説明

有機EL表示装置

【課題】 有機EL素子の輝度の補正を精度よく行うことができる有機EL表示装置を提供する。
【解決手段】 有機EL素子の輝度を補正する補正部を有する有機EL表示装置で、有機EL素子内の、第1電極にある第1反射面と発光面との間の光学距離Lと、第2電極にある第2反射面と第1反射面との間の光学距離Lとが、それぞれ式1と式2を満たす。
(m−Φ/(2π))×λ/2≦L≦(m+1/2−Φ/(2π))×λ/2 ・・・式1
(m+1−(Φ+Φ)/(2π))×λ/2≦L≦(m+3/2−(Φ+Φ)/(2π))×λ/2 ・・・式2
ここで、λは有機EL素子から発せられる光のスペクトルの最大ピーク波長、Φは発光層から発せられる光が第1反射面で反射する際の位相シフト量、Φは発光層から発せられる光が第2反射面で反射する際の位相シフト量、mは自然数である。

【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明は、有機EL表示装置、特に有機EL素子の輝度を補正する補正部を有する有機EL表示装置に関する。
【背景技術】
【0002】
近年、有機EL素子を備えた表示装置に関して盛んに研究開発されている。有機EL素子は陽極と発光層を含む有機化合物層と陰極とで構成され、陽極と陰極からそれぞれ正孔と電子が発光層に注入され、正孔と電子の再結合エネルギーを利用して発光層から光が出射される。
【0003】
有機EL素子は、一定電流で連続駆動すると輝度が低下し、駆動電圧が上昇することが知られている。有機EL素子の輝度の低下を補正するために、特許文献1では有機EL素子の駆動電圧を検出し駆動電圧に応じて入力信号を補正して有機EL素子の輝度を補正することについて提案されている。
【0004】
一方、有機EL素子の有機化合物層の成膜精度によって、有機化合物層の膜厚が有機EL素子ごとに異なってしまう(膜厚ばらつきが生じる)。一般的に、有機化合物層はその膜厚によって駆動電圧が異なるので、膜厚ばらつきが生じると、有機EL表示装置の初期の状態においても、有機EL素子の駆動電圧に差が生じてしまう。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0005】
【特許文献1】特開2006−091709号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0006】
このため、駆動電圧を検出して、それに応じて有機EL素子の輝度を補正する有機EL表示装置では、膜厚ばらつきによる駆動電圧の差によって正しく補正できなくなる場合がある。
【0007】
本発明は、上述した課題を鑑み、有機EL素子の輝度の補正を精度よく行うことができる有機EL表示装置を得ることを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【0008】
本発明の有機EL表示装置は、第1電極と、発光層と、第2電極と、を有する有機EL素子と、前記有機EL素子の駆動電圧を検出し、前記駆動電圧に応じて有機EL素子の輝度を補正する補正部と、を有し、前記発光層の発光面と前記第1電極にある第1反射面との間の光学距離Lと、前記第1反射面と前記第2電極にある第2反射面との間の光学距離Lとが、それぞれ式1と式2を満たしている。
(m−Φ/(2π))×λ/2≦L≦(m+1/2−Φ/(2π))×λ/2 ・・・式1
(m+1−(Φ+Φ)/(2π))×λ/2≦L≦(m+3/2−(Φ+Φ)/(2π))×λ/2 ・・・式2
ここで、λは前記有機EL素子から発せられる光のスペクトルの最大ピーク波長、Φは前記発光層から発せられる光が第1反射面で反射する際の位相シフト量、Φは前記発光層から発せられる光が第2反射面で反射する際の位相シフト量、mは自然数である。
【発明の効果】
【0009】
本発明に係る有機EL表示装置によれば、有機EL素子の輝度の補正を精度よく行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【0010】
【図1】本発明に係る有機EL表示装置を説明する模式図
【図2】本発明に係る有機EL素子の模式図
【図3】有機EL素子の正孔輸送層の膜厚に対する輝度の変化を示す図
【図4】光学距離Lおよび光学距離Lの変動に伴う輝度の変化を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【0011】
以下、図面に基づいて本発明の実施形態について説明するが、以下の構成に限られるものではない。
【0012】
図1は、本発明に係る有機EL表示装置を説明する図である。1は、有機EL素子10を含む画素である。2は、画素1内の有機EL素子10の駆動電圧を検出して、その駆動電圧に応じて有機EL素子10の輝度を補正する補正部である。本発明の有機EL表示装置は、複数の画素1と補正部2を有している。補正部2は少なくとも1つあればよいが、複数あってもよい。
【0013】
