説明

放射線測定装置

【課題】指示値(計数率または放射線量)上昇の原因が放射線の増加によるものかノイズの影響によるものかを、正確且つ迅速に判断することが可能な放射線測定装置を得る。
【解決手段】波形分析器4のノイズ判定ロジック41は、逆極性波高過大判定ロジック411、パルス幅異常判定ロジック412、アンダーシュート不足判定ロジック413、波高過大判定ロジック414を含み、各判定ロジックによるノイズ判定結果をb1〜b4の各カウンタ416〜419により個別に計数する。その計数値に基づいて演算器5は個別ノイズ混入率を求め、表示器7は指示値と共に個別ノイズ混入率、ノイズ波形の特徴から推定されるノイズ発生箇所及びノイズ要因等を表示する。これにより、指示値上昇の原因が放射線の増加によるものかノイズの影響によるものか、さらにノイズが放射線検出器1の異常によるものか外来ノイズによるものかを正確且つ迅速に判断することができる。

【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明は、原子炉施設、使用済燃料再処理施設等で使用される放射線測定装置に関するものである。
【背景技術】
【0002】
従来の放射線測定装置には、放射線を検出してアナログパルスを出力する放射線検出器と、アナログパルスを入力して所定の波高値範囲内のものを弁別する波高弁別器と、波形を弁別して信号パルスからノイズパルスを除去するノイズ除去回路を備え、アナログパルス毎にノイズ波形判定結果(波形情報)を記憶し、必要に応じてノイズ発生要因の解析を行うものがあった。
【0003】
例えば特許文献1では、ノイズ除去手段として、波高弁別器を通過したパルス信号の波形を1つずつ解析し、正常なパルス信号のみを通過させる単一のADコンバータを備えたパルス信号検出装置が提示されている。この例では、ADコンバータは、有害ノイズの種類を識別するための波形情報を演算器に入力し、演算器は、有害ノイズの侵入があった場合でも、波高弁別器を介してノイズを除去したパルス信号の計数値に基づいてパルス計数率を演算するものである。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0004】
【特許文献1】特開2003−28963号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0005】
従来の放射線測定装置におけるノイズ除去回路は、ノイズ波形として、最大波高値が測定対象上限レベルを超過しているものを「波高過大」、最小波高値が逆極性の基準レベルを超過しているものを「逆極性波高過大」、パルス幅が所定の範囲外のものを「パルス幅異常」と識別し、それらのノイズ波形のものをパルス信号から除去していた。
【0006】
しかし、波形のアンダーシュートが基準レベル以下に到達してないものについては、ノイズ波形として識別していなかった。この「アンダーシュート不足」の波形は、放射線検出器内のHV信号重畳ラインの不具合に起因するノイズに特有の波形であり、放射線検出器内ノイズの代表的なものである。このため、従来の放射線測定装置では、表示器の指示値(計数率または放射線量)が上昇した場合に、放射線の増加によるものかノイズの影響によるものかという判断が難しく、信頼性が不十分であった。
【0007】
本発明は上記の課題を解消するためになされたものであり、指示値(計数率または放射線量)上昇の原因が放射線の増加によるものかノイズの影響によるものかを、正確且つ迅速に判断することが可能な放射線測定装置を得ることを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【0008】
本発明に係る放射線測定装置は、放射線を検出してアナログパルスを出力する放射線検出手段と、該アナログパルスを入力して所定の波高レベル以上のものについて波形を測定し波形データを出力する波形測定手段と、波形測定手段から入力した波形データを分析し、所定の波高範囲条件を満たす波形のパルスaを計数した計数値Aと、ノイズ波形のパルスbを計数した計数値Bを出力する波形分析手段と、計数値A及び計数値Bを定周期で入力し、該計数値Aに基づく計数率mと放射線量p(A)を求めると共に、計数値A及び計数値Bの所定数の演算周期の移動平均値であるA´及びB´からノイズ混入率B´/A´を求める演算手段と、演算手段から出力された計数率m及び放射線量p(A)の少なくとも一つを表示すると共に、必要に応じてノイズ混入率を表示する表示手段を備え、波形分析手段は、入力された波形データの中からノイズ波形の特徴を有するものを識別するノイズ判定手段を有し、ノイズ判定手段は、波高が逆極性に所定のレベルを逸脱した部分を有する波形を識別する逆極性波高過大判定手段と、パルス幅が所定の範囲を逸脱した波形を識別するパルス幅異常判定手段と、パルスの立下りのアンダーシュートが逆極性の所定範囲に至らない波形を識別するアンダーシュート不足判定手段と、波高が所定のレベルを超えた波形を識別する波高過大判定手段を含むものである。
【発明の効果】
【0009】
本発明に係る放射線測定装置によれば、波形分析手段のノイズ判定手段に、逆極性波高過大判定手段、パルス幅異常判定手段、アンダーシュート不足判定手段、及び波高過大判定手段を備えているので、従来は識別できなかった放射線検出器内のノイズに特有のノイズ波形を識別してこれらを計数することができ、信頼性の高いノイズ混入率を求めることができる。また、必要に応じて表示手段にノイズ混入率を表示することができるため、表示手段に表示された計数率mまたは放射線量p(A)の上昇の原因が、放射線の増加によるものかノイズの影響によるものかを、正確且つ迅速に判断することが可能である。
【図面の簡単な説明】
【0010】
【図1】本発明の実施の形態1に係る放射線測定装置の構成を示すブロック図である。
【図2】本発明の実施の形態1に係る放射線測定装置の波形分析器により識別される波形の種類を説明する図である。
【図3】本発明の実施の形態2に係る放射線測定装置の演算器の動作を示す図である。
【図4】本発明の実施の形態3に係る放射線測定装置の構成を示すブロック図である。
【図5】本発明の実施の形態3に係る放射線測定装置の表示器における表示例を示す図である。
【図6】本発明の実施の形態4に係る放射線測定装置の構成を示すブロック図である。
【図7】本発明の実施の形態5に係る放射線測定装置の構成を示すブロック図である。
【図8】本発明の実施の形態5に係る放射線測定装置の演算器の動作を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【0011】
実施の形態1.
