Ｘ線検査装置
【課題】基準値（しきい値）の設定を変更する際の指標を作業者に提供することにより、基準値の設定の変更作業を効率的に行うことが可能な、Ｘ線検査装置を得る。
【解決手段】Ｘ線検査装置１は、複数の物品１００に関する検査によってＸ線検出部５で取得された、Ｘ線の強度に関する複数の検出データＳ１を蓄積する蓄積手段２２と、所定の基準値として、複数の物品１００に関する検査で用いられた実基準値とは異なる仮想基準値を設定する設定手段２４と、仮想基準値と、蓄積手段２２に蓄積されている各検出データＳ１との比較結果に基づいて、各物品１００内への異物の混入の有無を判定する判定手段２５と、複数の物品１００の総数における、判定手段２５によって異物が混入されていると判定された物品１００の個数の割合として、仮想異物混入率を算出する算出手段２６と、仮想異物混入率を表示部９に表示させる表示制御手段２７とを備える。
【解決手段】Ｘ線検査装置１は、複数の物品１００に関する検査によってＸ線検出部５で取得された、Ｘ線の強度に関する複数の検出データＳ１を蓄積する蓄積手段２２と、所定の基準値として、複数の物品１００に関する検査で用いられた実基準値とは異なる仮想基準値を設定する設定手段２４と、仮想基準値と、蓄積手段２２に蓄積されている各検出データＳ１との比較結果に基づいて、各物品１００内への異物の混入の有無を判定する判定手段２５と、複数の物品１００の総数における、判定手段２５によって異物が混入されていると判定された物品１００の個数の割合として、仮想異物混入率を算出する算出手段２６と、仮想異物混入率を表示部９に表示させる表示制御手段２７とを備える。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、Ｘ線検査装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
Ｘ線検査装置においては、Ｘ線源から物品にＸ線が照射され、物品を透過した透過Ｘ線がＸ線センサによって検出される。そして、Ｘ線センサで検出された透過Ｘ線の強度と、予め設定された所定のしきい値とが比較され、その比較の結果に基づいて物品の良／不良が判定される（例えば下記特許文献１参照）。物品内に異物が混入していると、異物の混入箇所において透過Ｘ線の強度が極端に低下する。そのため、透過Ｘ線の強度がしきい値未満となる物品を不良品（異物混入品）として検出することができる。
【０００３】
【特許文献１】特開２００２−９８６５３号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
上記の通り、Ｘ線検査装置においては、透過Ｘ線の強度としきい値との比較結果に基づいて物品の良／不良が判定される。従って、適切な検査を行うためには、しきい値のレベルを適切に設定する必要がある。しきい値のレベルを低く設定し過ぎると、異物が混入している物品が良品と判定される。一方、しきい値のレベルを高く設定し過ぎると、信号のノイズ等が異物として検出されて、異物が混入していない物品が不良品と判定され、その結果、不良率（検査物品総数のうち不良品の占める割合）が上昇する。
【０００５】
検査基準を一定に保つためには、物品の製造ラインが一旦稼働されると、製造ラインの稼働中にしきい値の設定を変更することはできない。従って、設定された基準値が不適切であった場合、例えば、しきい値のレベルを低く設定し過ぎて不良率が異常に高くなっている場合には、しきい値の設定を変更するために製造ラインの稼働を一旦停止させる必要がある。これによって製造ラインの稼働率が低下する。しかも、作業者の勘と経験だけでしきい値の設定を変更したとしても、変更後のしきい値が依然として不適切であった場合には、製造ラインの稼働を再び停止する必要が生じ、稼働率がさらに低下する。
【０００６】
本発明はかかる事情に鑑みて成されたものであり、基準値（しきい値）の設定を変更する際の指標を作業者に提供することにより、基準値の設定の変更作業を効率的に行うことが可能な、Ｘ線検査装置を得ることを目的とするものである。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本発明の第１の態様に係るＸ線検査装置は、Ｘ線照射部から物品にＸ線を照射し、物品を透過したＸ線をＸ線検出部によって検出し、前記Ｘ線検出部で検出されたＸ線の強度と所定の基準値との比較結果に基づいて物品の良／不良を判定する、Ｘ線検査装置であって、複数の物品に関する検査によって前記Ｘ線検出部で取得された、Ｘ線の強度に関する複数の検出データを蓄積する蓄積手段と、前記所定の基準値として、前記複数の物品に関する検査で用いられた実基準値とは異なる仮想基準値を設定する設定手段と、前記仮想基準値と、前記蓄積手段に蓄積されている各検出データとの比較結果に基づいて、各物品内への異物の混入の有無を判定する判定手段と、前記複数の物品の総数における、前記判定手段によって異物が混入されていると判定された物品の個数の割合として、仮想異物混入率を算出する算出手段と、前記仮想異物混入率を表示部に表示させる表示制御手段とを備えることを特徴とするものである。
【０００８】
第１の態様に係るＸ線検査装置によれば、蓄積手段は、複数の物品に関する検査によってＸ線検出部で取得された、Ｘ線の強度に関する複数の検出データを蓄積し、設定手段は、所定の基準値として、複数の物品に関する検査で用いられた実基準値とは異なる仮想基準値を設定し、判定手段は、仮想基準値と、蓄積手段に蓄積されている各検出データとの比較結果に基づいて、各物品内への異物の混入の有無を判定し、算出手段は、複数の物品の総数における、判定手段によって異物が混入されていると判定された物品の個数の割合として、仮想異物混入率を算出する。そして、表示制御手段は、仮想異物混入率を表示部に表示させる。従って、実基準値の設定を変更する必要が生じた場合、作業者は、設定手段によって仮想基準値を所望に設定することにより、その仮想基準値に応じた仮想異物混入率が表示部に表示される。その結果、作業者は、表示部に表示された仮想異物混入率を指標として用いて、実基準値の設定の変更作業を効率的に行うことが可能となる。しかも、仮想異物混入率は、シミュレーション等による予測ではなく、複数の物品に関する実際の検査によって取得された複数の検出データに基づいて算出されるため、正確な仮想異物混入率を作業者に提供することが可能となる。
【０００９】
本発明の第２の態様に係るＸ線検査装置は、第１の態様に係るＸ線検査装置において特に、前記複数の物品は、実稼働されている製造ラインにおいて前記Ｘ線検査装置によって検査された物品であることを特徴とするものである。
【００１０】
第２の態様に係るＸ線検査装置によれば、実稼働されている製造ラインのＸ線検査装置によって取得された検出データを用いて、仮想異物混入率を求めることができる。従って、仮想異物混入率を求めるために、製造ラインの実稼働を停止してテスト稼働を行う必要がない。その結果、製造ラインの稼働率を上げることが可能となる。
【００１１】
本発明の第３の態様に係るＸ線検査装置は、第１又は第２の態様に係るＸ線検査装置において特に、前記表示部には、前記実基準値に基づいて算出された実異物混入率と、前記仮想異物混入率とが、併せて表示されることを特徴とするものである。
【００１２】
第３の態様に係るＸ線検査装置によれば、表示部には、実異物混入率と仮想異物混入率とが併せて表示される。従って、作業者は、現在の実異物混入率と基準値変更後の仮想異物混入率とを、表示部上で目視によって容易に比較することができる。その結果、基準値の設定の変更作業を効率的に行うことが可能となる。
【００１３】
本発明の第４の態様に係るＸ線検査装置は、第１〜第３のいずれか一つの態様に係るＸ線検査装置において特に、前記Ｘ線検査装置は、複数の検出アルゴリズムを用いて、各検出アルゴリズムごとに異物の検出が可能であり、前記設定手段は、各検出アルゴリズムごとに前記仮想基準値を設定可能であり、前記判定手段は、各検出アルゴリズムごとに異物の混入の有無を判定し、前記算出手段は、各検出アルゴリズムごとに前記仮想異物混入率を算出し、前記表示部には、各検出アルゴリズムごとの前記仮想異物混入率が表示されることを特徴とするものである。
【００１４】
第４の態様に係るＸ線検査装置によれば、設定手段によって各検出アルゴリズムごとに仮想基準値を所望に設定することにより、各検出アルゴリズムごとの仮想異物混入率が表示部に表示される。その結果、作業者は、表示部に表示された各検出アルゴリズムごとの仮想異物混入率を指標として用いて、各検出アルゴリズムごとの実基準値の設定の変更作業を効率的に行うことが可能となる。
【００１５】
本発明の第５の態様に係るＸ線検査装置は、第４の態様に係るＸ線検査装置において特に、前記Ｘ線検査装置は、各検出アルゴリズムごとの異物の混入の有無の判定結果に基づいて、物品の良／不良を判定し、前記表示部には、各検出アルゴリズムごとの前記仮想異物混入率と、物品の不良率とが、併せて表示されることを特徴とするものである。
【００１６】
第５の態様に係るＸ線検査装置によれば、表示部には、各検出アルゴリズムごとの仮想異物混入率と、物品の不良率とが、併せて表示される。従って、作業者は、表示部上に表示されたこれらの情報を目視で確認しながら、目標とする不良率を達成するための各検出アルゴリズムごとの仮想基準値の組合せを探索することが可能となる。
【００１７】
本発明の第６の態様に係るＸ線検査装置は、第１〜第５のいずれか一つの態様に係るＸ線検査装置において特に、前記設定手段は、前記表示部上で前記仮想基準値を設定可能であり、前記表示部には、前記仮想基準値の設定が許容される限界値が表示されることを特徴とするものである。
【００１８】
第６の態様に係るＸ線検査装置によれば、表示部には、仮想基準値の設定が許容される限界値が表示される。従って、許容範囲を逸脱する非現実的な基準値が作業者によって設定されることに起因して、Ｘ線検査装置の検査精度が極端に低下することを、予め回避することが可能となる。
【００１９】
本発明の第７の態様に係るＸ線検査装置は、第１〜第６のいずれか一つの態様に係るＸ線検査装置において特に、前記表示部には、前記Ｘ線照射部から照射されたＸ線の強度が表示されることを特徴とするものである。
【００２０】
