外観検査装置
【課題】電子部品の稜線部までも明瞭に撮像することできる外観検査装置を得る。
【解決手段】矢印ａ方向に間欠的に回転駆動される搬送テーブル２０に形成された凹部２１に直方体形状の電子部品１２０を１個ずつ収容し、該電子部品１２０の外観をＣＣＤカメラ７０で撮像する外観検査装置。凹部２１は搬送テーブル２０の上面及び外周面に開口しており、凹部２１の側面２１ａとテーブル２０の上面とからなる稜線部には傾斜面２１ｂが形成されている。また、外周ガイド部材３０の側面３０ａとテーブル２０の上面とからなる稜線部には傾斜面３０ｂが形成されている。この傾斜面２１ｂ，３０ｂによって照明光ｙが電子部品１２０の稜線部にまで隈なく届くことになる。
【解決手段】矢印ａ方向に間欠的に回転駆動される搬送テーブル２０に形成された凹部２１に直方体形状の電子部品１２０を１個ずつ収容し、該電子部品１２０の外観をＣＣＤカメラ７０で撮像する外観検査装置。凹部２１は搬送テーブル２０の上面及び外周面に開口しており、凹部２１の側面２１ａとテーブル２０の上面とからなる稜線部には傾斜面２１ｂが形成されている。また、外周ガイド部材３０の側面３０ａとテーブル２０の上面とからなる稜線部には傾斜面３０ｂが形成されている。この傾斜面２１ｂ，３０ｂによって照明光ｙが電子部品１２０の稜線部にまで隈なく届くことになる。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、外観検査装置、特に、コンデンサなどの電子部品の外観を撮像して検査し、良否を判別するための外観検査装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
コンデンサやインダクタなどの電子部品は、製造工程の最終段階で、電気特性や外観を検査して良・不良を判別し、不良品を排除して良品のみをテーピングしている。外観検査は搬送テーブルの凹部に収容された電子部品に照明光を当てて撮像し、撮像された画像を観察して良否を判別していた。この種の外観検査装置としては特許文献１を挙げることができる。
【０００３】
この種の外観検査装置にあっては、図６に示すように、矢印ａ方向に回転する円盤状の搬送テーブル１００の外周縁部に形成した凹部１０１に電子部品１２０を収容し、かつ、ガイド部材１１０で外周部を封止した状態で、搬送テーブル１００の主面側から照明光ｙを当てＣＣＤカメラ（図示せず）で撮像していた。なお、電子部品１２０の上面には円形の方向識別マーク１２１が形成されている。また、１０５はベース、１０６はカバーガラスである。
【０００４】
しかしながら、図６に示した外観検査装置にあっては、図示しない吸着保持手段によって図６（Ａ）に示すように、凹部１０１の側面１０１ａ及びガイド部材１１０の側面１１０ａに接触した状態で吸着保持されている。従って、照明光ｙを当てた場合、凹部１０１の稜線部１０１ｂ及びガイド部材１１０の稜線部１１０ａによって照明光ｙの一部が遮られ、電子部品１２０の稜線部に光が届かずに、ＣＣＤカメラの撮像画像による外観選別に支障が生じていた。具体的には、図７に×印を付した部分の画像が不鮮明になる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開２００８−２４１５９６号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
そこで、本発明の目的は、電子部品の稜線部までも明瞭に撮像することのできる外観検査装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
前記目的を達成するため、本発明の一形態である外観検査装置は、
