分析し、各分析元素についての液体試料用検量線を作成した後、前記分析元素を含む少なくとも１の濃度既知の固体標準試料を微粒子にして分析し、所定の方法により換算係数を求め、前記固体試料を微粒子として分析したときに得られる結果を、前記換算係数に基づき補正することを特徴とする分析方法である。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、固体試料について、ＩＣＰ発光分光分析法により、直接的に定性・定量分析する方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
固体金属試料中の不純物の定性・定量分析法として、発光分光分析法が広く用いられている。発光分光分析法は、試料に適当なエネルギーを加えて励起させ、その際に生じる発光を分光して、その波長・強度より不純物元素の種類・量を測定する分析法である。試料への励起エネルギーとしてアーク放電や直流スパーク放電を用いた方法が一般的である。しかし、アーク放電、スパーク放電は、放電温度が低く分析元素によっては十分な気化・発光を促すことができず分析感度に乏しい場合がある。また、放電時のばらつきが生じ易く、分析値の再現性に乏しいという問題があった。
【０００３】
そこで、上記したアーク放電、スパーク放電を用いた発光分光分析法に替えて、従来から液体試料用の分析法として知られているＩＣＰ発光分光分析法（誘導結合プラズマ発光分光分析法：以下、ＩＣＰと略称する。）を固体試料に適用することが検討されている。ＩＣＰは、高周波誘導コイルによりアルゴンガスを電離し、これにより生じるプラズマを試料への励起エネルギーとする方法であり、放電温度が６０００Ｋ以上と高く、ほぼ全ての元素を安定的に気化させることができ、上記したアーク放電、スパーク放電を適用する発光分光分析の問題を解消することができる。
【特許文献１】特開平５−１０７１８６号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかし、上述したようにＩＣＰは液体試料用の分析法として開発されたものであり、固体試料の分析に直接に適用するのは必ずしも容易ではない。ＩＣＰで分析目的となる元素の種類・濃度を算定するためには、測定結果（測定された発光スペクトルの波長及び強度）を、予め作成された検量線にフィッティングすることが必要であるが、固体試料についての検量線の作成には困難を伴うことが多いからである。
【０００５】
検量線とは、各元素についての発光強度と濃度との関係を示す関係曲線であるが、その作成のためには、濃度既知の標準試料を複数用意し分析することが必要となる。この標準試料は、全体が均質で偏りのないものでなければならない。ＩＣＰが液体試料の分析に好適なのは、液体は均質なものを作成するのが容易だからである。そして、固体の標準試料についても均質なものが要求されるが、固体の場合には相中に偏析・欠陥が生じることが多く、均質な固体（合金）を複数の濃度について製造するのは容易ではない。この標準試料の作成の困難性は、検量線ひいては分析結果の信頼性へと影響を及ぼす。
【０００６】
そこで、本発明は、固体試料をＩＣＰにより分析する方法について、標準試料作成、分析の煩雑さの問題を解消すると共に、分析結果の信頼性を確保することができる方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本発明者等は、上記課題を解決すべく鋭意検討を行ったところ、固体試料を微粉末としてＩＣＰで分析したときの測定値と、同一濃度の液体試料と分析したときの測定値との間には一定の相関性があり、両者の関係を基準として補正を行なうことにより、固体試料をＩＣＰで直接分析可能であるとして本発明に想到した。
【０００８】
即ち、本発明は、固体試料を微粒子にして誘導結合プラズマ発光分析装置に直接導入して分析する分析方法において、分析元素を含む濃度既知の液体標準試料を前記誘導結合プラズマ発光分析装置に導入して分析し、各分析元素についての液体試料用検量線を作成した後、前記分析元素を含む少なくとも１の濃度既知の固体標準試料を微粒子にして分析し、所定の方法により換算係数を求め、前記固体試料を微粒子として分析したときに得られる結果を、前記換算係数に基づき補正することを特徴とする分析方法である。
【０００９】
本発明についてより詳細に説明する。本発明に係る分析方法の特徴は、分析目的となる固体試料の分析の前に、液体標準試料を用いて液体試料用検量線を作成し、これを固体試料分析の基準に補正する点にある。液体標準試料による検量線の作成は、ＩＣＰで通常行なう液体試料分析での液体標準試料の作成と同様である。液体試料用検量線の作成においては、ブランク溶液に、目的とする元素を添加し、複数の濃度の液体標準試料を作成する。そして、それらをＩＣＰで分析し、元素濃度と測定された分光強度をプロットすることで液体試料用検量線を得ることができる。この際、最小自乗法等により直線に標準化することが好ましい。また、複数の元素についての液体試料用検量線を作成する場合、液体標準試料として所望の複数の元素を添加したものを用いて分析を行なっても良いし、元素毎に液体標準試料を作成し個々に分析を行っても良い。