第７の態様に係るＸ線検査装置によれば、表示部には、Ｘ線照射部から照射されたＸ線の強度が表示される。従って、Ｘ線照射部のＸ線源に故障や経時劣化等のトラブルが発生している場合には、作業者は、表示部に表示されたＸ線の強度に関する情報を参照することにより、Ｘ線源にトラブルが発生していることを知ることができる。その結果、Ｘ線源のトラブルを知らずに基準値の変更作業が無駄に行われることを、予め回避することが可能となる。
【００２１】
本発明の第８の態様に係るプログラムは、Ｘ線照射部から物品にＸ線を照射し、物品を透過したＸ線をＸ線検出部によって検出し、前記Ｘ線検出部で検出されたＸ線の強度と所定の基準値との比較結果に基づいて物品の良／不良を判定するＸ線検査装置に、内蔵又は外部接続されるコンピュータを、複数の物品に関する検査によって前記Ｘ線検査部で取得された、Ｘ線の強度に関する複数の検出データを蓄積する蓄積手段と、前記所定の基準値として、前記複数の物品に関する検査で用いられた実基準値とは異なる仮想基準値を設定する設定手段と、前記仮想基準値と、前記蓄積手段に蓄積されている各検出データとの比較結果に基づいて、各物品内への異物の混入の有無を判定する判定手段と、前記複数の物品の総数における、前記判定手段によって異物が混入されていると判定された物品の個数の割合として、仮想異物混入率を算出する算出手段と、前記仮想異物混入率を表示部に表示させる表示制御手段ととして機能させることを特徴とするものである。
【００２２】
第８の態様に係るプログラムによれば、蓄積手段は、複数の物品に関する検査によってＸ線検出部で取得された、Ｘ線の強度に関する複数の検出データを蓄積し、設定手段は、所定の基準値として、複数の物品に関する検査で用いられた実基準値とは異なる仮想基準値を設定し、判定手段は、仮想基準値と、蓄積手段に蓄積されている各検出データとの比較結果に基づいて、各物品内への異物の混入の有無を判定し、算出手段は、複数の物品の総数における、判定手段によって異物が混入されていると判定された物品の個数の割合として、仮想異物混入率を算出する。そして、表示制御手段は、仮想異物混入率を表示部に表示させる。従って、実基準値の設定を変更する必要が生じた場合、作業者は、設定手段によって仮想基準値を所望に設定することにより、その仮想基準値に応じた仮想異物混入率が表示部に表示される。その結果、作業者は、表示部に表示された仮想異物混入率を指標として用いて、実基準値の設定の変更作業を効率的に行うことが可能となる。しかも、仮想異物混入率は、シミュレーション等による予測ではなく、複数の物品に関する実際の検査によって取得された複数の検出データに基づいて算出されるため、正確な仮想異物混入率を作業者に提供することが可能となる。
【発明の効果】
【００２３】
本発明によれば、基準値の設定を変更する際の指標を作業者に提供することにより、基準値の設定の変更作業を効率的に行うことが可能となる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２４】
以下、本発明の実施の形態について、図面を用いて詳細に説明する。なお、異なる図面において同一の符号を付した要素は、同一又は相応する要素を示すものとする。
【００２５】
図１は、本発明の実施の形態に係るＸ線検査装置１の構成例を示す正面図である。シールドボックス２には、検査対象である食品等の物品１００を外部からシールドボックス２内に搬入するための物品搬入口３Ａと、検査後の物品１００をシールドボックス２から外部に搬出するための物品搬出口３Ｂとが形成されている。なお、図２では、シールドボックス２の内部の構造を明示するために、シールドボックス２の前面板を取り外した状態の装置構造を示している。
【００２６】
シールドボックス２の内部には、Ｘ線照射部４とＸ線検出部５とが配置されている。Ｘ線検出部５は、ラインセンサ６を有している。ラインセンサ６は、紙面の奥行き方向に沿って延在している。Ｘ線照射部４は、ラインセンサ６に向かって扇形状にＸ線を照射する。つまり、Ｘ線照射部４とラインセンサ６との間の空間が、Ｘ線照射経路として規定される。
【００２７】
また、シールドボックス２内には、搬送コンベア７が配置されている。搬送コンベア７は、駆動ローラを含む複数のローラ上に巻装されたコンベアベルト８を有している。搬送コンベア７は、コンベアベルト８の物品搬送面上に載置された物品１００を、当該物品１００がＸ線照射部４とラインセンサ６との間のＸ線照射経路を通過するように搬送する。図１に示した例では、物品１００は、搬送コンベア７によって矢印Ｄ１で示す方向に搬送される。つまり、紙面の左側が物品搬送方向の上流側であり、右側が下流側である。
【００２８】
また、Ｘ線検査装置１は、タッチパネル機能付きの表示部９を備えている。Ｘ線検査装置１による物品１００の検査結果は、表示部９に表示される。また、Ｘ線検出部５による検出データを処理するとともに、Ｘ線検査装置１の動作を制御するためのコンピュータ１０が、Ｘ線検査装置１に内蔵されている。
【００２９】
検査対象物である物品１００は、Ｘ線検査装置１の上流側（図１では左側）から、コンベアベルト８の上流端（図１では左端）に供給される。コンベアベルト８上に載置された物品１００は、シールドボックス２内を上流から下流に向かって搬送され、いずれＸ線照射経路を通過する。Ｘ線照射部４から照射されて物品１００を透過したＸ線は、Ｘ線検出部５のラインセンサ６によって検出される。物品１００内に異物が混入していると、その異物の混入箇所において、ラインセンサ６が検出する透過Ｘ線の強度が極端に低下する。従って、ラインセンサ６によって検出される透過Ｘ線の強度分布に基づいて、物品１００内における異物の有無、大きさ、混入箇所等を判定することができる。
【００３０】
図２は、Ｘ線検査装置１の他の構成例を示す正面図である。図１に示した構成例とは異なり、コンピュータ１０は、Ｘ線検査装置１に内蔵されるのではなく、信号ケーブルを介してＸ線検査装置１に外部接続されている。
【００３１】
図３は、図１又は図２に示したコンピュータ１０の構成を示すブロック図である。コンピュータ１０は、ＣＰＵ２０と、ＲＡＭ等のメモリ２１と、ハードディスク等の蓄積手段２２とを備えて構成されている。蓄積手段２２は、ＣＰＵ２０の内部メモリであっても良い。メモリ２１には、所定のプログラム２３が格納されている。ＣＰＵ２０がメモリ２１からプログラム２３を読み出して実行することにより、ＣＰＵ２０は、設定手段２４、判定手段２５、算出手段２６、及び表示制御手段２７として機能する。つまり、プログラム２３は、コンピュータ１０を、蓄積手段２２、設定手段２４、判定手段２５、算出手段２６、及び表示制御手段２７として機能させるプログラムである。
【００３２】
本実施の形態に係るＸ線検査装置１の動作は、現在設定されているしきい値を用いて物品１００の検査を行う動作（以下「通常時動作」と称す）と、設定されているしきい値を変更する際の動作（以下「しきい値変更時動作」と称す）とに大別される。
【００３３】
通常時動作において、ＣＰＵ２０には、Ｘ線検出部５で取得された透過Ｘ線の強度に関する検出データＳ１が入力される。判定手段２５は、検出データＳ１で表される透過Ｘ線の強度を、現在設定されているしきい値（以下「実基準値」と称す）と比較することにより、物品１００内への異物の混入の有無を判定する。表示制御手段２７は、検査結果を表示部９に表示するための画像信号Ｓ２を生成して出力する。
【００３４】
Ｘ線検査装置１は、前段の装置から連続的又は間欠的に供給されてくる複数の物品１００に対して、同様の検査を繰り返し実行する。蓄積手段２２は、直近の所定期間内に検査が実行された複数の物品１００（以下「対象物品１００」と称す）に関してＸ線検出部５で取得された、複数の検出データＳ１を蓄積する。
【００３５】
しきい値変更時動作において、ユーザの操作によって、設定手段２４は所望の仮想基準値を設定する。本明細書において、仮想基準値とは、対象物品１００に関する実際の検査で用いられた実基準値とは異なるしきい値を意味する。つまり、実基準値を変更する際の変更候補のしきい値が仮想基準値であり、仮想基準値への変更が確定することにより、その後は仮想基準値が実基準値となる。
【００３６】
判定手段２５は、設定手段２４によって設定された仮想基準値と、蓄積手段２２に蓄積されている各検出データＳ１とを比較する。そして、その比較の結果に基づいて、実基準値ではなく仮想基準値が設定されていたと想定した場合の、各対象物品１００内への異物の混入の有無を判定する。
【００３７】
算出手段２６は、対象物品１００の総数と、判定手段２５によって異物が混入されていると判定された物品１００の個数とに基づいて、異物混入率（以下「仮想異物混入率」と称す）を算出する。つまり、算出手段２６は、対象物品１００の総数における、仮想基準値が設定されていたとの想定の下で判定手段２５によって異物が混入されていると判定された物品１００の個数の割合として、仮想異物混入率を算出する。
【００３８】
表示制御手段２７は、算出手段２６によって算出された仮想異物混入率を含む画像を表示部９に表示させるための画像信号Ｓ２を生成して出力する。表示部９への画像の表示例については、後に詳述する。
【００３９】
図４は、しきい値の設定例を示す図である。図中に示したグラフの横軸は、コンベアベルト８の幅方向の位置であり、縦軸は、Ｘ線検出部５によって検出された透過Ｘ線の強度である。透過Ｘ線の強度分布Ｋ１においては、物品１００の形状に対応して、透過Ｘ線の強度が低下する。また、強度分布Ｋ１には、異物の混入箇所に対応して、透過Ｘ線の強度が低くなる方向のピークＰ１が生じている。また、強度分布Ｋ１には、信号のノイズに対応するピークＰ２が生じている。
【００４０】
Ｘ線検出部５においては、強度分布Ｋ１におけるＸ線強度の最小値が、検出データＳ１として得られる。図４に示した例では、ピークＰ１の先端箇所での強度値が、その物品１００に関する検出データＳ１の値として得られる。
【００４１】
判定手段２５は、検出データＳ１の値がしきい値以上である場合には、その物品１００には異物が混入されていないと判定し、一方、検出データＳ１の値がしきい値未満である場合には、その物品１００には異物が混入されていると判定する。
【００４２】
従って、しきい値がＨ１に設定されている場合には、仮にピークＰ１が生じていないとしても、検出データＳ１の値（ピークＰ２の先端箇所での強度値）はしきい値Ｈ１未満となる。従って、この場合には、信号のノイズが異物として誤検出されてしまう。
【００４３】
しきい値がＨ３に設定されている場合には、検出データＳ１の値（ピークＰ１の先端箇所での強度値）はしきい値Ｈ３以上となる。従って、この場合には、異物の検出漏れが生じてしまう。