一方向に間欠的に回転駆動される搬送テーブルに形成された凹部に直方体形状の電子部品を１個ずつ収容し、該電子部品の外観を撮像して検査する外観検査装置において、
前記凹部は前記搬送テーブルの一主面及び外周面に開口しており、
前記凹部の前記一主面に対向する位置に撮像手段及び照明手段が配置され、
前記凹部の側面と前記一主面からなる切欠き状の稜線部に設けられた第１の傾斜面を有していること、
を特徴とする。
【０００８】
前記外観検査装置において、搬送テーブルの凹部に収容された電子部品に対して照明手段から光が照射される。凹部の側面と一主面からなる稜線部には第１の傾斜面が設けられているため、照明光は稜線部に遮られることなく電子部品の角部にまで隈なく届き、電子部品の表面が鮮明に撮像される。これにて、電子部品の外観を支障なく検査することが可能となる。
【発明の効果】
【０００９】
本発明によれば、電子部品の稜線部までも明瞭に撮像することができ、外観選別の精度が向上する。
【図面の簡単な説明】
【００１０】
【図１】外観検査装置の概略構成を示す平面図である。
【図２】第１実施例である外観検査装置の要部を示し、（Ａ）は平面図、（Ｂ）は（Ａ）のＸ１−Ｘ１断面図、（Ｃ）は（Ａ）のＸ２−Ｘ２断面図である。
【図３】電子部品に対する照明状態の説明図であり、（Ａ）は同軸落射照明を示し、（Ｂ）はリング照明を示す。
【図４】第２実施例である外観検査装置の要部を示し、（Ａ）は平面図、（Ｂ）は（Ａ）のＸ３−Ｘ３断面図、（Ｃ）は（Ａ）のＸ４−Ｘ４断面図である。
【図５】第３実施例である外観検査装置の要部を示し、（Ａ）は（Ｂ）のＸ５−Ｘ５断面図、（Ｂ）は裏面図、（Ｃ）は（Ｂ）のＸ６−Ｘ６断面図である。
【図６】従来の外観検査装置の要部を示し、（Ａ）は平面図、（Ｂ）は（Ａ）のＸ７−Ｘ７断面図、（Ｃ）は（Ａ）のＸ８−Ｘ８断面図である。
【図７】従来の外観検査装置における照明光の影を示す説明図である。
【発明を実施するための形態】
【００１１】
以下、本発明に係る電子部品の外観検査装置の実施例について添付図面を参照して説明する。なお、各図において、共通する部品、部分には同じ符号を付し、重複する説明は省略する。
【００１２】
（検査装置の概略構成、図１参照）
電子部品の特性を測定し、外観を検査する装置の一例につき、その概略を図１を参照して説明する。
【００１３】
この検査装置１は、図１に示すように、チップ型電子部品（ここでは、積層セラミックコンデンサを対象としている）をパーツフィーダ１０から、搬送テーブル２０に供給し、搬送テーブル２０が矢印ａ方向に間欠的に回転するに伴って、電子部品の電気特性を測定するとともに外観を検査し、不良品を取り除いた後、矢印ｂ方向に間欠的に搬送されるテープ５０の凹部５１に良品を１個ずつ収容するようにしたものである。
【００１４】
搬送テーブル２０は、円盤状をなし、その外周縁部に電子部品を１個ずつ収容する凹部２１を有し、該凹部２１の配置ピッチごとに矢印ａ方向に間欠的に回転しつつ供給ステーション４１で電子部品が収容される。搬送テーブル２０の外周面に対向して凹部２１の外周側を封止するための外周ガイド部材３０が、図１に斜線を付して示すように、テープ５０の搬送領域を除いて配置されている。
【００１５】
凹部２１に収容された電子部品はステーション４２で容量特性を測定され、ステーション４３で電圧特性を測定され、ステーション４４で外観を検査される。それぞれのステーション４２，４３，４４での測定／検査によって不良品と判別された電子部品は、外周ガイド部材３０に形成した取出し部３１から排除される。良品と判別された電子部品は、排出ステーション４５において搬送テーブル２０からテープ５０に受け渡される。また、排出ステーション４５を含めてテープ５０の表面を覆うように図示しないカバー部材が設けられている。
【００１６】