【００１０】
液体標準試料のブランク溶液としては、水又は希酸溶液が好ましい。希酸溶液を用いる場合には、その濃度を３ｍｏｌ／Ｌ以下にすることが好ましい。検量線の直線性確保のためである。液体標準試料は、検量線作成のため、各元素について２種以上用意し、分析しても良いが、複数の元素を混合した液体標準試料を用いても良い。混合溶液を用いることで、測定する標準試料の数を減らすことができる。但し、この場合、各元素の分光干渉の有無を把握しておく必要がある。
【００１１】
尚、液体標準試料の分析においては、一般的な液体試料用のＩＣＰ分析と同様、液体試料をネブライザで吸引、噴霧してキャリアガス（アルゴン）と共にプラズマトーチへ導入する手法によるものが好ましい。
【００１２】
液体試料用検量線の作成後は、換算係数を算出するため固体標準試料の分析を行なう。この工程では、まず、分析元素を含む固体標準試料を少なくとも一つ用意する。固体標準試料は、ブランクとなる固体に濃度既知の状態で分析元素を含有（合金化）させたものである。分析する固体標準試料は、少なくとも一つの元素について、少なくとも一つあれば良いが、複数の元素についてのものを複数濃度で用意しても良い。尚、固体標準試料のＩＣＰ分析においては、分析対象となる固体試料と同様の装置、条件にて行なうことが好ましいが、この点については後述する。
【００１３】
そして、換算係数は、以下のいずれかの方法により算出されたものを採用する。この換算係数は、個々の元素毎に算出しても良いが、最低一つの分析元素について算出し、この値を他の元素に適用することができる。
【００１４】
（ａ）前記液体試料用検量線に基づいて前記固体標準試料を分析した際の発光強度値に対応する濃度値を求め、固体標準試料中の実際の濃度値と前記濃度値との比を換算係数として算出する方法。
（ｂ）前記固体標準試料を分析した際の発光強度と、同一の分析元素に関する前記液体試料用検量線における同一濃度の発光強度と、の比を換算係数として算出する方法。
【００１５】
以上により換算係数を算出した後、分析目的となる固体試料を分析し、その結果について換算係数を基にして補正する。固体試料の分析方法としては、固体標準試料の分析と同様であり、その好ましい条件については後述する。
【００１６】
固体試料の分析結果の補正の方法としては、上記（ａ）の方法により算出された換算係数を採用する場合には、固体試料の分析結果を液体試料用検量線にフィッティングして得られる濃度値を横軸に、補正後の濃度値を縦軸に配し、換算係数を傾きとする、濃度（液体）−濃度（固体）直線からなる換算線を作成する。そして、固体試料の分析結果（分光強度値）から液体試料用検量線を基準とした場合の濃度値（液体）を求め、この濃度値を横軸として換算線にフィッティングすることで固体試料についての真の濃度値を得ることができる。この補正法は、既に作成した液体試料用検量線を有効に利用することができる点で有用である。
【００１７】
また、上記（ｂ）の方法により算出された換算係数を採用する場合には、換算係数を用いて液体試料用検量線を修正し、固体試料用の検量線を作成し、これに分析結果をフィッティングする。この方法では、液体試料用検量線の各値に換算係数を乗じてプロットして直線（濃度−発光強度直線）を作成することで固体試料用検量線とする。そして、固体試料を分析したときに得られる分光強度値をこれにフィッティングして濃度値を求めるものである。この方法は、液体試料用検量線に基づき固体用検量線を新たに作成するものであるが、固体試料の分析結果を直接的に補正することができる。
【００１８】
上記した、換算線及び固体試料用検量線の作成は、分析元素毎に行なう。但し、上記のように、換算係数については任意の一つの元素のものを他の元素に適用することもできる。
【００１９】
ところで、本発明の基本的な特徴は、固体試料を微粒子化してＩＣＰ装置に直接導入し分析を行なう点にある。ここで、固体標準試料及び分析対象である固体試料の分析においては、試料の微粒子化はスパーク放電を試料表面に印加するものが好ましい。ＩＣＰ分析は、プラズマ内へ試料を導入してこれを励起させて発光させる方法であるが、その際、適切な量の微粒子を生成し導入させるには、スパーク放電によるスパッタリングが好ましいからである。
【００２０】
そして、このときの印加するスパークの放電条件は、発生する微粉末の量等に影響を及ぼす。本発明者等によると、スパークの放電条件としては、出力５０〜１００ｍＷｓ、５０〜１５０Ｈｚとするのが好ましい。５０ｍＷｓ、５０Ｈｚ未満では、十分に微粒子を発生させることができず、分析時の感度が不足するからである。また、１００ｍＷｓ、１５０Ｈｚを上限とするのは、分析感度の観点から、これ以上出力を増大させる必要がなく、また、出力が過剰となると、検量線補正の際の誤差が生じる傾向があることが確認されたからである。
