説明

カール ツァイス マイクロスコピー ゲーエムベーハーにより出願された特許

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【課題】非デスキャン検出ユニットの横へのデカップリングの欠点を回避すること。
【解決手段】試料を照明するための照明光を放出する光源を備え、試料から出る検出光を検出するための少なくとも1つの第1の検出器を備え、かつ照明用放射線経路内にも検出用放射線経路内にも配置されており、試料をこれを通して照明および検出し得る対物レンズと、試料から出る検出光を非デスキャン検出するための第2の検出器7とを備えた走査型顕微鏡であって、その際、顕微鏡スタンドに連接されており、走査型顕微鏡の照明用放射線経路および検出用放射線経路のうちの少なくとも一つのための顕微鏡対物レンズ用の少なくとも1つの収容部を備えるハウジング3から成るコンパクトなサブアセンブリが設けられており、その際、少なくとも第2の検出器7がハウジング3内に配置されており、かつ試料光によって作用され得る。 (もっと読む)


本発明は、検出器上に試料(3)を結像するための結像対物レンズ(4)と、結像対物レンズ(4)の焦点面内でシート光(7)により試料(3)を照明するための、コヒーレント光を放射する照明源(1)を含む手段とを備えた顕微鏡に関する。このような顕微鏡においては、照明手段が、光ビーム(5)から少なくとも2つの平面波(6)を生成するとともに、この平面波(6)に対して伝播方向を規定する、ベッセル光学系を含んでおり、平面波(6)のそれぞれの伝播方向が焦点面とそれぞれ鋭角を成しており、この鋭角の値は平面波(6)の各々について同じであり、したがって平面波(6)は焦点面内で強め合うように干渉し、それによりシート光(7)が生成される。同様に、照明手段は、シート光(7)を動的に生成するために、光ビーム(5)から回転対称なベッセルビームを生成するための光学素子を含むこともできる。
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本発明は、少なくとも1つの好ましくは生体試料(2)を顕微鏡構成の試料空間内で位置決めするための方法及び装置に関する。方法及び装置は、検出用対物レンズ(13)の光軸に対する試料(2)の向きを複数回変えたときに、各検出方向から試料(2)に向かってほぼ遮蔽されない視野が確保されるように試料(2)を保持する。種々の変形形態において、試料(2)は、接着力によって支持装置の外面または内面に保持される。または、試料(2)は、流体媒体によって支持装置の外面または内面に保持される。または、試料(2)は、毛細管作用によって流体媒体用の毛細管の開口に保持される。または、透明ゲル(1)からなるゲル体に少なくとも1つの試料(2)が埋め込まれ、回転可能な保持装置(3)によってゲル体が試料空間内に固定され、保持装置(3)が回転されることによって所定の回転角だけ検出方向が変えられる。
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【課題】画像エリア全体の位置分解された検出を備えたライン走査型顕微鏡を提供すること。
【解決手段】試料の光学的捕捉のための装置であって、その際、試料または試料の少なくとも一部が、ライン状の照明で、スキャン手段11によりスキャンされ、照明光のライン状の放射線成形のための手段7が設けられ、および照明用放射線経路内に、パターンを生成するための手段13が設けられることによって、照明光が少なくとも1つの空間方向において好ましくは周期パターンを有しており、試料から来る光が検出され、かつそれを基に試料の画像が生成され、この画像を基に、試料の少なくとも1つの光学的断面画像および解像度のうちの少なくとも一つが向上された画像が計算され、パターンを生成するための手段13が、照明方向においてスキャン手段の後ろに配列される。 (もっと読む)


【課題】取付けが容易で安価な手法で製造でき、複雑な調整を必要とせず、空間的寸法が小さい、入口スリットを有する分光計および入口スリットの製造方法を提供する。
【解決手段】分光計は、ハウジング1と、入口スリット4と、ハウジング内に配置され、測定光を光電子検出素子に結像させる回折格子3とを有しており、検出素子はハウジング内に配置され、ハウジングおよび基板2は、規定された相互位置決めのための互いに協働する位置決め手段5a;5b;5c;5dによって相互連結される。入口スリット、基板の位置決め手段および検出素子を受容して取り付けるための保持手段6a;6bは、基板の恒久的な部分であり、レーザービーム切断または液体ジェット切断といった成形技術により、基板から、正確かつ適切に、規定された相互位置に作成される。基板の位置決め手段および検出素子のための保持手段のうちの少なくとも一つは、弾性要素として設けられる。 (もっと読む)