テープ５０は、前記凹部２１と同じピッチで電子部品を１個ずつ収容する凹部５１が形成されており、供給リール５２から繰り出されて矢印ｂ方向に搬送され、良品と判別された電子部品が排出ステーション４５にて凹部５１に収容される。電子部品を収容されたテープ５０の表面にはシールテープ５３が貼り付けられ、ヒータ５４で溶着された後、リール５５に巻きとられる。
【００１７】
なお、ステーション４２，４３での特性測定、検査や良否の判別手法などに関しては従来と同様であり、詳細な説明は省略し、以下に外観検査ステーション４４の構成に関して説明する。
【００１８】
（第１実施例、図２〜図３参照）
図２に示すように、搬送テーブル２０の下面側にはベース６０が配置され、上面側にはカバーガラス６１が配置されている。カバーガラス６１は、外観検査ステーション４４に対応した位置に窓部６１ａが形成されている。搬送テーブル２０の外周縁部に等ピッチで形成された凹部２１は、搬送テーブル２０の一主面（カバーガラス６１側の主面）及び外周面に開口しており、底部はベース６０によって塞がれ、外周面にはガイド部材３０の側面３０ａが近接して対向している。
【００１９】
また、ベース６０と外周ガイド部材３０の間には、電子部品１２０を凹部２１に吸着保持するための真空吸着手段６５が設置されている。この真空吸着手段６５は、電子部品１２０を凹部２１内において側面２１ａ及び外周ガイド部材３０の側面３０ａに接触させた状態で（図２（Ａ）参照）吸着保持する。凹部２１の側面２１ａと一主面からなる稜線部は切り欠かれた第１の斜面部２１ｂとされている。さらに、外周ガイド部材３０の側面３０ａと一主面からなる稜線部は切り欠かれた第２の傾斜面３０ｂとされている。
【００２０】
図２（Ｃ）に示すように、凹部２１の一主面に対向する位置に撮像手段であるＣＣＤカメラ７０及びリング照明器７５が配置されている。
【００２１】
搬送テーブル２０の凹部２１に１個ずつ収容されて外観検査ステーション４４に搬送された電子部品１２０は、搬送テーブル２０の回転が一旦停止されている間に、リング照明器７５からの照明光ｙを受けてＣＣＤカメラ７０にてその表面が撮像される。この画像は図示しないモニタ画面に映し出され、外観上の傷などの有無が判別される。このとき、電子部品１２０の稜線部であって側面２１ａ，３０ａに対向する部分は側面２１ａ，３０ａの稜線部が傾斜面２１ｂ，３０ｂとされているために、照明光ｙは電子部品１２０の稜線部にまで隈なく届き、電子部品１２０の表面が鮮明に撮像されることになる。これにて、電子部品１２０の外観を支障なく検査することが可能になる。
【００２２】
ところで、第１の傾斜面２１ｂは、搬送テーブル２０の回転方向ａに対して下流側に形成されている。これは、電子部品１２０を凹部２１内において回転方向ａの下流側の側面２１ａに当てて搬送するほうが上流側の側面２１ｃに当てて搬送するよりも搬送性が安定するからである。
【００２３】
また、電子部品１２０の角部は断面円弧形状に面取りされている。前記傾斜面２１ｂ，３０ｂの面積は、電子部品１２０の角部の面取り部分よりも広い面積であることが、照明光ｙを電子部品１２０の角部にまで効果的に照射することを保障するうえで好ましい。面積比でいえば、傾斜面２１ｂ，３０ｂの面積は、電子部品１２０の角部の面取り部分の面積よりも１０〜１００％広いことが好ましい。
【００２４】
図３（Ａ）に示すように、電子部品１２０の真上から垂直な照明（同軸落射照明）を当てれば、傾斜面２１ｂ，３０ｂが形成されていなくても撮像された画像に悪影響が出なくなるとも考えられる。しかし、電子部品１２０の角部は断面円弧状の面取り部１２０ａとされているため、同軸落射照明では面取り部１２０ａで光が正反射してしまい、結果的に電子部品１２０の角部の画像は不明瞭となる。
【００２５】
