画像形成装置
【課題】帯電ローラ端部での局所的なドラムの状態を把握することによって画像不良の発生を抑制すること。
【解決手段】像担持体と、帯電手段と、前記帯電手段に流れる帯電電流を測定する電流値測定手段と、前記像担持体を露光する露光手段と、前記帯電手段を軸方向に所定の範囲で移動可能に保持する保持部材と、前記各手段を制御する制御手段と、を有する画像形成装置において、前記電流値測定手段は、前記帯電手段の端部位置に対応する前記像担持体の一部の前記露光手段による露光後、前記帯電手段において再帯電されたときの電流値を測定するものであり、前記制御手段は、画像形成動作の前後において前記電流値測定手段により測定された前記電流値の差が第一基準値を超えた場合に、前記保持部材を移動させることにより、前記帯電手段の前記像担持体に対する位置を変更することを特徴とする。
【解決手段】像担持体と、帯電手段と、前記帯電手段に流れる帯電電流を測定する電流値測定手段と、前記像担持体を露光する露光手段と、前記帯電手段を軸方向に所定の範囲で移動可能に保持する保持部材と、前記各手段を制御する制御手段と、を有する画像形成装置において、前記電流値測定手段は、前記帯電手段の端部位置に対応する前記像担持体の一部の前記露光手段による露光後、前記帯電手段において再帯電されたときの電流値を測定するものであり、前記制御手段は、画像形成動作の前後において前記電流値測定手段により測定された前記電流値の差が第一基準値を超えた場合に、前記保持部材を移動させることにより、前記帯電手段の前記像担持体に対する位置を変更することを特徴とする。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、電子写真方式により像担持体に静電潜像を形成し、この静電潜像を現像装置に収容した現像剤にて顕像化する電子写真画像形成装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
従来、画像形成装置で用いられる帯電手段としては、ローラ形状の帯電ローラが用いられる。そして帯電方式としては、接触帯電方式が用いられる。接触帯電方式では、帯電ローラを像担持体である感光体ドラムに接触させて、感光体ドラムを帯電させる。また、一般的には、帯電ローラの回転軸と感光体ドラムの回転軸との間の交差角を設け、帯電ローラを感光体ドラムに対して従動回転させることが行われている。帯電ローラの当接圧を均一化することができ、且つ回転時における帯電ローラの長手方向の位置を決定できるからである（例えば、特許文献１参照。）。
【０００３】
更には交差角を設けた場合に発生する帯電ローラ端部での感光体ドラムの局所的な削れに対し、感光体ドラムの使用状況に応じて交差角を変更するものがある（特許文献２参照。）。これにより、帯電ローラの当接位置を軸方向に移動させる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２００２−２６８３２６
【特許文献２】特開２００９−２４４４６７
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら上記特許文献２に記載の画像形成装置では、以下のような課題があった。
【０００６】
帯電ローラの当接位置のずれは交差角の変更のみで実施するが、当接位置を確認できないため、実際に当接位置がずれたことを確認することが困難である。例えば、帯電ローラへの異物付着で軸方向への移動が妨害されるなど、予期しないない状況下で、局所的なドラム削れが発生することがある。この局所的なドラム削れは画像形成領域外ではあるが、帯電バイアスがリークすることによって画像不良に至る場合があった。
【０００７】
また交差角の変更タイミングは、感光体ドラムへの帯電印加時間や感光体ドラム回転数で決定される。ここで、使用される環境により削れ量が増加した場合、ドラムが回転数に関わらず、削れてしまっているおそれがある。ドラム削れは帯電バイアスリークによる画像不良に至る場合がある。このため、これについても改善が必要であった。
【０００８】
本発明の目的は、帯電ローラ端部での局所的なドラムの状態を把握することによって画像不良の発生を抑制することである。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
上記目的を達成するため本発明に係る代表的な構成は、像担持体と、前記像担持体に当接して前記像担持体の回転に従動回転して前記像担持体を帯電させる帯電手段と、前記帯電手段に流れる帯電電流を測定する電流値測定手段と、前記像担持体を露光する露光手段と、前記帯電手段を軸方向に所定の範囲で移動可能に保持する保持部材と、前記各手段を制御する制御手段と、を有する画像形成装置において、前記電流値測定手段は、前記帯電手段の端部位置に対応する前記像担持体の一部の前記露光手段による露光後、前記帯電手段において再帯電されたときの電流値を測定するものであり、前記制御手段は、画像形成動作の前後において前記電流値測定手段により測定された前記電流値の差が第一基準値を超えた場合に、前記保持部材を移動させることにより、前記帯電手段の前記像担持体に対する位置を変更することを特徴とする。
【発明の効果】
【００１０】
以上の構成によれば、帯電ローラ端部での局所的なドラムの状態を把握することによって画像不良の発生を抑制することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１１】
【図１】第１実施形態に係る画像形成装置の概略断面図。
【図２】第１実施形態に係る帯電ローラの配置図。
【図３】第１実施形態に係る削れ量検知の手順を示すシーケンス図。
【図４】第１実施形態に係る帯電ローラ当接位置の確認方法の説明図。
【図５】第１実施形態に係る当接位置変更及び確認の手順を説明するシーケンス図。
【図６】第２実施形態に係る削れ量検知方法の説明図。
【図７】第３実施形態に係る当接位置の確認方法の説明図。
【発明を実施するための形態】
【００１２】
〔第１実施形態〕
図を用いて第１実施形態を説明する。図１は第１実施形態に係る画像形成装置の概略断面図である。図２は第１実施形態に係る帯電ローラの配置図である。
【００１３】
（画像形成装置の構成と動作）
図１に示すように、画像形成装置本体（以下、装置本体と称する。）Ｍには、感光体ドラム１（像担持体）が配設される。
【００１４】