【００４４】
しきい値がＨ２に設定されている場合には、検出データＳ１の値（ピークＰ１の先端箇所での強度値）はしきい値Ｈ２未満となる。従って、異物を正しく検出することができる。また、仮にピークＰ１が生じていない場合には、検出データＳ１の値（ピークＰ２の先端箇所での強度値）はしきい値Ｈ２以上となる。従って、信号のノイズが異物として誤検出されてしまうことはない。よって、図４に示した例では、最も適切なしきい値はしきい値Ｈ２ということになる。
【００４５】
但し、食品の製造メーカーによっては、消費者に害を与えない軽微な異物（以下「許容異物」と称す）の混入を許容している場合もある。従って、ピークＰ１を生じさせる異物が許容異物である場合には、不良率（検査物品総数のうち不良品の占める割合）を低下させる観点から、しきい値をＨ３に設定することが望ましい。
【００４６】
図５は、しきい値の他の設定例を示す図である。図４に示したような一定値のしきい値Ｈ１〜Ｈ３ではなく、図５に示すように、良品の強度分布Ｋ１に対応する強度分布を有するしきい値Ｈ４を設定することもできる。
【００４７】
図６は、蓄積手段２２に蓄積されている複数の検出データＳ１をグラフ化して示す図である。例えば、しきい値がＨ２に設定されている場合には、しきい値Ｈ２よりも透過Ｘ線の強度が高い領域（左側の領域）に属する物品１００は全て良品ということになり、しきい値Ｈ２よりも透過Ｘ線の強度が低い領域（右側の領域）に属する物品１００は全て不良品ということになる。
【００４８】
図７は、しきい値変更時動作において表示部９に表示される画像の例を示す図である。項目４０には、対象物品１００の総数が、検査総数として表示される。つまり、直近の所定期間内に検査が実行され、検出データＳ１が蓄積手段２２内に蓄積されている物品１００の総数が表示される。
【００４９】
項目４１には、現在設定されているしきい値（実基準値）と、実基準値に対応するＮＧ数（不良数）及びＮＧ発生率（不良率）と、変更後のしきい値（仮想基準値）と、仮想基準値に対応するＮＧ数（不良数）及びＮＧ発生率（不良率）とが表示される。これらの情報は、作業者が比較をしやすいように、現在の値と変更後の値とが各情報別に上下に並んで表示されている。
【００５０】
項目４２には、図６に示したグラフを模式的に示した図形４３が表示される。また、図形４３中には、実基準値を示すライン４５と、仮想基準値を示すライン４６とが表示される。図形４３の斜め下には、左方向を指す方向指示図形４８と、右方向を指す方向指示図形４９とが表示されている。
【００５１】
作業者が方向指示図形４８にタッチすると、その情報がＣＰＵ２０に入力され、設定手段２４は、仮想基準値をより高い値に変更する。逆に、作業者が方向指示図形４９にタッチすると、その情報がＣＰＵ２０に入力され、設定手段２４は、仮想基準値をより低い値に変更する。判定手段２５は、変更後の仮想基準値に基づいて、各対象物品１００内への異物の混入の有無を判定する。また、算出手段２６は、対象物品１００の総数（検査総数）と、判定手段２５によって異物が混入されていると判定された物品１００の個数（ＮＧ数）とに基づいて、仮想異物混入率（ＮＧ発生率）を算出する。また、表示制御手段２７は、図形４３中においてライン４６を左方向又は右方向にシフトするとともに、項目４１において、変更後のしきい値と、それに対応するＮＧ数及びＮＧ発生率とをそれぞれ表示する。
【００５２】
また、本実施の形態に係るＸ線検査装置１においては、仮想基準値を設定することができる範囲の限界値（下限値）が、許容異物の程度に応じて予め設定されている。そして、その限界値を示すライン４７が、図形４３中に表示されている。作業者が方向指示図形４９にタッチし続けることによってライン４６がライン４７に重なると、作業者がさらに方向指示図形４９にタッチしても、ライン４６はそれ以上右方向にはシフトしない。これにより、仮想基準値を限界値未満の値に設定することが規制される。
【００５３】
作業者が方向指示図形４８，４９へのタッチを行う度に、それに応じて、図形４３中においてライン４６がシフトするとともに、項目４１において、変更後のしきい値、ＮＧ数、及びＮＧ発生率の値が更新される。従って、作業者は、これらの情報を参照することによって、例えば、目標の不良率を達成し得る仮想基準値を探索することができる。適切な仮想基準値が見つかると、作業者は、表示部９に表示されている決定ボタン５０にタッチする。これにより、その仮想基準値が、その後は実基準値として採用されて、新たな検査が実行されることとなる。
【００５４】
このように本実施の形態に係るＸ線検査装置１及びプログラム２３によれば、蓄積手段２２は、対象物品１００に関する検査によってＸ線検出部５で取得された、透過Ｘ線の強度に関する複数の検出データＳ１を蓄積する。また、しきい値変更時動作において、設定手段２４は、対象物品１００に関する検査で用いられた実基準値とは異なる仮想基準値を設定し、判定手段２５は、仮想基準値と、蓄積手段２２に蓄積されている各検出データＳ１との比較結果に基づいて、各物品１００内への異物の混入の有無を判定し、算出手段２６は、対象物品１００の総数における、判定手段２５によって異物が混入されていると判定された物品１００の個数の割合として、仮想異物混入率を算出する。そして、表示制御手段２７は、仮想異物混入率を表示部９に表示させる。
【００５５】
従って、実基準値の設定を変更する必要が生じた場合、設定手段２４によって仮想基準値を所望に設定することにより、その仮想基準値に応じた仮想異物混入率が表示部９に表示される。その結果、作業者は、表示部９に表示された仮想異物混入率を指標として用いて、実基準値の設定の変更作業を効率的に行うことが可能となる。しかも、仮想異物混入率は、シミュレーション等による予測ではなく、対象物品１００に関する実際の検査によって取得された複数の検出データＳ１に基づいて算出されるため、正確な仮想異物混入率を作業者に提供することが可能となる。
【００５６】
また、本実施の形態に係るＸ線検査装置１によれば、実稼働されている製造ラインのＸ線検査装置１によって取得された検出データＳ１を用いて、仮想異物混入率を求めることができる。従って、仮想異物混入率を求めるために、製造ラインの実稼働を停止してテスト稼働を行う必要がない。その結果、製造ラインの稼働率を上げることが可能となる。
【００５７】
また、本実施の形態に係るＸ線検査装置１によれば、表示部９には、実異物混入率（図７の項目４１における現在のＮＧ発生率）と仮想異物混入率とが併せて表示される。従って、作業者は、現在の実異物混入率と基準値変更後の仮想異物混入率とを、表示部９上で目視によって容易に比較することができる。その結果、基準値の設定の変更作業を効率的に行うことが可能となる。
【００５８】
また、本実施の形態に係るＸ線検査装置１によれば、表示部９には、仮想基準値の設定が許容される限界値（図７の項目４２におけるライン４７）が表示される。従って、許容範囲を逸脱する非現実的な基準値が作業者によって設定されることに起因して、Ｘ線検査装置１の検査精度が極端に低下することを、予め回避することが可能となる。
【００５９】
＜第１の変形例＞
第１の変形例に係るＸ線検査装置１は、複数の検出アルゴリズムを用いて、各検出アルゴリズムごとに異物の検出処理を実行可能である。
【００６０】
図８は、第１の変形例に係る判定手段２５の構成を示すブロック図である。判定手段２５は、フィルタ５０Ａ〜５０Ｃ、比較部５１Ａ〜５１Ｃ、及び判定部５２を有して構成されている。例えば、フィルタ５０Ａ及び比較部５１Ａは、２ｍｍ以下の異物を検出しやすい検出アルゴリズムによって異物検出を行う。また、フィルタ５０Ｂ及び比較部５１Ｂは、２〜４ｍｍの異物を検出しやすい検出アルゴリズムによって異物検出を行う。また、フィルタ５０Ｃ及び比較部５１Ｃは、４ｍｍ以上の異物を検出しやすい検出アルゴリズムによって異物検出を行う。
【００６１】
フィルタ５０Ａ〜５０Ｃには、Ｘ線検出部５によって検出された透過Ｘ線に基づいて作成されたＸ線透過画像に関する画像信号が、検出データＳ１として入力される。フィルタ５０Ａ〜５０Ｃは、検出アルゴリズムごとに異なるフィルタ係数を用いて、画像信号に対してフィルタ処理をそれぞれ実行し、フィルタ処理後の画像信号に関する検出データＳ１Ａ〜Ｓ１Ｃをそれぞれ出力する。検出データＳ１Ａ〜Ｓ１Ｃは、比較部５１Ａ〜５１Ｃにそれぞれ入力される。
【００６２】
また、比較部５１Ａ〜５１Ｃには、しきい値ＨＡ〜ＨＣがそれぞれ入力されている。しきい値ＨＡ〜ＨＣは、検出アルゴリズムごとに個別に設定可能である。比較部５１Ａ〜５１Ｃは、各検出データＳ１Ａ〜Ｓ１Ｃで表される透過Ｘ線の強度と、各しきい値ＨＡ〜ＨＣとをそれぞれ比較することにより、各検出アルゴリズムごとに物品１００内への異物の混入の有無をそれぞれ判定する。各比較部５１Ａ〜５１Ｃによる判定の結果に関するデータＳ３Ａ〜Ｓ３Ｃは、判定部５２に入力される。
【００６３】
また、判定部５２には、判定ルールに関するデータＲが入力されている。判定ルールの内容は、例えば食品の製造メーカーによって所望に設定することができる。判定部５２は、データＲと、比較部５１Ａ〜５１Ｃから入力されたデータＳ３Ａ〜Ｓ３Ｃとに基づいて、物品１００の良／不良を判定し、その判定の結果に関するデータＳ４を出力する。
【００６４】
例えば、２ｍｍ以下の異物は許容異物として設定するという判定ルールが採用されている場合には、データＳ３Ａにおいて異物の混入が有りとされていても、データＳ３Ｂ，Ｓ３Ｃにおいて異物の混入が無しとされていれば、判定部５２は、その物品１００を良品として扱う。また、許容異物を設定しないという判定ルールが採用されている場合には、データＳ３Ａ〜Ｓ３Ｃのいずれかにおいて異物の混入が有りとされていれば、判定部５２は、その物品１００を不良品として扱う。
【００６５】
図９は、しきい値変更時動作において表示部９に表示される画像の例を示す図である。項目４１には、各検出アルゴリズムに対応する項目４１Ａ〜４１Ｃが含まれる。項目４１に表示されている「レベル１」は２ｍｍ以下の異物を検出しやすい検出アルゴリズムに対応し、「レベル２」は２〜４ｍｍの異物を検出しやすい検出アルゴリズムに対応し、「レベル３」は４ｍｍ以上の異物を検出しやすい検出アルゴリズムに対応する。各項目４１Ａ〜４１Ｃの内容は、図７に示した項目４１と同様である。
【００６６】
項目４２には、各検出アルゴリズムに対応する図形４３Ａ〜４３Ｃが含まれる。各図形４３Ａ〜４３Ｃの内容は、図７に示した図形４３と同様である。また、各図形４３Ａ〜４３Ｃに対応する決定ボタン５０Ａ〜５０Ｃが表示されている。
