【課題】トロリ線周辺の構造物に影響されることなく、トロリ線の全区間に亘った摩耗測定を確実、容易にする。
【解決手段】検査車両１には、トロリ線の敷設方向とは垂直になる走査線方向にしたラインセンサ５と照明灯６を搭載し、検査車両の走行によってトロリ線のパンタグラフ接触面を撮影し、この画像信号を計測用コンピュータ７が記録装置８に保存する。ラインセンサに得られる走査線の輝度信号を時系列に並べてラインセンサ画像を作成し、このラインセンサ画像から二値化ラインセンサ画像を得、この二値化ラインセンサ画像からトロリ線摩耗部のエッジを検出し、このエッジデータに対するトロリ線全体幅とラインセンサから見たトロリ線高さからトロリ線の摩耗部の実幅を求める。 （もっと読む）

【課題】トロリ線周辺の構造物に影響されることなく、トロリ線の全区間に亘った摩耗測定を確実、容易にし、しかも昼間に計測できる。
【解決手段】検査車両１には、トロリ線の敷設方向とは垂直になる走査線方向にしたラインセンサ５と照明灯６を搭載し、検査車両の走行によってトロリ線のパンタグラフ接触面を撮影し、この画像信号を計測用コンピュータ７が記録装置８に保存する。ラインセンサに得られる走査線の輝度信号を時系列に並べてラインセンサ画像を作成し、このラインセンサ画像から二値化ラインセンサ画像を得、この二値化ラインセンサ画像から空の部分を除去してトロリ線摩耗部のエッジを検出し、このエッジデータに対するトロリ線全体幅とラインセンサから見たトロリ線高さからトロリ線の摩耗部幅を求める。 （もっと読む）

【課題】半導体回路パターンにおける欠陥検出において、最適な差分画像フィルタを容易に設定できるようにして欠陥の検出精度を向上させること。
【解決手段】検査対象の検出画像と比較用の参照画像から得られる差分画像にフィルタ処理を行い半導体ウエハの欠陥検査方法において、フィルタ処理を行う際に、フィルタ処理前後の差分画像それぞれについて、グレイレベルに関する情報を表示してこれを参照してフィルタ処理を行う。グレイレベルに関する情報として、ファイル処理前後の差分画像に対するグレイレベルと画素数に関するヒストグラムが含まれる。欠陥検出装置としては、検出画像、参照画像、差分画像、フィルタ処理後差分画像、フィルタ処理前後の差分画像それぞれについてのヒストグラムが表示される。フィルタを設定する毎にヒストグラムは、更新表示される。 （もっと読む）

【課題】単一の物体を複数の小物体とみなしてしまうといった誤検出を抑制し、物体の検出精度の向上を図る。
【解決手段】フィルタ部３は、距離画像を構成する距離データのそれぞれの信頼性を評価し、この信頼性に基づいて、距離データから有効距離データと無効距離データとを抽出する。物体検出部４は、距離画像における有効距離データのヒストグラムに基づいて、検出対象となる物体を検出する。グループ検出部５は、距離画像上において、有効距離データが存在する領域を分離条件とした上で、互いに隣接した無効距離データをグループ化する。グループチェック部６は、グループ化されたグループの中から、個々のグループ内における無効距離データの統計結果を用いて、同一物体の一部分とみなすことができる同一物体グループを抽出する。物体修正部７は、複数の物体の間に同一物体グループが介在する場合、これらを１つの物体とみなす。 （もっと読む）

【課題】背の低い物体の背後に背の高い物体が写っている状況でも、双方の物体を精度よく検出する。
【解決手段】距離分布生成部４は、距離画像上に設定された複数の区分のそれぞれについて、その区分内に存在する距離値のヒストグラムを生成するとともに、区分内の距離値を代表する距離代表値として、所定のしきい値以上の出現頻度を有する距離値を、同一区分内での複数選択を許容しつつ、区分毎に特定する。物体検出部５は、区分と距離とによって規定される処理空間において、互いに隣接した距離代表値を同一物体とみなしてグループ化することによって、検出対象となる物体を検出する。 （もっと読む）

