【課題】プローブの確実な接続を実現する。
【解決手段】平面部材で構成される固定部４８のエッジ２４にあるさかとげ１８及び２０をビア１１４の側壁１１６に係合させることで、ポイント電気コンタクトを形成し、挿入後に固定部４８をビア１１４から抜け出にくくする。ビアに挿入される固定部４８の端部には、先が細くなったチップ１２がある。チップ１２の後方には、さかとげ１６があり、これがＤＵＴ１００の底面１１２に係合することで、固定部４８をビア１１４から抜け出にくくする。ビア固定部の本体１４の止め部２２は、ビア固定部４８がビア１１４を超えて入り過ぎるのを防止する。 （もっと読む）

【課題】信号ケーブルが接続されているプローブピンの破損や信号ケーブルの切断を防止しつつ着脱を行う。
【解決手段】プローブピン１３をそれぞれ保持可能に構成される共にプローブピン１３をプロービング対象体にプロービングさせるプロービング機構４における一対の取付部６２にそれぞれ着脱可能に構成された一対の保持部１１ａ，１１ｂを備え、各保持部１１ａ，１１ｂは、互いに近接し、かつ連結部材１２によって連結されている状態で各取付部６２にそれぞれ着脱可能に構成されている。 （もっと読む）

【課題】サポート部材１４に装着されるプロービング・チップの間隔を調整可能にすると共に、横方向及び同軸方向の追従性を提供する。
【解決手段】可動基盤部材３２は、フレーム３４の上に保持される。基盤部材３２には、ラックの線形な歯６６と、１対の角度付レール７０がある。中間運搬部２６の夫々の底面２９にはスロット７３があり、レール７０と係合する。中間運搬部２６の夫々には支柱５８があり、ピニオン・ギアのあるサム・ホイール６４の回転軸６２を受ける。ピニオン・ギアは、基盤部材３２上の歯６６と係合する。サポート部材１４には、軸方向のスロット３３があり、中間運搬部２６のスロット５０と係合する。サポート部材１４には、圧縮ばね２８があり、サポート部材の同軸方向の追従性を提供する。 （もっと読む）

【課題】一対のワニ口クリップを正しいかみ合わせのもとでゼロアジャストが行えるようにする。
【解決手段】四端子抵抗測定装置に用いられる電気測定用プローブで、ともに被測定抵抗体の所定部位を挟む一対の挟持片を有する２つのワニ口クリップ１，２を備え、ワニ口クリップ１，２の各一方の挟持片が電流供給用のソースプローブとして定電流源のＨｉ側とＬｏ側とに接続され、各他方の挟持片が電圧検出用のセンスプローブとして電圧測定手段のＨｉ側とＬｏ側とに接続される電気測定用プローブにおいて、ワニ口クリップ１，２の各一方の挟持片のうち、定電流源のＬｏ側に接続されるソースＬｏ側挟持片２１ａ（１０２）の反挟持面側に絶縁被覆１０２Ａを設けるとともに、各他方の挟持片のうち、電圧測定手段のＨｉ側に接続されるセンスＨｉ側挟持片１２ａ（２０１）の反挟持面側に絶縁被覆２０１Ａを設ける。 （もっと読む）

【課題】各プランジャーを個別にスライドさせて安定して接触させる。
【解決手段】一方の部材と他方の部材にそれぞれ接触するプランジャーを備えて一方の部材に接触するプランジャーを他方の部材に接触するプランジャーが挟んで、上記各部材間を電気的に導通させる接触子である。上記他方の部材に接触する各プランジャーに個別に付勢手段を設けた。また、電気的接続装置は、被検査体の電極に接触して試験を行う装置において、上記被検査体の各電極に対応する位置に配設され当該各電極に接触して通電する接触子を備え、当該接触子として上記接触子を用いた。 （もっと読む）