【００６７】
さらに、項目４１と項目４２との間には、項目５５，５６が表示されている。項目５５には、実基準値に基づいて判定された現在の不良数と、仮想基準値に基づいて判定された変更後の不良数とが、上下に並んで表示されている。項目５６には、実基準値に基づいて算出された現在の不良率と、仮想基準値に基づいて算出された変更後の不良率とが、上下に並んで表示されている。
【００６８】
第１の変形例に係るＸ線検査装置１においては、設定手段２４は各検出アルゴリズムごとに仮想基準値を設定可能であり、判定手段２５は各検出アルゴリズムごとに異物の混入の有無を判定し、算出手段２６は、各検出アルゴリズムごとに仮想異物混入率を算出する。また、表示部９には、各検出アルゴリズムごとの仮想異物混入率（ＮＧ発生率）と、物品１００の不良率とが併せて表示される。
【００６９】
以下、代表的にレベル１に関するしきい値変更時動作について説明する。説明は省略するが、レベル２及びレベル３についても同様である。
【００７０】
作業者が方向指示図形４８Ａにタッチすると、その情報がＣＰＵ２０に入力され、設定手段２４は、レベル１に関する仮想基準値をより高い値に変更する。逆に、作業者が方向指示図形４９Ａにタッチすると、その情報がＣＰＵ２０に入力され、設定手段２４は、レベル１に関する仮想基準値をより低い値に変更する。判定手段２５は、レベル１に関する変更後の仮想基準値に基づいて、各対象物品１００内への異物の混入の有無を判定する。また、算出手段２６は、対象物品１００の総数（検査総数）と、レベル１に関して判定手段２５によって異物が混入されていると判定された物品１００の個数（ＮＧ数）とに基づいて、レベル１に関する仮想異物混入率（ＮＧ発生率）を算出する。また、表示制御手段２７は、図形４３Ａ中においてライン４６Ａを左方向又は右方向にシフトするとともに、項目４１Ａにおいて、レベル１に関する変更後のしきい値と、それに対応するＮＧ数及びＮＧ発生率とをそれぞれ表示する。
【００７１】
作業者が方向指示図形４８Ａ，４９Ａへのタッチを行う度に、それに応じて、図形４３Ａ中においてライン４６Ａがシフトするとともに、項目４１Ａにおいて、レベル１に関する変更後のしきい値、ＮＧ数、及びＮＧ発生率の値が更新される。また、項目５５，５６において、変更後の不良数及び不良率が更新される。従って、作業者は、これらの情報を参照することによって、例えば、目標の不良率を達成し得る、レベル１に関する仮想基準値を探索することができる。レベル１に関する適切な仮想基準値が見つかると、作業者は決定ボタン５０Ａにタッチする。これにより、その仮想基準値が、その後はレベル１に関する実基準値として採用されて、新たな検査が実行されることとなる。
【００７２】
このように第１の変形例に係るＸ線検査装置１によれば、設定手段２４によって各検出アルゴリズムごとに仮想基準値を所望に設定することにより、各検出アルゴリズムごとの仮想異物混入率が表示部９に表示される。その結果、作業者は、表示部９に表示された各検出アルゴリズムごとの仮想異物混入率を指標として用いて、各検出アルゴリズムごとの実基準値の設定の変更作業を効率的に行うことが可能となる。
【００７３】
また、第１の変形例に係るＸ線検査装置１によれば、表示部９には、各検出アルゴリズムごとの仮想異物混入率と、物品の不良率とが、併せて表示される。従って、作業者は、表示部９上に表示されたこれらの情報を目視で確認しながら、目標とする不良率を達成するための各検出アルゴリズムごとの仮想基準値の組合せを探索することが可能となる。
【００７４】
＜第２の変形例＞
図１０は、経時劣化によってＸ線照射部４から照射されるＸ線の強度が低下した状況を示す図である。破線で示す強度分布Ｋ１は、初期状態におけるＸ線照射部４から照射されたＸ線に基づく強度分布であり、実線で示す強度分布Ｋ１は、経時劣化したＸ線照射部４から照射されたＸ線に基づく強度分布である。図１０に示すように、経時劣化によってＸ線照射部４から照射されるＸ線の強度が低下すると、Ｘ線検出部５によって検出される透過Ｘ線の強度も全体的に低下する。その結果、物品１００に異物が混入されていない場合であっても、強度分布Ｋ１の一部がしきい値Ｈ２未満となるため、異物として誤検出されてしまう。
【００７５】
そこで、第２の変形例では、Ｘ線照射部４から照射されたＸ線の強度を検出し、その情報を表示部９に表示することにより、Ｘ線照射部４のＸ線源に故障や経時劣化が生じていることを作業者が知ることができるようにする。
【００７６】
Ｘ線照射部４から照射されたＸ線の強度は、例えば、物品１００に重ならない部分のラインセンサの電流値を検出し、その電流値をＸ線の強度値に換算することによって求めることができる。図１０に示すように、初期状態におけるＸ線照射部４から照射されたＸ線の強度は、強度値Ｍ１として検出され、経時劣化後のＸ線照射部４から照射されたＸ線の強度は、強度値Ｍ２として検出される。
【００７７】
図１１は、図７に対応させて、しきい値変更時動作において表示部９に表示される画像の例を示す図である。また、図１２は、図９に対応させて、しきい値変更時動作において表示部９に表示される画像の例を示す図である。表示部９には、項目６０が追加表示されている。項目６０には、Ｘ線照射部４から照射されたＸ線の強度に関して、初期値と現在の値とが上下に並んで表示されている。
【００７８】
このように第２の変形例に係るＸ線検査装置１によれば、表示部９には、Ｘ線照射部４から照射されたＸ線の強度が表示される。従って、Ｘ線照射部４のＸ線源に故障や経時劣化等のトラブルが発生している場合には、作業者は、表示部９に表示されたＸ線の強度に関する情報を参照することにより、Ｘ線源にトラブルが発生していることを知ることができる。その結果、Ｘ線源のトラブルを知らずに基準値の変更作業が無駄に行われることを、予め回避することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【００７９】
【図１】本発明の実施の形態に係るＸ線検査装置の構成例を示す正面図である。
【図２】Ｘ線検査装置の他の構成例を示す正面図である。
【図３】コンピュータの構成を示すブロック図である。
【図４】しきい値の設定例を示す図である。
【図５】しきい値の他の設定例を示す図である。
【図６】蓄積手段に蓄積されている複数の検出データをグラフ化して示す図である。
【図７】しきい値変更時動作において表示部に表示される画像の例を示す図である。
【図８】第１の変形例に係る判定手段の構成を示すブロック図である。
【図９】しきい値変更時動作において表示部に表示される画像の例を示す図である。
【図１０】経時劣化によってＸ線照射部から照射されるＸ線の強度が低下した状況を示す図である。
【図１１】図７に対応させて、しきい値変更時動作において表示部に表示される画像の例を示す図である。
【図１２】図９に対応させて、しきい値変更時動作において表示部に表示される画像の例を示す図である。
【符号の説明】
【００８０】
１ Ｘ線検査装置
４ Ｘ線照射部
５ Ｘ線検出部
９ 表示部
１０ コンピュータ
２２ 蓄積手段
２３ プログラム
２４ 設定手段
２５ 判定手段
２６ 算出手段
２７ 表示制御手段
１００ 物品
【技術分野】
【０００１】
本発明は、Ｘ線検査装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
Ｘ線検査装置においては、Ｘ線源から物品にＸ線が照射され、物品を透過した透過Ｘ線がＸ線センサによって検出される。そして、Ｘ線センサで検出された透過Ｘ線の強度と、予め設定された所定のしきい値とが比較され、その比較の結果に基づいて物品の良／不良が判定される（例えば下記特許文献１参照）。物品内に異物が混入していると、異物の混入箇所において透過Ｘ線の強度が極端に低下する。そのため、透過Ｘ線の強度がしきい値未満となる物品を不良品（異物混入品）として検出することができる。
【０００３】
【特許文献１】特開２００２−９８６５３号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
上記の通り、Ｘ線検査装置においては、透過Ｘ線の強度としきい値との比較結果に基づいて物品の良／不良が判定される。従って、適切な検査を行うためには、しきい値のレベルを適切に設定する必要がある。しきい値のレベルを低く設定し過ぎると、異物が混入している物品が良品と判定される。一方、しきい値のレベルを高く設定し過ぎると、信号のノイズ等が異物として検出されて、異物が混入していない物品が不良品と判定され、その結果、不良率（検査物品総数のうち不良品の占める割合）が上昇する。
【０００５】
検査基準を一定に保つためには、物品の製造ラインが一旦稼働されると、製造ラインの稼働中にしきい値の設定を変更することはできない。従って、設定された基準値が不適切であった場合、例えば、しきい値のレベルを低く設定し過ぎて不良率が異常に高くなっている場合には、しきい値の設定を変更するために製造ラインの稼働を一旦停止させる必要がある。これによって製造ラインの稼働率が低下する。しかも、作業者の勘と経験だけでしきい値の設定を変更したとしても、変更後のしきい値が依然として不適切であった場合には、製造ラインの稼働を再び停止する必要が生じ、稼働率がさらに低下する。
【０００６】
本発明はかかる事情に鑑みて成されたものであり、基準値（しきい値）の設定を変更する際の指標を作業者に提供することにより、基準値の設定の変更作業を効率的に行うことが可能な、Ｘ線検査装置を得ることを目的とするものである。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本発明の第１の態様に係るＸ線検査装置は、Ｘ線照射部から物品にＸ線を照射し、物品を透過したＸ線をＸ線検出部によって検出し、前記Ｘ線検出部で検出されたＸ線の強度と所定の基準値との比較結果に基づいて物品の良／不良を判定する、Ｘ線検査装置であって、複数の物品に関する検査によって前記Ｘ線検出部で取得された、Ｘ線の強度に関する複数の検出データを蓄積する蓄積手段と、前記所定の基準値として、前記複数の物品に関する検査で用いられた実基準値とは異なる仮想基準値を設定する設定手段と、前記仮想基準値と、前記蓄積手段に蓄積されている各検出データとの比較結果に基づいて、各物品内への異物の混入の有無を判定する判定手段と、前記複数の物品の総数における、前記判定手段によって異物が混入されていると判定された物品の個数の割合として、仮想異物混入率を算出する算出手段と、前記仮想異物混入率を表示部に表示させる表示制御手段とを備えることを特徴とするものである。