以下に、本発明の実施の形態1に係る放射線測定装置について、図面に基づいて説明する。図1は、本実施の形態1に係る放射線測定装置の構成を示している。本実施の形態1に係る放射線測定装置は、原子炉施設、使用済燃料再処理施設等において放射線量を監視するために使用される放射線測定装置であり、図1に示すように、放射線検出器1、パルス増幅器2、高速ADコンデンサ3、波形分析器4、演算器5、メモリ6及び表示器7を含んで構成される。
【0012】
放射線検出手段である放射線検出器1は、放射線を検出してアナログパルスを出力し、パルス増幅器2は放射線検出器1により出力されたアナログパルスの波高を増幅して出力する。波形測定手段である高速ADコンデンサ3(以下、高速ADC3と記す)は、放射線検出器1から出力されパルス増幅器2で増幅されたアナログパルスを入力し、アナログ
パルスの波形を測定し、波形データを出力する。
【0013】
高速ADC3は、時分割で電圧を測定し、所定数の電圧データを常に最新化してパッケージとして保管する。最新の電圧データがトリガレベル以上になった時点からの所定時間と、該トリガレベル直前の所定時間を合わせた期間における時系列的に並べられた電圧データを、当該アナログパルスの波形データとして出力する。なお、高速ADC3のトリガレベルは、例えば信号波形としての下限レベルに設定される。
【0014】
波形分析手段である波形分析器4は、高速ADC3から入力した波形データを分析し、所定の波高範囲条件を満たす波形のパルスaを計数した計数値Aと、ノイズ波形のパルスbを計数した計数値Bを出力する。また、ノイズ判定手段であるノイズ判定ロジック41は、入力された波形データを、最大波高値、最小波高値、及びパルス幅について分析し、ノイズ波形の特徴を有するものを識別する。
【0015】
ノイズ判定ロジック41には、逆極性波高過大判定手段である逆極性波高過大判定ロジック411(以下、b1判定ロジック411と称す)、パルス幅異常判定手段であるパルス幅異常判定ロジック412(以下、b2判定ロジック412と称す)、アンダーシュート不足判定手段であるアンダーシュート不足判定ロジック413(以下、b3判定ロジック413と称す)、及び波高過大判定手段である波高過大判定ロジック414(以下、b4判定ロジック414と称す)と、ORロジック415が含まれる。ORロジック415は、b1〜b4の各判定ロジック411〜414のいずれかから入力があった場合に、デジタルパルスbを出力する。
【0016】
ノイズ判定ロジック41は、b1〜b4の各判定ロジック411〜414による判定を順次行い、全ての判定の実行が終了した場合、またはORロジック415から出力があった場合にリセットされる。なお、本実施の形態1では、b1〜b4の各判定ロジック411〜414の判定順序は特に規定していない。
【0017】
波高a判定ロジック42は、個々の波形データの最大波高値データが所定の波高条件を満たす場合に、波高範囲内と判定してデジタルパルスaを出力する。第1のカウンタ43は、ノイズ判定に対応してデジタルパルスbを計数し、定周期で計数値Bを出力する。また、第2のカウンタ44は波高範囲内判定に対応してデジタルパルスaを計数し、定周期で計数値Aを出力する。
【0018】
演算手段である演算器5は、定周期で計数値A及び計数値Bを入力し、計数値Aに基づいて計数率を求め、この計数率を工学値変換した放射線量p(A)を出力する。積算値をM、計数率をm、標準偏差をσ、時定数をτ、定数γ、定数λ、定数αとした時、それらの関係は以下の式1〜式5のようになる。
【0019】
σ=1/(2mτ)1/2・・・(式1)
τ=1/(2mσ)・・・(式2)
m=eγM=2γM/ln2・・・(式3)
γ=2σ=1/(mτ)=2−λln2・・・(式4)
α=11−λ・・・(式5)
【0020】
従って、今回の計数値をA(今回)、今回の積算値をM(今回)、前回の積算値をM(前回)、定周期時間をΔTとして、定周期毎に以下の式6及び式7を計算することにより、今回の計数率m(今回)を求めることができる。なお、αは、積算の重み付け定数で、例えばσ=0.013の場合はα=0、σ=0.026の場合はα=2、σ=0.052の場合はα=4、σ=0.014の場合はα=6となる。
【0021】
M(今回)=M(前回)+2α×{A(今回)−m(前回)×ΔT}・・・(式6)
m(今回)=eγM(今回)=2γM(今回)/In2・・・(式7)