【課題】 電極部の構成の微細化及び簡易化が図れるとともに、接触安定性の高い基板検査用治具の電極構造を提供する。
【解決手段】
プローブを保持する保持体と、複数の前記電極部を備える電極体を有する基板検査用治具であって、プローブが導電材料により筒形状に形成された第１接触子と、導電材料により棒形状に形成され、第１接触子と絶縁された状態で第１接触子の内部空間に収容された第２接触子を備え、電極部が平面視においてリング形状に形成されるとともに、前記第１接触子と導通接触する第１電極部と、平面視において前記第１電極部と電気的に非接触で且つ該第１電極部と同心円に配置されるとともに、前記第２接触子と導通接触する円形状の第２電極部を備え、第１電極部が第２電極部よりも相対的に突出していることを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】従来と比較してコンタクトピッチを狭めることの可能なコンタクトプローブ及びソケットを提供する。
【解決手段】フランジ部１４は、Ｘ方向から見ると先端側円柱部１９よりも幅が狭く、Ｙ方向から見ると先端側円柱部１９よりも幅が広い。Ｘ方向に突出したフランジ部１４を有する隣り合うコンタクトプローブ１００は、Ｘ方向と４５°を成す方向あるいはＹ方向に並べて配置される。隣り合うコンタクトプローブ１００は、先端側円柱部１９の側面のうち軸方向から見てフランジ部１４が外側に延びない部分同士が対面するため、従来よりもコンタクトピッチを狭めることができる。 （もっと読む）

【課題】組立性が良好で電気的性能に優れ、かつ中心軸とコンタクト位置とのオフセット量を調整可能なコンタクトプローブ及びそれを備えたソケットを提供する。
【解決手段】先端側円柱部２９は、基端側円柱部２１が絞り部４０２と係合しているときに、基端側円柱部２１を基点として揺動可能である。先端側円柱部２９の振れ量Ｂは、先端側円柱部２９の長さとチューブ４の内径（開口径）によって決定される。すなわち、先端側円柱部２９の揺動範囲は、側面がチューブ４の内側端縁４０５に接するまでの範囲である。 （もっと読む）

【課題】トランスアクスルの焼損を防止できる電力供給装置を提供する。
【解決手段】電力供給装置１０であって、プローブ２０は、端子１０１に接触させるプローブ本体３０と、電気抵抗計２１と、を具備し、プローブ本体３０は、端子１０１に電力を供給する電力供給用プローブ３１と、電力供給用プローブ３１とは絶縁された接触抵抗用プローブ３２と、を具備し、電気抵抗計２１は、プローブ本体２０を端子１０１に接触させた状態で、電力供給用プローブ３１から端子１０１を経由して接触抵抗用プローブ３２に至るまでの電気抵抗を検出し、コントローラ５０は、電気抵抗計２１によって検出された電気抵抗Ｒが所定電気抵抗Ｒ１より小さい場合には、インバータ電源１１からの電力を、電力供給用プローブ３１を通じてトランスアクスル１００に供給する。 （もっと読む）

【課題】プローブのプランジャを案内するガイド孔は、面倒な孔加工を必要とするため、端子又は電極の狭ピッチ化及び多極化に対応するのが困難となっている。
【解決方法】上ブロック１０及び下ブロック１１に形成された円筒状の保持孔１２，１５にプローブ２が装着される。プローブのプランジャ６は、板状のガイド部１９ａと、その先端の接触部１９ｂとを有している。上ブロック１０には下方から有底の保持孔１２が形成されると共に、上面ｓからガイド溝１３が形成される。該ガイド溝１３に、上記ガイド部１９ａが回り止めされ、かつ抜止めされて上下移動自在に案内される。 （もっと読む）