【０００８】
第１の態様に係るＸ線検査装置によれば、蓄積手段は、複数の物品に関する検査によってＸ線検出部で取得された、Ｘ線の強度に関する複数の検出データを蓄積し、設定手段は、所定の基準値として、複数の物品に関する検査で用いられた実基準値とは異なる仮想基準値を設定し、判定手段は、仮想基準値と、蓄積手段に蓄積されている各検出データとの比較結果に基づいて、各物品内への異物の混入の有無を判定し、算出手段は、複数の物品の総数における、判定手段によって異物が混入されていると判定された物品の個数の割合として、仮想異物混入率を算出する。そして、表示制御手段は、仮想異物混入率を表示部に表示させる。従って、実基準値の設定を変更する必要が生じた場合、作業者は、設定手段によって仮想基準値を所望に設定することにより、その仮想基準値に応じた仮想異物混入率が表示部に表示される。その結果、作業者は、表示部に表示された仮想異物混入率を指標として用いて、実基準値の設定の変更作業を効率的に行うことが可能となる。しかも、仮想異物混入率は、シミュレーション等による予測ではなく、複数の物品に関する実際の検査によって取得された複数の検出データに基づいて算出されるため、正確な仮想異物混入率を作業者に提供することが可能となる。
【０００９】
本発明の第２の態様に係るＸ線検査装置は、第１の態様に係るＸ線検査装置において特に、前記複数の物品は、実稼働されている製造ラインにおいて前記Ｘ線検査装置によって検査された物品であることを特徴とするものである。
【００１０】
第２の態様に係るＸ線検査装置によれば、実稼働されている製造ラインのＸ線検査装置によって取得された検出データを用いて、仮想異物混入率を求めることができる。従って、仮想異物混入率を求めるために、製造ラインの実稼働を停止してテスト稼働を行う必要がない。その結果、製造ラインの稼働率を上げることが可能となる。
【００１１】
本発明の第３の態様に係るＸ線検査装置は、第１又は第２の態様に係るＸ線検査装置において特に、前記表示部には、前記実基準値に基づいて算出された実異物混入率と、前記仮想異物混入率とが、併せて表示されることを特徴とするものである。
【００１２】
第３の態様に係るＸ線検査装置によれば、表示部には、実異物混入率と仮想異物混入率とが併せて表示される。従って、作業者は、現在の実異物混入率と基準値変更後の仮想異物混入率とを、表示部上で目視によって容易に比較することができる。その結果、基準値の設定の変更作業を効率的に行うことが可能となる。
【００１３】
本発明の第４の態様に係るＸ線検査装置は、第１〜第３のいずれか一つの態様に係るＸ線検査装置において特に、前記Ｘ線検査装置は、複数の検出アルゴリズムを用いて、各検出アルゴリズムごとに異物の検出が可能であり、前記設定手段は、各検出アルゴリズムごとに前記仮想基準値を設定可能であり、前記判定手段は、各検出アルゴリズムごとに異物の混入の有無を判定し、前記算出手段は、各検出アルゴリズムごとに前記仮想異物混入率を算出し、前記表示部には、各検出アルゴリズムごとの前記仮想異物混入率が表示されることを特徴とするものである。
【００１４】
第４の態様に係るＸ線検査装置によれば、設定手段によって各検出アルゴリズムごとに仮想基準値を所望に設定することにより、各検出アルゴリズムごとの仮想異物混入率が表示部に表示される。その結果、作業者は、表示部に表示された各検出アルゴリズムごとの仮想異物混入率を指標として用いて、各検出アルゴリズムごとの実基準値の設定の変更作業を効率的に行うことが可能となる。
【００１５】
本発明の第５の態様に係るＸ線検査装置は、第４の態様に係るＸ線検査装置において特に、前記Ｘ線検査装置は、各検出アルゴリズムごとの異物の混入の有無の判定結果に基づいて、物品の良／不良を判定し、前記表示部には、各検出アルゴリズムごとの前記仮想異物混入率と、物品の不良率とが、併せて表示されることを特徴とするものである。
【００１６】
第５の態様に係るＸ線検査装置によれば、表示部には、各検出アルゴリズムごとの仮想異物混入率と、物品の不良率とが、併せて表示される。従って、作業者は、表示部上に表示されたこれらの情報を目視で確認しながら、目標とする不良率を達成するための各検出アルゴリズムごとの仮想基準値の組合せを探索することが可能となる。
【００１７】
本発明の第６の態様に係るＸ線検査装置は、第１〜第５のいずれか一つの態様に係るＸ線検査装置において特に、前記設定手段は、前記表示部上で前記仮想基準値を設定可能であり、前記表示部には、前記仮想基準値の設定が許容される限界値が表示されることを特徴とするものである。
【００１８】
第６の態様に係るＸ線検査装置によれば、表示部には、仮想基準値の設定が許容される限界値が表示される。従って、許容範囲を逸脱する非現実的な基準値が作業者によって設定されることに起因して、Ｘ線検査装置の検査精度が極端に低下することを、予め回避することが可能となる。
【００１９】
本発明の第７の態様に係るＸ線検査装置は、第１〜第６のいずれか一つの態様に係るＸ線検査装置において特に、前記表示部には、前記Ｘ線照射部から照射されたＸ線の強度が表示されることを特徴とするものである。
【００２０】
第７の態様に係るＸ線検査装置によれば、表示部には、Ｘ線照射部から照射されたＸ線の強度が表示される。従って、Ｘ線照射部のＸ線源に故障や経時劣化等のトラブルが発生している場合には、作業者は、表示部に表示されたＸ線の強度に関する情報を参照することにより、Ｘ線源にトラブルが発生していることを知ることができる。その結果、Ｘ線源のトラブルを知らずに基準値の変更作業が無駄に行われることを、予め回避することが可能となる。
【００２１】
本発明の第８の態様に係るプログラムは、Ｘ線照射部から物品にＸ線を照射し、物品を透過したＸ線をＸ線検出部によって検出し、前記Ｘ線検出部で検出されたＸ線の強度と所定の基準値との比較結果に基づいて物品の良／不良を判定するＸ線検査装置に、内蔵又は外部接続されるコンピュータを、複数の物品に関する検査によって前記Ｘ線検査部で取得された、Ｘ線の強度に関する複数の検出データを蓄積する蓄積手段と、前記所定の基準値として、前記複数の物品に関する検査で用いられた実基準値とは異なる仮想基準値を設定する設定手段と、前記仮想基準値と、前記蓄積手段に蓄積されている各検出データとの比較結果に基づいて、各物品内への異物の混入の有無を判定する判定手段と、前記複数の物品の総数における、前記判定手段によって異物が混入されていると判定された物品の個数の割合として、仮想異物混入率を算出する算出手段と、前記仮想異物混入率を表示部に表示させる表示制御手段ととして機能させることを特徴とするものである。
【００２２】
第８の態様に係るプログラムによれば、蓄積手段は、複数の物品に関する検査によってＸ線検出部で取得された、Ｘ線の強度に関する複数の検出データを蓄積し、設定手段は、所定の基準値として、複数の物品に関する検査で用いられた実基準値とは異なる仮想基準値を設定し、判定手段は、仮想基準値と、蓄積手段に蓄積されている各検出データとの比較結果に基づいて、各物品内への異物の混入の有無を判定し、算出手段は、複数の物品の総数における、判定手段によって異物が混入されていると判定された物品の個数の割合として、仮想異物混入率を算出する。そして、表示制御手段は、仮想異物混入率を表示部に表示させる。従って、実基準値の設定を変更する必要が生じた場合、作業者は、設定手段によって仮想基準値を所望に設定することにより、その仮想基準値に応じた仮想異物混入率が表示部に表示される。その結果、作業者は、表示部に表示された仮想異物混入率を指標として用いて、実基準値の設定の変更作業を効率的に行うことが可能となる。しかも、仮想異物混入率は、シミュレーション等による予測ではなく、複数の物品に関する実際の検査によって取得された複数の検出データに基づいて算出されるため、正確な仮想異物混入率を作業者に提供することが可能となる。
【発明の効果】
【００２３】
本発明によれば、基準値の設定を変更する際の指標を作業者に提供することにより、基準値の設定の変更作業を効率的に行うことが可能となる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２４】
以下、本発明の実施の形態について、図面を用いて詳細に説明する。なお、異なる図面において同一の符号を付した要素は、同一又は相応する要素を示すものとする。
【００２５】
図１は、本発明の実施の形態に係るＸ線検査装置１の構成例を示す正面図である。シールドボックス２には、検査対象である食品等の物品１００を外部からシールドボックス２内に搬入するための物品搬入口３Ａと、検査後の物品１００をシールドボックス２から外部に搬出するための物品搬出口３Ｂとが形成されている。なお、図２では、シールドボックス２の内部の構造を明示するために、シールドボックス２の前面板を取り外した状態の装置構造を示している。
【００２６】
シールドボックス２の内部には、Ｘ線照射部４とＸ線検出部５とが配置されている。Ｘ線検出部５は、ラインセンサ６を有している。ラインセンサ６は、紙面の奥行き方向に沿って延在している。Ｘ線照射部４は、ラインセンサ６に向かって扇形状にＸ線を照射する。つまり、Ｘ線照射部４とラインセンサ６との間の空間が、Ｘ線照射経路として規定される。
【００２７】
また、シールドボックス２内には、搬送コンベア７が配置されている。搬送コンベア７は、駆動ローラを含む複数のローラ上に巻装されたコンベアベルト８を有している。搬送コンベア７は、コンベアベルト８の物品搬送面上に載置された物品１００を、当該物品１００がＸ線照射部４とラインセンサ６との間のＸ線照射経路を通過するように搬送する。図１に示した例では、物品１００は、搬送コンベア７によって矢印Ｄ１で示す方向に搬送される。つまり、紙面の左側が物品搬送方向の上流側であり、右側が下流側である。
【００２８】
また、Ｘ線検査装置１は、タッチパネル機能付きの表示部９を備えている。Ｘ線検査装置１による物品１００の検査結果は、表示部９に表示される。また、Ｘ線検出部５による検出データを処理するとともに、Ｘ線検査装置１の動作を制御するためのコンピュータ１０が、Ｘ線検査装置１に内蔵されている。
【００２９】