感光体ドラム１は、アルミニウム等の導電性ドラム基体の外周面に、感光層である電荷発生層（ＣＧＬ）と電荷輸送層（ＣＴＬ）を１０μｍの厚さで形成した。図１矢印Ｒ１方向に２００ｍｍ/ｓｅｃのプロセススピードをもって矢印Ｒ１方向に回転駆動される。
【００１５】
感光体ドラム１の表面は、帯電ローラ２（帯電手段）により所定の極性・電位に均一に帯電処理される。
【００１６】
帯電ローラ２は感光体ドラム１の表面に当接されており、感光体ドラム１の矢印Ｒ１方向の回転に伴って矢印Ｒ２方向に従動回転する。また帯電ローラ２は、図２に示すように、帯電ローラの芯金１５の長手方向の両端部が軸受１３（保持部材）によって回転自在に支持されている。また、帯電ローラ２は、軸受１３の中で長手方向（軸方向）に隙間分の６ｍｍの移動ができる構成とした。
【００１７】
軸受１３は、図２（ａ）に示すように、帯電ローラ回転軸である芯金１５と、感光体ドラム１の回転軸との間に交差角θ（θ≠０°）を設定するように配置される。帯電ローラ２はこの交差角θをもって配置され、従動回転する。これにより、矢印Ａ方向へ移動する力が働く。
【００１８】
また、軸受１３は交差角θを変更する姿勢変更部材（不図示）を持ち、図２（ｂ）に示すように、所定のタイミングで交差角を反転させる。図２における交差角の反転は、交差角θを交差角−θにする方法で行った。
【００１９】
図１における帯電ローラ２には高圧電源２０によってＤＣバイアスが印加される。帯電ローラ２に当接することにより、感光体ドラム１の表面が−４００Ｖになるように帯電される。尚、高圧電源２０は、直列に接続された帯電電流測定手段９（電流値測定手段）を介して接地される。帯電電流測定手段９は、帯電ローラ２の端部位置に対応する感光体ドラム１の一部のレーザースキャナ３（露光手段）による露光後、帯電ローラ２において再帯電されたときの電流値を測定するものである。
【００２０】
帯電後の感光体ドラム１表面は、レーザースキャナ３から出力されたレーザービームの走査露光を受ける。すると、感光体ドラム１上には、目的の画像情報に対応した静電潜像が形成される。このレーザービームは、後述する削れ量の検知のため、画像形成領域外の帯電ローラ端部では十分大きい光量で露光し、感光体ドラム表面を除電する。
【００２１】
その後、前記静電潜像は現像器５（現像手段）によって現像され、トナー像となる。前記トナー像は、転写ローラ８によって記録材６に転写される。最後に、記録材６が定着器１０で加熱・加圧され、記録材６表面にトナー像が定着される。
【００２２】
（削れ量検知と帯電ローラの当接位置変更）
上述の画像形成装置を用いて、本発明の特徴を説明する。説明は、（１）削れ量の検知、について説明した後、（２）帯電ローラ当接位置の変更および確認について説明する。画像形成装置に具備される不図示の制御手段は、画像形成装置内の各手段を次の手順で制御する。
【００２３】
（１）削れ量の検知
帯電ローラ端部での感光体ドラムの削れ量を検知する方法を説明する。
【００２４】
まず、帯電ローラ端部での削れ量を検知する。そして、帯電ローラ端部領域にレーザースキャナ３で露光を行い、再度帯電したときに流れる帯電電流を測定する。この帯電電流を基に、削れ量を検知する。
【００２５】
ここで得られる帯電電流値Ｉは
Ｉ＝（ε × ε0 × Ｌ × ｖ × Ｖ）/ｄ
ここで、
ε＝3：感光体ドラム感光層の比誘電率
ε0＝8.85×10-12：真空誘電率
Ｌ：帯電長さ（＝露光領域長さＬ１）
ｖ：プロセススピード
Ｖ：帯電電位差
ｄ：感光層の厚さ
である。
【００２６】
このように、帯電電流値Ｉと感光層の厚さｄとの関係式が得られるため、感光体ドラムの削れ量である感光層の厚さの差分（変化量）Δｄは、電流値の差分（変化量）ΔＩで検知可能となる。
【００２７】
尚、露光領域長さＬ１は、少なくとも帯電ローラ端部を含み、電流値測定が可能な範囲で可能な限り小さいことが望ましい。第１実施形態では前述の帯電ローラ端部が長手方向（軸方向）に移動可能な所定の範囲（第１実施形態では６ｍｍ）の領域を含むように図２の帯電ローラ２の右端部６ｍｍを露光領域Ｌ１とした。また、削れ量検知において露光領域Ｌ１は固定とした。
【００２８】
図３は第１実施形態に係る削れ量検知の手順を示すシーケンス図である。図３に沿って、削れ量検知の手順を説明する。
【００２９】
図３に示すように、まず画像形成装置は、削れ検知開始前の基準となる帯電電流値を検知する。
【００３０】
画像形成前回転時、帯電ローラ２の露光領域Ｌ１を露光する（Ｓ１０１）。そして、露光時の基準帯電電流値Ｉｒを測定する（Ｓ１０２）。測定した電流値を基準帯電電流値Ｉｒとして装置本体に情報格納する（Ｓ１０３）。
【００３１】
この後、画像形成が行われる（Ｓ１０４）。画像形成装置の制御手段は、削れ後の帯電電流値を測定するため、画像形成を行うたびに帯電電流値の測定を行う。
【００３２】
図３において画像形成装置は、画像形成動作を実施し（Ｓ１０４）、その後の回転で露光領域Ｌ１を露光する（Ｓ１０５）。そして、露光領域Ｌ１における帯電電流値Ｉを測定する（Ｓ１０６）。帯電電流値Ｉが得られるたびに、基準帯電電流値Ｉｒと比較して削れ量を判断する（Ｓ１０７）。
【００３３】
削れ量判断（Ｓ１０７）は次のように行う。まず、装置本体に情報格納された基準帯電電流値Ｉｒと測定することで得られた帯電電流値Ｉとの帯電電流値の差分ΔＩを求める。帯電電流値の差分ΔＩと、基準値Ｘ（第一基準値）とを比較する（Ｓ１０７）。
【００３４】
ΔＩの値が基準値Ｘ以上の場合には帯電ローラ当接位置変更（Ｓ１０８）を行う。このため、削れ量の検知については終了する。
【００３５】
ΔＩの値が基準値Ｘ未満の場合には、次の画像形成を行った後に再度、帯電電流値Ｉの測定を行う（Ｓ１０６）。そして、帯電電流値の差分ΔＩと基準値Ｘとの比較を繰り返し行う（Ｓ１０７）。
【００３６】
尚、第１実施形態では、帯電ローラの画像形成前の回転時と画像形成後の回転時とに分けて基準帯電電流値Ｉｒ、帯電電流値Ｉを測定したが、これに限るものではない。画像形成などレーザースキャナ３による露光が他の目的で実施されている時以外であればよい。
【００３７】
また、削れ量検知における露光領域Ｌ１は、帯電ローラ端部の片側だけでなく、端部両側としてもよい。
【００３８】
また基準値Ｘは、感光層の厚みの１／２以下に相当する電流値であれば任意に設定してよい。第１実施形態では基準値Ｘ＝０．３μＡと設定した。これは第１実施形態の２μｍの削れ量に相当する。
【００３９】
