【課題】しきい光電子分光を効率的に行うことができる装置および方法を提供する。
【解決手段】しきい光電子分光装置１は、第１光源１０、第２光源２０、照射光学系３０、真空容器４０、分子線生成部５０、撮像部６０および検出部７０を備える。準備段階において、分子線生成部による分子線生成タイミングに対する第１光源による第１パルス光出力タイミングを各値に設定して、分子線生成部による分子線生成，第１光源による第１パルス光出力および撮像部による蛍光撮像を行う。続く測定段階において、準備段階で撮像部による蛍光撮像により得られた蛍光像に基づいて決定されるタイミングおよび照射位置となるように、分子線生成部による分子線生成タイミングに対する第２光源による第２パルス光出力タイミングを設定するとともに、分子線への第２パルス光の照射位置を設定する。 （もっと読む）

【課題】被選別物を選別する精度の向上を図ることができる選別装置を得る。
【解決手段】選別装置１において、一体型検出装置９の第１検出部は、あらかじめ設定された第１検出領域７を被選別物２，３が通過することにより、被選別物２，３の状態を検出する。第１ガス噴射装置１０は、除去すべき被選別物３を吹き飛ばすためのガスを、第１検出部による検出結果に応じて、第１噴射ノズル１０ａから選択的に噴射することにより、第１検出領域７を通過した被選別物のうち、一部の被選別物を除去する。第２ガス噴射装置１２は、除去すべき被選別物３を吹き飛ばすためのガスを第２噴射ノズル１２ａから選択的に噴射することにより、第１噴射ノズル１０ａの位置を通った被選別物のうち、一部の被選別物を除去する。 （もっと読む）

【課題】システム自体と基板の汚染を防止する蛍光Ｘ線分析システム、それに用いるプログラムを提供する。
【解決手段】蛍光Ｘ線分析システム１００は、基板１を測定する蛍光Ｘ線分析装置４０と、基板１の被測定物２を反応性ガスにより溶解する気相分解装置２０と、溶液で被測定物２を回収して基板１の表面に保持する試料回収装置３０と、基板１を、蛍光Ｘ線分析装置４０から気相分解装置２０へ、気相分解装置２０から試料回収装置３０へ、および試料回収装置３０から蛍光Ｘ線分析装置４０への搬送を行う搬送装置５０と、蛍光Ｘ線分析装置４０、気相分解装置２０、試料回収装置３０および搬送装置５０を制御するとともに、被測定物２の測定値が所定の分析閾値未満の基板１であるか、否かを識別する制御装置６０とを有する制御装置６０とを備える。 （もっと読む）

【課題】 一連の装置を用いて浮遊粒子状物の質量濃度とそれに含まれる成分分析とを連続的かつリアルタイムに測定して浮遊粒子状物の解析能並びに解析精度の向上を実現できるようにする。
【解決手段】 大気から吸引されたサンプルガスＳＧ中のＳＰＭを捕集する捕集スポット９に捕集されたＳＰＭにβ線を照射してそのβ線の透過量を検出することでＳＰＭの質量濃度を測定するβ線吸収方式のＳＰＭ質量濃度測定装置５と、質量濃度測定後の捕集スポット９を加熱チャンバー７に自動的に移行させ、ここでの加熱により遊離され、かつ、濃縮されたＳＰＭ中の揮発ガス成分を分析する分析装置２１とが連続作用状態に設けられている。
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【課題】長期間にわたり温度センサや湿度センサの清掃を不要にして相対湿度の変動による影響を排除して測定精度の向上を実現する浮遊粒子状物質測定装置を提供する。
【解決手段】検出ユニット２０内の温度および測定セル３４内の温度および湿度を用いて、検出ユニット２０内の湿度を算出し、この算出した湿度と設定湿度（相対湿度５０％）とが略一致するようにヒータユニット３５が試料大気を昇温・降温させる制御を行い、相対湿度の変動による影響を排除するような浮遊粒子状物質測定装置とした。 （もっと読む）