検査対象物である物品１００は、Ｘ線検査装置１の上流側（図１では左側）から、コンベアベルト８の上流端（図１では左端）に供給される。コンベアベルト８上に載置された物品１００は、シールドボックス２内を上流から下流に向かって搬送され、いずれＸ線照射経路を通過する。Ｘ線照射部４から照射されて物品１００を透過したＸ線は、Ｘ線検出部５のラインセンサ６によって検出される。物品１００内に異物が混入していると、その異物の混入箇所において、ラインセンサ６が検出する透過Ｘ線の強度が極端に低下する。従って、ラインセンサ６によって検出される透過Ｘ線の強度分布に基づいて、物品１００内における異物の有無、大きさ、混入箇所等を判定することができる。
【００３０】
図２は、Ｘ線検査装置１の他の構成例を示す正面図である。図１に示した構成例とは異なり、コンピュータ１０は、Ｘ線検査装置１に内蔵されるのではなく、信号ケーブルを介してＸ線検査装置１に外部接続されている。
【００３１】
図３は、図１又は図２に示したコンピュータ１０の構成を示すブロック図である。コンピュータ１０は、ＣＰＵ２０と、ＲＡＭ等のメモリ２１と、ハードディスク等の蓄積手段２２とを備えて構成されている。蓄積手段２２は、ＣＰＵ２０の内部メモリであっても良い。メモリ２１には、所定のプログラム２３が格納されている。ＣＰＵ２０がメモリ２１からプログラム２３を読み出して実行することにより、ＣＰＵ２０は、設定手段２４、判定手段２５、算出手段２６、及び表示制御手段２７として機能する。つまり、プログラム２３は、コンピュータ１０を、蓄積手段２２、設定手段２４、判定手段２５、算出手段２６、及び表示制御手段２７として機能させるプログラムである。
【００３２】
本実施の形態に係るＸ線検査装置１の動作は、現在設定されているしきい値を用いて物品１００の検査を行う動作（以下「通常時動作」と称す）と、設定されているしきい値を変更する際の動作（以下「しきい値変更時動作」と称す）とに大別される。
【００３３】
通常時動作において、ＣＰＵ２０には、Ｘ線検出部５で取得された透過Ｘ線の強度に関する検出データＳ１が入力される。判定手段２５は、検出データＳ１で表される透過Ｘ線の強度を、現在設定されているしきい値（以下「実基準値」と称す）と比較することにより、物品１００内への異物の混入の有無を判定する。表示制御手段２７は、検査結果を表示部９に表示するための画像信号Ｓ２を生成して出力する。
【００３４】
Ｘ線検査装置１は、前段の装置から連続的又は間欠的に供給されてくる複数の物品１００に対して、同様の検査を繰り返し実行する。蓄積手段２２は、直近の所定期間内に検査が実行された複数の物品１００（以下「対象物品１００」と称す）に関してＸ線検出部５で取得された、複数の検出データＳ１を蓄積する。
【００３５】
しきい値変更時動作において、ユーザの操作によって、設定手段２４は所望の仮想基準値を設定する。本明細書において、仮想基準値とは、対象物品１００に関する実際の検査で用いられた実基準値とは異なるしきい値を意味する。つまり、実基準値を変更する際の変更候補のしきい値が仮想基準値であり、仮想基準値への変更が確定することにより、その後は仮想基準値が実基準値となる。
【００３６】
判定手段２５は、設定手段２４によって設定された仮想基準値と、蓄積手段２２に蓄積されている各検出データＳ１とを比較する。そして、その比較の結果に基づいて、実基準値ではなく仮想基準値が設定されていたと想定した場合の、各対象物品１００内への異物の混入の有無を判定する。
【００３７】
算出手段２６は、対象物品１００の総数と、判定手段２５によって異物が混入されていると判定された物品１００の個数とに基づいて、異物混入率（以下「仮想異物混入率」と称す）を算出する。つまり、算出手段２６は、対象物品１００の総数における、仮想基準値が設定されていたとの想定の下で判定手段２５によって異物が混入されていると判定された物品１００の個数の割合として、仮想異物混入率を算出する。
【００３８】
表示制御手段２７は、算出手段２６によって算出された仮想異物混入率を含む画像を表示部９に表示させるための画像信号Ｓ２を生成して出力する。表示部９への画像の表示例については、後に詳述する。
【００３９】
図４は、しきい値の設定例を示す図である。図中に示したグラフの横軸は、コンベアベルト８の幅方向の位置であり、縦軸は、Ｘ線検出部５によって検出された透過Ｘ線の強度である。透過Ｘ線の強度分布Ｋ１においては、物品１００の形状に対応して、透過Ｘ線の強度が低下する。また、強度分布Ｋ１には、異物の混入箇所に対応して、透過Ｘ線の強度が低くなる方向のピークＰ１が生じている。また、強度分布Ｋ１には、信号のノイズに対応するピークＰ２が生じている。
【００４０】
Ｘ線検出部５においては、強度分布Ｋ１におけるＸ線強度の最小値が、検出データＳ１として得られる。図４に示した例では、ピークＰ１の先端箇所での強度値が、その物品１００に関する検出データＳ１の値として得られる。
【００４１】
判定手段２５は、検出データＳ１の値がしきい値以上である場合には、その物品１００には異物が混入されていないと判定し、一方、検出データＳ１の値がしきい値未満である場合には、その物品１００には異物が混入されていると判定する。
【００４２】
従って、しきい値がＨ１に設定されている場合には、仮にピークＰ１が生じていないとしても、検出データＳ１の値（ピークＰ２の先端箇所での強度値）はしきい値Ｈ１未満となる。従って、この場合には、信号のノイズが異物として誤検出されてしまう。
【００４３】
しきい値がＨ３に設定されている場合には、検出データＳ１の値（ピークＰ１の先端箇所での強度値）はしきい値Ｈ３以上となる。従って、この場合には、異物の検出漏れが生じてしまう。
【００４４】
しきい値がＨ２に設定されている場合には、検出データＳ１の値（ピークＰ１の先端箇所での強度値）はしきい値Ｈ２未満となる。従って、異物を正しく検出することができる。また、仮にピークＰ１が生じていない場合には、検出データＳ１の値（ピークＰ２の先端箇所での強度値）はしきい値Ｈ２以上となる。従って、信号のノイズが異物として誤検出されてしまうことはない。よって、図４に示した例では、最も適切なしきい値はしきい値Ｈ２ということになる。
【００４５】
但し、食品の製造メーカーによっては、消費者に害を与えない軽微な異物（以下「許容異物」と称す）の混入を許容している場合もある。従って、ピークＰ１を生じさせる異物が許容異物である場合には、不良率（検査物品総数のうち不良品の占める割合）を低下させる観点から、しきい値をＨ３に設定することが望ましい。
【００４６】
図５は、しきい値の他の設定例を示す図である。図４に示したような一定値のしきい値Ｈ１〜Ｈ３ではなく、図５に示すように、良品の強度分布Ｋ１に対応する強度分布を有するしきい値Ｈ４を設定することもできる。
【００４７】
図６は、蓄積手段２２に蓄積されている複数の検出データＳ１をグラフ化して示す図である。例えば、しきい値がＨ２に設定されている場合には、しきい値Ｈ２よりも透過Ｘ線の強度が高い領域（左側の領域）に属する物品１００は全て良品ということになり、しきい値Ｈ２よりも透過Ｘ線の強度が低い領域（右側の領域）に属する物品１００は全て不良品ということになる。
【００４８】
図７は、しきい値変更時動作において表示部９に表示される画像の例を示す図である。項目４０には、対象物品１００の総数が、検査総数として表示される。つまり、直近の所定期間内に検査が実行され、検出データＳ１が蓄積手段２２内に蓄積されている物品１００の総数が表示される。
【００４９】
項目４１には、現在設定されているしきい値（実基準値）と、実基準値に対応するＮＧ数（不良数）及びＮＧ発生率（不良率）と、変更後のしきい値（仮想基準値）と、仮想基準値に対応するＮＧ数（不良数）及びＮＧ発生率（不良率）とが表示される。これらの情報は、作業者が比較をしやすいように、現在の値と変更後の値とが各情報別に上下に並んで表示されている。
【００５０】
項目４２には、図６に示したグラフを模式的に示した図形４３が表示される。また、図形４３中には、実基準値を示すライン４５と、仮想基準値を示すライン４６とが表示される。図形４３の斜め下には、左方向を指す方向指示図形４８と、右方向を指す方向指示図形４９とが表示されている。
【００５１】
作業者が方向指示図形４８にタッチすると、その情報がＣＰＵ２０に入力され、設定手段２４は、仮想基準値をより高い値に変更する。逆に、作業者が方向指示図形４９にタッチすると、その情報がＣＰＵ２０に入力され、設定手段２４は、仮想基準値をより低い値に変更する。判定手段２５は、変更後の仮想基準値に基づいて、各対象物品１００内への異物の混入の有無を判定する。また、算出手段２６は、対象物品１００の総数（検査総数）と、判定手段２５によって異物が混入されていると判定された物品１００の個数（ＮＧ数）とに基づいて、仮想異物混入率（ＮＧ発生率）を算出する。また、表示制御手段２７は、図形４３中においてライン４６を左方向又は右方向にシフトするとともに、項目４１において、変更後のしきい値と、それに対応するＮＧ数及びＮＧ発生率とをそれぞれ表示する。
【００５２】
また、本実施の形態に係るＸ線検査装置１においては、仮想基準値を設定することができる範囲の限界値（下限値）が、許容異物の程度に応じて予め設定されている。そして、その限界値を示すライン４７が、図形４３中に表示されている。作業者が方向指示図形４９にタッチし続けることによってライン４６がライン４７に重なると、作業者がさらに方向指示図形４９にタッチしても、ライン４６はそれ以上右方向にはシフトしない。これにより、仮想基準値を限界値未満の値に設定することが規制される。
【００５３】
作業者が方向指示図形４８，４９へのタッチを行う度に、それに応じて、図形４３中においてライン４６がシフトするとともに、項目４１において、変更後のしきい値、ＮＧ数、及びＮＧ発生率の値が更新される。従って、作業者は、これらの情報を参照することによって、例えば、目標の不良率を達成し得る仮想基準値を探索することができる。適切な仮想基準値が見つかると、作業者は、表示部９に表示されている決定ボタン５０にタッチする。これにより、その仮想基準値が、その後は実基準値として採用されて、新たな検査が実行されることとなる。
【００５４】