画素1には、有機EL素子10の他に、第1トランジスタ(NMOS)11、第2トランジスタ(NMOS)12、第3トランジスタ(PMOS)13、第4トランジスタ(PMOS)14、保持容量15、を有している。補正部2は、電流源21、電圧検出部22、演算部23、記憶部24を有している。画素1と補正部2は、信号線30および切替手段40を介して電気的に接続可能な構成である。なお、切替手段40は、電流源21とデータ信号出力源50とのどちらか一方を信号線30と接続させるものである。
【0014】
以下に本発明の動作について説明する。まずは、発光動作について説明する。画素1への書き込み時には、第1選択線31をHighにし、第2選択線32をLowに、第3選択線33をLowにする。これにより、第1トランジスタ11はONになり、第2トランジスタ12はOFFになり、第4トランジスタ14はONになる。同時に、信号線30は、切替手段40によって、データ信号出力源50に接続され、信号線30には有機EL素子の輝度に応じた信号電圧が印加される。すると、信号電圧は保持容量15に保持される。この状態で、第1選択線31、第2選択線32、第3選択線33をLowにすると、第1トランジスタ11、第2トランジスタ12はOFFに、第4トランジスタ14はONになる。そして、第3トランジスタ13を介して、供給線34から有機EL素子10に保持容量15に保持された信号電圧に応じた電流が流れ、有機EL素子10は所望の輝度で発光する。
【0015】
次に、駆動電圧の検出動作について説明する。この場合、第1選択線31をLowにし、第2選択線32と第3選択線33をHighにする。また、信号線30は電流源21側に接続し、信号線30には所定の電流が流れる。こうすると、信号線30の電位は、所定の電流を流した場合に有機EL素子10にかかる駆動電圧と等しくなる。この電位を電圧検出部22で検出することで、所定の電流を流した際に、有機EL素子10に係る駆動電圧を検出することができる。なお、この際、有機EL素子10の駆動電圧を検出した画素以外の画素については、第1選択線31と第2選択線32をLowにし、第3選択線33をHighにすることで、電流源50からの電流が流れないようにすることができる。
【0016】
次に、補正動作について説明する。演算部23は、検出した駆動電圧と、記憶部24に保存されている該当画素の初期の駆動電圧と、を比較して、有機EL素子10の駆動電圧の変化量を演算する。さらに、演算部23は、この駆動電圧の変化量に対応する有機EL素子10に供給するための電流の補正量(または補正係数)を記憶部24から抽出する。つまり、記憶部23は、画素の初期の駆動電圧のデータと、駆動電圧の変化量と電流の補正量(または補正係数)の関係のデータテーブルと、を保存している。そして、この電流の補正量(または補正係数)の分だけ、電流源21から画素に供給される電流に加算、減算あるいは積算して補正された電流を画素に供給する。このように、駆動電圧を検出し、補正動作を行うことで、有機EL素子の駆動電圧の変化を輝度の変化の認識し、有機EL素子に流す電流を補正して、有機EL素子の輝度の補正を行う。
【0017】
図2は、本発明の有機EL素子10の構成を示す模式図である。有機EL素子10は、基板100の上に、反射層101aと酸化物透明導電層101bからなる第1電極101と、正孔輸送層102と、発光層103と、電子輸送層104と、電子注入層105と、第2電極106と、で構成されている。また、103aは発光面を表し、101c、106cはそれぞれ第1電極101にある第1反射面、第2電極にある第2反射面を表している反射面とは、発光層103から発せられて光の一部、あるいは全部を反射する面である。なお、第1電極は、反射層101aのみで構成され、反射層101aが電極を兼ねる構成でもよい。
【0018】
本発明の有機EL素子は、発光層103の発光面103aと第1電極101にある第1反射面101cとの間の光学距離Lと、第1反射面101cと第2電極106にある第2反射面106cとの間の光学距離Lとが、それぞれ下記の式1と式2を満たす構成である。この構成については後述する。
(m−Φ/(2π))×λ/2≦L≦(m+1/2−Φ/(2π))×λ/2 ・・・式1
(m+1−(Φ+Φ)/(2π))×λ/2≦L≦(m+3/2−(Φ+Φ)/(2π))×λ/2 ・・・式2
ここで、λは有機EL素子から発せられる光のスペクトルの最大ピーク波長、Φは発光層から発せられる光が第1反射面101cで反射する際の位相シフト量、Φは発光層から発せられる光が第2反射面106cで反射する際の位相シフト量、mは自然数である。
【0019】
第1反射面101cは、第1電極101が反射層101aと酸化物透明導電層101bからなる場合には、反射層101aと酸化物透明導電層101bの界面である。第1電極101が反射層101aのみからなる場合には、反射層101aと正孔輸送層102との界面(反射層101aの発光層103側の界面)が第1反射面101cになる。一方、第2反射面106cは、第2電極106が金属薄膜で構成される場合には、第2電極106と電子注入層105との界面(第2電極106の発光層103側の界面)である。第2電極106が酸化物透明導電層で構成される場合には、第2電極106の発光層とは反対側の界面が第2反射面106cとなる。なお、第2電極106が金属薄膜と酸化物透明導電層との積層構成の場合には、金属薄膜の発光層103側の界面が第2反射面106cとなる。