【００２１】
また、微粒子化された固体試料は、ＩＣＰ装置内のプラズマトーチへ導入されるが、その際のキャリアガスとしてはアルゴンガスが好ましい。そして、その流速は、０．２〜１．０Ｌ／ｍｉｎとするのが好ましい。本発明者によれば、キャリアガスの流速は、分析感度に影響を与える。このとき、キャリアガス流速が高すぎると分析感度が損なわれる傾向があるため、流速の上限は、１．０Ｌ／ｍｉｎ以下とするのが好ましく、より好ましくは０．５Ｌ／ｍｉｎである。また、下限値である０．２Ｌ／ｍｉｎについては、微粒子を運ぶために最低限必要な流速である。
【発明の効果】
【００２２】
以上説明したように、本発明は、液体標準試料に基づき作成される検量線に、簡易な補正を行い固体試料用検量線とし、これに基づき分析を行なうものである。本発明によれば、作成が困難な固体の標準試料を複数作成することなく、固体試料について直接ＩＣＰ分析をすることができる。この点、固体試料を、一旦、溶解して溶液としてＩＣＰ分析するよりも簡易な工程で分析作業を行なうことができる。これは、特に難溶解性の金属元素を含む試料の分析に有用である。
【００２３】
そして、ＩＣＰ分析は、その利点として励起温度が高く、ほぼ全ての元素について十分、励起・発光させることが可能である。従って、本発明によれば固体試料の分析において、高精度の分析結果を得ることができる。また、ＩＣＰの検量線は直線適合性が高く、１ｐｐｍの極微量から数１０％の含有量の広範囲での分析が可能である。
【００２４】
本発明は、特に貴金属の分析に有用である。貴金属は難溶解性の金属が多いことから、溶液化して分析することが困難だからである。また、貴金属は高価なものが多く、固体標準試料を複数作成すると分析コストを増大させることとなる。本発明では、固体標準試料を少なくとも一つ作成すればよいため、そのコスト低減を図ることもできる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２５】
以下に本発明の好適な実施の形態を説明する。本実施形態では、液体標準試料を作成し、これを分析して液体試料用検量線を作成した後、固体標準試料を作成及び分析し、この分析値を基に換算係数を算出した。次に、換算係数を基に換算線（濃度（液体）−濃度（固体）直線）を作成した、そして、その上で、濃度未知の固体試料の分析を行ない、換算線から濃度値を測定した。この測定値については、蛍光Ｘ線による検定を行った。以下、詳細に説明する。
【００２６】
液体標準試料の作成
Ｐｔ、Ａｕ、Ｐｄ、Ｒｈ、Ｉｒ、Ｒｕのそれぞれについて、原子吸光標準溶液（関東化学製、濃度１０００ｍｇ／Ｌ）を１００倍希釈して、各貴金属元素について１０ｍｇ／Ｌ液体標準溶液を作成した。また、Ａｌ等の他の元素について、それぞれの元素を含むＩＣＰ標準溶液（商品名：ＩＣＰ ｍｕｌｔｉ−ｅｌｅｍｅｎｔ ｓｔａｎｄａｒｄ ｓｏｌｕｔｉｏｎ ＩＶ、メルック社製、濃度１ｇ／Ｌ）をそれぞれ１００倍希釈して１０ｍｇ／Ｌ液体標準溶液を作成した。
【００２７】
液体標準試料の分析・液体試料用検量線の作成
以上で製造した液体標準試料を分析し、各元素についての検量線を作成した。分析は、サイクロンチャンバー、同軸型ネブライザ、高濃度用トーチを組み合わせたＩＣＰ分析装置（商品名：ＣＩＲＯＳ１２０、ＡＭＥＴＥＫ社製）を用いた。測定条件は、ＩＣＰパワー１．３ｋＷ、プラズマガス流量１３Ｌ／ｍｉｎ、ネブライザガス流量１Ｌ／ｍｉｎ、追加ガス流量０．２Ｌ／ｍｉｎとした。この条件にて、各液体標準試料（１０ｍｇ／Ｌ）を分析し、そのときの分光強度値と零点から各元素についての液体試料用検量線を作成した。図１は、その例としてＡｕの検量線を示すものである。
【００２８】
固体標準試料の作成
固体標準試料は、純度９９．９９％以上のＰｔに、Ａｕを任意の濃度（ここでは１００ｐｐｍ）となるように添加し、高周波溶解装置で溶解・合金化した。
【００２９】
固体標準試料の分析
固体標準試料の分析は、図２に示すスパークアブレーションサンプリング装置（商品名：ＳＡＳＳｙ、ＡＭＥＴＥＫ社製）により、固体標準試料を微粉末化し、上記ＩＣＰ装置に導入して分析した。このときの条件は、放電条件として、スパーク出力５９ｍＷｓ、周波数７５Ｈｚ、輸送Ａｒ流量０．５Ｌ／ｍｉｎとし、ＩＣＰ分析条件は上記と同様とした。
【００３０】
換算係数の算出及び換算線の作図
換算係数の計算は、液体標準試料の検量線において、(ａ)の方法、即ち、個標準試料（Ａｕ）の濃度（ＣＳ）と、液体試料用検量線において固体標準試料の分析結果（強度値）から求められる濃度値（ＣＬ）との比（ＣＳ／ＣＬ）をもとめることで算出される。本実施形態では、固体標準試料（Ａｕ １００ｐｐｍ）を分析したときの分光強度が、６３．８ｋｃｐｓであったことから、図２の検量線に基づくと、換算係数Ｆは、１２７．４２となる。そして、得られた換算係数を用いると図３のような換算線（Ａｕ）が得られる。そして、他の元素についても、それらの液体試料用検量線を補正することで、各元素毎に換算線を作成することができる。