しかし、照明器７５によるリング照明やドーム照明は、図３（Ｂ）に示すように、様々な角度からの照明光ｙを放射するため、電子部品１２０の面取り部１２０ａでも様々な角度に反射する。それゆえ、照明光としては、同軸落射照明よりもリング照明やドーム照明が好ましい。
【００２６】
（第２実施例、図４参照）
第２実施例は、図４に示すように、電子部品１２０を凹部２１内で吸着保持するための手段として静電吸着手段６６を設けたものである。静電吸着手段６６は、電子部品１２０を凹部２１内において側面２１ａ及び外周ガイド部材３０の側面３０ａに接触させた状態で（図４（Ａ）参照）吸着保持する。その他の構成は前記第１実施例と同様である。従って、本第２実施例の作用効果は第１実施例と同様である。
【００２７】
（第３実施例、図５参照）
第３実施例は、図５に示すように、凹部２１を搬送テーブル２０の下面側に開口するように形成したもので、ベース６０に外観撮像のための窓部６０ａが形成されている。他の構成は前記第１実施例と同様である。従って、本第３実施例の作用効果は第１実施例と同様である。
【００２８】
（他の実施例）
なお、本発明に係る外観検査装置は前記実施例に限定するものではなく、その要旨の範囲内で種々に変更できる。特に、被検査対象物である電子部品は前記コンデンサに限らず、インダクタやフィルタ、複合部品などであってもよい。
【産業上の利用可能性】
【００２９】
以上のように、本発明は、電子部品の外観を撮像して検査する外観検査装置に有用であり、特に、電子部品の稜線部までも明瞭に撮像することができる点で優れている。
【符号の説明】
【００３０】
２０…搬送テーブル
２１…凹部
２１ａ…側面
２１ｂ…第１の傾斜面
３０…外周ガイド部材
３０ａ…側面
３０ｂ…第２の傾斜面
６５…真空吸着手段
６６…静電吸着手段
７０…ＣＣＤカメラ
７５…リング照明
１２０…電子部品
【技術分野】
【０００１】
本発明は、外観検査装置、特に、コンデンサなどの電子部品の外観を撮像して検査し、良否を判別するための外観検査装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
コンデンサやインダクタなどの電子部品は、製造工程の最終段階で、電気特性や外観を検査して良・不良を判別し、不良品を排除して良品のみをテーピングしている。外観検査は搬送テーブルの凹部に収容された電子部品に照明光を当てて撮像し、撮像された画像を観察して良否を判別していた。この種の外観検査装置としては特許文献１を挙げることができる。
【０００３】
この種の外観検査装置にあっては、図６に示すように、矢印ａ方向に回転する円盤状の搬送テーブル１００の外周縁部に形成した凹部１０１に電子部品１２０を収容し、かつ、ガイド部材１１０で外周部を封止した状態で、搬送テーブル１００の主面側から照明光ｙを当てＣＣＤカメラ（図示せず）で撮像していた。なお、電子部品１２０の上面には円形の方向識別マーク１２１が形成されている。また、１０５はベース、１０６はカバーガラスである。
【０００４】
しかしながら、図６に示した外観検査装置にあっては、図示しない吸着保持手段によって図６（Ａ）に示すように、凹部１０１の側面１０１ａ及びガイド部材１１０の側面１１０ａに接触した状態で吸着保持されている。従って、照明光ｙを当てた場合、凹部１０１の稜線部１０１ｂ及びガイド部材１１０の稜線部１１０ａによって照明光ｙの一部が遮られ、電子部品１２０の稜線部に光が届かずに、ＣＣＤカメラの撮像画像による外観選別に支障が生じていた。具体的には、図７に×印を付した部分の画像が不鮮明になる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開２００８−２４１５９６号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
