本発明は、試料（１）を検査するための方法および装置に関する。試料（１）は、回転軸周りで回転可能であり、かつ３次元全方向に移動可能に設置される。この試料は、第１の照射装置によって、回転軸に平行な光シートで照射される。試料（１）から出射される光は、光シートの平面に直角に交わる光軸を有する結像対物レンズ（７）によって、検知装置上に断面画像として結像される。回転角を様々に調節して、試料の複数の断面画像を撮影し、それらの断面画像の一部について、撮影の合間に試料（１）の回転および移動のうちの少なくとも一方を行う。撮影された断面画像は、位置合わせされ、試料（１）の立体的画像データの第１のデータ群に融合される。このような方法において、試料（１）は、第２の照射装置によって回転軸に垂直に照射され、結像対物レンズ（７）は、少なくとも試料（１）の一部を陰影画像として検知装置上に投影する。その際、試料（１）の複数の陰影画像を撮影し、少なくともそれらの陰影画像の一部について、撮影の合間に試料（１）の回転および移動のうちの少なくとも一方を行う。撮影された陰影画像から、逆投影アルゴリズムを用いて、試料（１）の立体的画像データの第２のデータ群が構築される。
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【課題】標本の個々の断層面を効率よく観察できるようにする、シート光を発生するための光学装置を提供すること。
【解決手段】１つの光束を放射するための１つの光源と、この光束をシート光の形状に変換するための複数の光学素子とを有する、特に選択的平面照明顕微鏡（ＳＰＩＭ）における３次元標本の個々の断層面の照明に適した光学装置において、シート光３の断面を変更する手段、シート光３の長さを変更する手段、および／または、シート光３の内部を走る個々の放射成分を標本物質に向けるために使用される、向きに影響を及ぼす手段が設けられる。それにより、種類が異なる複数の対物レンズを使用して同じ標本断層面を観察する際に、それぞれの照明条件にシート光３の幾何形状を適合させることが可能になるとともに、必要な場合には、観察される標本断層面の内部に照明に起因して形成される影を低減することも達成される。 （もっと読む）