【００３１】
固体試料の分析１
以上のように換算線を作成した後、Ａｕを含み、その濃度が未知の固体試料の分析を行なった。この固体試料の分析は、上記の固体標準試料の分析と同様の装置、条件で行った。この分析は複数の固体試料について行った。分析結果の補正は、直接分析による強度値を、まず、液体標準試料用検量線にフィッティングして濃度値（液体）を求め、この濃度値を横軸から換算線（Ａｕ）にフィッティングして濃度値（個体）に換算した。その一方で、この分析方法の適否を検討するため、固体試料を溶液化してＩＣＰで分析を行なった。以上の結果を表１に示す。
【００３２】
【表１】
【００３３】
表１から、本実施形態の固体試料を微粉化して直接分析する方法であっても、換算係数を用いることで、溶液化における測定値に対して近似した結果が得られることが確認された。
【００３４】
固体試料の分析２
表１の試料１には、Ａｕの他にＦｅ、Ｍｎ、Ｐｂ、Ｒｈ、Ｓｎの数種の元素が含まれていることが上記分析過程でわかった。そこで、検出された各元素について、それぞれの換算線を用いてその濃度値を算出すると共に、溶液化してＩＣＰ分析を行ない、両者を対比した。その結果を表２に示す。
【００３５】
【表２】
【００３６】
この実施形態で使用した各元素の換算線は、Ａｕの換算係数を適用して作成されたものであるが、このようにしても有効な補正効果があることが確認された。このことは、多数の固体標準試料の製造、分析が不要であることを示すものであり、本実施形態が簡易なものであることを示すものである。尚、分析精度については、各元素についての換算係数を算出し、それらに基づき換算線を作成することで、より正確なもととすることができることが当然予測される。また、全ての元素についての換算係数ではなくとも、複数元素の換算係数を平均化しても良いと考えられる。但し、複数の換算係数を算出するための操作は煩雑であるから、要求される分析精度、許容される工程数に応じたものとすることが好ましい。
【図面の簡単な説明】
【００３７】
【図１】本実施形態で作成した検量線（Ａｕ）を示す図。
【図２】本実施形態で使用した固体試料の微粉末化装置の構成を示す図。
【図３】本実施形態で作成した換算線（Ａｕ）を示す図。
【技術分野】
【０００１】
本発明は、固体試料について、ＩＣＰ発光分光分析法により、直接的に定性・定量分析する方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
固体金属試料中の不純物の定性・定量分析法として、発光分光分析法が広く用いられている。発光分光分析法は、試料に適当なエネルギーを加えて励起させ、その際に生じる発光を分光して、その波長・強度より不純物元素の種類・量を測定する分析法である。試料への励起エネルギーとしてアーク放電や直流スパーク放電を用いた方法が一般的である。しかし、アーク放電、スパーク放電は、放電温度が低く分析元素によっては十分な気化・発光を促すことができず分析感度に乏しい場合がある。また、放電時のばらつきが生じ易く、分析値の再現性に乏しいという問題があった。
【０００３】
そこで、上記したアーク放電、スパーク放電を用いた発光分光分析法に替えて、従来から液体試料用の分析法として知られているＩＣＰ発光分光分析法（誘導結合プラズマ発光分光分析法：以下、ＩＣＰと略称する。）を固体試料に適用することが検討されている。ＩＣＰは、高周波誘導コイルによりアルゴンガスを電離し、これにより生じるプラズマを試料への励起エネルギーとする方法であり、放電温度が６０００Ｋ以上と高く、ほぼ全ての元素を安定的に気化させることができ、上記したアーク放電、スパーク放電を適用する発光分光分析の問題を解消することができる。
【特許文献１】特開平５−１０７１８６号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかし、上述したようにＩＣＰは液体試料用の分析法として開発されたものであり、固体試料の分析に直接に適用するのは必ずしも容易ではない。ＩＣＰで分析目的となる元素の種類・濃度を算定するためには、測定結果（測定された発光スペクトルの波長及び強度）を、予め作成された検量線にフィッティングすることが必要であるが、固体試料についての検量線の作成には困難を伴うことが多いからである。
【０００５】
検量線とは、各元素についての発光強度と濃度との関係を示す関係曲線であるが、その作成のためには、濃度既知の標準試料を複数用意し分析することが必要となる。この標準試料は、全体が均質で偏りのないものでなければならない。ＩＣＰが液体試料の分析に好適なのは、液体は均質なものを作成するのが容易だからである。そして、固体の標準試料についても均質なものが要求されるが、固体の場合には相中に偏析・欠陥が生じることが多く、均質な固体（合金）を複数の濃度について製造するのは容易ではない。この標準試料の作成の困難性は、検量線ひいては分析結果の信頼性へと影響を及ぼす。