【0020】
有機EL素子は、第1反射面101cと第2反射面106cの間の距離、より具体的には、その間の光学距離を変えることで、干渉によって発光層103から発せられる光が強められる強度が変化する。すなわち、第1反射面101cと第2反射面106cの間の距離によって、有機EL素子の輝度が変化する。図3は図2に示した本発明の有機EL素子の正孔輸送層102の膜厚(第1反射面101cと第2反射面106cの間の距離)に対する相対輝度を示した図である。なお、相対輝度は、最大輝度を1として規格化されて表されている。図3に示すように、正孔輸送層102の膜厚変化により、輝度は極大値と極小値を繰り返し変化している。
【0021】
一方、有機EL素子を構成する有機化合物層は一般的には高抵抗であるため、正孔輸送層102の膜厚(第1反射面101cと第2反射面106cの間の距離)が大きくなると有機EL素子の駆動電圧が上昇する。本発明は、有機化合物層の膜厚変化が生じた場合における輝度変化と駆動電圧変化の関係に着目し、精度よく補正することができる有機EL素子の構成を見出した。具体的には、有機EL素子の有機化合物層の膜厚が、膜厚変化に対する輝度の変化が負の傾きとなる膜厚に設定されている。なお、膜厚変化に対する輝度の変化が負の傾きとなる膜厚とは、図3で示すような輝度の極大値から極小値の間にある膜厚のことである。
【0022】
図3で、正孔輸送層102の目標膜厚値をB(膜厚変化に対する輝度の変化がゼロとなる膜厚)に設定した場合、成膜ばらつきが生じることによって、膜厚値がB,B,Bとなる有機EL素子(以下それぞれ素子B,B,Bという)が形成される。図3で示すように、素子B,Bは、素子Bよりも輝度が小さい。一方、素子Bは素子Bより駆動電圧が小さく、素子Bは素子Bより駆動電圧が大きい。よって、上述した補正部2で輝度の補正を行う有機EL表示装置が素子B,B,Bを有している場合には、以下のように各素子に流れる電流が補正される。すなわち、駆動電圧が素子Bより大きい素子Bには素子Bより大きい電流が流れ、一方、駆動電圧が素子Bより小さい素子Bには素子Bより小さい電流が流れる。この結果、素子Bでは、素子Bとの輝度差が小さくなるが、素子Bでは、素子Bとの輝度差が大きくなってしまう。つまり、この場合では、精度よく補正を行うことができない。
【0023】
また、正孔輸送層102の目標膜厚値をC(膜厚変化に対する輝度の変化が正の傾きとなる膜厚)に設定した場合、膜厚値がC,C,Cとなる有機EL素子(以下それぞれ素子C,C,Cという)が形成される。図3で示すように、素子C,C,Cの順に輝度は大きくなり、その順で駆動電圧も大きくなる。上述した補正部2で輝度の補正を行う有機EL表示装置有機EL表示装置が素子C,C,Cを有している場合には、以下のように各素子に流れる電流が補正される。すなわち、駆動電圧が素子Cより大きい素子Cには素子Cより大きい電流が流れ、一方、駆動電圧が素子Cより小さい素子Cには素子Cより小さい電流が流れる。この結果、素子C,Cでは、ともに素子Cとの輝度差が大きくなってしまう。この場合も精度よく補正ができない。
【0024】
一方、正孔輸送層102の目標膜厚値をA(膜厚変化に対する輝度の変化が負の傾きとなる膜厚)に設定した場合、膜厚値がA,A,Aとなる有機EL素子(以下それぞれ素子A,A,Aという)が形成される。図3で示すように、素子A,A,Aの順に輝度は小さくなるが、その順で駆動電圧は大きくなる。上述した補正部を有する有機EL表示装置が素子A,A,Aを有している場合には、以下のように各素子に流れる電流が補正される。すなわち、駆動電圧が素子Aより大きい素子Aには素子Aより大きい電流が流れ、一方、駆動電圧が素子Aより小さい素子Aには素子Aより小さい電流が流れる。この結果、素子A,Aでは、ともに素子Aとの輝度差が小さくなる。つまりこの場合は、精度よく補正を行うことができる。
【0025】
図3は、正孔輸送層102、つまり、発光面103aと第1電極101の第1反射面101cとの間の光学距離Lと輝度との関係を示していた。次は、図4を用いて、発光面103aと第1電極101の第1反射面101cとの間の光学距離Lと、第1電極101の第1反射面101cと第2電極106の第2反射面106cとの間の光学距離Lと、輝度と、の関係について説明する。図4は、横軸が発光面103aと第1電極101の第1反射面101cとの間の光学距離Lを、縦軸が第1電極101の第1反射面101cと第2電極106の第2反射面106cとの間の光学距離Lを表し、(L,L)の輝度を示し図である。この図で、輝度は等高線で表されている。
【0026】
図4で、(x,y)は輝度が極大となる1次極大値である。等高線上での輝度は同等であり、同心円の中心ほど輝度が増大し、外側の円に向かうほど、輝度が低下する。(x,y)は輝度が極小となる1次極小値である。光学距離L,L、が大きくなるにつれ、輝度が再び極大となるn次極大値、輝度が再び極小となるn次極小値が順次現れる(nは2以上の整数)。
ここで、上記の式1、式2により表1に示す条件で、図4を4つの領域I,II,III,IVに分ける。
【0027】
【表1】