【0022】
また、演算器5は、放射線量p(A)に基づいて警報判定を行い、放射線量p(A)が所定のレベル以上の場合には警報を出力する。さらに、計数値A及び計数値Bについての所定数の演算周期の移動平均値を求めてそれぞれA´及びB´とし、A´に対するB´の比B´/A´をノイズ混入率として求める。
【0023】
メモリ6は、放射線量p(A)、警報、ノイズ混入率等を必要数格納する。表示手段である表示器7は、常時、計数率m(今回)を表示し、演算器5から警報が出力された際には計数率m(今回)と共に警報を表示する。さらに、必要に応じて警報発生時及びその前後のノイズ混入率を表示することができる。
【0024】
次に、波形分析器4のノイズ判定ロジック41において識別される各ノイズ波形の特徴について、図2を用いて説明する。図2において、(a)は正規の信号波形、すなわち放射線による信号波形である。この正規の信号波形(a)を基準とし、これに対するノイズパルスの特徴を判定基準としてノイズ判定が行われる。
【0025】
図2において、(b1−1)及び(b1−2)の波形は、最小波高値が逆極性の基準レベルを超過しているもので、これらはb1判定ロジック411により逆極性波高過大と判定される。また、(b2−1)の波形は、パルス幅が所定の範囲以下のものであり、(b2−2)は、パルス幅が所定の範囲以上のもので、これらはb2判定ロジック412によりパルス幅異常と判定される。これらb1、b2の波形はいずれも経験的に、放射線検出器1または図示しない測定部、伝送部、電源入力、接地線に外部から進入する外来ノイズの可能性が大きい。なお、b2とb1両方の特徴を有する場合も考えられる。
【0026】
また、(b3)の波形は、アンダーシュートが基準レベル以下に到達してないもので、b3判定ロジック413によりアンダーシュート不足と判定される。このb3の波形は、波高の大小に関係なく、放射線検出器1のHV信号重畳ラインの不具合に起因するノイズに特有のものである。
【0027】
放射線検出器1の放射線センサに放射線が作用すると、放射線検出器1に印加しているバイアス電圧に放射線センサの信号パルスが電流変化として重畳される。この信号パルス電流はコンデンサでDCカットされ、内蔵のプリアンプで電圧パルスに変換されて放射線検出器1から出力される。このプリアンプの前段のHV信号重畳ラインの不具合に起因するノイズとして、絶縁不良による暗流放電ノイズ、断線(半断線)により発生する接断ノイズ、及び絶縁物剥離により発生する電荷移動ノイズがあるが、b3はこれらに共通する波形であり、放射線検出器1内ノイズの代表的なものである。
【0028】
さらに、(b4)の波形は、最大波高値が信号波形上限レベルを超過しているもので、b4判定ロジック414により波高過大と判定される。このb4の波形は、放射線検出器1内部の絶縁物の擦れ、割れにより発生する静電気放電光が放射線センサに入射することによる静電気放電光ノイズに特有な波形である。b4のようなノイズ波形は、形は正規の信号と同じで波高値のみが過大であり、アンダーシュート不足の特徴を有していないので、b3の波形とは明確な違いがある。
【0029】
なお、本実施の形態1では、波形分析器4において、b1〜b4の各判定ロジック411〜414の判定順序は任意であり、各判定ロジック411〜414は、回路で実現してもS/Wで実現してもよい。また、演算器5の出力及び警報判定に用いる数値、さらに表示器7に表示される指示値は、計数率m(今回)、放射線量p(A)のどちらでもよい。表示器7は、演算器5から出力された計数率m及び放射線量p(A)の少なくとも一つを表示すると共に、必要に応じてノイズ混入率を表示する。
【0030】
このように、本実施の形態1によれば、従来の放射線測定装置では識別できなかったHV信号重畳ラインの不具合に起因する暗流放電ノイズ、接断ノイズノイズ、電荷移動ノイズに共通するアンダーシュート不足(b3)の波形を識別し、これらをノイズ波形としてカウントすることができるため、信頼性の高いノイズ混入率を求めることができる。
【0031】
また、必要に応じて表示器7にノイズ混入率を表示することができるため、表示器7に表示された指示値(計数率mまたは放射線量p(A))の上昇の原因が、放射線の増加によるものかノイズの影響によるものかを、正確且つ迅速に判断することができる。これらのことから、信頼性の高い放射線測定装置が得られる。
【0032】
実施の形態2.