【０００６】
そこで、本発明は、固体試料をＩＣＰにより分析する方法について、標準試料作成、分析の煩雑さの問題を解消すると共に、分析結果の信頼性を確保することができる方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本発明者等は、上記課題を解決すべく鋭意検討を行ったところ、固体試料を微粉末としてＩＣＰで分析したときの測定値と、同一濃度の液体試料と分析したときの測定値との間には一定の相関性があり、両者の関係を基準として補正を行なうことにより、固体試料をＩＣＰで直接分析可能であるとして本発明に想到した。
【０００８】
即ち、本発明は、固体試料を微粒子にして誘導結合プラズマ発光分析装置に直接導入して分析する分析方法において、分析元素を含む濃度既知の液体標準試料を前記誘導結合プラズマ発光分析装置に導入して分析し、各分析元素についての液体試料用検量線を作成した後、前記分析元素を含む少なくとも１の濃度既知の固体標準試料を微粒子にして分析し、所定の方法により換算係数を求め、前記固体試料を微粒子として分析したときに得られる結果を、前記換算係数に基づき補正することを特徴とする分析方法である。
【０００９】
本発明についてより詳細に説明する。本発明に係る分析方法の特徴は、分析目的となる固体試料の分析の前に、液体標準試料を用いて液体試料用検量線を作成し、これを固体試料分析の基準に補正する点にある。液体標準試料による検量線の作成は、ＩＣＰで通常行なう液体試料分析での液体標準試料の作成と同様である。液体試料用検量線の作成においては、ブランク溶液に、目的とする元素を添加し、複数の濃度の液体標準試料を作成する。そして、それらをＩＣＰで分析し、元素濃度と測定された分光強度をプロットすることで液体試料用検量線を得ることができる。この際、最小自乗法等により直線に標準化することが好ましい。また、複数の元素についての液体試料用検量線を作成する場合、液体標準試料として所望の複数の元素を添加したものを用いて分析を行なっても良いし、元素毎に液体標準試料を作成し個々に分析を行っても良い。
【００１０】
液体標準試料のブランク溶液としては、水又は希酸溶液が好ましい。希酸溶液を用いる場合には、その濃度を３ｍｏｌ／Ｌ以下にすることが好ましい。検量線の直線性確保のためである。液体標準試料は、検量線作成のため、各元素について２種以上用意し、分析しても良いが、複数の元素を混合した液体標準試料を用いても良い。混合溶液を用いることで、測定する標準試料の数を減らすことができる。但し、この場合、各元素の分光干渉の有無を把握しておく必要がある。
【００１１】
尚、液体標準試料の分析においては、一般的な液体試料用のＩＣＰ分析と同様、液体試料をネブライザで吸引、噴霧してキャリアガス（アルゴン）と共にプラズマトーチへ導入する手法によるものが好ましい。
【００１２】
液体試料用検量線の作成後は、換算係数を算出するため固体標準試料の分析を行なう。この工程では、まず、分析元素を含む固体標準試料を少なくとも一つ用意する。固体標準試料は、ブランクとなる固体に濃度既知の状態で分析元素を含有（合金化）させたものである。分析する固体標準試料は、少なくとも一つの元素について、少なくとも一つあれば良いが、複数の元素についてのものを複数濃度で用意しても良い。尚、固体標準試料のＩＣＰ分析においては、分析対象となる固体試料と同様の装置、条件にて行なうことが好ましいが、この点については後述する。
【００１３】
そして、換算係数は、以下のいずれかの方法により算出されたものを採用する。この換算係数は、個々の元素毎に算出しても良いが、最低一つの分析元素について算出し、この値を他の元素に適用することができる。
【００１４】
（ａ）前記液体試料用検量線に基づいて前記固体標準試料を分析した際の発光強度値に対応する濃度値を求め、固体標準試料中の実際の濃度値と前記濃度値との比を換算係数として算出する方法。
（ｂ）前記固体標準試料を分析した際の発光強度と、同一の分析元素に関する前記液体試料用検量線における同一濃度の発光強度と、の比を換算係数として算出する方法。
【００１５】
以上により換算係数を算出した後、分析目的となる固体試料を分析し、その結果について換算係数を基にして補正する。固体試料の分析方法としては、固体標準試料の分析と同様であり、その好ましい条件については後述する。
【００１６】