【0028】
式1、式2をともに満たす領域Iは、どの膜厚変化に対しても輝度の変化が負の傾きとなるため好ましい。また、式1のみを満たす領域IIは、Lを算出するのに含まれる膜厚変化に対して輝度変化が負の傾きとなるため、光学距離Lの変化のみがある場合にはよい。しかし、Lのうち、Lを除いた光学距離を算出するのに含まれる膜厚変化に対して、輝度の変化が負の傾きとはならないため、該膜厚変化がある場合には正しく補正されない。また、式2のみを満たす領域IIIでは、Lを算出するのに含まれる膜厚変化に対して輝度変化が負の傾きとならないため、該膜厚変化がある場合には正しく補正されない。Lのうち、Lを除いた光学距離を算出するのに含まれる膜厚変化に対して、発光効率変化が負の傾きとなるため、該膜厚変化がある場合にのみ正しく補正される。式1、式2をともに満たさない領域IVでは、どの膜厚変化に対しても輝度変化が負の傾きとはならないため正しく補正されない。
よって、本発明の有機EL素子は、上述した式1および式2を満たす構成としている。
【0029】
以下、本発明の有機EL素子の構成要素について説明する。
基板100はTFT等のスイッチング素子(不図示)が形成された絶縁性の基板であり、ガラス、プラスチック等からなる。
反射層101aは、Al、Cr、Agなどの金属単体やそれらの合金からなる金属層を用いることができる。その膜厚は50nm以上200nm以下が好ましい。
酸化物透明導電層101bは、酸化インジウムと酸化錫の化合物層や酸化インジウムと酸化亜鉛の化合物層などを用いることができる。その膜厚は、10nm以上100nm以下が好ましい。
正孔輸送層102、発光層103、電子輸送層104、電子注入層105は、公知の材料が使用することができ、成膜手法も蒸着や転写等公知の成膜手法を用いることができる。また、各層の膜厚は、5nm以上100nm以下であることが好ましい。また各層は同一、あるいは異なる材料をからなる2つ以上の層が積層されている構成であってもよい。
第2電極106は、上述した反射層101aまたは酸化物透明導電層101bの材料を用いることができる。
【実施例】
【0030】
以下、本発明の好適な実施例を詳細に説明するが、本発明はこれらの実施例に限定されるものではない。なお、以下の実施例および比較例では、式1および式2においてm=2の干渉条件にあわせ、各層の膜厚を設定した。また、実施例および比較例で使用する各層の材料は同じであり、以下の通りである。
反射層101a:銀
酸化物透明導電層101b:酸化インジウム亜鉛
正孔輸送層102:化合物1
発光層103:化合物2(70wt%)+化合物3(10wt%)+化合物4(20wt%)
電子輸送層104:化合物5
電子注入層105:化合物5(90wt%)+炭酸セシウム(10wt%)
第2電極106:酸化インジウム亜鉛
【0031】
【化1】