本発明の実施の形態2に係る放射線測定装置の構成は、上記実施の形態1と同様であるので図1を流用して説明する。本実施の形態2では、今回ノイズ混入率が所定の値以上であった場合に、一過性のノイズであるかどうかを確認し、一過性のノイズによる指示値(計数率または放射線量)上昇を抑制するものである。
【0033】
本実施の形態2における演算器5は、ノイズ混入率が所定の値以上の場合にノイズ侵入有りと判断してノイズ侵入累計回数を確認し、該回数が所定の値以下の場合には一過性のノイズであると判断し、前回演算周期の計数値Aに基づく放射線量p(前回A)を出力する。また、該回数が所定の値よりも大きい場合には、一過性のノイズではないと判断し、今回演算周期の計数値Aに基づく放射線量p(今回A)を出力する。
【0034】
次に、本実施の形態2に係る放射線測定装置の演算器5の動作について、図3のフローチャートを用いて説明する。図3中、Sで始まる数字は演算処理の順番(ステップ)を示している。まず、ステップ1(S1)において、演算器5は、メモリ6から今回計数値A、今回ノイズ混入率B´/A´、前回演算周期の放射線量p(前回A)出力を読み込む。続いてステップ2(S2)において、今回計数値Aに基づき今回演算周期の放射線量p(今回A)を求める。
【0035】
次に、ステップ3(S3)において、今回ノイズ混入率B´/A´が、予め設定された所定の値k以上であるか否かを判定する。S3において、今回ノイズ混入率がk以上の場合(YES)、ステップ4(S4)に進み、ノイズ侵入累積回数が予め設定された所定の値u以下であるか否かを判定する。S4において、ノイズ侵入累積回数がu以下の場合(
YES)、ステップ5(S5)に進み、ノイズ侵入累積回数に1を加算する。
【0036】
続いてステップ6(S6)に進み、今回出力として、S1で取得した前回演算周期の放射線量出力を採用する。ここでは、S3において今回ノイズ混入率B´/A´が所定の値k以上であったのは、一過性のノイズによるものであると判断している。
【0037】
一方、S3において今回ノイズ混入率がkより小さい場合(NO)は、ステップ7(S7)に進み、今回出力として今回計数値Aに基づく放射線量p(今回A)を採用する。ここでは、今回出力は一過性のノイズに影響されているものではなく、放射線量によるものであると判断している。
【0038】
また、S4において、ノイズ侵入累積回数がuより大きい場合(NO)にも、S7に進み、今回出力として今回計数値Aに基づく放射線量p(今回A)を採用する。ここでは、
S3において今回ノイズ混入率B´/A´が所定の値k以上であったのは、一過性のノイズによるものではなく、放射線検出器1の故障等に起因する継続的なノイズであると判断している。
【0039】
S6、S7の処理実行後は、ステップ8(S8)に進み、所定の演算処理を実行し、S1に戻る。なお、S4におけるノイズ侵入累積回数は、S3において今回ノイズ混入率がk以上となってからの継続期間について1回とみなしてもよい。また、一過性のノイズと判断したノイズについても、メモリ6に残された記録を定期的に点検することができるた
め、放射線測定装置の耐ノイズ性評価を行うことができる。
【0040】
本実施の形態2によれば、上記実施の形態1と同様の効果に加え、今回ノイズ混入率が所定の値以上の場合に、これが一過性のノイズであるかどうかをノイズ侵入累積回数により確認し、一過性のノイズであると判断した場合には、前回演算周期の放射線量出力を採用するようにしたので、一過性のノイズによる指示値上昇を抑制することができる。
【0041】
実施の形態3.
図4は、本発明の実施の形態3に係る放射線測定装置の構成を示している。なお、図4中、図1と同一部分には同一符号を付し説明を省略する。上記実施の形態1では、高速ADC3から出力されたアナログパルスの波形データを、波形分析器4のノイズ判定ロジック41において、b1〜b4の各判定ロジック411〜414の判定順序を特に規定せずにノイズ判定し、ORロジック415でOR処理を行った。
【0042】
これに対し、本実施の形態3では、ノイズ判定ロジック41において、b1判定ロジック411、b2判定ロジック412、b3判定ロジック413、b4判定ロジック414の順にノイズ判定を行い、最初にノイズと判定した判定ロジックに対応したノイズとして計数するものである。すなわち、各b1〜b4の各判定ロジック411〜414による判定結果は、それぞれ個別のカウンタで計数される。
【0043】
具体的には、b1判定ロジック411によりノイズと判定されたパルスを、逆極性波高過大カウンタ416(以下、b1カウンタ416)で計数する。また、b2判定ロジック412によりノイズと判定されたパルスを、パルス幅異常カウンタ417(以下、b2カウンタ417)で計数する。同様に、b3判定ロジック413によりノイズと判定されたパルスを、アンダーシュート不足カウンタ418(以下、b3カウンタ418)で計数し、b4判定ロジック414でノイズと判定されたパルスを、波高過大カウンタ419(以下、b4カウンタ419)で計数する。なお、b1〜b4の各判定ロジック411〜414によるノイズ判定の順序は、b2、b1、b3、b4としても良い。
【0044】
これらb1〜b4の各カウンタ416〜419からそれぞれ出力された計数値B1、B2、B3、B4は、定周期で演算器5に入力される。演算器5は、入力された計数値B1、B2、B3、B4に対し、それぞれ所定数の演算周期の移動平均値を求めてB1´、B2´、B3´、B4´とし、計数値Aに対するそれぞれの個別の比、すなわち個別ノイズ混入率B1´/A、B2´/A、B3´/A、B4´/Aを求める。