第１実施形態の画像形成装置を用いて図３に示すシーケンスを実施したところ、画像形成の前回転における基準帯電電流は１．３μＡとなり、その後画像形成動作を繰り返して帯電電流値が１．６μＡとなった後に、当接位置の変更動作へと移行した。このときの感光体ドラム感光層の膜厚は、帯電ローラ端部位置で約８μｍであった。
【００４０】
以上のように、ドラム削れ量を帯電電流値として直接検知することで、環境によって異なるドラム削れ量に左右されることなく、最適な帯電ローラ当接位置変更タイミングを得ることが出来る。
【００４１】
（２）帯電ローラ当接位置の変更、および確認
上記のシーケンスにより帯電電流値が基準値Ｘ以上変化したことを検知した場合、画像形成装置は帯電ローラの当接位置の変更を行う。また当接位置が変更したことを確認するため、変更の前後で得られた帯電電流値の変化割合を判断する。
【００４２】
第１実施形態では、図２に示すように帯電ローラ回転軸に設けられた交差角θ（図２（ａ）参照）を反転し、交差角−θ（図２（ｂ）参照）とした。この交差角の反転と、帯電ローラ２の従動回転により、帯電ローラ２は矢印Ｂ方向へ移動する力が働く。
【００４３】
次に、以下に帯電ローラ当接位置が変更したことを確認する方法を説明する。
【００４４】
第１実施形態では、前述の帯電ローラ端部における帯電電流を測定する手段を用いて、実際に帯電ローラ当接位置が変更したことを確認する。
【００４５】
図４を用いて、確認方法の詳細を説明する。図４は第１実施形態に係る帯電ローラ当接位置の確認方法の説明図である。図４（ａ）には、帯電ローラ２の当接位置が矢印Ａに移動した時の、感光体ドラム１上での露光領域Ｌ２と帯電電流が測定される領域を示す。図４（ｂ）には、逆に帯電ローラ２の当接位置が矢印Ｂに移動した時の、感光体ドラム１上での露光領域Ｌ２と帯電電流が測定される領域を示す。
【００４６】
第１実施形態において、露光領域Ｌ２は、図４（ａ）、図４（ｂ）において感光体ドラム１上の同じ位置である。ここで、帯電電流測定領域Ｌ３の大きさに着目する。図４（ａ）に示すように、軸受１３と帯電ローラ２との当接位置が矢印Ａに移動するときは帯電電流測定領域Ｌ３が大きくなる。一方、図４（ｂ）に示すように、軸受１３と帯電ローラ２との当接位置が矢印Ｂに移動するときは帯電電流測定領域Ｌ３が小さくなる。従って、検知される帯電電流値も、帯電ローラ２が矢印Ａに移動すると大きくなり、矢印Ｂに移動すると小さくなる。この時の帯電電流値を比較することによって、帯電ローラ２の当接位置が変更についての確認が出来る。
【００４７】
尚、確認のための露光領域Ｌ２は、帯電ローラ端部が移動できる範囲を含み、前記端部の片側一方のみとすることがよい。これは、帯電ローラの当接位置が変更することによって帯電領域が増加もしくは減少することを検知するためである。仮に端部両側を露光した場合には、帯電ローラの当接位置が変更しても帯電する領域の長さは変わらず、当接位置が変更したことを確認することが困難となる。
【００４８】
第１実施形態では、図２の帯電ローラ２の右端が可動範囲とする領域である６ｍｍを確認のための露光領域長さＬ２とした。
【００４９】
図５は第１実施形態に係る当接位置変更及び確認の手順を説明するシーケンス図である。
【００５０】
図５に示すように、当接位置の変更を実施する前に、まず、露光領域Ｌ２の露光を行う（Ｓ２０１）。その後、帯電電流値Ｉｐを測定し（Ｓ２０２）、測定結果を変更前の帯電電流値Ｉｐとして装置本体に情報格納する（Ｓ２０３）。そして前述の方法にて帯電ローラ当接位置の変更を実施する（Ｓ２０４）。当接位置変更後、その確認を行うため、露光領域Ｌ２の露光を行い（Ｓ２０５）、帯電電流値Ｉａを測定する（Ｓ２０６）。
【００５１】
ここで、変更前の帯電電流値Ｉｐと変更後の帯電電流値Ｉａの変化の割合を判断する（Ｓ２０７）。変化の割合としては｜Ｉｐ−Ｉａ｜／Ｉｐを用いる。この変化の割合と基準値Ｙ（第二基準値）とを比較し、変化の割合が基準値Ｙ以上（第二基準値以上）ならば、次のドラム削れ検知を行うため図３に示した（１）削れ量の検知を実施するシーケンスへ移動する（Ｓ２０８）。これにより、再度、基準帯電電流値Ｉｒを測定して削れ量を検知するための（１）削れ量の検知のシーケンスと、（２）帯電ローラ当接位置の変更および確認のシーケンスを、所定のドラム寿命まで繰り返し実施することが出来る。
【００５２】
尚、帯電ローラ当接位置が変更しているため、再度測定される基準帯電電流値Ｉｒは前回の基準電流値とは異なる値となる。そして、新しい基準帯電電流値Ｉｒと帯電電流値を比較することで、削れ量が検知される。
【００５３】
一方｜Ｉｐ−Ｉａ｜／Ｉｐが基準値Ｙ未満（第二基準値未満）ならば、当接位置を変更前に戻すための操作を実施する（Ｓ２０９）。その後画像形成動作を再開すると共に帯電電流を検知し（Ｓ２１０）、帯電バイアスによるリークが発生しない膜厚まで画像形成動作を実施した後に画像形成動作を停止させる（Ｓ２１１）。尚、基準値Ｙは任意に設定可能であるが、本実施形態ではＹ＝０．５とした。
【００５４】
またリークが発生しない感光層の膜厚は、測定される帯電電流値Ｉから一意的に判定可能である。第１実施形態では、Ｉ＝１０μＡを超えた場合に画像形成を停止させた。
【００５５】
以上説明した画像形成装置を用いることで、感光体ドラム１の局所的な削れを抑制し、帯電バイアスリークの画像不良も発生しなかった。また意図的に異物を挟み込み帯電ローラの移動が行われない状態にした場合においても、適正に感光体ドラム寿命と判断し、帯電バイアスリークの画像不良の発生は無く、画像不良の発生を防止することが可能となった。
【００５６】
尚、本実施形態では、帯電ローラ当接位置の変更の方法として、交差角θを反転させたが、これに限るものではない。例えば、帯電ローラの軸受の両端を感光体ドラム回転軸と平行に同じ量だけ移動させてもよい。
【００５７】
また第１実施形態では、当接位置を変更前の状態に戻す動作を実施して画像形成停止としたが、これに限るものではない。例えば、帯電ローラの当接位置を戻した後に画像形成を続け、帯電電流を測定してその帯電電流値からドラム寿命か否かを判断し、その後に画像形成停止としても良い。
【００５８】
以上の構成により、本実施形態においては、ドラム削れ量を帯電電流値として直接検知することができる。このため、様々な環境において、最適な帯電ローラ当接位置変更タイミングを得ることができ、画像形成不良を抑制することができる。
【００５９】
〔第２実施形態〕
図を用いて第２実施形態を説明する。前述した実施形態と同様の構成については、符号を統一することで、説明を省略する。
【００６０】
