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Fターム[2F067PP05]の内容

Fターム[2F067PP05]に分類される特許

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【課題】コストを増大させることなく、高い位置計測精度を実現するX線位置計測装置を提供する。
【解決手段】X線位置計測装置10は、X線放射器10a及びX線カメラ10bを測定対象物で位置計測を行う位置に移動させる第1移動手段と、位置計測を行う位置において、画像表示部における基準位置と第2X線投影像の位置との位置ずれ量を測定するとともに、位置ずれ量を当該計測位置に対応する補正量として記憶部に記憶する第1測定記憶手段と、X線放射器10a及びX線カメラ10bを位置計測を行う位置に移動させる第2移動手段と、位置計測を行う位置において、上記補正量に基づいて、X線放射器10aの放射中心及びX線カメラ10bの光軸Lを合致させるとともに、測定対象物の位置計測を行う第1位置計測手段と、を備える。 (もっと読む)


【課題】1個の線源を用いてスリービーム方式による測定を所定角度毎に実現し、コスト低減および計測精度の向上を共に図るような配管用厚さ測定装置を提供する。
【解決手段】被測定対象である配管に対してブレード部を円状に配置するベース部100と、ベース部100のブレード部の外周に沿って移動する側面移動部200と、側面移動部200に取り付けられる測定部300と、側面移動部200を移動させる移動用駆動部と、測定部300のセンサおよび移動用駆動部が接続される演算・制御駆動部と、を備え、所定角度毎の測定部300からの検出信号を蓄積し、120°毎に異なる3箇所の検出信号からスリービーム方式の原理により肉厚を測定する配管用厚さ測定装置1とした。 (もっと読む)


【課題】有機繊維よりなるコードを配列したベルト層を1層以上積層してなるベルトとトレッドとを有する使用済みタイヤのトレッドの厚さを自動的に測定する方法およびそのための装置を提供する。
【解決手段】テラヘルツ波をタイヤの軸方向に照射する照射装置1をタイヤ半径方向に移動させながら、タイヤを透過する波の強度を、照射装置1のタイヤ半径方向位置ごとに測定し、その測定結果からトレッドの厚さを特定する。 (もっと読む)


【課題】 通電状態でターゲット電流設定値を自動的に最適な値に変更することができるX線厚さ測定装置を提供する
【解決手段】 駆動回路13によって電流駆動されるX線源14から出射されたX線が、被測定体30を通過した透過量をX線検出器21で検出し、透過量から被測定体21の厚さを測定するX線厚さ測定装置において、X線源14と検出器21との間の空気層による透過量が目標値と等しくなるように駆動回路13を制御する制御手段71と、制御手段71から出力される信号を保持し、厚さ測定時に駆動回路13の電流設定信号として出力する保持手段73とを備えたことを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】イメージインテンシファイアを用いて配管肉厚測定を行う方法において、被測定物である配管における測定位置の特定を可能にし、また、減肉量測定の精度を向上させる目的とする。
【解決手段】放射線Rを発生させる放射線発生装置3及び放射線発生装置3にて発生した放射線Rを入射し光に変換して前記光のイメージを増幅するイメージインテンシファイア4からなる放射線検査装置2と、放射線検査装置2の位置を検出する位置検出装置8とを設け、この位置検出装置8により被測定物である配管Aの測定位置を特定するように構成した。 (もっと読む)


【課題】一台の装置で、小角散乱、X線回折、反射率測定等を容易に行える装置を提供する。
【解決手段】試料分析装置は、第1のX線収束ビームを試料表面に向け、第2のX線平行ビームを試料表面に向けるように構成された照射源を含む。動作アセンブリは、照射源を、X線が試料表面にかすめ角で向けられる第1の光源位置と、X線が表面に試料のブラッグ角近傍で向けられる第2の光源位置との間で移動させる。検出素子アセンブリは、照射源が、第1および第2の光源構成のいずれか、および第1および第2の光源位置のいずれかにあるときに、試料から散乱したX線を角度の関数として感知する。信号処理部は、検出素子アセンブリからの出力信号を受けてこれを処理し、試料の特性を判定する。 (もっと読む)


【課題】 サンプルの迅速なXRR及びXRDに基づいた分析用の装置及び方法を提供する。
【解決手段】 サンプルの分析用の装置は、サンプルの表面に向かってX線の収束ビームを案内するべく適合された放射源を含んでいる。同時に、サンプルから散乱したX線を、仰角の範囲にわたって、仰角の関数として検知し、この散乱したX線に応答して出力信号を生成するべく、少なくとも1つの検出器アレイが構成されている。この検出器アレイは、グレージング角で、サンプルの表面から反射したX線を検出器アレイが検知する第1の構造と、サンプルのBragg角の近傍において、表面から回折したX線を検出器アレイが検知する第2の構造と、を具備している。そして、信号プロセッサが、サンプルの表面層の特性を判定するべく、この出力信号を処理する。 (もっと読む)


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