このように本実施の形態に係るＸ線検査装置１及びプログラム２３によれば、蓄積手段２２は、対象物品１００に関する検査によってＸ線検出部５で取得された、透過Ｘ線の強度に関する複数の検出データＳ１を蓄積する。また、しきい値変更時動作において、設定手段２４は、対象物品１００に関する検査で用いられた実基準値とは異なる仮想基準値を設定し、判定手段２５は、仮想基準値と、蓄積手段２２に蓄積されている各検出データＳ１との比較結果に基づいて、各物品１００内への異物の混入の有無を判定し、算出手段２６は、対象物品１００の総数における、判定手段２５によって異物が混入されていると判定された物品１００の個数の割合として、仮想異物混入率を算出する。そして、表示制御手段２７は、仮想異物混入率を表示部９に表示させる。
【００５５】
従って、実基準値の設定を変更する必要が生じた場合、設定手段２４によって仮想基準値を所望に設定することにより、その仮想基準値に応じた仮想異物混入率が表示部９に表示される。その結果、作業者は、表示部９に表示された仮想異物混入率を指標として用いて、実基準値の設定の変更作業を効率的に行うことが可能となる。しかも、仮想異物混入率は、シミュレーション等による予測ではなく、対象物品１００に関する実際の検査によって取得された複数の検出データＳ１に基づいて算出されるため、正確な仮想異物混入率を作業者に提供することが可能となる。
【００５６】
また、本実施の形態に係るＸ線検査装置１によれば、実稼働されている製造ラインのＸ線検査装置１によって取得された検出データＳ１を用いて、仮想異物混入率を求めることができる。従って、仮想異物混入率を求めるために、製造ラインの実稼働を停止してテスト稼働を行う必要がない。その結果、製造ラインの稼働率を上げることが可能となる。
【００５７】
また、本実施の形態に係るＸ線検査装置１によれば、表示部９には、実異物混入率（図７の項目４１における現在のＮＧ発生率）と仮想異物混入率とが併せて表示される。従って、作業者は、現在の実異物混入率と基準値変更後の仮想異物混入率とを、表示部９上で目視によって容易に比較することができる。その結果、基準値の設定の変更作業を効率的に行うことが可能となる。
【００５８】
また、本実施の形態に係るＸ線検査装置１によれば、表示部９には、仮想基準値の設定が許容される限界値（図７の項目４２におけるライン４７）が表示される。従って、許容範囲を逸脱する非現実的な基準値が作業者によって設定されることに起因して、Ｘ線検査装置１の検査精度が極端に低下することを、予め回避することが可能となる。
【００５９】
＜第１の変形例＞
第１の変形例に係るＸ線検査装置１は、複数の検出アルゴリズムを用いて、各検出アルゴリズムごとに異物の検出処理を実行可能である。
【００６０】
図８は、第１の変形例に係る判定手段２５の構成を示すブロック図である。判定手段２５は、フィルタ５０Ａ〜５０Ｃ、比較部５１Ａ〜５１Ｃ、及び判定部５２を有して構成されている。例えば、フィルタ５０Ａ及び比較部５１Ａは、２ｍｍ以下の異物を検出しやすい検出アルゴリズムによって異物検出を行う。また、フィルタ５０Ｂ及び比較部５１Ｂは、２〜４ｍｍの異物を検出しやすい検出アルゴリズムによって異物検出を行う。また、フィルタ５０Ｃ及び比較部５１Ｃは、４ｍｍ以上の異物を検出しやすい検出アルゴリズムによって異物検出を行う。
【００６１】
フィルタ５０Ａ〜５０Ｃには、Ｘ線検出部５によって検出された透過Ｘ線に基づいて作成されたＸ線透過画像に関する画像信号が、検出データＳ１として入力される。フィルタ５０Ａ〜５０Ｃは、検出アルゴリズムごとに異なるフィルタ係数を用いて、画像信号に対してフィルタ処理をそれぞれ実行し、フィルタ処理後の画像信号に関する検出データＳ１Ａ〜Ｓ１Ｃをそれぞれ出力する。検出データＳ１Ａ〜Ｓ１Ｃは、比較部５１Ａ〜５１Ｃにそれぞれ入力される。
【００６２】
また、比較部５１Ａ〜５１Ｃには、しきい値ＨＡ〜ＨＣがそれぞれ入力されている。しきい値ＨＡ〜ＨＣは、検出アルゴリズムごとに個別に設定可能である。比較部５１Ａ〜５１Ｃは、各検出データＳ１Ａ〜Ｓ１Ｃで表される透過Ｘ線の強度と、各しきい値ＨＡ〜ＨＣとをそれぞれ比較することにより、各検出アルゴリズムごとに物品１００内への異物の混入の有無をそれぞれ判定する。各比較部５１Ａ〜５１Ｃによる判定の結果に関するデータＳ３Ａ〜Ｓ３Ｃは、判定部５２に入力される。
【００６３】
また、判定部５２には、判定ルールに関するデータＲが入力されている。判定ルールの内容は、例えば食品の製造メーカーによって所望に設定することができる。判定部５２は、データＲと、比較部５１Ａ〜５１Ｃから入力されたデータＳ３Ａ〜Ｓ３Ｃとに基づいて、物品１００の良／不良を判定し、その判定の結果に関するデータＳ４を出力する。
【００６４】
例えば、２ｍｍ以下の異物は許容異物として設定するという判定ルールが採用されている場合には、データＳ３Ａにおいて異物の混入が有りとされていても、データＳ３Ｂ，Ｓ３Ｃにおいて異物の混入が無しとされていれば、判定部５２は、その物品１００を良品として扱う。また、許容異物を設定しないという判定ルールが採用されている場合には、データＳ３Ａ〜Ｓ３Ｃのいずれかにおいて異物の混入が有りとされていれば、判定部５２は、その物品１００を不良品として扱う。
【００６５】
図９は、しきい値変更時動作において表示部９に表示される画像の例を示す図である。項目４１には、各検出アルゴリズムに対応する項目４１Ａ〜４１Ｃが含まれる。項目４１に表示されている「レベル１」は２ｍｍ以下の異物を検出しやすい検出アルゴリズムに対応し、「レベル２」は２〜４ｍｍの異物を検出しやすい検出アルゴリズムに対応し、「レベル３」は４ｍｍ以上の異物を検出しやすい検出アルゴリズムに対応する。各項目４１Ａ〜４１Ｃの内容は、図７に示した項目４１と同様である。
【００６６】
項目４２には、各検出アルゴリズムに対応する図形４３Ａ〜４３Ｃが含まれる。各図形４３Ａ〜４３Ｃの内容は、図７に示した図形４３と同様である。また、各図形４３Ａ〜４３Ｃに対応する決定ボタン５０Ａ〜５０Ｃが表示されている。
【００６７】
さらに、項目４１と項目４２との間には、項目５５，５６が表示されている。項目５５には、実基準値に基づいて判定された現在の不良数と、仮想基準値に基づいて判定された変更後の不良数とが、上下に並んで表示されている。項目５６には、実基準値に基づいて算出された現在の不良率と、仮想基準値に基づいて算出された変更後の不良率とが、上下に並んで表示されている。
【００６８】
第１の変形例に係るＸ線検査装置１においては、設定手段２４は各検出アルゴリズムごとに仮想基準値を設定可能であり、判定手段２５は各検出アルゴリズムごとに異物の混入の有無を判定し、算出手段２６は、各検出アルゴリズムごとに仮想異物混入率を算出する。また、表示部９には、各検出アルゴリズムごとの仮想異物混入率（ＮＧ発生率）と、物品１００の不良率とが併せて表示される。
【００６９】
以下、代表的にレベル１に関するしきい値変更時動作について説明する。説明は省略するが、レベル２及びレベル３についても同様である。
【００７０】
作業者が方向指示図形４８Ａにタッチすると、その情報がＣＰＵ２０に入力され、設定手段２４は、レベル１に関する仮想基準値をより高い値に変更する。逆に、作業者が方向指示図形４９Ａにタッチすると、その情報がＣＰＵ２０に入力され、設定手段２４は、レベル１に関する仮想基準値をより低い値に変更する。判定手段２５は、レベル１に関する変更後の仮想基準値に基づいて、各対象物品１００内への異物の混入の有無を判定する。また、算出手段２６は、対象物品１００の総数（検査総数）と、レベル１に関して判定手段２５によって異物が混入されていると判定された物品１００の個数（ＮＧ数）とに基づいて、レベル１に関する仮想異物混入率（ＮＧ発生率）を算出する。また、表示制御手段２７は、図形４３Ａ中においてライン４６Ａを左方向又は右方向にシフトするとともに、項目４１Ａにおいて、レベル１に関する変更後のしきい値と、それに対応するＮＧ数及びＮＧ発生率とをそれぞれ表示する。
【００７１】
作業者が方向指示図形４８Ａ，４９Ａへのタッチを行う度に、それに応じて、図形４３Ａ中においてライン４６Ａがシフトするとともに、項目４１Ａにおいて、レベル１に関する変更後のしきい値、ＮＧ数、及びＮＧ発生率の値が更新される。また、項目５５，５６において、変更後の不良数及び不良率が更新される。従って、作業者は、これらの情報を参照することによって、例えば、目標の不良率を達成し得る、レベル１に関する仮想基準値を探索することができる。レベル１に関する適切な仮想基準値が見つかると、作業者は決定ボタン５０Ａにタッチする。これにより、その仮想基準値が、その後はレベル１に関する実基準値として採用されて、新たな検査が実行されることとなる。
【００７２】
このように第１の変形例に係るＸ線検査装置１によれば、設定手段２４によって各検出アルゴリズムごとに仮想基準値を所望に設定することにより、各検出アルゴリズムごとの仮想異物混入率が表示部９に表示される。その結果、作業者は、表示部９に表示された各検出アルゴリズムごとの仮想異物混入率を指標として用いて、各検出アルゴリズムごとの実基準値の設定の変更作業を効率的に行うことが可能となる。
【００７３】
また、第１の変形例に係るＸ線検査装置１によれば、表示部９には、各検出アルゴリズムごとの仮想異物混入率と、物品の不良率とが、併せて表示される。従って、作業者は、表示部９上に表示されたこれらの情報を目視で確認しながら、目標とする不良率を達成するための各検出アルゴリズムごとの仮想基準値の組合せを探索することが可能となる。
【００７４】
＜第２の変形例＞
図１０は、経時劣化によってＸ線照射部４から照射されるＸ線の強度が低下した状況を示す図である。破線で示す強度分布Ｋ１は、初期状態におけるＸ線照射部４から照射されたＸ線に基づく強度分布であり、実線で示す強度分布Ｋ１は、経時劣化したＸ線照射部４から照射されたＸ線に基づく強度分布である。図１０に示すように、経時劣化によってＸ線照射部４から照射されるＸ線の強度が低下すると、Ｘ線検出部５によって検出される透過Ｘ線の強度も全体的に低下する。その結果、物品１００に異物が混入されていない場合であっても、強度分布Ｋ１の一部がしきい値Ｈ２未満となるため、異物として誤検出されてしまう。
【００７５】
そこで、第２の変形例では、Ｘ線照射部４から照射されたＸ線の強度を検出し、その情報を表示部９に表示することにより、Ｘ線照射部４のＸ線源に故障や経時劣化が生じていることを作業者が知ることができるようにする。
【００７６】
Ｘ線照射部４から照射されたＸ線の強度は、例えば、物品１００に重ならない部分のラインセンサの電流値を検出し、その電流値をＸ線の強度値に換算することによって求めることができる。図１０に示すように、初期状態におけるＸ線照射部４から照射されたＸ線の強度は、強度値Ｍ１として検出され、経時劣化後のＸ線照射部４から照射されたＸ線の強度は、強度値Ｍ２として検出される。