第２実施形態では、第１実施形態で説明した画像形成装置の帯電ローラ端部でのドラム削れ量を検知する場合において、露光領域Ｌ１を可変とする。そして、あらかじめ実施する帯電電流値測定の結果から露光領域Ｌ１を決定し、削れ量検知を実施する。
【００６１】
第２実施形態においては、帯電電流測定手段９は、帯電電流値として露光領域Ｌ１のみの平均削れ量を測定する。このようにすると、帯電ローラ端部に対応した部分だけを露光領域Ｌ１と設定することが可能となり、より精度の良い削れ量検知が可能となる。
【００６２】
図６は第２実施形態に係る削れ量検知方法の説明図である。図６はあらかじめ実施する帯電電流値測定において、露光領域を１ｍｍ幅とし、帯電ローラ可動範囲の最端部から順次露光位置を変えた時に測定された帯電電流を示したグラフである。
【００６３】
横軸は露光位置を示し、ゼロ点は帯電ローラ２の可動範囲を含む最端部である。また縦軸は検知された帯電電流の大きさを表している。この結果、帯電電流は帯電ローラ可動範囲の最端部から６ｍｍの位置で大きく検知されることがわかる。
【００６４】
よって帯電ローラ２は、帯電電流が立ち上がる６ｍｍ位置から感光体ドラム１に当接していることが想定される。この場合、露光領域Ｌ１の書き出しは６ｍｍ位置に設定することが望ましい。また露光領域Ｌ１の幅は、帯電ローラ２の端部形状や当接圧などの構成により最適値が異なるものである。本実施形態では上記帯電電流値測定において大きな電流値が検知された３ｍｍの幅に設定すること良い。
【００６５】
また帯電ローラ２の両端部を露光領域Ｌ１とする場合、あらかじめ実施する帯電電流値測定において片側端部のみを測定し、帯電ローラの長手長さからもう一方の端部露光領域を一意的に決定することも出来る。
【００６６】
このように、帯電ローラ２における帯電電流が大きく検知される領域に、帯電電流測定領域を限定して露光領域Ｌ１を決定した後、図３に示すドラム削れ量検知シーケンスを実施することにより、より精度の良い削れ量検知が可能となる。
【００６７】
〔第３実施形態〕
図を用いて第３実施形態を説明する。前述した実施形態と同様の構成については、符号を統一することで、説明を省略する
第３実施形態では、第１実施形態で説明した画像形成装置の帯電ローラ当接位置変更の確認を行う場合、露光領域Ｌ２を可変とし、露光領域を変更して順次露光した時に検知される帯電電流から、当接位置が変更したことを判断することを特徴とする。
【００６８】
図７は第３実施形態に係る当接位置の確認方法の説明図である。図７は露光領域Ｌ２を１ｍｍ幅とし、帯電ローラ可動範囲の最端部“ａ”から“ｊ”まで順次露光位置を変えた時に測定された帯電電流を示したグラフである。またこの測定は帯電ローラ当接位置の変更を実施する前後で行われる。
【００６９】
横軸は露光領域Ｌ２の露光位置を示し、ゼロ点は帯電ローラの可動範囲を含む最端部である。また縦軸は測定された帯電電流の大きさを表している。
【００７０】
この結果、帯電ローラ当接位置の変更前は“ｆ”で電流値が測定され始めて“ｇ”で大きな電流値を測定したのに対し、帯電ローラ当接位置の変更後は“ｂ”で電流値を検出した。即ち、帯電電流値とその値の軸方向における傾向を測定し、その測定を帯電ローラの当接位置の変更の前後で行い、帯電電流値の傾向がどの位置に移動したかを比較することで当接位置の変更ができたか否かを判断する。
【００７１】
この結果から、帯電ローラは当接位置が移動したことを確認することができる。またその移動量は４〜５段階、すなわち４〜５ｍｍ移動したと判断することができる。
【００７２】
このように露光領域Ｌ２を可変とし、図７に示すように、帯電電流値とその位置の傾向を測定し、その測定を帯電ローラの当接位置の変更の前後で行うことによって、より正確に帯電ローラ当接位置の変化を検知することが可能となる。
【符号の説明】
【００７３】
Ｌ２…露光領域
Ｌ３…帯電電流測定領域
Ｍ…画像形成装置本体
１…感光体ドラム
２…帯電ローラ
３…レーザースキャナ
６…記録材
９…帯電電流測定手段
１３…軸受
１５…芯金
２０…高圧電源
【技術分野】
【０００１】
本発明は、電子写真方式により像担持体に静電潜像を形成し、この静電潜像を現像装置に収容した現像剤にて顕像化する電子写真画像形成装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
従来、画像形成装置で用いられる帯電手段としては、ローラ形状の帯電ローラが用いられる。そして帯電方式としては、接触帯電方式が用いられる。接触帯電方式では、帯電ローラを像担持体である感光体ドラムに接触させて、感光体ドラムを帯電させる。また、一般的には、帯電ローラの回転軸と感光体ドラムの回転軸との間の交差角を設け、帯電ローラを感光体ドラムに対して従動回転させることが行われている。帯電ローラの当接圧を均一化することができ、且つ回転時における帯電ローラの長手方向の位置を決定できるからである（例えば、特許文献１参照。）。
【０００３】
更には交差角を設けた場合に発生する帯電ローラ端部での感光体ドラムの局所的な削れに対し、感光体ドラムの使用状況に応じて交差角を変更するものがある（特許文献２参照。）。これにより、帯電ローラの当接位置を軸方向に移動させる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２００２−２６８３２６
【特許文献２】特開２００９−２４４４６７
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら上記特許文献２に記載の画像形成装置では、以下のような課題があった。
【０００６】
帯電ローラの当接位置のずれは交差角の変更のみで実施するが、当接位置を確認できないため、実際に当接位置がずれたことを確認することが困難である。例えば、帯電ローラへの異物付着で軸方向への移動が妨害されるなど、予期しないない状況下で、局所的なドラム削れが発生することがある。この局所的なドラム削れは画像形成領域外ではあるが、帯電バイアスがリークすることによって画像不良に至る場合があった。
【０００７】
また交差角の変更タイミングは、感光体ドラムへの帯電印加時間や感光体ドラム回転数で決定される。ここで、使用される環境により削れ量が増加した場合、ドラムが回転数に関わらず、削れてしまっているおそれがある。ドラム削れは帯電バイアスリークによる画像不良に至る場合がある。このため、これについても改善が必要であった。
【０００８】