固体試料の分析結果の補正の方法としては、上記（ａ）の方法により算出された換算係数を採用する場合には、固体試料の分析結果を液体試料用検量線にフィッティングして得られる濃度値を横軸に、補正後の濃度値を縦軸に配し、換算係数を傾きとする、濃度（液体）−濃度（固体）直線からなる換算線を作成する。そして、固体試料の分析結果（分光強度値）から液体試料用検量線を基準とした場合の濃度値（液体）を求め、この濃度値を横軸として換算線にフィッティングすることで固体試料についての真の濃度値を得ることができる。この補正法は、既に作成した液体試料用検量線を有効に利用することができる点で有用である。
【００１７】
また、上記（ｂ）の方法により算出された換算係数を採用する場合には、換算係数を用いて液体試料用検量線を修正し、固体試料用の検量線を作成し、これに分析結果をフィッティングする。この方法では、液体試料用検量線の各値に換算係数を乗じてプロットして直線（濃度−発光強度直線）を作成することで固体試料用検量線とする。そして、固体試料を分析したときに得られる分光強度値をこれにフィッティングして濃度値を求めるものである。この方法は、液体試料用検量線に基づき固体用検量線を新たに作成するものであるが、固体試料の分析結果を直接的に補正することができる。
【００１８】
上記した、換算線及び固体試料用検量線の作成は、分析元素毎に行なう。但し、上記のように、換算係数については任意の一つの元素のものを他の元素に適用することもできる。
【００１９】
ところで、本発明の基本的な特徴は、固体試料を微粒子化してＩＣＰ装置に直接導入し分析を行なう点にある。ここで、固体標準試料及び分析対象である固体試料の分析においては、試料の微粒子化はスパーク放電を試料表面に印加するものが好ましい。ＩＣＰ分析は、プラズマ内へ試料を導入してこれを励起させて発光させる方法であるが、その際、適切な量の微粒子を生成し導入させるには、スパーク放電によるスパッタリングが好ましいからである。
【００２０】
そして、このときの印加するスパークの放電条件は、発生する微粉末の量等に影響を及ぼす。本発明者等によると、スパークの放電条件としては、出力５０〜１００ｍＷｓ、５０〜１５０Ｈｚとするのが好ましい。５０ｍＷｓ、５０Ｈｚ未満では、十分に微粒子を発生させることができず、分析時の感度が不足するからである。また、１００ｍＷｓ、１５０Ｈｚを上限とするのは、分析感度の観点から、これ以上出力を増大させる必要がなく、また、出力が過剰となると、検量線補正の際の誤差が生じる傾向があることが確認されたからである。
【００２１】
また、微粒子化された固体試料は、ＩＣＰ装置内のプラズマトーチへ導入されるが、その際のキャリアガスとしてはアルゴンガスが好ましい。そして、その流速は、０．２〜１．０Ｌ／ｍｉｎとするのが好ましい。本発明者によれば、キャリアガスの流速は、分析感度に影響を与える。このとき、キャリアガス流速が高すぎると分析感度が損なわれる傾向があるため、流速の上限は、１．０Ｌ／ｍｉｎ以下とするのが好ましく、より好ましくは０．５Ｌ／ｍｉｎである。また、下限値である０．２Ｌ／ｍｉｎについては、微粒子を運ぶために最低限必要な流速である。
【発明の効果】
【００２２】
以上説明したように、本発明は、液体標準試料に基づき作成される検量線に、簡易な補正を行い固体試料用検量線とし、これに基づき分析を行なうものである。本発明によれば、作成が困難な固体の標準試料を複数作成することなく、固体試料について直接ＩＣＰ分析をすることができる。この点、固体試料を、一旦、溶解して溶液としてＩＣＰ分析するよりも簡易な工程で分析作業を行なうことができる。これは、特に難溶解性の金属元素を含む試料の分析に有用である。
【００２３】
そして、ＩＣＰ分析は、その利点として励起温度が高く、ほぼ全ての元素について十分、励起・発光させることが可能である。従って、本発明によれば固体試料の分析において、高精度の分析結果を得ることができる。また、ＩＣＰの検量線は直線適合性が高く、１ｐｐｍの極微量から数１０％の含有量の広範囲での分析が可能である。
【００２４】
本発明は、特に貴金属の分析に有用である。貴金属は難溶解性の金属が多いことから、溶液化して分析することが困難だからである。また、貴金属は高価なものが多く、固体標準試料を複数作成すると分析コストを増大させることとなる。本発明では、固体標準試料を少なくとも一つ作成すればよいため、そのコスト低減を図ることもできる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２５】
以下に本発明の好適な実施の形態を説明する。本実施形態では、液体標準試料を作成し、これを分析して液体試料用検量線を作成した後、固体標準試料を作成及び分析し、この分析値を基に換算係数を算出した。次に、換算係数を基に換算線（濃度（液体）−濃度（固体）直線）を作成した、そして、その上で、濃度未知の固体試料の分析を行ない、換算線から濃度値を測定した。この測定値については、蛍光Ｘ線による検定を行った。以下、詳細に説明する。
【００２６】
液体標準試料の作成