【００７７】
図１１は、図７に対応させて、しきい値変更時動作において表示部９に表示される画像の例を示す図である。また、図１２は、図９に対応させて、しきい値変更時動作において表示部９に表示される画像の例を示す図である。表示部９には、項目６０が追加表示されている。項目６０には、Ｘ線照射部４から照射されたＸ線の強度に関して、初期値と現在の値とが上下に並んで表示されている。
【００７８】
このように第２の変形例に係るＸ線検査装置１によれば、表示部９には、Ｘ線照射部４から照射されたＸ線の強度が表示される。従って、Ｘ線照射部４のＸ線源に故障や経時劣化等のトラブルが発生している場合には、作業者は、表示部９に表示されたＸ線の強度に関する情報を参照することにより、Ｘ線源にトラブルが発生していることを知ることができる。その結果、Ｘ線源のトラブルを知らずに基準値の変更作業が無駄に行われることを、予め回避することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【００７９】
【図１】本発明の実施の形態に係るＸ線検査装置の構成例を示す正面図である。
【図２】Ｘ線検査装置の他の構成例を示す正面図である。
【図３】コンピュータの構成を示すブロック図である。
【図４】しきい値の設定例を示す図である。
【図５】しきい値の他の設定例を示す図である。
【図６】蓄積手段に蓄積されている複数の検出データをグラフ化して示す図である。
【図７】しきい値変更時動作において表示部に表示される画像の例を示す図である。
【図８】第１の変形例に係る判定手段の構成を示すブロック図である。
【図９】しきい値変更時動作において表示部に表示される画像の例を示す図である。
【図１０】経時劣化によってＸ線照射部から照射されるＸ線の強度が低下した状況を示す図である。
【図１１】図７に対応させて、しきい値変更時動作において表示部に表示される画像の例を示す図である。
【図１２】図９に対応させて、しきい値変更時動作において表示部に表示される画像の例を示す図である。
【符号の説明】
【００８０】
１ Ｘ線検査装置
４ Ｘ線照射部
５ Ｘ線検出部
９ 表示部
１０ コンピュータ
２２ 蓄積手段
２３ プログラム
２４ 設定手段
２５ 判定手段
２６ 算出手段
２７ 表示制御手段
１００ 物品
【特許請求の範囲】
【請求項１】
Ｘ線照射部から物品にＸ線を照射し、物品を透過したＸ線をＸ線検出部によって検出し、前記Ｘ線検出部で検出されたＸ線の強度と所定の基準値との比較結果に基づいて物品の良／不良を判定する、Ｘ線検査装置であって、
複数の物品に関する検査によって前記Ｘ線検出部で取得された、Ｘ線の強度に関する複数の検出データを蓄積する蓄積手段と、
前記所定の基準値として、前記複数の物品に関する検査で用いられた実基準値とは異なる仮想基準値を設定する設定手段と、
前記仮想基準値と、前記蓄積手段に蓄積されている各検出データとの比較結果に基づいて、各物品内への異物の混入の有無を判定する判定手段と、
前記複数の物品の総数における、前記判定手段によって異物が混入されていると判定された物品の個数の割合として、仮想異物混入率を算出する算出手段と、
前記仮想異物混入率を表示部に表示させる表示制御手段と
を備える、Ｘ線検査装置。
【請求項２】
前記複数の物品は、実稼働されている製造ラインにおいて前記Ｘ線検査装置によって検査された物品である、請求項１に記載のＸ線検査装置。
【請求項３】
前記表示部には、前記実基準値に基づいて算出された実異物混入率と、前記仮想異物混入率とが、併せて表示される、請求項１又は２に記載のＸ線検査装置。
【請求項４】
前記Ｘ線検査装置は、複数の検出アルゴリズムを用いて、各検出アルゴリズムごとに異物の検出が可能であり、
前記設定手段は、各検出アルゴリズムごとに前記仮想基準値を設定可能であり、
前記判定手段は、各検出アルゴリズムごとに異物の混入の有無を判定し、
前記算出手段は、各検出アルゴリズムごとに前記仮想異物混入率を算出し、
前記表示部には、各検出アルゴリズムごとの前記仮想異物混入率が表示される、請求項１〜３のいずれか一つに記載のＸ線検査装置。
【請求項５】
前記Ｘ線検査装置は、各検出アルゴリズムごとの異物の混入の有無の判定結果に基づいて、物品の良／不良を判定し、
前記表示部には、各検出アルゴリズムごとの前記仮想異物混入率と、物品の不良率とが、併せて表示される、請求項４に記載のＸ線検査装置。
【請求項６】
前記設定手段は、前記表示部上で前記仮想基準値を設定可能であり、
前記表示部には、前記仮想基準値の設定が許容される限界値が表示される、請求項１〜５のいずれか一つに記載のＸ線検査装置。
【請求項７】
前記表示部には、前記Ｘ線照射部から照射されたＸ線の強度が表示される、請求項１〜６のいずれか一つに記載のＸ線検査装置。
【請求項８】
Ｘ線照射部から物品にＸ線を照射し、物品を透過したＸ線をＸ線検出部によって検出し、前記Ｘ線検出部で検出されたＸ線の強度と所定の基準値との比較結果に基づいて物品の良／不良を判定するＸ線検査装置に、内蔵又は外部接続されるコンピュータを、
複数の物品に関する検査によって前記Ｘ線検査部で取得された、Ｘ線の強度に関する複数の検出データを蓄積する蓄積手段と、
前記所定の基準値として、前記複数の物品に関する検査で用いられた実基準値とは異なる仮想基準値を設定する設定手段と、
前記仮想基準値と、前記蓄積手段に蓄積されている各検出データとの比較結果に基づいて、各物品内への異物の混入の有無を判定する判定手段と、
前記複数の物品の総数における、前記判定手段によって異物が混入されていると判定された物品の個数の割合として、仮想異物混入率を算出する算出手段と、
前記仮想異物混入率を表示部に表示させる表示制御手段と
として機能させるプログラム。
【請求項１】
Ｘ線照射部から物品にＸ線を照射し、物品を透過したＸ線をＸ線検出部によって検出し、前記Ｘ線検出部で検出されたＸ線の強度と所定の基準値との比較結果に基づいて物品の良／不良を判定する、Ｘ線検査装置であって、
複数の物品に関する検査によって前記Ｘ線検出部で取得された、Ｘ線の強度に関する複数の検出データを蓄積する蓄積手段と、
前記所定の基準値として、前記複数の物品に関する検査で用いられた実基準値とは異なる仮想基準値を設定する設定手段と、
前記仮想基準値と、前記蓄積手段に蓄積されている各検出データとの比較結果に基づいて、各物品内への異物の混入の有無を判定する判定手段と、
前記複数の物品の総数における、前記判定手段によって異物が混入されていると判定された物品の個数の割合として、仮想異物混入率を算出する算出手段と、
前記仮想異物混入率を表示部に表示させる表示制御手段と
を備える、Ｘ線検査装置。
【請求項２】
前記複数の物品は、実稼働されている製造ラインにおいて前記Ｘ線検査装置によって検査された物品である、請求項１に記載のＸ線検査装置。
【請求項３】
前記表示部には、前記実基準値に基づいて算出された実異物混入率と、前記仮想異物混入率とが、併せて表示される、請求項１又は２に記載のＸ線検査装置。
【請求項４】
前記Ｘ線検査装置は、複数の検出アルゴリズムを用いて、各検出アルゴリズムごとに異物の検出が可能であり、
前記設定手段は、各検出アルゴリズムごとに前記仮想基準値を設定可能であり、
前記判定手段は、各検出アルゴリズムごとに異物の混入の有無を判定し、
前記算出手段は、各検出アルゴリズムごとに前記仮想異物混入率を算出し、
前記表示部には、各検出アルゴリズムごとの前記仮想異物混入率が表示される、請求項１〜３のいずれか一つに記載のＸ線検査装置。
【請求項５】
前記Ｘ線検査装置は、各検出アルゴリズムごとの異物の混入の有無の判定結果に基づいて、物品の良／不良を判定し、
前記表示部には、各検出アルゴリズムごとの前記仮想異物混入率と、物品の不良率とが、併せて表示される、請求項４に記載のＸ線検査装置。
【請求項６】
前記設定手段は、前記表示部上で前記仮想基準値を設定可能であり、
前記表示部には、前記仮想基準値の設定が許容される限界値が表示される、請求項１〜５のいずれか一つに記載のＸ線検査装置。
【請求項７】
前記表示部には、前記Ｘ線照射部から照射されたＸ線の強度が表示される、請求項１〜６のいずれか一つに記載のＸ線検査装置。
【請求項８】
Ｘ線照射部から物品にＸ線を照射し、物品を透過したＸ線をＸ線検出部によって検出し、前記Ｘ線検出部で検出されたＸ線の強度と所定の基準値との比較結果に基づいて物品の良／不良を判定するＸ線検査装置に、内蔵又は外部接続されるコンピュータを、
複数の物品に関する検査によって前記Ｘ線検査部で取得された、Ｘ線の強度に関する複数の検出データを蓄積する蓄積手段と、
前記所定の基準値として、前記複数の物品に関する検査で用いられた実基準値とは異なる仮想基準値を設定する設定手段と、
前記仮想基準値と、前記蓄積手段に蓄積されている各検出データとの比較結果に基づいて、各物品内への異物の混入の有無を判定する判定手段と、
前記複数の物品の総数における、前記判定手段によって異物が混入されていると判定された物品の個数の割合として、仮想異物混入率を算出する算出手段と、
前記仮想異物混入率を表示部に表示させる表示制御手段と
として機能させるプログラム。
【図１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【図１０】
【図１１】
【図１２】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【図１０】
【図１１】
【図１２】
【公開番号】特開２０１０−５４３８０（Ｐ２０１０−５４３８０Ａ）
【公開日】平成２２年３月１１日（２０１０．３．１１）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２００８−２２０４３４（Ｐ２００８−２２０４３４）
【出願日】平成２０年８月２８日（２００８．８．２８）
【出願人】（０００１４７８３３）株式会社イシダ (859)
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成２２年３月１１日（２０１０．３．１１）
【国際特許分類】
【出願日】平成２０年８月２８日（２００８．８．２８）
【出願人】（０００１４７８３３）株式会社イシダ (859)
【Ｆターム（参考）】
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