本発明の目的は、帯電ローラ端部での局所的なドラムの状態を把握することによって画像不良の発生を抑制することである。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
上記目的を達成するため本発明に係る代表的な構成は、像担持体と、前記像担持体に当接して前記像担持体の回転に従動回転して前記像担持体を帯電させる帯電手段と、前記帯電手段に流れる帯電電流を測定する電流値測定手段と、前記像担持体を露光する露光手段と、前記帯電手段を軸方向に所定の範囲で移動可能に保持する保持部材と、前記各手段を制御する制御手段と、を有する画像形成装置において、前記電流値測定手段は、前記帯電手段の端部位置に対応する前記像担持体の一部の前記露光手段による露光後、前記帯電手段において再帯電されたときの電流値を測定するものであり、前記制御手段は、画像形成動作の前後において前記電流値測定手段により測定された前記電流値の差が第一基準値を超えた場合に、前記保持部材を移動させることにより、前記帯電手段の前記像担持体に対する位置を変更することを特徴とする。
【発明の効果】
【００１０】
以上の構成によれば、帯電ローラ端部での局所的なドラムの状態を把握することによって画像不良の発生を抑制することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１１】
【図１】第１実施形態に係る画像形成装置の概略断面図。
【図２】第１実施形態に係る帯電ローラの配置図。
【図３】第１実施形態に係る削れ量検知の手順を示すシーケンス図。
【図４】第１実施形態に係る帯電ローラ当接位置の確認方法の説明図。
【図５】第１実施形態に係る当接位置変更及び確認の手順を説明するシーケンス図。
【図６】第２実施形態に係る削れ量検知方法の説明図。
【図７】第３実施形態に係る当接位置の確認方法の説明図。
【発明を実施するための形態】
【００１２】
〔第１実施形態〕
図を用いて第１実施形態を説明する。図１は第１実施形態に係る画像形成装置の概略断面図である。図２は第１実施形態に係る帯電ローラの配置図である。
【００１３】
（画像形成装置の構成と動作）
図１に示すように、画像形成装置本体（以下、装置本体と称する。）Ｍには、感光体ドラム１（像担持体）が配設される。
【００１４】
感光体ドラム１は、アルミニウム等の導電性ドラム基体の外周面に、感光層である電荷発生層（ＣＧＬ）と電荷輸送層（ＣＴＬ）を１０μｍの厚さで形成した。図１矢印Ｒ１方向に２００ｍｍ/ｓｅｃのプロセススピードをもって矢印Ｒ１方向に回転駆動される。
【００１５】
感光体ドラム１の表面は、帯電ローラ２（帯電手段）により所定の極性・電位に均一に帯電処理される。
【００１６】
帯電ローラ２は感光体ドラム１の表面に当接されており、感光体ドラム１の矢印Ｒ１方向の回転に伴って矢印Ｒ２方向に従動回転する。また帯電ローラ２は、図２に示すように、帯電ローラの芯金１５の長手方向の両端部が軸受１３（保持部材）によって回転自在に支持されている。また、帯電ローラ２は、軸受１３の中で長手方向（軸方向）に隙間分の６ｍｍの移動ができる構成とした。
【００１７】
軸受１３は、図２（ａ）に示すように、帯電ローラ回転軸である芯金１５と、感光体ドラム１の回転軸との間に交差角θ（θ≠０°）を設定するように配置される。帯電ローラ２はこの交差角θをもって配置され、従動回転する。これにより、矢印Ａ方向へ移動する力が働く。
【００１８】
また、軸受１３は交差角θを変更する姿勢変更部材（不図示）を持ち、図２（ｂ）に示すように、所定のタイミングで交差角を反転させる。図２における交差角の反転は、交差角θを交差角−θにする方法で行った。
【００１９】
図１における帯電ローラ２には高圧電源２０によってＤＣバイアスが印加される。帯電ローラ２に当接することにより、感光体ドラム１の表面が−４００Ｖになるように帯電される。尚、高圧電源２０は、直列に接続された帯電電流測定手段９（電流値測定手段）を介して接地される。帯電電流測定手段９は、帯電ローラ２の端部位置に対応する感光体ドラム１の一部のレーザースキャナ３（露光手段）による露光後、帯電ローラ２において再帯電されたときの電流値を測定するものである。
【００２０】
帯電後の感光体ドラム１表面は、レーザースキャナ３から出力されたレーザービームの走査露光を受ける。すると、感光体ドラム１上には、目的の画像情報に対応した静電潜像が形成される。このレーザービームは、後述する削れ量の検知のため、画像形成領域外の帯電ローラ端部では十分大きい光量で露光し、感光体ドラム表面を除電する。
【００２１】
その後、前記静電潜像は現像器５（現像手段）によって現像され、トナー像となる。前記トナー像は、転写ローラ８によって記録材６に転写される。最後に、記録材６が定着器１０で加熱・加圧され、記録材６表面にトナー像が定着される。
【００２２】
（削れ量検知と帯電ローラの当接位置変更）
上述の画像形成装置を用いて、本発明の特徴を説明する。説明は、（１）削れ量の検知、について説明した後、（２）帯電ローラ当接位置の変更および確認について説明する。画像形成装置に具備される不図示の制御手段は、画像形成装置内の各手段を次の手順で制御する。
【００２３】
（１）削れ量の検知
帯電ローラ端部での感光体ドラムの削れ量を検知する方法を説明する。
【００２４】
まず、帯電ローラ端部での削れ量を検知する。そして、帯電ローラ端部領域にレーザースキャナ３で露光を行い、再度帯電したときに流れる帯電電流を測定する。この帯電電流を基に、削れ量を検知する。
【００２５】
ここで得られる帯電電流値Ｉは
Ｉ＝（ε × ε0 × Ｌ × ｖ × Ｖ）/ｄ
ここで、
ε＝3：感光体ドラム感光層の比誘電率
ε0＝8.85×10-12：真空誘電率
Ｌ：帯電長さ（＝露光領域長さＬ１）
ｖ：プロセススピード
Ｖ：帯電電位差
ｄ：感光層の厚さ
である。
【００２６】
このように、帯電電流値Ｉと感光層の厚さｄとの関係式が得られるため、感光体ドラムの削れ量である感光層の厚さの差分（変化量）Δｄは、電流値の差分（変化量）ΔＩで検知可能となる。
【００２７】
尚、露光領域長さＬ１は、少なくとも帯電ローラ端部を含み、電流値測定が可能な範囲で可能な限り小さいことが望ましい。第１実施形態では前述の帯電ローラ端部が長手方向（軸方向）に移動可能な所定の範囲（第１実施形態では６ｍｍ）の領域を含むように図２の帯電ローラ２の右端部６ｍｍを露光領域Ｌ１とした。また、削れ量検知において露光領域Ｌ１は固定とした。
【００２８】
図３は第１実施形態に係る削れ量検知の手順を示すシーケンス図である。図３に沿って、削れ量検知の手順を説明する。
【００２９】