本発明は、試料を3次元結像するための方法に関するものであり、この方法では、試料の深さ方向において種々異なる平面からの画像情報を位置分解して記憶し、続いてこの画像情報から試料の3次元画像を復元する。この種の方法は選択的平面照明顕微鏡(SPIM)法に関するものであり、本発明により、基準構造に照明光を照射し、少なくとも1つの蛍光基準物体を、試料の近傍または試料内部に位置決し、少なくとも1つの検出方向から、照明光の基準構造の画像、基準物体の基準構造の画像、または基準構造として適する試料構造の画像を記録して評価し、結果に基づいて光シートを最適な位置に配置し、複数の検出方向から、基準物体および試料の画像情報を記憶し、基準物体から記憶された画像情報に基づいて変換演算子を獲得し、該変換演算子を、試料から記憶された画像情報から試料の3次元結像を復元するために使用する。
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試料またはその一部が線状の照明によって走査され、試料の照明が焦点内で少なくとも1つの空間方向において周期的に構造化され、試料から来る光が検出され、試料の画像が生成され、この画像を基に少なくとも1つの光学的断面画像および/または解像度g高められた画像が計算され、画像の記録および断面画像の差引計算が、試料への線状の照明の向きを変えて複数回行われ、かつ/または平面検出器(15)またはカメラ上で、ラインごとに非デスキャン(descannten)検出するために、照明された試料領域からの検出光によって露光されたラインの間に間隙が生成され、かつ/または走査過程中に、検出器の前で、ラインによる試料の走査方向におけるさらなる光偏向が行われる、試料(29)を深さ分解して光学的に捕捉するための方法および構成。
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本発明は試料(1)を光操作するための光学装置に関するものである。この装置は、試料(1)を収容する試料ホルダ(2)と、照明装置とを有し、照明装置は照明光源(3)と、試料(1)を光シートにより照明する照明ビーム路とを有する。さらにこの装置は、試料(1)から放射された光を検知する検知装置と、試料(1)を結像ビーム路にある結像対物レンズ(7)により検知装置に少なくとも部分的に結像する結像光学系とを有する。ここで光シートは結像対物レンズ(7)の焦点において実質的に平坦であり、結像対物レンズ(7)は光軸を有し、この光軸は光シートの平面とゼロとは異なる角度で、好ましくは垂直に交差する。この装置はさらに制御ユニット(8)と、試料(1)を光操作する手段も有する。このような光学装置では、光操作する手段が第1の操作光学系を有し、この第1の操作光学系によって、実質的に平坦な操作光シートを形成するために第1の操作光源(10)の光が照明ビーム路に入力結合される。
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本発明は、試料の様々な点に励起光が集束または送出され、励起光の強度が点固有に変更され、少なくとも1つのスペクトル域内で前記試料によって反射された光の強度が点固有かつ定量的に測定される顕微鏡を操作する方法に関する。本発明による方法は、前記試料の固有点に送出された励起光の強度および/または分光組成が、調整装置によって自動的に、前記点によってスペクトル域内で反射された光の推定強度または実際強度に関する前記試料の測定データから予め得られた情報に基づいて、画素ドウェル時間中にこの点によってスペクトル域内で反射された光の強度の積分が所定の値期間内にあるように調整さることを特徴とする。本発明は、また、顕微鏡に関する。
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照明された試料を光学的に捕捉するための方法であって、照明光が少なくとも1つの平面内で空間的に構造化されて該試料に当たり、該試料の複数の画像が該試料上の構造の様々な位置で検出器によって記録され、該複数の画像から光学的断面画像および解像度の少なくとも一方が高められた画像が計算される方法において、該試料の方向で、対物レンズの瞳内もしくは該対物レンズの瞳と共役な平面内またはその近傍に回折パターンが形成され、該回折パターンに、該対物レンズの瞳内もしくは該対物レンズ瞳と共役な平面内またはその近傍で、様々な位相遅延の領域を備える構造化された位相プレートが割り当てられ、該位相プレートは、少なくとも1つの回折次数のために照明光の様々な位相位置を該試料上で調整するために移動され、好ましくは変位可能な絞りを介して該回折次数が選択され、該変位可能な絞りは対物レンズの瞳内もしくは対物レンズの瞳と共役な平面内またはその近傍に配置されることを特徴とする方法。
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