【課題】カメラがインターレース方式，ノンインターレース方式のどちらの場合でも、物体若しくはカメラを搭載した物体の高速移動時の速度・位置の推定を精度良く行う。
【解決手段】移動する被写体をカメラ手段により連続して撮像するステップと、１フレームのカメラ画像における被写体の形状の歪み若しくはズレから、該フレームにおける被写体の速度ベクトルを算出するステップと、カメラ画像のフレームレートおよびフレーム毎の被写体の速度ベクトルから被写体の移動量を算出し位置を推定するステップを備え、速度ベクトルを算出するステップは、カメラ手段がインターレース方式の場合、偶数走査線画像と奇数走査線画像のスキャンのタイムラグによる被写体のズレを用いて速度ベクトルを算出し、カメラ手段がノンインターレース方式の場合、被写体の上下・左右方向の歪みを用いて速度ベクトルを算出する。 （もっと読む）

【課題】計測データの変動を車両構成部材における異常によるものと計測条件の相違によるものに分けて、正確に車両構成部材の状況を監視することができるようにしたい。
【解決手段】レール１１上を走行する車両１０について地上に設置した計測装置１ａ，１ｂで車両構成部材１００の状況を監視する鉄道車両監視装置であり、計測装置の計測データを記録し、一定量の計測データが蓄積されたところで、それらの計測データについて度数分布を求め、所望の分布領域内の計測データについて平均値を求め、その平均値をもって車両構成部材の計測データとする処理手段４を設けた。 （もっと読む）

【課題】特に、金属基複合材料の摺動面の耐摩耗性評価が精度良く行え、耐摩耗性の他に摺動面の摩擦抵抗や耐スカッフィング性も同時に評価可能な摺動面評価方法を提供する。
【解決手段】シリコン８０の領域内の山８１〜８５の高さｈ１〜ｈ５の大きい方から５つの山の高さの平均値を算出してシリコン突出し高さＨＰＳとし、被測定面１７ａの山の高さの度数分布の度数が最大になる基準高さＨＳからシリコン突出し高さＨＰＳまでの間に面積計算しきい値ＨＴを設定し、この面積計算しきい値ＨＴよりも高い部分であってシリコン８０の領域内に存在する山８１，８３ａ，８３ｂ，８４ａ，８４ｂ，８５の部分の被測定面１７ａに平行な面９１への投影面積Ｓ１〜Ｓ６を算出し、この総面積を被測定面１７ａの面積で除してシリコン突出し面積率を算出し、シリコン突出し高さＨＰＳ及びシリコン突出し面積率を各基準値と比較して摺動面の耐久性の合否を判定する。 （もっと読む）

【課題】従来距離計方式や光切断形状計測では識別しにくい母板目違いに起因した溶接不良の確実性を高めると共に、従来の目視観察やハンマリング試験において問題であった検査員依存性を無くし、再現性、客観性を高める。
【解決手段】突合せ溶接後の盛上がり部を除去した後に溶接部３０Ｗの良否を検査する方法において、溶接線に対して略直交方向のスリット光１０Ｓを、溶接線方向に走査して照射し、前記スリット光１０Ｓの溶接部３０Ｗで反射した拡散反射光強度分布を、溶接線方向の複数位置で検出し、その複数位置で検出した拡散反射光強度分布に基づいて、溶接部３０Ｗの良否を判定する。ここで、前記拡散反射光強度分布について、第１の所定強度以下となる位置で囲まれる範囲を設定し、その範囲内で、第２の所定強度以上、かつ、所定幅以上となる孤立領域の有無を検出する処理を、溶接線方向の複数位置について連続的に行い、前記孤立領域が所定数以上連続して有った場合に、溶接不良と判定することができる。 （もっと読む）