そこで、本発明の目的は、電子部品の稜線部までも明瞭に撮像することのできる外観検査装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
前記目的を達成するため、本発明の一形態である外観検査装置は、
一方向に間欠的に回転駆動される搬送テーブルに形成された凹部に直方体形状の電子部品を１個ずつ収容し、該電子部品の外観を撮像して検査する外観検査装置において、
前記凹部は前記搬送テーブルの一主面及び外周面に開口しており、
前記凹部の前記一主面に対向する位置に撮像手段及び照明手段が配置され、
前記凹部の側面と前記一主面からなる切欠き状の稜線部に設けられた第１の傾斜面を有していること、
を特徴とする。
【０００８】
前記外観検査装置において、搬送テーブルの凹部に収容された電子部品に対して照明手段から光が照射される。凹部の側面と一主面からなる稜線部には第１の傾斜面が設けられているため、照明光は稜線部に遮られることなく電子部品の角部にまで隈なく届き、電子部品の表面が鮮明に撮像される。これにて、電子部品の外観を支障なく検査することが可能となる。
【発明の効果】
【０００９】
本発明によれば、電子部品の稜線部までも明瞭に撮像することができ、外観選別の精度が向上する。
【図面の簡単な説明】
【００１０】
【図１】外観検査装置の概略構成を示す平面図である。
【図２】第１実施例である外観検査装置の要部を示し、（Ａ）は平面図、（Ｂ）は（Ａ）のＸ１−Ｘ１断面図、（Ｃ）は（Ａ）のＸ２−Ｘ２断面図である。
【図３】電子部品に対する照明状態の説明図であり、（Ａ）は同軸落射照明を示し、（Ｂ）はリング照明を示す。
【図４】第２実施例である外観検査装置の要部を示し、（Ａ）は平面図、（Ｂ）は（Ａ）のＸ３−Ｘ３断面図、（Ｃ）は（Ａ）のＸ４−Ｘ４断面図である。
【図５】第３実施例である外観検査装置の要部を示し、（Ａ）は（Ｂ）のＸ５−Ｘ５断面図、（Ｂ）は裏面図、（Ｃ）は（Ｂ）のＸ６−Ｘ６断面図である。
【図６】従来の外観検査装置の要部を示し、（Ａ）は平面図、（Ｂ）は（Ａ）のＸ７−Ｘ７断面図、（Ｃ）は（Ａ）のＸ８−Ｘ８断面図である。
【図７】従来の外観検査装置における照明光の影を示す説明図である。
【発明を実施するための形態】
【００１１】
以下、本発明に係る電子部品の外観検査装置の実施例について添付図面を参照して説明する。なお、各図において、共通する部品、部分には同じ符号を付し、重複する説明は省略する。
【００１２】
（検査装置の概略構成、図１参照）
電子部品の特性を測定し、外観を検査する装置の一例につき、その概略を図１を参照して説明する。
【００１３】
この検査装置１は、図１に示すように、チップ型電子部品（ここでは、積層セラミックコンデンサを対象としている）をパーツフィーダ１０から、搬送テーブル２０に供給し、搬送テーブル２０が矢印ａ方向に間欠的に回転するに伴って、電子部品の電気特性を測定するとともに外観を検査し、不良品を取り除いた後、矢印ｂ方向に間欠的に搬送されるテープ５０の凹部５１に良品を１個ずつ収容するようにしたものである。
【００１４】
搬送テーブル２０は、円盤状をなし、その外周縁部に電子部品を１個ずつ収容する凹部２１を有し、該凹部２１の配置ピッチごとに矢印ａ方向に間欠的に回転しつつ供給ステーション４１で電子部品が収容される。搬送テーブル２０の外周面に対向して凹部２１の外周側を封止するための外周ガイド部材３０が、図１に斜線を付して示すように、テープ５０の搬送領域を除いて配置されている。
【００１５】