【0032】
また、有機EL素子から発せられる光のスペクトルの最大ピ−ク波長λは520nmであった。また、本実施例および比較例では、Φ=π、Φ=0であった。従って、式1および式2を満たすL、Lの条件は、それぞれ以下の通りである。
390nm≦L≦520nm ・・・式1a
650nm≦L≦780nm ・・・式2a
また、λ=520nmにおける各層の屈折率は以下の通りである。
酸化物透明導電層、第2電極:2.03
正孔輸送層:1.82
発光層:1.96
電子輸送層、電子注入層:1.69
補正を行うにあたり、20mA/cmの電流値を印加して駆動電圧を検出した。本発明では、基準素子との駆動電圧差をΔV[V]とし、αを定数(α>0)として、補正電流値ΔI[mA/cm]をΔI=α×ΔVからなる1次関数から算出した。例えば、α=2とした場合、ΔV=0.1Vであれば、ΔI=0.2mA/cmとなる。αは成膜条件から適宜決めることができる。以下の実施例ではα=5として補正を行った。
【0033】
(実施例1)
5つの有機EL素子(以下、素子A、B,C,D,Eという)を作成する。
まず、ガラス基板100上にスパッタリング法にて銀を200nm積層し、各素子の領域の反射層101aを形成した。その上に、スパッタリング法にて酸化インジウム亜鉛を20nm積層して酸化物透明導電層101bを形成し、各素子の領域の第1電極101を形成した。その後、第1電極101にUV/オゾン洗浄を施した。
【0034】
次に、真空蒸着装置に洗浄済みの基板100と材料を取り付け、1×10−6Torrまで排気した後、各素子の領域の第1電極101上に化合物1を193nmの膜厚で成膜し、正孔輸送層102を形成した。さらに素子Bに2nm、素子Cに4nmの膜厚で成膜し、正孔輸送層102を追加形成した。
次に、各素子の領域の正孔輸送層102上に、化合物2、化合物3、化合物4を重量比が7:1:2の割合となるように、各々の蒸着速度を調整し、共蒸着し、40nmの膜厚で発光層103を形成した。
次に、各素子の発光層103上に、化合物5を13nmの膜厚で成膜し、電子輸送層104を形成した。さらに素子A、素子B、素子Cに2nm、素子Eに4nmの膜厚で電子輸送層104を追加で形成した。
次に、各素子の領域の電子輸送層104上に、化合物5と炭酸セシウムを重量比が9:1の割合となるように各々の蒸着速度を調整して共蒸着し、60nmの膜厚で成膜し、電子注入層105を形成した。
最後に、各素子の領域の電子注入層105まで成膜した基板を、別のスパッタリング装置(大阪真空製)へ移動させ、電子注入層105上に酸化インジウム亜鉛をスパッタリング法にて30nmに成膜し、第2電極106を形成した。
【0035】
各素子の正孔輸送層と電子輸送層の膜厚を表2にまとめた。素子Bを所望の素子として、素子A,Cは正孔輸送層の膜厚がずれた素子とし、素子D,Eは電子輸送層の膜厚がずれた素子としている。また、ΔL,ΔLは、素子BのL,Lからのずれ量を示している。
【0036】
【表2】