【0045】
また、本実施の形態3において、表示器7は、指示値(計数率または放射線量)及びノイズ混入率に加え、必要に応じてノイズ波形の特徴、個別ノイズ混入率、推定されるノイズ発生箇所、ノイズの要因等を表示することができる。
【0046】
本実施の形態3に係る放射線測定装置の表示器7における表示例を図5に示す。図5に示す例では、指示値(200cpm)、ノイズ混入率(50%)、ノイズの特徴、個別ノイズ混入率、ノイズ箇所、及びノイズ要因が表示されている。ノイズの特徴が「アンダー
シュート不足」及び「波高過大」の場合は、ノイズ箇所は「放射線検出器」と表示される。また、「アンダーシュート不足」のノイズ要因として、HV信号ライン絶縁不良(暗流放電ノイズ)、HV信号ライン断線(接断ノイズ)、HV信号ライン絶縁物剥離(電荷移動ノイズ)と表示される。また、「波高過大」のノイズ要因として、絶縁物の擦れ、割れ(静電気放電光ノイズ)と表示される。
【0047】
また、ノイズの特徴が「逆極性波高過大」及び「パルス幅異常」の場合は、ノイズ箇所は「放射線検出器、測定部、伝送部、電源入力、接地線」と表示され、ノイズ要因として「外来ノイズ」と表示される。
【0048】
従来の放射線測定装置では、表示器は、ノイズ波形の特徴や推定されるノイズ発生箇所、要因等を指示値に対応させて表示していなかったので、ノイズが放射線検出器の異常によるものか外来ノイズによるものかを即座に判断することができず、指示値上昇の原因を特定するための調査に時間を要していた。
【0049】
これに対し、本実施の形態3によれば、波形分析器4のノイズ判定ロジック41において、b1〜b4の各判定ロジック411〜414によるノイズ判定結果を、b1〜b4の各カウンタ416〜419により個別にカウントして個別ノイズ混入率を求め、この個別ノイズ混入率と、ノイズ波形の特徴から推定されるノイズ発生箇所及び要因等を表示器7に表示するようにしたので、指示値上昇の原因が放射線の増加によるものかノイズの影響によるものか、さらに、ノイズが放射線検出器1の異常によるものか外来ノイズによるものかを、正確且つ迅速に判断することが可能である。
【0050】
これにより、放射線検出器1の異常の場合には備品交換等の対応を迅速に行うことができるため、短時間での復旧が可能となり、欠測時間を短くすることができる。また、ノイズ波形の特徴に対応したノイズ要因が表示されるので、復旧後の本質原因の調査を効率良く実施することができ、信頼性、保守性の高い放射線測定装置が得られる。
【0051】
実施の形態4.
図6は、本発明の実施の形態4に係る放射線測定装置の構成を示している。なお、図6中、図4と同一部分には同一符号を付し説明を省略する。上記実施の形態3では、波形分析器4のノイズ判定ロジック41において、b1、b2、b3、b4(あるいはb2、b1、b3、b4)の各判定ロジックの順にノイズ判定を行い、それぞれのノイズ判定結果をb1〜b4の各カウンタ416〜419により個別にカウントするようにした。
【0052】
これに対し、本実施の形態4では、図6に示すように、b1〜b4の各判定ロジック411〜414によるノイズ判定を並行して行い、複数の判定ロジックにおいてノイズと判定された場合には、優先順位の高い判定ロジックの判定を採用するものである。各判定ロジック411〜414の優先順位は、高い方からb4判定ロジック414、b3判定ロジック413、b2判定ロジック412、b1判定ロジック411(すなわちb4>b3>b2>b1)である。なお、優先順位は、b2判定ロジック412とb1判定ロジック411を入れ替えてもよい(すなわちb4>b3>b1>b2)。
【0053】
各判定ロジック411〜414の判定結果は、ORロジック415においてb4、b3、b2、b1(またはb4、b3、b1、b2)の順にチェックされ、最初に該当したものでノイズ波形を代表させることになる。それぞれのノイズ判定結果は、上記実施の形態3と同様に、b1〜b4の各カウンタ416〜419により個別にカウントされる。
【0054】
本実施の形態4において、各判定ロジック411〜414によるノイズ判定結果のチェック順序をb4、b3、b2、b1(またはb4、b3、b1、b2)とした理由について説明する。上記実施の形態1で説明したように、ノイズは、機器故障に関係する器内ノイズと、電源ラインを含めて外部から侵入する外来ノイズ(主にb1、b2)に大別される。
【0055】
経験的に、器内ノイズとして代表的なb3、b4が存在する場合は、b1、b2と混在することはなく、機器故障に関係する器内ノイズであることが明確である。これに対し、b1、b2が存在するときには、それらが複合されてb3、b4が生成され、混在することがある。このため、原因が明確なb4(あるいはb3)を優先してチェックすることにより、正確なカウントが行えるものである。
【0056】
なお、本実施の形態4においても、上記実施の形態3と同様に、表示器7は、指示値(計数率または放射線量)及びノイズ混入率に加え、必要に応じてノイズ波形の特徴、個別ノイズ混入率、推定されるノイズ発生箇所、ノイズの要因等を表示することができる。
【0057】
本実施の形態4によれば、上記実施の形態3と同様の効果が得られ、さらに、上記実施の形態3よりも演算速度が上がる効果がある。
【0058】
実施の形態5.
