【課題】１本の伝送路で複数本の光ファイバを使用する状況においても、光スイッチを用いることなく、複数本の光ファイバのＦＢＧセンサを計測可能なＦＢＧセンサの多点計測方法および装置を提供する。
【解決手段】ＦＢＧセンサの多点計測装置において、コアに回折格子を形成した光ファイバ４と、広帯域波長光源９と、この光源からの光のうち、光ファイバ４に入射する光の時間を制御する光源側光変調器１０と、この光変調器からの出射光を入射して、光ファイバ４の回折格子からの反射光を透過する時間を制御する検出側光変調器１２と、この光変調器からの反射光を検出して得られた信号を処理して光ファイバ４からの信号を分離する波長移動量算出器１４と、この算出器の結果から被測定物の変形量を算出する温度・歪み算出器１５と、この被測定物の変形量に関する情報を表示する表示部１６とを有する。 （もっと読む）

【課題】
被測定用光ファイバのみを用いてブリルアン散乱を測定可能なブリルアン散乱測定装置を提供すること。
【解決手段】
プローブ光ａ_０とポンプ光ｂ_０とを生成する測定用光生成手段と、該測定用光生成手段で生成されたプローブ光とポンプ光とを、偏波面が異なる状態で合成する偏波合成手段４０と、該偏波合成手段からの合成光が一端に入射される被測定用光ファイバ４１と、該被測定用光ファイバの他端側に配置され、合成光の偏波面を回転すると共に、合成光中のプローブ光のみを反射させて該被測定用光ファイバの他端に再入射させる回転反射手段４２と、該被測定用光ファイバの一端側に配置され、該回転反射手段により反射したプローブ光ａ_３を検出するプローブ光検出手段とを有することを特徴とするブリルアン散乱測定装置である。 （もっと読む）

【課題】
被測定用光ファイバのみを用いてブリルアン散乱を測定可能なブリルアン散乱測定装置を提供すること。
【解決手段】
プローブ光ａ_０とポンプ光ｂ_０とを生成する測定用光生成手段と、該測定用光生成手段で生成されたプローブ光とポンプ光とを、偏波面が異なる状態で合成する偏波合成手段４０と、該偏波合成手段からの合成光が一端に入射される被測定用光ファイバ４１と、該被測定用光ファイバの他端側に配置され、合成光の偏波面を回転すると共に、合成光中の少なくともプローブ光を反射させて該被測定用光ファイバの他端に再入射させる回転反射手段４２と、該被測定用光ファイバの一端側に配置され、該回転反射手段により反射したプローブ光ａ_３を検出するプローブ光検出手段とを有することを特徴とするブリルアン散乱測定装置である。 （もっと読む）

【課題】流路内の液体温度を精度良く制御することが可能であって、特に流路内に形成された複数の層流について個別に温度の測定と調整を行うことが可能な温度制御方法の提供。
【解決手段】流路Ｃ内を通流する液体中に、温度に依存して光学特性が変化する温度指標粒子１を含有させておき、前記温度指標粒子１に光Ｌ_１を照射して前記光学特性を測定し、得られた測定値に基づいて前記液体の温度を算出する温度制御方法を提供する。この温度制御方法は、さらに、前記液体中に光Ｌ_２の照射によって蓄熱される温度制御粒子２を含有させておき、前記蓄熱を利用して前記液体を加温することができる。 （もっと読む）

【課題】本発明の課題は、歪や温度変化を光ファイバの軸方向にわたる分布状態として実用的で高精度にかつ長距離測定できる光ファイバを用いた歪・温度の分布測定方法を提供することにある。
【解決手段】本発明は、光周波数を変えながら光パルスをセンシング用光ファイバに入射させると共に前記センシング用光ファイバから戻ってきたレイリー散乱光を受光し、受光したレイリー散乱光の相関ピーク周波数と、光ファイバの歪変化量・温度変化量・光周波数変化量との関係を用いて光ファイバの軸方向の歪変化や温度変化を測定することを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】磁気記録媒体に記録された磁区の磁界分布を測定する磁界分布測定装置及び磁界分布測定方法と、光磁気記録媒体における磁区記録時のレーザビームスポット内の温度分布を測定する温度分布測定装置及び温度分布測定方法と、を提供する。
【解決手段】磁区が記録された光磁気記録媒体Ｍを偏光顕微鏡１で観察して得た画像データから階調度データを算出し、そして、当該階調度データから算出された磁界強度データに基づいて磁界分布を出力して、光磁気記録媒体Ｍに記録された磁区の磁界分布を測定するとともに、記録用レーザビーム照射中の光磁気記録媒体Ｍを偏光顕微鏡１で観察して得た画像データから階調度データを算出し、当該階調度データから磁界強度データを算出し、そして、当該磁界強度データから算出された温度データに基づいて温度分布を出力して、光磁気記録媒体Ｍにおける磁区記録時のレーザビームスポット内の温度分布を測定するよう構成した。 （もっと読む）

本発明は、低コヒーレンス干渉法に基づくタンデム干渉計光センサシステムによって物理量を測定するための方法とシステムとを提供する。本システムは、光システムとセンシング干渉計と偏光読み出し干渉計とを備える。本発明は、単一の複屈折楔を備える偏光干渉計を提供する。本発明はまた、分散補償型光センサシステムに備えている。本発明はまた、ｘカット方位を有するＬ_iＢ₃Ｏ₅結晶内に軌道を備える温度に高感度である干渉計を提供する。
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