図３に示すように、まず画像形成装置は、削れ検知開始前の基準となる帯電電流値を検知する。
【００３０】
画像形成前回転時、帯電ローラ２の露光領域Ｌ１を露光する（Ｓ１０１）。そして、露光時の基準帯電電流値Ｉｒを測定する（Ｓ１０２）。測定した電流値を基準帯電電流値Ｉｒとして装置本体に情報格納する（Ｓ１０３）。
【００３１】
この後、画像形成が行われる（Ｓ１０４）。画像形成装置の制御手段は、削れ後の帯電電流値を測定するため、画像形成を行うたびに帯電電流値の測定を行う。
【００３２】
図３において画像形成装置は、画像形成動作を実施し（Ｓ１０４）、その後の回転で露光領域Ｌ１を露光する（Ｓ１０５）。そして、露光領域Ｌ１における帯電電流値Ｉを測定する（Ｓ１０６）。帯電電流値Ｉが得られるたびに、基準帯電電流値Ｉｒと比較して削れ量を判断する（Ｓ１０７）。
【００３３】
削れ量判断（Ｓ１０７）は次のように行う。まず、装置本体に情報格納された基準帯電電流値Ｉｒと測定することで得られた帯電電流値Ｉとの帯電電流値の差分ΔＩを求める。帯電電流値の差分ΔＩと、基準値Ｘ（第一基準値）とを比較する（Ｓ１０７）。
【００３４】
ΔＩの値が基準値Ｘ以上の場合には帯電ローラ当接位置変更（Ｓ１０８）を行う。このため、削れ量の検知については終了する。
【００３５】
ΔＩの値が基準値Ｘ未満の場合には、次の画像形成を行った後に再度、帯電電流値Ｉの測定を行う（Ｓ１０６）。そして、帯電電流値の差分ΔＩと基準値Ｘとの比較を繰り返し行う（Ｓ１０７）。
【００３６】
尚、第１実施形態では、帯電ローラの画像形成前の回転時と画像形成後の回転時とに分けて基準帯電電流値Ｉｒ、帯電電流値Ｉを測定したが、これに限るものではない。画像形成などレーザースキャナ３による露光が他の目的で実施されている時以外であればよい。
【００３７】
また、削れ量検知における露光領域Ｌ１は、帯電ローラ端部の片側だけでなく、端部両側としてもよい。
【００３８】
また基準値Ｘは、感光層の厚みの１／２以下に相当する電流値であれば任意に設定してよい。第１実施形態では基準値Ｘ＝０．３μＡと設定した。これは第１実施形態の２μｍの削れ量に相当する。
【００３９】
第１実施形態の画像形成装置を用いて図３に示すシーケンスを実施したところ、画像形成の前回転における基準帯電電流は１．３μＡとなり、その後画像形成動作を繰り返して帯電電流値が１．６μＡとなった後に、当接位置の変更動作へと移行した。このときの感光体ドラム感光層の膜厚は、帯電ローラ端部位置で約８μｍであった。
【００４０】
以上のように、ドラム削れ量を帯電電流値として直接検知することで、環境によって異なるドラム削れ量に左右されることなく、最適な帯電ローラ当接位置変更タイミングを得ることが出来る。
【００４１】
（２）帯電ローラ当接位置の変更、および確認
上記のシーケンスにより帯電電流値が基準値Ｘ以上変化したことを検知した場合、画像形成装置は帯電ローラの当接位置の変更を行う。また当接位置が変更したことを確認するため、変更の前後で得られた帯電電流値の変化割合を判断する。
【００４２】
第１実施形態では、図２に示すように帯電ローラ回転軸に設けられた交差角θ（図２（ａ）参照）を反転し、交差角−θ（図２（ｂ）参照）とした。この交差角の反転と、帯電ローラ２の従動回転により、帯電ローラ２は矢印Ｂ方向へ移動する力が働く。
【００４３】
次に、以下に帯電ローラ当接位置が変更したことを確認する方法を説明する。
【００４４】
第１実施形態では、前述の帯電ローラ端部における帯電電流を測定する手段を用いて、実際に帯電ローラ当接位置が変更したことを確認する。
【００４５】
図４を用いて、確認方法の詳細を説明する。図４は第１実施形態に係る帯電ローラ当接位置の確認方法の説明図である。図４（ａ）には、帯電ローラ２の当接位置が矢印Ａに移動した時の、感光体ドラム１上での露光領域Ｌ２と帯電電流が測定される領域を示す。図４（ｂ）には、逆に帯電ローラ２の当接位置が矢印Ｂに移動した時の、感光体ドラム１上での露光領域Ｌ２と帯電電流が測定される領域を示す。
【００４６】
第１実施形態において、露光領域Ｌ２は、図４（ａ）、図４（ｂ）において感光体ドラム１上の同じ位置である。ここで、帯電電流測定領域Ｌ３の大きさに着目する。図４（ａ）に示すように、軸受１３と帯電ローラ２との当接位置が矢印Ａに移動するときは帯電電流測定領域Ｌ３が大きくなる。一方、図４（ｂ）に示すように、軸受１３と帯電ローラ２との当接位置が矢印Ｂに移動するときは帯電電流測定領域Ｌ３が小さくなる。従って、検知される帯電電流値も、帯電ローラ２が矢印Ａに移動すると大きくなり、矢印Ｂに移動すると小さくなる。この時の帯電電流値を比較することによって、帯電ローラ２の当接位置が変更についての確認が出来る。
【００４７】
尚、確認のための露光領域Ｌ２は、帯電ローラ端部が移動できる範囲を含み、前記端部の片側一方のみとすることがよい。これは、帯電ローラの当接位置が変更することによって帯電領域が増加もしくは減少することを検知するためである。仮に端部両側を露光した場合には、帯電ローラの当接位置が変更しても帯電する領域の長さは変わらず、当接位置が変更したことを確認することが困難となる。
【００４８】
第１実施形態では、図２の帯電ローラ２の右端が可動範囲とする領域である６ｍｍを確認のための露光領域長さＬ２とした。
【００４９】
図５は第１実施形態に係る当接位置変更及び確認の手順を説明するシーケンス図である。
【００５０】
図５に示すように、当接位置の変更を実施する前に、まず、露光領域Ｌ２の露光を行う（Ｓ２０１）。その後、帯電電流値Ｉｐを測定し（Ｓ２０２）、測定結果を変更前の帯電電流値Ｉｐとして装置本体に情報格納する（Ｓ２０３）。そして前述の方法にて帯電ローラ当接位置の変更を実施する（Ｓ２０４）。当接位置変更後、その確認を行うため、露光領域Ｌ２の露光を行い（Ｓ２０５）、帯電電流値Ｉａを測定する（Ｓ２０６）。
【００５１】
ここで、変更前の帯電電流値Ｉｐと変更後の帯電電流値Ｉａの変化の割合を判断する（Ｓ２０７）。変化の割合としては｜Ｉｐ−Ｉａ｜／Ｉｐを用いる。この変化の割合と基準値Ｙ（第二基準値）とを比較し、変化の割合が基準値Ｙ以上（第二基準値以上）ならば、次のドラム削れ検知を行うため図３に示した（１）削れ量の検知を実施するシーケンスへ移動する（Ｓ２０８）。これにより、再度、基準帯電電流値Ｉｒを測定して削れ量を検知するための（１）削れ量の検知のシーケンスと、（２）帯電ローラ当接位置の変更および確認のシーケンスを、所定のドラム寿命まで繰り返し実施することが出来る。