図7は、本発明の実施の形態5に係る放射線測定装置の構成を示している。なお、図7中、図1と同一部分には同一符号を付し説明を省略する。本実施の形態5に係る放射線測定装置は、上記実施の形態1と同様の構成(図1)に加え、波形分析器4に、加算入力451と減算入力452を有するアップダウンカウンタ45と、周波数合成器(回路)46及び積算制御器(回路)47を備えたものである。
【0059】
上記実施の形態1では、波形分析器4の波高判定ロジック42から所定の波高条件を満たすデジタルパルスaを出力し、これを定周期で計数した今回計数値Aを、演算器5で標準偏差が一定になるように演算し、計数率m(今回)を求めた。
【0060】
これに対し、本実施の形態5では、第1のカウンタ43により計数されたノイズ波形のデジタルパルスbを、所定の重み付けを行ってアップダウンカウンタ45の加算入力451に入力し加算計数する。また、積算値Mに対応した繰り返し周波数のフィードバックパルス(負帰還パルス)を所定の重み付けを行ってアップダウンカウンタ45の減算入力452に入力し減算計数する。
【0061】
周波数合成器46は、演算器5から積算値Mを入力し、積算値Mに基づき演算器5のクロックパルスを入力し、分周・周波数合成してフィードバックパルスを生成する。積算制御器47は、上記実施の形態1に示した式5に基づき、アップダウンカウンタ45が計数する時に、例えば、σ=0.026の時は2α=2=4の重み付けを行い、σ=0.052の時は2α=2=16の重み付けを行う。
【0062】
演算器5は、アップダウンカウンタ45から出力された積算値Mを入力し、この積算値Mに基づいて、上記実施の形態1に示した式3により計数率mを求め、放射線量p(M)を求める。以下の式31は、式3を変形したものであり、標準偏差σ、定数γ=2σとした時の積算値Mと計数率mの関係を示している。
M=(1/γ)ln(m)・・・(式31)
【0063】
演算器5は、正規の出力として今回積算値Mに基づく放射線量p(今回M)を演算し、バックアップの出力として今回計数値Aに基づく放射線量p(今回A)を演算する。通常は正規出力である放射線量p(今回M)を出力し、ノイズ混入率が所定の値以上の場合には、ノイズ侵入有り(影響有り)と判断してこれまでのノイズ侵入累積回数を確認し、該
回数が所定の値になるまで、前回演算周期の放射線量p(前回M)を出力する。なお、ノイズ侵入累積回数とは、ノイズ混入率が所定の値以上でありノイズの影響が有ると判断された回数である。
【0064】
また、所定数の演算周期内でノイズの影響なしと判断された場合、放射線量p(今回M)が放射線量p(今回A)と同等レベルに復帰するまでの間は、放射線量p(今回A)を出力する。その後、放射線量p(今回M)が放射線量p(今回A)と同等レベルに復帰したことを確認し、放射線量p(今回M)を出力する。
【0065】
本実施の形態5に係る放射線測定装置における演算器5の動作について、図8のフローチャートを用いて説明する。まず、ステップ11(S11)において、演算器5は、メモリ6から今回計数値A、今回積算値M、今回ノイズ混入率B´/A´、前回演算周期の放射線量p(前回M)を読み込む。続いてステップ12(S12)において、今回積算値Mに基づき今回演算周期の放射線量p(今回M)を求める。
【0066】
次に、ステップ13(S13)において、今回ノイズ混入率B´/A´が、予め設定された所定の値k以上であるか否かを判定する。S13において、今回ノイズ混入率がk以上の場合(YES)、ステップ14(S14)に進み、ノイズ侵入累積回数が予め設定された所定の値u以下であるか否かを判定する。S14において、ノイズ侵入累積回数がu
以下の場合(YES)、ステップ15(S15)に進み、ノイズ侵入累積回数に1を加算する。
【0067】
続いてステップ16(S16)に進み、ノイズ侵入継続回数が予め設定された所定の値w以下であるか否かを判定する。ノイズ侵入継続回数とは、ノイズの影響有りと判断された期間が所定期間継続した回数である。S16において、ノイズ侵入継続回数がw以下の場合(YES)、ステップ17(S17)に進み、ノイズ侵入継続回数に1を加算する。続いて、ステップ18(S18)において、今回出力として、S1で取得した前回演算周期の放射線量p(前回M)を採用する。ここでは、S13において今回ノイズ混入率B´/A´が所定の値k以上であったのは、一過性のノイズによるものであると判断し、指示値に反映させないようにしている。
【0068】
一方、S13において今回ノイズ混入率がkより小さい場合(NO)、すなわちノイズの影響がないと判断された場合、ステップ19(S19)に進み、ノイズ侵入継続回数が1以上かどうかを確認する。S19において、ノイズ侵入継続回数が1以上の場合(YES)、ノイズ侵入の影響で正規の高速動作の計数率が復帰していない可能性があるため、ステップ20(S20)において今回計数値Aに基づく計数率演算により放射線量p(今回A)を求める(バックアップ)。
【0069】
続いて、ステップ21(S21)において、放射線量p(今回M)/放射線量p(今回A)が所定の値(ここでは1+3σ)以下であるかどうかを判定する。所定の値より大きい場合(NO)には、ノイズ侵入により正規の高速動作の計数率が復帰していないものと判断し、ステップ22(S22)に進み、S20で求めた計数値Aに基づく放射線量p(今回A)を採用する。
【0070】