少なくとも１つのレーザを備えた共焦点レーザ顕微鏡であって、このレーザの照明光が、少なくとも１つの光ファイバを介して顕微鏡対物レンズの方向に伝送され、その際、この光ファイバが、好ましくは顕微鏡の走査ヘッドを含むハウジングに差込み可能であり、かつこのハウジングに差込み可能な保持具が設けられており、この保持具内に光ファイバが突出しており、かつこの保持具には、そのファイバに面していない端部で、ハウジング内にある少なくとも部分的に変位可能なコリメーション光学系の方向にファイバから拡散性を有して出射するレーザ光を伝送するための第１の光学系が設けられており、その際、有利には、第１の光学系とコリメーション光学系の間に少なくとも１つの第２の光学系が配置される。
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本発明は、ある一定の波長域を有する平行な光束（１，２，３）が１つの回折格子（１３）に入射すると、回折格子（１３）により異なる波長が回折によって第１の方向にスペクトル分光され、スペクトル分光された光束のそれぞれの部分波長域（１’，１”，１’’’，２’，２”，２’’’，３’，３”，３’’’）を１つのカメラ光学系（１４）により１つの検出器アレイ（１５）上に集束可能であり、さらに検出器アレイ（１５）に１つの評価エレクトロニクス（１７）が接続されており、該評価エレクトロニクス（１７）が発生されたスペクトルをデータとして獲得して表示するようになっている、１つの回折格子を有する高感度スペクトル分析ユニットに関する。本発明は、光束（１，２，３）が１つの第１の光学素子（１１，２０）を通過し、続いてスペクトル分光された光束のそれぞれの部分波長域（１’，１”，１’’’，２’，２”，２’’’，３’，３”，３’’’）がいずれも、１つの回折格子（１３）のそれぞれの部分領域（１３’，１３”，１３’’’）に当たること、またその際には回折格子（１３）が全ての部分領域にわたり同一の格子定数を有するとともに、変化する溝断面形状を有すること、またその際には溝断面形状により、各部分波長域のところに位置する、異なるブレーズ波長が発生することを特徴とする。
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並行化された顕微鏡イメージングのための方法および装置であって、少なくとも１つの領域内の試料の、蛍光励起のための第１の照明と、検出器要素による試料光の、領域に割り当てられた位置分解検出とを含み、その際、第２の照明により、領域が、検出器要素に割り当てられている、離間されて蛍光を発する部分領域へと区分され、その際、部分領域の離間が、蛍光を低下させた中間領域または蛍光を発しない中間領域による蛍光範囲の空間的な分離、および部分領域からの蛍光の様々なスペクトル特性による蛍光範囲の空間的な分離のうちの少なくとも一つによって行われる方法および装置。
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試料が、ルミネセンス放射を放出させる励起用放射（４、５）を照射することによって励起され、かつルミネセンスを発する試料（１０）の画像が取得され、その際、試料（１０）の第１の試料部分ボリューム内では励起用放射の第１のレーザ放射エリア（５）が照射され、かつ試料（１０）の第２の試料部分ボリューム内では励起用放射の第２のレーザ放射エリア（４）が照射され、その際、第１および第２の試料部分ボリュームが、部分的に、ただし完全にではなく重なり合っており、第１のレーザ放射エリア（５）だけが第１の周波数で変調されており、第１の試料部分ボリュームからのルミネセンス放射が変調フィルタリング検出され、これにより第２の試料部分ボリュームからのルミネセンス放射が抑制される、解像度を高めたルミネセンス顕微鏡検査方法について説明する。
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【課題】培養システムにおける試験環境パラメータに作用する改良された装置および方法を提供する。
【解決手段】典型的な実施形態による顕微鏡装置１は、少なくとも一つのアドレス指定可能な構成要素５を有する顕微鏡システム２と、顕微鏡システム２の試験室４における複数の試験環境パラメータに作用する複数の制御モジュール７、８、９を有する制御システム６とを備える。制御モジュール７、８、９は、モジュラー式に組み合わせ可能に、且つ、制御モジュール７、８、９を制御する統合バスでインターフェイス・ユニットを介して接続可能となるよう構成される。 （もっと読む）

【課題】物体を、予め設定された物体軸の周りを予め設定された精度で回転させることが可能な光断層撮影装置用回転装置を提供する。
【解決手段】回転装置（１）は、第１回転軸（１０）の周りでの回転を引き起こすことが可能な回転モジュール（８）と、回転モジュール（８）に連結され、回転モジュール（８）を第１回転軸（１０）に沿って位置決めすることが可能な第１位置決めモジュール（７）と、回転モジュール（８）に連結され、試料キャリア（４）を被検物体（５）と共に固定することが可能な第２位置決めモジュール（９）とを備え、回転モジュール（８）による回転の際に物体（５）が物体軸（６）の周りを回転するように、第２位置決めモジュール（９）により物体軸（６）を第１回転軸（１０）に対して相対的に位置決めすることが可能となっている。 （もっと読む）

【課題】放出フィルタの不要な蛍光検査用の走査型レーザ顕微鏡を提供すること。
【解決手段】蛍光検査用の走査型レーザ顕微鏡では、照明用および検出用の放射線経路が、２色性の主カラー・スプリッタ（１）によって光学的に結合されており、検出された試料光が、更なるビーム・スプリッタ（２）によって複数の検出器に導かれ、少なくとも主カラー・スプリッタまたは少なくとも１つの更なるスプリッタのスプリッタ面での、照明光の入射角度および／または試料光の入射角度が４５度より小さい。 （もっと読む）

【課題】複雑な構造のフィルタを必要としない走査型レーザ顕微鏡を提供すること。
【解決手段】この走査型レーザ顕微鏡は、試料を照らすための照明用の放射線経路と、試料光を波長に応じて感知するための検出用の放射線経路とを備え、検出波長を選択するためのフィルタが設けられており、複数の部分放射線経路へと波長を選択するために、透過と反射との間の境界波長が場所によって変わる少なくとも１つのグラデーション・フィルタが設けられている。 （もっと読む）