【課題】被検査体の電極形状にかかわらず電極の狭ピッチ化に対応でき、しかも、回路基板の製造コストの増大を回避することができるケルビンコンタクトプローブおよびそれを備えたケルビン検査治具を提供する。
【解決手段】ケルビン検査治具１００は、コンタクトプローブ１０および２０を備え、コンタクトプローブ１０は、半田ボール６１に接触する電極側接触端子１１と、ランド７１に接触するランド側接触端子１２と、を備え、コンタクトプローブ２０は、半田ボール６１に接触する電極側接触端子２１と、ランド７２に接触するランド側接触端子２２と、を備え、コンタクトプローブ１０および２０は、電極側傾斜面１１ａと電極側傾斜面２１ａとが互いに反対側を向くように、かつ、ランド側傾斜面１２ａとランド側傾斜面２２ａとが互いに対向するように配置される。 （もっと読む）

【課題】製造コストの低減、耐久性の向上、および接触抵抗の低減を実現する。
【解決手段】筒状の第１端子４０と、第１端子４０に挿通された第２端子５０とを備え、第１端子４０の先端部および第２端子５０の先端部５０ｂをプロービング対象体（導体パターン１０１）にプロービングさせて電気信号を入出力可能に構成され、第２端子５０は、ピン状の単一の部材で構成されると共に、プロービング対象体に対するプロービング時に先端部５０ｂに加わる押圧力に応じて第１端子４０の内部において中央部５０ｃが湾曲するように弾性変形可能に形成されている。 （もっと読む）

【課題】ＬＳＩ試験において測定対象のチップの有無に応じて、機械的な動作で放電ギャップ長を制御して、コンタクトプローブ間の放電をより確実に回避することができる高電圧検査装置を提供する。
【解決手段】先端が突出したコンタクトプローブ２，３と、コンタクトプローブ２に導通して一方放電球４ａが配設された放電ギャップの他方放電球４ｂがコンタクトプローブ３に導通するように配設された除電用プローブ５と、ウェハを搭載するウェハステージを動作させて、コンタクトプローブ２，３をウェハの各端子にそれぞれ接続させるチップコンタクト時のオーバドライブ動作に連動したコンタクトプローブ３の移動により、オーバドライブ動作の変位量を放電ギャップの放電ギャップ長に変換する放電ギャップ長変換機構とを有している。 （もっと読む）

【課題】プローブ装置−測定部間の高い絶縁性による安全性と、広い周波数帯域に渡って同相信号除去比を確保するための低い対接地容量を確保しつつ、連続動作時間の制約を受けない、または連続動作時間を延ばしたプローブ装置およびこれを用いた信号測定装置を実現する。
【解決手段】入力信号が変調された変調信号を光信号に変換して出力するプローブ装置において、外部から入射される入射光を変調信号に応じて光変調し出射光として出射する光変調部を備える。 （もっと読む）

【課題】本発明は、レバーによりピンピッチを変更する機構を備えることで、アングルピンに手を触れずに容易にピンピッチを変更することが可能であり、また被測定対象にアングルピンを押し付けたときにその反動でアングルピンが不用意に回転することの少ない差動測定プローブを実現することを目的とする。
【解決手段】本発明は、一対のアングルピンの先端から被測定信号を入力する差動測定プローブにおいて、概円柱状に形成され、自身の外周面にはその軸に対して斜め方向に溝が形成され、自身の一端には前記アングルピンが挿入されるソケットと、前記ソケットの一対が鏡像関係となるように配置され、かつ前記ソケットのそれぞれがその軸を中心として回転可能となるように格納されるソケット格納部と、前記一対のソケットのそれぞれの溝に挿入される突起を有し前記ソケットの軸と平行にスライドするレバーと、を備えることを特徴とする特徴とする。 （もっと読む）

【課題】 プリント配線板に設けられたスルーホールの電気的導通検査を正確に行うことができるプリント配線板用検査治具を提供する。
【解決手段】 保持ボード１０，１２と、保持ボード１０に進退動自在に保持されるプローブピン３４と、保持ボード１２に収容されるばね部材３６と、を備える。プローブピン３４は、その先端部４０が保持ボード１０から外部に突出される非検査位置と、その先端部４０の少なくとも一部が保持ボード１０に収容される検査位置との間を移動自在に構成される。プローブピン３４の先端部４０には、プローブピン３４の軸線方向に対して傾斜する傾斜面４６が形成されている。プリント配線板６の検査時には、プローブピン３４の傾斜面４６がプリント配線板６のスルーホール４８の開口縁部５０ａ，５０ｂに押し当てられる。 （もっと読む）