一方、S21において、放射線量p(今回M)/放射線量p(今回A)が所定の値以下の場合(YES)、正規の高速動作の計数率が復帰したと判断し、ステップ23(S23)に進み、ノイズ侵入継続回数をリセットする。さらに、ステップ24(S24)に進み、今回出力として正規の出力である放射線量p(今回M)を採用する。
【0071】
また、S14においてノイズ侵入累積回数がuより大きい場合(NO)、及び、S16
においてノイズ侵入継続回数がwより大きい場合(NO)には、一過性のノイズではないと判断し、S24に進み、今回出力として正規の出力である放射線量p(今回M)を採用する。S18、S24の処理実行後は、ステップ25(S25)に進み、所定の演算処理を実行し、S11に戻る。
【0072】
なお、図8に示すフローチャートに記した所定の値k、u、wは、施設(装置)管理者等により任意に決定されるものである。その際、放射線測定装置の設置される場所によって、厳しく管理する必要がある場合や、放射線量上昇あるいはノイズ発生に対して早急な対応をとる必要がある場合には、所定の値k、u、wをより小さく設定する方向に検討される。
【0073】
本実施の形態5によれば、上記実施の形態1と同様の効果に加え、波形分析器4に、計数率mと積算値Mが上記の式31の関係で標準偏差σが一定になるようバランスする積算制御器47を設けることにより、上記実施の形態1に比べて演算器5の負荷を軽減することができ、連続して積算値Mを測定することが可能である。これにより、高計数率に対して数え落としを抑制することができ、高精度な演算結果が得られる。さらに、ノイズ侵入の影響で正規の高速動作の計数率が復帰していない場合には、復帰するまでの間、今回計数値Aに基づく計数率演算で代行するようにしたので、ノイズの影響を抑制することができる。
【0074】
なお、本発明は、その発明の範囲内において、各実施の形態を自由に組み合わせたり、各実施の形態を適宜、変形、省略したりすることが可能である。
【産業上の利用可能性】
【0075】
本発明は、原子炉施設、使用済燃料再処理施設等において放射線量を監視するために使用される放射線測定装置として利用することができる。
【符号の説明】
【0076】
1 放射線検出器、2 パルス増幅器、3 高速ADコンデンサ、4 波形分析器、
5 演算器、6 メモリ、7 表示器、41 ノイズ判定ロジック、
42 波高a判定ロジック、43 第1のカウンタ、44 第2のカウンタ、
45 アップダウンカウンタ、46 周波数合成器、47 積算制御器、
411 逆極性波高過大(b1)判定ロジック、
412 パルス幅異常(b2)判定ロジック、
413 アンダーシュート不足(b3)判定ロジック、
414 波高過大(b4)判定ロジック、415 ORロジック、
416 逆極性波高過大(b1)カウンタ、417 パルス幅異常(b2)カウンタ、
418 アンダーシュート不足(b3)カウンタ、419 波高過大(b4)カウンタ、451 加算入力、452 減算入力。

【特許請求の範囲】
【請求項1】
放射線を検出してアナログパルスを出力する放射線検出手段、
該アナログパルスを入力して所定の波高レベル以上のものについて波形を測定し波形データを出力する波形測定手段、
前記波形測定手段から入力した波形データを分析し、所定の波高範囲条件を満たす波形のパルスaを計数した計数値Aと、ノイズ波形のパルスbを計数した計数値Bを出力する波形分析手段、
計数値A及び計数値Bを定周期で入力し、該計数値Aに基づく計数率mと放射線量p(A)を求めると共に、計数値A及び計数値Bの所定数の演算周期の移動平均値であるA´及びB´からノイズ混入率B´/A´を求める演算手段、
前記演算手段から出力された計数率m及び放射線量p(A)の少なくとも一つを表示すると共に、必要に応じてノイズ混入率を表示する表示手段を備え、
前記波形分析手段は、入力された波形データの中からノイズ波形の特徴を有するものを識別するノイズ判定手段を有し、前記ノイズ判定手段は、波高が逆極性に所定のレベルを逸脱した部分を有する波形を識別する逆極性波高過大判定手段と、パルス幅が所定の範囲を逸脱した波形を識別するパルス幅異常判定手段と、パルスの立下りのアンダーシュートが逆極性の所定範囲に至らない波形を識別するアンダーシュート不足判定手段と、波高が所定のレベルを超えた波形を識別する波高過大判定手段を含むことを特徴とする放射線測定装置。
【請求項2】
前記波形測定手段は、電圧データがトリガレベル以上になった時点からの所定時間と、該トリガレベル直前の所定時間を合わせた期間における時系列的に並べられた電圧データを、当該アナログパルスの波形データとして出力することを特徴とする請求項1記載の放射線測定装置。
【請求項3】
前記演算手段は、放射線量p(A)が所定の値以上の場合に警報を出力し、前記表示手段は、該警報を表示することを特徴とする請求項1または請求項2に記載の放射線測定装置。
【請求項4】
前記ノイズ判定手段は、前記逆極性波高過大判定手段、前記パルス幅異常判定手段、前記アンダーシュート不足判定手段、及び前記波高過大判定手段による判定を順次行い、いずれかの判定手段においてノイズと判定された場合には、それ以降の判定をスキップすることを特徴とする請求項1〜請求項3のいずれか一項に記載の放射線測定装置。
【請求項5】