【課題】複数種の物体を精度よく検出する。
【解決手段】距離分布生成部４は、距離画上に設定された複数の区分のそれぞれについて、この区分内に存在する距離値のヒストグラムに基づいて距離代表値を算出する。第１の物体検出部５ａは、先行車のサイズに応じて設定された第１の検出条件と、区分毎の距離代表値とに基づいて、複数の区分を同一物体とみなしてグループ化し、距離画像上において先行車を検出する。第２の物体検出部５ｂは、歩行者のサイズに応じて設定された第２の検出条件と、区分毎の距離代表値とに基づいて、複数の区分を同一物体とみなしてグループ化し、距離画像上において歩行者を検出する。信頼性評価部６は、先行車および歩行者のいずれかを選択するために、所定の評価規則に基づいて、両者の信頼性を評価する。 （もっと読む）

【課題】現実空間に既にある文字を利用し、広範囲においてカメラの位置姿勢の取得を可能な位置姿勢測定技術及び該位置姿勢測定技術を利用した複合現実感提示システムを提供する。
【解決手段】位置姿勢測定装置であって、現実空間に配置された文字領域について、文字領域を特定するための情報および位置情報とを保持する保持手段と、前記現実空間を撮像装置により撮像して得られた第1の撮像画像データから、前記保持手段に保持されている文字領域を特定するための情報を用いて、文字領域を検出する検出手段と、前記検出手段により検出された文字領域の前記第１の撮影画像データにおける画像位置情報と、前記保持手段に保持されている、該検出された文字領域に対応する位置情報とに基づき、前記撮像画像データ撮像時の前記撮像装置の位置姿勢を推定する推定手段とを備えることを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】積算型センサを搭載するととともに、積算型センサの累積誤差を容易に補正することを可能とする点検システム及び誤差補正プログラムを提供する。
【解決手段】閉空間内において走行面上を自走する点検ロボット１００を含む点検システムが、カメラユニット１３０を所定角度回転させる毎にカメラユニット１３０が撮像する閉空間の画像から水平線分を抽出する画像処理部２３０と、画像処理部２３０によって抽出された水平線分と、水平線分が抽出される閉空間の画像を撮像した際におけるカメラユニット１３０の回動角とに基づいて、ジャイロセンサ１５０の累積誤差を補正する制御部２４０とを備える。 （もっと読む）

【課題】 アナログ赤外線カメラによる対象物の認識画像を現状よりソフト上で鮮明化する認識画像創出方法。
【解決手段】 認識対象物の半導体ウエハ１をアナログ赤外線カメラ１０でｎ回連続的に撮像する。１回目の撮像で得た原画像Ａのヒストグラムとグレイスケール画像に基づいて認識すべき特定領域が強調される上限と下限のグレイ値を設定する。ｎ回の撮像で得られたｎ個の原画像をリカーシブフィルタ処理してリカーシブ画像を得る。このリカーシブ画像を前記グレイ値によりグレイスケール処理して最終的な認識画像Ｄを得る。 （もっと読む）

【課題】効率よく致命不良を捕捉し、異物のサイズおよび形状を検査する。
【解決手段】パターンが形成されたウエハにおいて予め指定された被検査対象位置を明視野照明下で撮像して被検査対象画像を取得する。ウエハにおいて被検査対象位置と対応する比較対象位置を明視野照明下で撮像して比較対象画像を取得する。被検査対象画像と比較対象画像との和画像を取得する。和画像のうち被検査対象画像とパターン画像８とが加算された和画像９’について、閾値処理を実行し、該閾値処理後にパターン画像８’、８’が分割された画像を認識した場合には単一異物６の和画像と判定し、致命不良と判定する。
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【課題】生産環境の変動に応じて動的に検査ロジックを設定することにより検査精度を向上させる検査制御装置を実現する。
【解決手段】良不良の判別結果を示す最終検査結果を生成するのに検査モジュール２０が用いるメイン検査ロジックＬ１を、複数の検査ロジックの中から選択する検査ロジック選択部３４と、メイン検査ロジックＬ１の最終検査結果と、メイン検査ロジックＬ１と異なる検査ロジックを用いてワークの良不良を判別したときの評価用検査結果とに基づいて、各検査ロジックの検査精度を評価する検査ロジック評価部３３とを備え、検査ロジック選択部３４は、検査ロジック評価部３３の評価結果に基づいて、メイン検査ロジックＬ１を選択する。 （もっと読む）