Ｐｔ、Ａｕ、Ｐｄ、Ｒｈ、Ｉｒ、Ｒｕのそれぞれについて、原子吸光標準溶液（関東化学製、濃度１０００ｍｇ／Ｌ）を１００倍希釈して、各貴金属元素について１０ｍｇ／Ｌ液体標準溶液を作成した。また、Ａｌ等の他の元素について、それぞれの元素を含むＩＣＰ標準溶液（商品名：ＩＣＰ ｍｕｌｔｉ−ｅｌｅｍｅｎｔ ｓｔａｎｄａｒｄ ｓｏｌｕｔｉｏｎ ＩＶ、メルック社製、濃度１ｇ／Ｌ）をそれぞれ１００倍希釈して１０ｍｇ／Ｌ液体標準溶液を作成した。
【００２７】
液体標準試料の分析・液体試料用検量線の作成
以上で製造した液体標準試料を分析し、各元素についての検量線を作成した。分析は、サイクロンチャンバー、同軸型ネブライザ、高濃度用トーチを組み合わせたＩＣＰ分析装置（商品名：ＣＩＲＯＳ１２０、ＡＭＥＴＥＫ社製）を用いた。測定条件は、ＩＣＰパワー１．３ｋＷ、プラズマガス流量１３Ｌ／ｍｉｎ、ネブライザガス流量１Ｌ／ｍｉｎ、追加ガス流量０．２Ｌ／ｍｉｎとした。この条件にて、各液体標準試料（１０ｍｇ／Ｌ）を分析し、そのときの分光強度値と零点から各元素についての液体試料用検量線を作成した。図１は、その例としてＡｕの検量線を示すものである。
【００２８】
固体標準試料の作成
固体標準試料は、純度９９．９９％以上のＰｔに、Ａｕを任意の濃度（ここでは１００ｐｐｍ）となるように添加し、高周波溶解装置で溶解・合金化した。
【００２９】
固体標準試料の分析
固体標準試料の分析は、図２に示すスパークアブレーションサンプリング装置（商品名：ＳＡＳＳｙ、ＡＭＥＴＥＫ社製）により、固体標準試料を微粉末化し、上記ＩＣＰ装置に導入して分析した。このときの条件は、放電条件として、スパーク出力５９ｍＷｓ、周波数７５Ｈｚ、輸送Ａｒ流量０．５Ｌ／ｍｉｎとし、ＩＣＰ分析条件は上記と同様とした。
【００３０】
換算係数の算出及び換算線の作図
換算係数の計算は、液体標準試料の検量線において、(ａ)の方法、即ち、個標準試料（Ａｕ）の濃度（ＣＳ）と、液体試料用検量線において固体標準試料の分析結果（強度値）から求められる濃度値（ＣＬ）との比（ＣＳ／ＣＬ）をもとめることで算出される。本実施形態では、固体標準試料（Ａｕ １００ｐｐｍ）を分析したときの分光強度が、６３．８ｋｃｐｓであったことから、図２の検量線に基づくと、換算係数Ｆは、１２７．４２となる。そして、得られた換算係数を用いると図３のような換算線（Ａｕ）が得られる。そして、他の元素についても、それらの液体試料用検量線を補正することで、各元素毎に換算線を作成することができる。
【００３１】
固体試料の分析１
以上のように換算線を作成した後、Ａｕを含み、その濃度が未知の固体試料の分析を行なった。この固体試料の分析は、上記の固体標準試料の分析と同様の装置、条件で行った。この分析は複数の固体試料について行った。分析結果の補正は、直接分析による強度値を、まず、液体標準試料用検量線にフィッティングして濃度値（液体）を求め、この濃度値を横軸から換算線（Ａｕ）にフィッティングして濃度値（個体）に換算した。その一方で、この分析方法の適否を検討するため、固体試料を溶液化してＩＣＰで分析を行なった。以上の結果を表１に示す。
【００３２】
【表１】
【００３３】
表１から、本実施形態の固体試料を微粉化して直接分析する方法であっても、換算係数を用いることで、溶液化における測定値に対して近似した結果が得られることが確認された。
【００３４】
固体試料の分析２
表１の試料１には、Ａｕの他にＦｅ、Ｍｎ、Ｐｂ、Ｒｈ、Ｓｎの数種の元素が含まれていることが上記分析過程でわかった。そこで、検出された各元素について、それぞれの換算線を用いてその濃度値を算出すると共に、溶液化してＩＣＰ分析を行ない、両者を対比した。その結果を表２に示す。
【００３５】
【表２】
【００３６】
この実施形態で使用した各元素の換算線は、Ａｕの換算係数を適用して作成されたものであるが、このようにしても有効な補正効果があることが確認された。このことは、多数の固体標準試料の製造、分析が不要であることを示すものであり、本実施形態が簡易なものであることを示すものである。尚、分析精度については、各元素についての換算係数を算出し、それらに基づき換算線を作成することで、より正確なもととすることができることが当然予測される。また、全ての元素についての換算係数ではなくとも、複数元素の換算係数を平均化しても良いと考えられる。但し、複数の換算係数を算出するための操作は煩雑であるから、要求される分析精度、許容される工程数に応じたものとすることが好ましい。
【図面の簡単な説明】
【００３７】
【図１】本実施形態で作成した検量線（Ａｕ）を示す図。
【図２】本実施形態で使用した固体試料の微粉末化装置の構成を示す図。
【図３】本実施形態で作成した換算線（Ａｕ）を示す図。
【特許請求の範囲】
【請求項１】
固体試料を微粒子にして誘導結合プラズマ発光分析装置に直接導入して分析する分析方法において、
分析元素を含む濃度既知の液体標準試料を前記誘導結合プラズマ発光分析装置に導入して分析し、各分析元素についての液体試料用検量線を作成した後、