凹部２１に収容された電子部品はステーション４２で容量特性を測定され、ステーション４３で電圧特性を測定され、ステーション４４で外観を検査される。それぞれのステーション４２，４３，４４での測定／検査によって不良品と判別された電子部品は、外周ガイド部材３０に形成した取出し部３１から排除される。良品と判別された電子部品は、排出ステーション４５において搬送テーブル２０からテープ５０に受け渡される。また、排出ステーション４５を含めてテープ５０の表面を覆うように図示しないカバー部材が設けられている。
【００１６】
テープ５０は、前記凹部２１と同じピッチで電子部品を１個ずつ収容する凹部５１が形成されており、供給リール５２から繰り出されて矢印ｂ方向に搬送され、良品と判別された電子部品が排出ステーション４５にて凹部５１に収容される。電子部品を収容されたテープ５０の表面にはシールテープ５３が貼り付けられ、ヒータ５４で溶着された後、リール５５に巻きとられる。
【００１７】
なお、ステーション４２，４３での特性測定、検査や良否の判別手法などに関しては従来と同様であり、詳細な説明は省略し、以下に外観検査ステーション４４の構成に関して説明する。
【００１８】
（第１実施例、図２〜図３参照）
図２に示すように、搬送テーブル２０の下面側にはベース６０が配置され、上面側にはカバーガラス６１が配置されている。カバーガラス６１は、外観検査ステーション４４に対応した位置に窓部６１ａが形成されている。搬送テーブル２０の外周縁部に等ピッチで形成された凹部２１は、搬送テーブル２０の一主面（カバーガラス６１側の主面）及び外周面に開口しており、底部はベース６０によって塞がれ、外周面にはガイド部材３０の側面３０ａが近接して対向している。
【００１９】
また、ベース６０と外周ガイド部材３０の間には、電子部品１２０を凹部２１に吸着保持するための真空吸着手段６５が設置されている。この真空吸着手段６５は、電子部品１２０を凹部２１内において側面２１ａ及び外周ガイド部材３０の側面３０ａに接触させた状態で（図２（Ａ）参照）吸着保持する。凹部２１の側面２１ａと一主面からなる稜線部は切り欠かれた第１の斜面部２１ｂとされている。さらに、外周ガイド部材３０の側面３０ａと一主面からなる稜線部は切り欠かれた第２の傾斜面３０ｂとされている。
【００２０】
図２（Ｃ）に示すように、凹部２１の一主面に対向する位置に撮像手段であるＣＣＤカメラ７０及びリング照明器７５が配置されている。
【００２１】
搬送テーブル２０の凹部２１に１個ずつ収容されて外観検査ステーション４４に搬送された電子部品１２０は、搬送テーブル２０の回転が一旦停止されている間に、リング照明器７５からの照明光ｙを受けてＣＣＤカメラ７０にてその表面が撮像される。この画像は図示しないモニタ画面に映し出され、外観上の傷などの有無が判別される。このとき、電子部品１２０の稜線部であって側面２１ａ，３０ａに対向する部分は側面２１ａ，３０ａの稜線部が傾斜面２１ｂ，３０ｂとされているために、照明光ｙは電子部品１２０の稜線部にまで隈なく届き、電子部品１２０の表面が鮮明に撮像されることになる。これにて、電子部品１２０の外観を支障なく検査することが可能になる。
【００２２】
ところで、第１の傾斜面２１ｂは、搬送テーブル２０の回転方向ａに対して下流側に形成されている。これは、電子部品１２０を凹部２１内において回転方向ａの下流側の側面２１ａに当てて搬送するほうが上流側の側面２１ｃに当てて搬送するよりも搬送性が安定するからである。
【００２３】
また、電子部品１２０の角部は断面円弧形状に面取りされている。前記傾斜面２１ｂ，３０ｂの面積は、電子部品１２０の角部の面取り部分よりも広い面積であることが、照明光ｙを電子部品１２０の角部にまで効果的に照射することを保障するうえで好ましい。面積比でいえば、傾斜面２１ｂ，３０ｂの面積は、電子部品１２０の角部の面取り部分の面積よりも１０〜１００％広いことが好ましい。
【００２４】