【課題】目視による検査を行う場合においても、短時間で検査を行うことのでき、しかも、目視によって正確に検査することのできる目視検査装置を提供することを目的とするものである。
【解決手段】自動検査装置２によって検査されたプリント基板４を目視で検査する目視検査装置３において、自動検査装置２で撮影された不良箇所の画像とその不良箇所を示すデータを読み出してディスプレイ３４に表示させる。そして、自動検査装置２で撮影された画像によって目視判断できない場合には、HOMEキーを受け付けて、別途新たに第二カメラ３２を用いてプリント基板４の画像を撮影する。そして、その際、基準となるプリント基板４の画像を第三の表示領域３４３に表示させるとともに、リストで選択された不良箇所にマーキングＭを施して表示する。そして、この第三の表示領域３４３に表示された画像に基づいて最終的な目視判断を行う。 （もっと読む）

【課題】 短い時間で正確な欠陥検査ができる外観検査装置及び方法を提供する。
【解決手段】 ステージ２に載置される検査対象部品３に対してＣＣＤカメラ１２により２次元画像を撮像し、この撮像画像に対し制御部１５により２次元画像処理して欠陥検査を行い、この欠陥と判定された部分に対して、さらに高さ情報を用いて欠陥の再判定を行う。 （もっと読む）

【課題】基板に印刷されたシルク印刷パターンを高い精度で検査することができるようにする。
【解決手段】基板の画像を取得する画像取得部と、画像取得部が取得した基板の画像からシルク印刷パターンの画像を切り出すシルク領域切り出し部と、シルク領域切り出し部が切り出したシルク印刷パターンの画像を保存する切り出し画像格納部と、シルク印刷パターンのＣＡＤ画像を読み込むＣＡＤ画像データ読み込み部と、ＣＡＤ画像データ読み込み部が読み込んだＣＡＤ画像と、シルク印刷パターンの画像とをずらしながら一致度合いを集計する手段と、ずらした座標に対して一致度合いの集計結果を格納する照合結果格納部と、照合結果格納部に格納された集計結果からシルク印刷パターンのずれ量を判定する位置ずれ判定部と、位置ずれ判定部が判定したシルク印刷パターンのずれ量に基づいてシルク印刷パターンの不良を判定する不良判定部とを有する。 （もっと読む）

【課題】検査対象部位の検出または検査対象部位の良否判定を精度良く行うことが可能になる基準値を、簡単に設定できるようにする。
【解決手段】フィレット検査のための判定基準値を設定するために、良品および不良品のモデルＭを、それぞれ少なくとも１つ用意する。ティーチングの際には、各モデルＭを、カメラの撮像範囲３０の中央部、左上、右上、左下、右下の５箇所に位置合わせして撮像を行う。さらに、複数とおりの判定基準値を順に設定しながら、生成された全画像を用いて各モデルＭに対する試験的な検査を実行する。そして、各モデルＭに対してなされるべき判定結果に最も適合する結果が得られたときの判定基準値を選択し、メモリに登録する。 （もっと読む）

【課題】検査時間が極めて短く、作業時間、タクトタイムを短縮することが可能な線状体ないし帯状体として把握可能であり、しかも、被検体に歪みや変形がある場合でも、誤認識を防止し、正確な欠陥検出が可能な欠陥検出方法、欠陥検出装置、欠陥検出プログラムを提供する。
【解決手段】半導体ウエハのエッジ部分など、線状体ないし帯状体として認識可能な被検体画像の幅方向の輝度と画素数とを積算し、この積算値が所定の基準値以下のときに欠陥であると判断する構成の欠陥検査方法、欠陥検出装置、欠陥検出プログラムとした。 （もっと読む）