前記分析元素を含む少なくとも１の濃度既知の固体標準試料を微粒子にして分析し、
以下のいずれかの方法により換算係数を求め、前記固体試料を微粒子として分析したときに得られる結果を、前記換算係数に基づき補正することを特徴とする分析方法。
（ａ）前記液体試料用検量線に基づいて前記固体標準試料を分析した際の発光強度値に対応する濃度値を求め、固体標準試料中の実際の濃度値と前記濃度値との比を換算係数として算出する方法。
（ｂ）前記固体標準試料を分析した際の発光強度と、同一の分析元素に関する前記液体試料用検量線における同一濃度の発光強度と、の比を換算係数として算出する方法。
【請求項２】
換算係数を（ａ）の方法により求め、固体試料の分析結果を液体試料用検量線にフィッティングした場合に得られる濃度値を横軸とし、換算係数を傾きとする濃度（液体）−濃度（固体）直線からなる換算線を作成し、
固体試料の分析結果を液体試料用検量線にフィッティングして濃度値（液体）を求め、この濃度値（液体）を前記検算線にフィッティングすることにより固体試料の分析結果を補正する請求項１記載の分析方法。
【請求項３】
換算係数を（ｂ）の方法により求め、液体試料用検量線に換算係数を乗じて固体試料用検量線を作成し、固体試料を分析したときに得られる分光強度値を前記固体試料用検量線にフィッティングすることにより固体試料の分析結果を補正する請求項１記載の分析方法。
【請求項４】
固体試料及び固体標準試料の微粒子化は、その表面をスパーク放電するものであり、放電条件を５０〜１００ｍＷｓ、５０〜１５０Ｈｚとする請求項１〜請求項３のいずれかに記載の分析方法。
【請求項５】
固体試料の微粒子の導入のためのキャリアガスとしてアルゴンガスを用い、その流速を０．２〜１．０Ｌ／ｍｉｎとする請求項１〜請求項４のいずれかに記載の分析方法。
【請求項１】
固体試料を微粒子にして誘導結合プラズマ発光分析装置に直接導入して分析する分析方法において、
分析元素を含む濃度既知の液体標準試料を前記誘導結合プラズマ発光分析装置に導入して分析し、各分析元素についての液体試料用検量線を作成した後、
前記分析元素を含む少なくとも１の濃度既知の固体標準試料を微粒子にして分析し、
以下のいずれかの方法により換算係数を求め、前記固体試料を微粒子として分析したときに得られる結果を、前記換算係数に基づき補正することを特徴とする分析方法。
（ａ）前記液体試料用検量線に基づいて前記固体標準試料を分析した際の発光強度値に対応する濃度値を求め、固体標準試料中の実際の濃度値と前記濃度値との比を換算係数として算出する方法。
（ｂ）前記固体標準試料を分析した際の発光強度と、同一の分析元素に関する前記液体試料用検量線における同一濃度の発光強度と、の比を換算係数として算出する方法。
【請求項２】
換算係数を（ａ）の方法により求め、固体試料の分析結果を液体試料用検量線にフィッティングした場合に得られる濃度値を横軸とし、換算係数を傾きとする濃度（液体）−濃度（固体）直線からなる換算線を作成し、
固体試料の分析結果を液体試料用検量線にフィッティングして濃度値（液体）を求め、この濃度値（液体）を前記検算線にフィッティングすることにより固体試料の分析結果を補正する請求項１記載の分析方法。
【請求項３】
換算係数を（ｂ）の方法により求め、液体試料用検量線に換算係数を乗じて固体試料用検量線を作成し、固体試料を分析したときに得られる分光強度値を前記固体試料用検量線にフィッティングすることにより固体試料の分析結果を補正する請求項１記載の分析方法。
【請求項４】
固体試料及び固体標準試料の微粒子化は、その表面をスパーク放電するものであり、放電条件を５０〜１００ｍＷｓ、５０〜１５０Ｈｚとする請求項１〜請求項３のいずれかに記載の分析方法。
【請求項５】
固体試料の微粒子の導入のためのキャリアガスとしてアルゴンガスを用い、その流速を０．２〜１．０Ｌ／ｍｉｎとする請求項１〜請求項４のいずれかに記載の分析方法。
【図１】
【図２】
【図３】
【図２】
【図３】
【公開番号】特開２００８−２０２９５３（Ｐ２００８−２０２９５３Ａ）
【公開日】平成２０年９月４日（２００８．９．４）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２００７−３６１８２（Ｐ２００７−３６１８２）
【出願日】平成１９年２月１６日（２００７．２．１６）
【出願人】（０００２１７２２８）田中貴金属工業株式会社 (146)
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成２０年９月４日（２００８．９．４）
【国際特許分類】
【出願日】平成１９年２月１６日（２００７．２．１６）
【出願人】（０００２１７２２８）田中貴金属工業株式会社 (146)
【Ｆターム（参考）】
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