図３（Ａ）に示すように、電子部品１２０の真上から垂直な照明（同軸落射照明）を当てれば、傾斜面２１ｂ，３０ｂが形成されていなくても撮像された画像に悪影響が出なくなるとも考えられる。しかし、電子部品１２０の角部は断面円弧状の面取り部１２０ａとされているため、同軸落射照明では面取り部１２０ａで光が正反射してしまい、結果的に電子部品１２０の角部の画像は不明瞭となる。
【００２５】
しかし、照明器７５によるリング照明やドーム照明は、図３（Ｂ）に示すように、様々な角度からの照明光ｙを放射するため、電子部品１２０の面取り部１２０ａでも様々な角度に反射する。それゆえ、照明光としては、同軸落射照明よりもリング照明やドーム照明が好ましい。
【００２６】
（第２実施例、図４参照）
第２実施例は、図４に示すように、電子部品１２０を凹部２１内で吸着保持するための手段として静電吸着手段６６を設けたものである。静電吸着手段６６は、電子部品１２０を凹部２１内において側面２１ａ及び外周ガイド部材３０の側面３０ａに接触させた状態で（図４（Ａ）参照）吸着保持する。その他の構成は前記第１実施例と同様である。従って、本第２実施例の作用効果は第１実施例と同様である。
【００２７】
（第３実施例、図５参照）
第３実施例は、図５に示すように、凹部２１を搬送テーブル２０の下面側に開口するように形成したもので、ベース６０に外観撮像のための窓部６０ａが形成されている。他の構成は前記第１実施例と同様である。従って、本第３実施例の作用効果は第１実施例と同様である。
【００２８】
（他の実施例）
なお、本発明に係る外観検査装置は前記実施例に限定するものではなく、その要旨の範囲内で種々に変更できる。特に、被検査対象物である電子部品は前記コンデンサに限らず、インダクタやフィルタ、複合部品などであってもよい。
【産業上の利用可能性】
【００２９】
以上のように、本発明は、電子部品の外観を撮像して検査する外観検査装置に有用であり、特に、電子部品の稜線部までも明瞭に撮像することができる点で優れている。
【符号の説明】
【００３０】
２０…搬送テーブル
２１…凹部
２１ａ…側面
２１ｂ…第１の傾斜面
３０…外周ガイド部材
３０ａ…側面
３０ｂ…第２の傾斜面
６５…真空吸着手段
６６…静電吸着手段
７０…ＣＣＤカメラ
７５…リング照明
１２０…電子部品
【特許請求の範囲】
【請求項１】
一方向に間欠的に回転駆動される搬送テーブルに形成された凹部に直方体形状の電子部品を１個ずつ収容し、該電子部品の外観を撮像して検査する外観検査装置において、
前記凹部は前記搬送テーブルの一主面及び外周面に開口しており、
前記凹部の前記一主面に対向する位置に撮像手段及び照明手段が配置され、
前記凹部の側面と前記一主面からなる切欠き状の稜線部に設けられた第１の傾斜面を有していること、
を特徴とする外観検査装置。
【請求項２】
前記搬送テーブルは円盤状をなし、その外周縁部に前記凹部が所定ピッチで形成され
前記凹部の外周面に対向する位置に側面を有し、前記搬送テーブルの一主面と同じ平面の一主面を有するガイド部材が配置され、
前記ガイド部材の側面と一主面からなる切欠き状の稜線部に設けられた第２の傾斜面を有していること、
を特徴とする請求項１に記載の外観検査装置。
【請求項３】
前記第１の傾斜面及び／又は前記第２の傾斜面は前記電子部品の角部の面取り部分よりも広い面積であること、を特徴とする請求項１又は請求項２に記載の外観検査装置。
【請求項４】
前記第１の傾斜面及び／又は前記第２の傾斜面は前記電子部品の角部の面取り部分よりも１０〜１００％広い面積であること、を特徴とする請求項３に記載の外観検査装置。
【請求項５】
前記第１の傾斜面は前記搬送テーブルの回転方向の下流側に形成されていること、を特徴とする請求項１ないし請求項４のいずれかに記載の外観検査装置。