【００５２】
尚、帯電ローラ当接位置が変更しているため、再度測定される基準帯電電流値Ｉｒは前回の基準電流値とは異なる値となる。そして、新しい基準帯電電流値Ｉｒと帯電電流値を比較することで、削れ量が検知される。
【００５３】
一方｜Ｉｐ−Ｉａ｜／Ｉｐが基準値Ｙ未満（第二基準値未満）ならば、当接位置を変更前に戻すための操作を実施する（Ｓ２０９）。その後画像形成動作を再開すると共に帯電電流を検知し（Ｓ２１０）、帯電バイアスによるリークが発生しない膜厚まで画像形成動作を実施した後に画像形成動作を停止させる（Ｓ２１１）。尚、基準値Ｙは任意に設定可能であるが、本実施形態ではＹ＝０．５とした。
【００５４】
またリークが発生しない感光層の膜厚は、測定される帯電電流値Ｉから一意的に判定可能である。第１実施形態では、Ｉ＝１０μＡを超えた場合に画像形成を停止させた。
【００５５】
以上説明した画像形成装置を用いることで、感光体ドラム１の局所的な削れを抑制し、帯電バイアスリークの画像不良も発生しなかった。また意図的に異物を挟み込み帯電ローラの移動が行われない状態にした場合においても、適正に感光体ドラム寿命と判断し、帯電バイアスリークの画像不良の発生は無く、画像不良の発生を防止することが可能となった。
【００５６】
尚、本実施形態では、帯電ローラ当接位置の変更の方法として、交差角θを反転させたが、これに限るものではない。例えば、帯電ローラの軸受の両端を感光体ドラム回転軸と平行に同じ量だけ移動させてもよい。
【００５７】
また第１実施形態では、当接位置を変更前の状態に戻す動作を実施して画像形成停止としたが、これに限るものではない。例えば、帯電ローラの当接位置を戻した後に画像形成を続け、帯電電流を測定してその帯電電流値からドラム寿命か否かを判断し、その後に画像形成停止としても良い。
【００５８】
以上の構成により、本実施形態においては、ドラム削れ量を帯電電流値として直接検知することができる。このため、様々な環境において、最適な帯電ローラ当接位置変更タイミングを得ることができ、画像形成不良を抑制することができる。
【００５９】
〔第２実施形態〕
図を用いて第２実施形態を説明する。前述した実施形態と同様の構成については、符号を統一することで、説明を省略する。
【００６０】
第２実施形態では、第１実施形態で説明した画像形成装置の帯電ローラ端部でのドラム削れ量を検知する場合において、露光領域Ｌ１を可変とする。そして、あらかじめ実施する帯電電流値測定の結果から露光領域Ｌ１を決定し、削れ量検知を実施する。
【００６１】
第２実施形態においては、帯電電流測定手段９は、帯電電流値として露光領域Ｌ１のみの平均削れ量を測定する。このようにすると、帯電ローラ端部に対応した部分だけを露光領域Ｌ１と設定することが可能となり、より精度の良い削れ量検知が可能となる。
【００６２】
図６は第２実施形態に係る削れ量検知方法の説明図である。図６はあらかじめ実施する帯電電流値測定において、露光領域を１ｍｍ幅とし、帯電ローラ可動範囲の最端部から順次露光位置を変えた時に測定された帯電電流を示したグラフである。
【００６３】
横軸は露光位置を示し、ゼロ点は帯電ローラ２の可動範囲を含む最端部である。また縦軸は検知された帯電電流の大きさを表している。この結果、帯電電流は帯電ローラ可動範囲の最端部から６ｍｍの位置で大きく検知されることがわかる。
【００６４】
よって帯電ローラ２は、帯電電流が立ち上がる６ｍｍ位置から感光体ドラム１に当接していることが想定される。この場合、露光領域Ｌ１の書き出しは６ｍｍ位置に設定することが望ましい。また露光領域Ｌ１の幅は、帯電ローラ２の端部形状や当接圧などの構成により最適値が異なるものである。本実施形態では上記帯電電流値測定において大きな電流値が検知された３ｍｍの幅に設定すること良い。
【００６５】
また帯電ローラ２の両端部を露光領域Ｌ１とする場合、あらかじめ実施する帯電電流値測定において片側端部のみを測定し、帯電ローラの長手長さからもう一方の端部露光領域を一意的に決定することも出来る。
【００６６】
このように、帯電ローラ２における帯電電流が大きく検知される領域に、帯電電流測定領域を限定して露光領域Ｌ１を決定した後、図３に示すドラム削れ量検知シーケンスを実施することにより、より精度の良い削れ量検知が可能となる。
【００６７】
〔第３実施形態〕
図を用いて第３実施形態を説明する。前述した実施形態と同様の構成については、符号を統一することで、説明を省略する
第３実施形態では、第１実施形態で説明した画像形成装置の帯電ローラ当接位置変更の確認を行う場合、露光領域Ｌ２を可変とし、露光領域を変更して順次露光した時に検知される帯電電流から、当接位置が変更したことを判断することを特徴とする。
【００６８】
図７は第３実施形態に係る当接位置の確認方法の説明図である。図７は露光領域Ｌ２を１ｍｍ幅とし、帯電ローラ可動範囲の最端部“ａ”から“ｊ”まで順次露光位置を変えた時に測定された帯電電流を示したグラフである。またこの測定は帯電ローラ当接位置の変更を実施する前後で行われる。
【００６９】
横軸は露光領域Ｌ２の露光位置を示し、ゼロ点は帯電ローラの可動範囲を含む最端部である。また縦軸は測定された帯電電流の大きさを表している。
【００７０】
この結果、帯電ローラ当接位置の変更前は“ｆ”で電流値が測定され始めて“ｇ”で大きな電流値を測定したのに対し、帯電ローラ当接位置の変更後は“ｂ”で電流値を検出した。即ち、帯電電流値とその値の軸方向における傾向を測定し、その測定を帯電ローラの当接位置の変更の前後で行い、帯電電流値の傾向がどの位置に移動したかを比較することで当接位置の変更ができたか否かを判断する。
【００７１】
この結果から、帯電ローラは当接位置が移動したことを確認することができる。またその移動量は４〜５段階、すなわち４〜５ｍｍ移動したと判断することができる。
【００７２】
このように露光領域Ｌ２を可変とし、図７に示すように、帯電電流値とその位置の傾向を測定し、その測定を帯電ローラの当接位置の変更の前後で行うことによって、より正確に帯電ローラ当接位置の変化を検知することが可能となる。
【符号の説明】
【００７３】
Ｌ２…露光領域
Ｌ３…帯電電流測定領域
Ｍ…画像形成装置本体
１…感光体ドラム
２…帯電ローラ
３…レーザースキャナ
６…記録材
９…帯電電流測定手段
１３…軸受
１５…芯金
２０…高圧電源
【特許請求の範囲】
【請求項１】
像担持体と、
前記像担持体に当接して前記像担持体の回転に従動回転して前記像担持体を帯電させる帯電手段と、