【課題】 バイパスコンデンサの本来の働きを低下させることなく、被試験デバイスの電源ラインに効率よくノイズ信号を注入することが可能なプローブを提供する。
【解決手段】 プローブ１を構成するプローブ本体１０は、対となって、被試験デバイスの電源端子とグランド端子とにノイズ信号を印加する信号用接触子１１及び接地用接触子１２と、信号用接触子１１と入力端が接続され、所定の周波数帯域のノイズ信号の通過を選択的に阻止するバンドエリミネーションフィルタ１５と、一端がバンドエリミネーションフィルタ１５の出力端と接続され、他端が接地用接触子１２と接続された、バイパスコンデンサとして機能するコンデンサ１６とを備える。 （もっと読む）

【課題】電子基板に設けられた多数のバイアホールを利用して導通状態を触針検査する際に、触針プローブと電子基板の銅箔パッド間の接触の信頼性を向上させる。
【解決手段】被検査物である電子基板１は、半田レジスト膜が施されたバイアホール３の空孔３ａの周縁の延長銅箔部に、半田膜を施した一対の半田被覆パッド６ａ，６ｂが設けられている。検査装置は、プローブ１２を構成する触針棒１６の軸体部１４の先端側に軸心部１４ｂが形成され、接触電極部１５が軸体部１４に遊嵌されて弾性ばね１７によって先端側に付勢されている。軸心部１４ｂを電子基板１の空孔３ａに遊嵌させた状態で、半田被覆パッド６ａ，６ｂに接触電極部１５を接触させ、触針検査ツール２８によって、プローブ１２相互間又はプローブ１２とグランド端子間の導通状態が検査される。 （もっと読む）

【課題】測定の安定性、再現性を向上させたプローブヘッドを実現する。
【解決手段】底部に所定の角度でハ字状に形成された孔を有する容器と、該容器の底部と開口部を２分する仕切板と、前記底部に対向し前記仕切板に固定された取付板と、該取付板に一端が固定され先端に向かって側面が先細りとなるように形成された台形状の台座と、該台座の両側面に回動可能に取付けられた円板状のベアリングと、該ベアリングの側面に固定された棒状のシャフトと、Ｌ字状に形成された一端が前記ベアリングの中心部に固定され他端は自由端とされた先端ピンと、前記棒状のシャフトに一端が係合し他端が前記容器の外面に位置するように配置されたスライドレバーを備え、前記容器の外面に配置された前記スライドレバーを直線方向に移動させることにより前記棒状のシャフトを介して前記ベアリングを回動させ、前記先端ピンのピッチを変更可能とした。 （もっと読む）

【課題】スパイラル型のインダクタ、およびスパイラル型のインダクタの電気的特性の検
査方法を提供する。
【解決手段】ウエハ１２上にアレイ状に配列されたスパイラルコイル１６と、前記スパイ
ラルコイル１６の外周端部から延出した外部電極２０と、前記外部電極２０に並列に配置
され前記スパイラルコイル１６に接続される接続配線２２と、を有するスパイラル型のイ
ンダクタ１０であって、前記接続配線２２は、一のインダクタ１０ａの接続配線２２と、
一のインダクタ１０ａから前記外部電極２０の延出した方向に対して垂直方向にある他の
インダクタ１０ｂの外部電極２０と、の間隔と、前記インダクタ１０の電気的特性を検査
するシグナル端子２６と、前記シグナル端子２６から前記垂直方向に一定の間隔を置いて
配置され前記シグナル端子２６に接続されたグランド端子２８と、の間隔と、が互いに等
しくなる位置に配置されたことを特徴とする。 （もっと読む）