【請求項６】
前記電子部品を前記凹部に吸着保持する吸着保持手段を備え、該吸着保持手段は前記電子部品を前記第１及び第２の傾斜面側に吸着保持すること、を特徴とする請求項２ないし請求項５のいずれかに記載の外観検査装置。
【請求項７】
前記吸着保持手段は真空吸着手段であること、を特徴とする請求項６に記載の外観検査装置。
【請求項８】
前記吸着保持手段は静電吸着手段であること、を特徴とする請求項６に記載の外観検査装置。
【請求項９】
前記照明手段はリング照明であること、を特徴とする請求項１ないし請求項８のいずれかに記載の外観検査装置。
【請求項１】
一方向に間欠的に回転駆動される搬送テーブルに形成された凹部に直方体形状の電子部品を１個ずつ収容し、該電子部品の外観を撮像して検査する外観検査装置において、
前記凹部は前記搬送テーブルの一主面及び外周面に開口しており、
前記凹部の前記一主面に対向する位置に撮像手段及び照明手段が配置され、
前記凹部の側面と前記一主面からなる切欠き状の稜線部に設けられた第１の傾斜面を有していること、
を特徴とする外観検査装置。
【請求項２】
前記搬送テーブルは円盤状をなし、その外周縁部に前記凹部が所定ピッチで形成され
前記凹部の外周面に対向する位置に側面を有し、前記搬送テーブルの一主面と同じ平面の一主面を有するガイド部材が配置され、
前記ガイド部材の側面と一主面からなる切欠き状の稜線部に設けられた第２の傾斜面を有していること、
を特徴とする請求項１に記載の外観検査装置。
【請求項３】
前記第１の傾斜面及び／又は前記第２の傾斜面は前記電子部品の角部の面取り部分よりも広い面積であること、を特徴とする請求項１又は請求項２に記載の外観検査装置。
【請求項４】
前記第１の傾斜面及び／又は前記第２の傾斜面は前記電子部品の角部の面取り部分よりも１０〜１００％広い面積であること、を特徴とする請求項３に記載の外観検査装置。
【請求項５】
前記第１の傾斜面は前記搬送テーブルの回転方向の下流側に形成されていること、を特徴とする請求項１ないし請求項４のいずれかに記載の外観検査装置。
【請求項６】
前記電子部品を前記凹部に吸着保持する吸着保持手段を備え、該吸着保持手段は前記電子部品を前記第１及び第２の傾斜面側に吸着保持すること、を特徴とする請求項２ないし請求項５のいずれかに記載の外観検査装置。
【請求項７】
前記吸着保持手段は真空吸着手段であること、を特徴とする請求項６に記載の外観検査装置。
【請求項８】
前記吸着保持手段は静電吸着手段であること、を特徴とする請求項６に記載の外観検査装置。
【請求項９】
前記照明手段はリング照明であること、を特徴とする請求項１ないし請求項８のいずれかに記載の外観検査装置。
【図１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【公開番号】特開２０１１−２３２０４０（Ｐ２０１１−２３２０４０Ａ）
【公開日】平成２３年１１月１７日（２０１１．１１．１７）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２０１０−９９８９６（Ｐ２０１０−９９８９６）
【出願日】平成２２年４月２３日（２０１０．４．２３）
【出願人】（０００００６２３１）株式会社村田製作所 (3,635)
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成２３年１１月１７日（２０１１．１１．１７）
【国際特許分類】
【出願日】平成２２年４月２３日（２０１０．４．２３）
【出願人】（０００００６２３１）株式会社村田製作所 (3,635)
【Ｆターム（参考）】
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