説明

株式会社アルバックにより出願された特許

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【課題】プラズマディスプレイパネルを短時間で製造する。
【解決手段】本発明は、基板11、21のはみ出し部分17、27の上に、接続材料31の溶融物32を、基板11、21の縁に沿って配置し、毛細管現象によってその溶融物32を第一、第二の基板11、21の間に引き込ませる。接続材料31の溶融にレーザー光35を用いると、接続材料31が短時間で溶融するだけでなく、照射位置36を中心として限られた範囲しか高温にならず、第一、第二のパネル10、20の全部が加熱されることがないので、汚染ガスの発生量が少なく、汚染ガスの脱ガス工程に時間を要しない。 (もっと読む)


【課題】表示装置を精度良く短時間で製造する。
【解決手段】本発明の製造装置2は射出装置5を有しており、射出装置5は第一、第二の基板に吸収され易い第一の光線束と、封止材料に吸収され易い第二の光線束を射出可能になっているので、第一、第二の基板11、21と封止材料31の温度制御を精密に行うことができる。溶融物32が第一、第二の基板11、21の間に引き込まれる前には、予め第一、第二の基板11、21は第一の光線束で加熱されているので、間に引き込まれた溶融物32が第一、第二の基板11、21で冷却されない。 (もっと読む)


【課題】同軸型真空アーク蒸着源を用いる薄膜の形成において欠陥の無い薄膜を形成する。
【解決手段】カソード電極43を筒状のアノード電極31の開口よりも外側に配置し、カソード電極43から放射方向に飛び出す巨大ドロップレットをアノード電極31の壁面に衝突させず、小ドロップレットを生成させない。ホルダ12の方向に飛び出した巨大ドロップレットは回転する羽根部材22に衝突し、フィルタ装置20を通過できず、微小粒子だけが通過し、成膜対象物5の表面に欠陥の無い薄膜が形成される。 (もっと読む)


【課題】 同一チャンバ内で基板ステージ上の処理基板に対し、ALD法による成膜とスパッタリング法による成膜とを行い得るように成膜装置を構成する場合に、ターゲットが、ALD法を行う際に導入する原料ガスや反応ガスによって汚染されないようにする。
【解決手段】 真空チャンバ内に基板ステージ12を配置し、ターゲット41aを有するスパッタリング成膜手段を、基板ステージの中心軸に対し所定の角度で傾斜させて設けると共に、化学的成膜手段を設ける。ターゲットと基板ステージとの間に、前記ターゲットを設けた真空チャンバの上方領域を隔絶するように遮蔽手段5を回転自在に設け、この遮蔽手段の所定の位置に前記ターゲットが臨む開口部51を形成する。 (もっと読む)


【課題】 マスクを通して基板への任意のパターンでの成膜を可能とする基板保持具を、基板ホルダーとマスクホルダーとの分離が容易で、かつ基板に対しマスクを正確かつ再現性よく配置できるようにする。
【解決手段】 基板Sを保持する基板ホルダー2と、基板が臨む開口部21を有し、この開口部にマスクMが着雑自在に装着されたマスクホルダー3とを嵌合して基板保持具1を構成する。この場合、基板ホルダー、マスクホルダーのいずれか一方に、他方に向かって突出する1本のピン26を設けると共にこのピンが嵌挿するピン孔37をその他方に形成し、基板ホルダーとマスクホルダーとが嵌合する基板ホルダー及びマスクホルダーの周壁面の一部を、それぞれ相互に対応するテーパ面25、36とする。 (もっと読む)


【課題】 同一チャンバ内で基板ステージ上の処理基板に対し、ALD法による成膜とスパッタリング法による成膜とを行い得るように成膜装置を構成する場合に、ターゲットが、ALD法を行う際に導入する原料ガスや反応ガスによって汚染されないようにする。
【解決手段】 真空チャンバ内の基板ステージ12に対向させて設けたターゲット41cを有するスパッタリング成膜手段4と、化学的成膜手段3とを設けると共に、ターゲットが存する第1空間11aと基板ステージが存する第2空間11bとに仕切る仕切り板5を設ける。ターゲットを、このターゲットの水平方向の位置の変更を可能とする移動手段41aに装着し、仕切り板の所定の位置にターゲットが臨む開口部51を形成する。 (もっと読む)


【課題】 パターンの相違するマスクに交換しつつ基板上に同一または相互に異なる材料を積層する場合に、基板に対しマスクを正確かつ再現性よく配置でき、装置自体が大型化せずに低コストで製作できるようにした成膜装置を提供する。
【解決手段】 成膜室12内に、蒸発源4と、同一円周上で所定の間隔を置いて相互にパターンが同一または異なるマスクの配置を可能とした回転自在なステージ2と、基板の搬送を可能とする搬送手段6とを設ける。搬送手段によって、いずれかのマスク上にこのマスクに対し位置決めして基板を設置した後、ステージを回転させて蒸発源に対向した位置に搬送し、マスクを通して基板への成膜を行う。 (もっと読む)


【課題】 同一チャンバ内で基板ステージ上の処理基板に対し、ALD法による成膜とスパッタリング法による成膜とを行い得るように成膜装置を構成する場合に、ターゲットが、ALD法を行う際に導入する原料ガスや反応ガスによって汚染されないようにする。
【解決手段】 真空チャンバを、スパッタリング法を実施できるスパッタ室11aと、化学的成膜法を実施できる化学的成膜室11bとに左右に区画し、スパッタ室内及び化学的成膜室の各成膜位置の間で処理基板Sを移動自在とする基板搬送手段3を設ける。この場合、スパッタ室内で処理基板とこの処理基板に対向して配置されるターゲットと間の距離に対し、化学的成膜室内で処理基板とこの処理基板に対向した化学的成膜室の内壁との間の距離を0.07〜0.3の範囲に設定する。 (もっと読む)


【課題】 マスクとウェハの熱膨張によるイオン注入位置精度誤差が所定の範囲内となるようにすることで、イオン注入の位置精度を向上したイオン注入装置を提供する。
【解決手段】 イオン注入装置において、マスク20の温度を測定するマスク温度計11と、マスク20の温度を制御するマスク加熱冷却システム13と、ウェハ30の温度を測定するウェハ温度計13と、ウェハ30の温度を制御するウェハ加熱冷却システム14と、マスク20とウェハ30との温度差と、熱膨張によるイオン注入位置精度誤差との特性関係が記憶されるとともに、マスク加熱冷却システム13及びウェハ加熱冷却システム14をコントロールする加熱冷却コントローラー15とを具備した温度管理制御機構を設けた。 (もっと読む)


【課題】 基板をトレイに載せて搬送することなく、1台のロボットで複数枚の基板を同時に搬送することができる基板搬送システムを提供する。
【解決手段】 本発明の基板搬送システム1は、複数枚のウェーハWを支持するトレイ2と、複数枚のウェーハWが載置されるステージ3と、伸縮自在な多関節アーム4Bの先端に複数枚のウェーハWを支持するハンド部4Aが設けられ、トレイ2とステージ3との間で複数枚のウェーハWを一括的に移載する基板搬送ロボット4とを備え、ハンド部4A及びトレイ2はそれぞれ、互いに係合する櫛型形状を有しており、ステージ3には、ハンド部4Aとの間で複数枚のウェーハWを受け渡すための機構部(リフターピン)32が設けられている。 (もっと読む)


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