説明

株式会社ルネサステクノロジにより出願された特許

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【課題】製品歩留りの向上を図った半導体ウェハ及び半導体素子の製造方法を提供する。
【解決手段】半導体ウェハは、同一区画が碁盤目状に形成され、上記各区画に製品となる半導体素子を形成する製品エリアと、上記半導体素子を形成するための半導体ウェハマスクの位置合わせに使用されるターゲットエリアとを有する。上記半導体素子は、半導体基板表面に設けられた第1金属電極と、上記第1金属表面に設けられた第2金属電極と、上記第2金属電極上に設けられたバンプ電極とが形成される。上記ターゲットエリアは、上記第1金属電極と、上記第1金属電極上に形成された第2金属電極とを形成する各工程で発生する第1位置合わせマークと、上記半導体基板表面に形成された酸化膜の厚さの段差により形成された第2位置合わせマークとを有する。 (もっと読む)


【課題】本発明は、FIN状の半導体部やゲート電極を精度良く形成すること、又は素子間の特性バラツキを改善することで、特性の優れたFIN型トランジスタを備える半導体装置を提供することを目的とする。
【解決手段】本発明は、一方にソース領域、他方にドレイン領域が形成されたFIN状の半導体部10と、ソース領域とドレイン領域との間で、FIN状の半導体部10をゲート絶縁膜を介して囲むように形成されたゲート電極17とを備える半導体装置である。そして、本発明に係る1つ解決手段は、ゲート電極17が、ウェットエッチング可能なメタル材料又はシリサイド材料を用いている。 (もっと読む)


【課題】少量のハードウエアで効果的な分岐命令先読みとサブルーチン復帰に備えた命令バッファの更新を実現し、高性能な情報処理技術を低価格で提供する。
【解決手段】CPU1、メモリ4、先読み手段等を備えた情報処理装置であって、先読み手段内の先読みアドレス生成部1101は、CPU1が現在アクセス中の命令列を格納する現命令バッファから、少なくとも1つの分岐アドレス演算命令と、分岐アドレスへの分岐命令からなる分岐命令列を解読し、分岐先アドレスの先読みを行う。さらに、サブルーチン復帰命令の復帰先の命令列を格納するサブルーチン復帰命令バッファを備え、現命令バッファに格納された命令列をサブルーチン復帰命令バッファに退避する。 (もっと読む)


【課題】インオーダ方式のような比較的小規模のハードウェアで、アウトオブオーダ方式のように全体の同期が不要な方式を実現し、処理の局所性を高めると共に、電力効率を高める。
【解決手段】データ処理装置(10)は、それぞれ命令実行のための所定の処理を可能とする複数の実行リソース(EXU,LSU)を含み、上記複数の実行リソースによってパイプライン処理が可能とされる。そして上記実行リソースは、同一の実行リソースで処理される命令については、当該命令のフローの順序に従ってインオーダ方式で処理し、互いに異なる実行リソースで処理される命令については当該命令のフローの順序にかかわらずにアウトオブオーダ方式で処理する。それにより、実行リソース内の局所的な処理が単純化されて小規模なハードウェアで実現され、実行リソースを跨ぐ大局的な処理の同期が不要となって、処理の局所性および電力効率が高まる。 (もっと読む)


【課題】新規または広帯域で周波数依存性の小さなゲインを持つ可変利得増幅器を提供すること。
【解決手段】可変利得増幅器は、バイアス回路(BC) 1、整合回路(MC)2、可変利得抵抗帰還増幅器(FA)3、出力フォロワ(EA)4を含む。負荷抵抗Rcと帰還抵抗Rfの抵抗値とは協調的に変更される。低雑音増幅器を高ゲインとするため、負荷抵抗Rcの高抵抗とされる際には帰還抵抗Rfも高抵抗とされ、抵抗負帰還増幅器3のクローズドループのフィードバック時定数τfb(cl)≒2π・RfCbe/(1+gmRc)は略一定となり、広帯域で周波数依存性の小さなゲインを持つようになる。低雑音増幅器を低ゲインとするため、負荷抵抗Rcの低抵抗とされる際には帰還抵抗Rfも低抵抗とされる。低抵抗の帰還抵抗Rfによって負帰還量が増大して、低ゲインとされる。負荷抵抗Rcも低抵抗とされフィードバック時定数τfb(cl)は略一定となり、高周波領域でそれ以上ゲインは低下しない。 (もっと読む)