前記波形分析手段は、前記逆極性波高過大判定手段、前記パルス幅異常判定手段、前記アンダーシュート不足判定手段、及び前記波高過大判定手段によりノイズと判定された波形のパルスをそれぞれ個別に計数した計数値B1、B2、B3、B4を出力し、前記演算手段は、計数値A及び計数値B1、B2、B3、B4の所定数の演算周期の移動平均値であるA´及びB1´、B2´、B3´、B4´から、個別ノイズ混入率B1´/A´、B2´/A´、B3´/A´、B4´/A´を求めることを特徴とする請求項1〜請求項3のいずれか一項に記載の放射線測定装置。
【請求項6】
前記ノイズ判定手段は、前記逆極性波高過大判定手段、前記パルス幅異常判定手段、前記アンダーシュート不足判定手段、前記波高過大判定手段の順に判定を行い、最初にノイズと判定した判定手段に対応したノイズとして計数することを特徴とする請求項5記載の放射線測定装置。
【請求項7】
前記ノイズ判定手段は、前記パルス幅異常判定手段、前記逆極性波高過大判定手段、前記アンダーシュート不足判定手段、前記波高過大判定手段の順に判定を行い、最初にノイ
ズと判定した判定手段に対応したノイズとして計数することを特徴とする請求項5記載の放射線測定装置。
【請求項8】
前記ノイズ判定手段は、前記逆極性波高過大判定手段、前記パルス幅異常判定手段、前記アンダーシュート不足判定手段、及び前記波高過大判定手段による判定を並行して行い、複数の前記判定手段においてノイズと判定された場合には、優先順位の高い前記判定手段の判定を採用することを特徴とする請求項5記載の放射線測定装置。
【請求項9】
前記各判定手段の優先順位は、高い方から前記波高過大判定手段、前記アンダーシュート不足判定手段、前記パルス幅異常判定手段、前記逆極性波高過大判定手段であることを特徴とする請求項8記載の放射線測定装置。
【請求項10】
前記各判定手段の優先順位は、高い方から前記波高過大判定手段、前記アンダーシュート不足判定手段、前記逆極性波高過大判定手段、前記パルス幅異常判定手段であることを特徴とする請求項8記載の放射線測定装置。
【請求項11】
前記演算手段は、前記各判定手段によりノイズと判定された波形の特徴から、ノイズの発生箇所と要因を推定し、前記表示手段は、ノイズ混入率、個別ノイズ混入率、ノイズ波形の特徴、発生箇所及び要因をそれぞれ必要に応じて表示することを特徴とする請求項5〜請求項10のいずれか一項に記載の放射線測定装置。
【請求項12】
前記演算手段は、前記逆極性波高過大判定手段及び前記パルス幅異常判定手段により判定されたノイズについて、発生箇所は前記放射線検出手段、放射線測定手段、伝送手段、電源入力手段、及び接地線のいずかであり、要因は外来ノイズであると推定することを特徴とする請求項11記載の放射線測定装置。
【請求項13】
前記演算手段は、前記アンダーシュート不足判定手段により判定されたノイズについて、発生箇所は前記放射線検出手段であり、要因はHV信号重畳ラインの絶縁不良、断線、及び絶縁物剥離のいずれかであると推定することを特徴とする請求項11記載の放射線測定装置。
【請求項14】
前記演算手段は、前記波高過大判定手段により判定されたノイズについて、発生箇所は前記放射線検出手段であり、要因は前記放射線検出手段内部の絶縁物の擦れ、割れであると推定することを特徴とする請求項11記載の放射線測定装置。
【請求項15】
前記演算手段は、ノイズ混入率が所定の値以上の場合にノイズ侵入累計回数を確認し、該回数が所定の値以下の場合には、前回演算周期の計数値Aに基づく放射線量p(前回A)を出力し、所定の値よりも大きい場合には、今回演算周期の計数値Aに基づく放射線量p(今回A)を出力することを特徴とする請求項1〜請求項14のいずれか一項に記載の放射線測定装置。
【請求項16】
前記波形分析手段は、ノイズ波形のパルスbを所定の重み付けを行って加算計数し、その積算値Mに対応した繰り返し周波数の負帰還パルスを所定の重み付けを行って減算した積算値Mを出力し、前記演算手段は、積算値Mを入力し、計数率m、標準偏差σ、定数γ=2σとした時、関係式M=(1/γ)ln(m)から計数率mを求め、積算値Mに基づく放射線量p(M)を求めることを特徴とする請求項1〜請求項3のいずれか一項に記載の放射線測定装置。
【請求項17】
前記演算手段は、今回演算周期の積算値Mに基づく放射線量p(今回M)を正規の出力、今回演算周期の計数値Aに基づく放射線量p(今回A)をバックアップの出力としてそれぞれ求め、通常は放射線量p(今回M)を出力し、ノイズ混入率が所定の値以上の場合にはノイズ侵入累積回数を確認し、該回数が所定の値以下の場合には前回演算周期の放射線量p(前回M)を出力し、所定の値よりも大きい場合には放射線量p(今回M)を出力し、さらに、ノイズ混入率が所定の値より小さくノイズの影響がないと判断され、放射線量p(今回M)が放射線量p(今回A)と同等レベルに復帰するまでの間は、放射線量p(今回A)を出力することを特徴とする請求項16記載の放射線測定装置。

【図1】
image rotate

【図2】
image rotate

【図3】
image rotate

【図4】
image rotate

【図5】
image rotate

【図6】
image rotate

【図7】
image rotate

【図8】
image rotate


【公開番号】特開2013−113648(P2013−113648A)
【公開日】平成25年6月10日(2013.6.10)
【国際特許分類】
【出願番号】特願2011−258548(P2011−258548)
【出願日】平成23年11月28日(2011.11.28)
【出願人】(000006013)三菱電機株式会社 (33,312)
【Fターム(参考)】