前記帯電手段に流れる帯電電流を測定する電流値測定手段と、
前記像担持体を露光する露光手段と、
前記帯電手段を軸方向に所定の範囲で移動可能に保持する保持部材と、
前記各手段を制御する制御手段と、を有する画像形成装置において、
前記電流値測定手段は、前記帯電手段の端部位置に対応する前記像担持体の一部の前記露光手段による露光後、前記帯電手段において再帯電されたときの電流値を測定するものであり、
前記制御手段は、画像形成動作の前後において前記電流値測定手段により測定された前記電流値の差が第一基準値を超えた場合に、前記保持部材を移動させることにより、前記帯電手段の前記像担持体に対する位置を変更することを特徴とする画像形成装置。
【請求項２】
前記制御手段は、前記保持部材の移動の前後において、前記電流値測定手段により測定された電流値に基づいて、前記帯電手段の位置が変更されたか否かを判断することを特徴とする請求項１に記載の画像形成装置。
【請求項３】
前記制御手段は、
前記帯電手段の前記像担持体に対する位置の変更の前後において前記電流値測定手段により測定された前記電流値の変化の割合が第二基準値以上の場合に、前記帯電手段の位置が移動したと判断することを特徴とする請求項１又は請求項２に記載の画像形成装置。
【請求項４】
前記制御手段は、
前記帯電手段の前記像担持体に対する位置の変更の前後において前記電流値測定手段により測定された前記電流値の変化の割合が第二基準値未満の場合に、前記帯電手段の位置が移動していないと判断して前記帯電手段を変更前の位置に戻した後、画像形成動作を停止させることを特徴とする請求項３に記載の画像形成装置。
【請求項５】
前記制御手段は、
前記帯電手段の前記像担持体に対する位置の変更の前後において前記電流値測定手段により測定された前記電流値の変化の割合が第二基準値未満の場合に、前記帯電手段の位置が移動していないと判断して前記帯電手段を変更前の位置に戻した後、前記電流値測定手段により前記帯電手段の電流値を測定し、画像形成動作を停止させることを特徴とする請求項３に記載の画像形成装置。
【請求項６】
前記制御手段は、
前記電流値測定手段による帯電電流測定領域を、前記帯電手段において帯電電流が大きく検知される領域に限定して、前記露光手段による露光及び前記電流値の測定を行うことを特徴とする請求項１乃至請求項５のいずれか１項に記載の画像形成装置。
【請求項７】
前記制御手段は、
前記帯電手段の位置の変更の前後において前記電流値測定手段により前記帯電手段の帯電電流値の傾向を比較して、前記帯電手段の位置が変更されたか否かを判断することを特徴とする請求項１乃至請求項５のいずれか１項に記載の画像形成装置。
【請求項１】
像担持体と、
前記像担持体に当接して前記像担持体の回転に従動回転して前記像担持体を帯電させる帯電手段と、
前記帯電手段に流れる帯電電流を測定する電流値測定手段と、
前記像担持体を露光する露光手段と、
前記帯電手段を軸方向に所定の範囲で移動可能に保持する保持部材と、
前記各手段を制御する制御手段と、を有する画像形成装置において、
前記電流値測定手段は、前記帯電手段の端部位置に対応する前記像担持体の一部の前記露光手段による露光後、前記帯電手段において再帯電されたときの電流値を測定するものであり、
前記制御手段は、画像形成動作の前後において前記電流値測定手段により測定された前記電流値の差が第一基準値を超えた場合に、前記保持部材を移動させることにより、前記帯電手段の前記像担持体に対する位置を変更することを特徴とする画像形成装置。
【請求項２】
前記制御手段は、前記保持部材の移動の前後において、前記電流値測定手段により測定された電流値に基づいて、前記帯電手段の位置が変更されたか否かを判断することを特徴とする請求項１に記載の画像形成装置。
【請求項３】
前記制御手段は、
前記帯電手段の前記像担持体に対する位置の変更の前後において前記電流値測定手段により測定された前記電流値の変化の割合が第二基準値以上の場合に、前記帯電手段の位置が移動したと判断することを特徴とする請求項１又は請求項２に記載の画像形成装置。
【請求項４】
前記制御手段は、
前記帯電手段の前記像担持体に対する位置の変更の前後において前記電流値測定手段により測定された前記電流値の変化の割合が第二基準値未満の場合に、前記帯電手段の位置が移動していないと判断して前記帯電手段を変更前の位置に戻した後、画像形成動作を停止させることを特徴とする請求項３に記載の画像形成装置。
【請求項５】
前記制御手段は、
前記帯電手段の前記像担持体に対する位置の変更の前後において前記電流値測定手段により測定された前記電流値の変化の割合が第二基準値未満の場合に、前記帯電手段の位置が移動していないと判断して前記帯電手段を変更前の位置に戻した後、前記電流値測定手段により前記帯電手段の電流値を測定し、画像形成動作を停止させることを特徴とする請求項３に記載の画像形成装置。
【請求項６】
前記制御手段は、
前記電流値測定手段による帯電電流測定領域を、前記帯電手段において帯電電流が大きく検知される領域に限定して、前記露光手段による露光及び前記電流値の測定を行うことを特徴とする請求項１乃至請求項５のいずれか１項に記載の画像形成装置。
【請求項７】
前記制御手段は、
前記帯電手段の位置の変更の前後において前記電流値測定手段により前記帯電手段の帯電電流値の傾向を比較して、前記帯電手段の位置が変更されたか否かを判断することを特徴とする請求項１乃至請求項５のいずれか１項に記載の画像形成装置。
【図１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【公開番号】特開２０１２−１０３３０４（Ｐ２０１２−１０３３０４Ａ）
【公開日】平成２４年５月３１日（２０１２．５．３１）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２０１０−２４９３７９（Ｐ２０１０−２４９３７９）
【出願日】平成２２年１１月８日（２０１０．１１．８）
【出願人】（０００００１００７）キヤノン株式会社 (59,756)
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成２４年５月３１日（２０１２．５．３１）
【国際特許分類】
【出願日】平成２２年１１月８日（２０１０．１１．８）
【出願人】（０００００１００７）キヤノン株式会社 (59,756)
【Ｆターム（参考）】
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