【0037】
発光層103中の発光面103aから正孔輸送層102と発光層103の界面までの膜厚をdnmとすると、素子Bでは、L=2.03×20+1.82×195+1.96×d=395.5+1.96×dnmとなる。0nm≦d≦40nmであるため、395.5nm≦L≦473.9nmとなり、式1(式1a)を満たす。また表2からもわかるように、他の素子も式1(式1a)を満たしている。
【0038】
また、素子Bでは、L=2.03×(20nm+30nm)+1.82×195nm+1.96×40nm+1.69×(15nm+60nm)=661.55nmであり、式2(式2a)を満たす。また表2からもわかるように、他の素子も式2(式2a)を満たしている。
【0039】
まず、正孔輸送層の膜厚が異なる3つの素子A、B、Cにおいて、従来の有機EL素子の駆動電圧を検出して有機EL素子の輝度補正を行う補正部を用いて、輝度補正を行った結果を表3に示す。この結果、素子A,B,Cでの補正前の輝度の差が補正後では低減することができ、精度よく補正を行うことができた。
【0040】
【表3】

【0041】
次に、電子輸送層の膜厚が異なる3つの素子B、D、Eにおいて、輝度補正を行った結果を表4に示す。この結果、素子B,D,Eでの補正前の輝度の差が補正後では低減することができ、精度よく補正を行うことができた。
【0042】
【表4】

【0043】
(比較例1)
比較例1では発光層103の膜厚を30nm、電子輸送層104の膜厚を10nm、電子注入層105の膜厚を65nmとした以外は、実施例1と同様の製造方法で5つの有機EL素子(以下、素子F、G,H,I,Jという)を作成した。各素子の正孔輸送層と電子輸送層の膜厚を表5にまとめた。素子Gを所望の素子として、素子F,Hは正孔輸送層の膜厚がずれた素子とし、素子I,Jは電子輸送層の膜厚がずれた素子としている。また、ΔL,ΔLは、素子GのL,Lからのずれ量を示している。
【0044】
【表5】

【0045】
比較例1では、式1、式2においてm=2の干渉条件に合わせ、式1のみを満たすように各層の膜厚を設定した。発光層103中の発光面103aから正孔輸送層102と発光層103の界面までの膜厚をdnmとすると、素子Gでは、L=2.03×20+1.82×195+1.96×d=395.5+1.96×dnmとなる。0nm≦d≦30nmであるため、395.5nm≦L≦454.3nmとなり、式1(式1a)を満たす。また表5からもわかるように、他の素子も式1(式1a)を満たしている。
【0046】
また、素子Gでは、L=2.03×(20+30)+1.82×195+1.96×30+1.69×(10+40)=637.5nmであり、式2(式2a)を満たさない。また、表5からもわかるように、他の素子も式2(式2a)を満たしていない。
【0047】
まず、正孔輸送層の膜厚が異なる3つの素子F、G、Hにおいて、輝度補正を行った結果を表6に示す。この結果、素子F、G、Hでの補正前の輝度の差が補正後では低減することができ、精度よく補正を行うことができた。
【0048】
【表6】