【課題】単一命令で並列に演算処理を実行するメモリ内蔵並列演算処理装置においてメモリアレイのレイアウト面積をさらに低減する。
【解決手段】並列演算を実行する主演算回路(20)において、データを記憶するために、ダイナミック型メモリセル(DRAMセル)を有するDRAMセルアレイ(30)を配置する。DRAMセルアレイの所定数のビット線対に対応して演算エレメントが配置された演算回路(32)との間で1ビット単位または複数ビット単位でデータ転送を実行し、演算エレメント内で命令に応じた演算を実行する。この演算回路における演算操作と競合を回避するように制御回路(21)内の調停回路(124)によりメモリセル選択動作を調停してメモリセルアレイのリフレッシュを実行する。 (もっと読む)


【課題】インピーダンス不整合の状態が長時間継続されても、携帯電話端末のバッテリーの消耗を軽減すること。
【解決手段】RF電力増幅装置は、RF電力増幅器RFPAと電源供給回路Pwr_Cntとを具備する。
電源供給回路は、パワー制御信号Vapcのレベルに応答して、RF電力増幅器に供給される電源電圧VLDOのレベルを制御する。検出抵抗Rsenは、電源電圧の電源電流ILDOに対応した検出信号Vsenを生成する。電流制御部Cmp1、2、FF1、NAND3、Qp4は、検出信号Vsenに応答して電源電流ILDOを制御する。Vsenが電源電流許容レベルILDO (Max)に対応する許容検出信号レベルVshに一致すると、電流制御部は電源電流ILDOを許容レベルILDO (Max)よりも小さな制限電流に制御する。好ましくは、制限電流は、シャットダウンスイッチSh_SWのオフ状態によるシャットダウン電流である。 (もっと読む)


【課題】駆動能力に優れたPMOSトランジスタを実現する。
【解決手段】半導体装置は、半導体基板101における素子分離領域102によって分離された活性領域104上に形成されたPMOSトランジスタであって、このPMOSトランジスタは、活性領域104上に形成されたゲート絶縁膜105bと、ゲート絶縁膜上に形成されたゲート電極106bと、サイドウォール108bと、ソース・ドレイン拡散層領域107bとを備える。ソース・ドレイン拡散層領域107bは、半導体基板101の主面に対して傾斜面101Bを有している。 (もっと読む)


【課題】容量素子を含む半導体装置において、容量素子の信頼性向上を図ることができる技術を提供する。
【解決手段】半導体基板10に形成された素子分離領域11上に容量素子を形成する。この容量素子は、下部電極16と、下部電極16上に容量絶縁膜27を介して形成された上部電極23とを有している。基本的に、下部電極16と上部電極23は、ポリシリコン膜14、20とこのポリシリコン膜14、20の表面に形成されたコバルトシリサイド膜33から形成する。ここで、上部電極23に形成されるコバルトシリサイド膜33の端部を上部電極23の端部から距離L1だけ離間するように構成する。その上、下部電極16に形成されるコバルトシリサイド膜33の端部を、上部電極23と下部電極16の境界から距離L2だけ離間するように構成する。 (もっと読む)


【課題】異なる仕様の不揮発性半導体メモリであっても接続を可能にする。
【解決手段】DDR−SDRAM/DDR2−SDRAMが接続された場合、半導体集積回路装置には、レベル判定用の基準電圧VREFが入力される。I/Oバッファ制御回路8は、基準電圧VREFを検出し、Lo信号のバッファ制御信号CBを出力する。出力バッファ9は、DDR−SDRAM/DDR2−SDRAMに対応する駆動能力となる。また、セレクタ回路13は、入力バッファ12の出力信号を選択して出力するように接続先を切り替える。Mobile DDR−SDRAMが接続されると、基準電圧VREFが入力されないので、I/Oバッファ制御回路8は、Hi信号のバッファ制御信号CBを出力する。出力バッファ9は、該SDRAMに対する駆動の力となり、セレクタ回路13は、入力バッファ11の出力信号を選択して出力するように接続先の切り替えを行う。 (もっと読む)


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