【0049】
次に、電子輸送層の膜厚が異なる3つの素子G、I、Jにおいて、輝度補正を行った結果を表7に示す。この結果、素子G、I、Jでの補正前の輝度の差が補正後では、大きくなってしまった。
【0050】
【表7】

【0051】
(比較例2)
比較例2では正孔輸送層102の膜厚を145nm、電子注入層105の膜厚を65nm、第2電極106の膜厚を70nmとした以外は、実施例1と同様の製造方法で5つの有機EL素子(以下、素子K、L,M,N,Oという)を作成した。各素子の正孔輸送層と電子輸送層の膜厚を表8にまとめた。素子Lを所望の素子として、素子K,Mは正孔輸送層の膜厚がずれた素子とし、素子N,Oは電子輸送層の膜厚がずれた素子としている。また、ΔL,ΔLは、素子LのL,Lからのずれ量を示している。
【0052】
【表8】

【0053】
比較例2では、式1、式2においてm=2の干渉条件に合わせ、式2のみを満たすように各層の膜厚を設定した。発光層103の発光面103aから正孔輸送層102と発光層103の界面までの膜厚をdnmとすると、素子Lでは、L=2.03×20+1.82×145+1.96×d=304.5+1.96×dnmとなる。0nm≦d≦40nmであるため、304.5nm≦L≦382.9nmとなり、式1(式1a)を満たさない。また、表8からもわかるように、他の素子も式1(式1a)を満たしていない。
【0054】
また、素子Lでは、L=2.03×(20+70)+1.82×145+1.96×40+1.69×(15+65)=660.2nmであり、式2(式2a)を満たす。また表8からもわかるように、他の素子も式2(式2a)を満たしている。
【0055】
まず、正孔輸送層の膜厚が異なる3つの素子K、L、Mにおいて輝度補正を行った結果を表9に示す。この結果、素子K、L、Mでの補正前の輝度の差が補正後では、大きくなってしまった。
【0056】
【表9】

【0057】
次に、正孔輸送層の膜厚が異なる3つの素子L、N、Oにおいて、輝度補正を行った結果を表10に示す。この結果、素子L、N、Oでの補正前の輝度の差が補正後では低減することができ、精度よく補正を行うことができた。
【0058】
【表10】

【符号の説明】
【0059】
2 補正部
10 有機EL素子
101 第1電極
103 発光層
106 第2電極

【特許請求の範囲】
【請求項1】
第1電極と、発光層と、第2電極と、を有する有機EL素子と、
前記有機EL素子の駆動電圧を検出し、前記駆動電圧に応じて有機EL素子の輝度を補正する補正部と、を有し、
前記発光層の発光面と前記第1電極にある第1反射面との間の光学距離Lと、前記第1反射面と前記第2電極にある第2反射面との間の光学距離Lとが、それぞれ式1と式2を満たすことを特徴とする有機EL表示装置。
(m−Φ/(2π))×λ/2≦L≦(m+1/2−Φ/(2π))×λ/2 ・・・式1
(m+1−(Φ+Φ)/(2π))×λ/2≦L≦(m+3/2−(Φ+Φ)/(2π))×λ/2 ・・・式2
ここで、λは前記有機EL素子から発せられる光のスペクトルの最大ピーク波長、Φは前記発光層から発せられる光が第1反射面で反射する際の位相シフト量、Φは前記発光層から発せられる光が第2反射面で反射する際の位相シフト量、mは自然数である。

【図1】
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【図2】
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【図3】
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【図4】
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【公開番号】特開2012−43727(P2012−43727A)
【公開日】平成24年3月1日(2012.3.1)
【国際特許分類】
【出願番号】特願2010−186072(P2010−186072)
【出願日】平成22年8月23日(2010.8.23)
【出願人】(000001007)キヤノン株式会社 (59,756)
【Fターム(参考)】