【課題】 デルタ回路のような配線の測定対象部を測定する場合であっても、高周波の電圧源を用いて、短時間で且つ精度良く測定することができる測定方法及び測定装置を提供する。特に、上記の如く、従来技術に利用されるアンプを用いることなく測定を可能にする。
【解決手段】 測定対象となる第一測定部、第二測定部と第三測定部が三角結線にて形成される測定対象部の抵抗値を算出するための測定装置であって、二つの結線用接点と残り一つの結線用接点との間に電力を供給して算出される抵抗値を、夫々の場合に応じて算出し、その結果から、各測定部の抵抗値を算出することを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】受配電機器の固体絶縁物の余寿命をオンラインで精度良く診断できる余寿命診断方法および装置を提供することを目的とする。
【解決手段】湿度に影響しない表面抵抗率の評価技術を用いることにより、受配電機器に含まれる診断対象の絶縁体の湿度に依存しない表面抵抗率を取得する（Ｓ１）。診断対象の絶縁体と同じまたは同等の材質からなるセンサ絶縁体を受配電機器に設置する（Ｓ２）。センサ絶縁体の表面抵抗率を逐次測定して、診断対象の絶縁体の表面抵抗率に逐次換算する（Ｓ３，Ｓ４）。診断対象の絶縁体の表面抵抗率と、診断対象の絶縁体の使用年数との間の相関関係を逐次求める（Ｓ５）。診断対象の絶縁物に付着するイオンの種類および付着量に基づいて、相関関係に対応する閾値を決定する（Ｓ６）。相関関係と閾値とから得られる寿命年数と現在の使用年数との差分によって余寿命が算出される（Ｓ７）。 （もっと読む）

【課題】簡易な構成によって、屋内の動作検出対象電気機器の動作の判別を検出する電気機器動作検出システムを提供する。
【解決手段】電気機器検出装置１４は、特定の周波数を含む特定の帯域幅で連続的に周波数が変化する送信信号を電源線１２に送信する送信部と、送信部によって電源線１２に送信された送信信号を受信して電源線１２のインピーダンスを計測する計測信号を取得する受信部と、受信部によって取得された計測信号に、特定の周波数の信号が含まれているか否かを検出するＣＰＵと、を備えている。可変インピーダンス装置１５は、電気機器１３ｂの動作中に電源線１２を流れる電流との電磁結合により誘起される起電力に基づいて電圧を発生する電源回路と、電気機器１３ｂの動作中において、電源線１２に送出された送信信号に含まれている特定の周波数に応答して、電源線１２のインピーダンスを変化させる可変インピーダンス回路を備えている。 （もっと読む）

【課題】複数個のネットの直列接続回路内のスイッチのオン抵抗値をキャンセルし、真の抵抗値に基づいて高精度な導通検査を行う。
【解決手段】電圧検出手段１２の両端に、複数個のスイッチを介して複数個のネットを直列に接続し、電流源１１からネットの直列接続回路に流れる電流を電流検出手段１３により検出すると共に電圧検出手段１２により前記直列接続回路の両端電圧を検出し、演算手段が、電流・電圧検出値から前記直列接続回路の合成抵抗値を算出してその大きさにより前記直列接続回路の導通状態を検査する導通検査方法において、演算手段は、前記直列接続回路内に存在する複数個のスイッチＳ_１，Ｓ_２，４１，４２によるオン抵抗合計値を演算し、これを前記合成抵抗値から減算した値を真の抵抗値として前記直列接続回路の導通状態を検査する。 （もっと読む）

【課題】製品内パターンでの高周波特性の保証を比較的低コストで実施でき、パッドに対する物理的ダメージを気にする必要がなく、且つ、複数箇所の同時検査も可能な実用性に秀れたプリント配線板の検査方法の提供。
【解決手段】グラウンド層及び信号層を有するプリント配線板の特性インピーダンス若しくはＳパラメータ等を検査する方法であって、プリント配線板の導体ネットのうち少なくとも一組をショート導体により電気的にショートさせた状態で前記特性インピーダンス若しくは前記Ｓパラメータを測定した後、前記ショート導体を除去し、更に電気的な導通・絶縁検査を行う。 （もっと読む）

【課題】風車羽根の引下げ導線の電気抵抗の測定を改良する。
【解決手段】風車の羽根１の引下げ導線２のための測定システムにおいて、第１の端部１１ａにおいて引下げ導線２に直列に接続された測定ケーブル１１が設けられており、該測定ケーブル１１の第２の端部１１ｂが、羽根１の下側ベース部分４における電気抵抗を測定するためにアクセス可能である。 （もっと読む）

【課題】電気的パラメータを短時間で正確に測定する。
【解決手段】測定部２が、測定対象体１００についての電気的パラメータを四端子法に従って測定する際には、短絡スイッチ４，５の双方が切断された状態において測定処理を実行して、プローブ１１〜１４を利用して電気的パラメータを測定し、測定対象体１００についての電気的パラメータを二端子法に従って測定する際には、短絡スイッチ４，５の双方が接続された状態において測定処理を実行して、プローブ１１，１３の少なくとも一方と、プローブ１２，１４の少なくとも一方とを利用して電気的パラメータを測定する。 （もっと読む）

【課題】電流電圧変換部の応答速度を高めて絶縁検査の時間を短縮する。
【解決手段】検査電圧Ｖ１の印加時に導体パターン５１間に流れる検査電流Ｉ１を電圧Ｖｉに変換する電流電圧変換部５と、検査電圧Ｖ１の電圧値および電圧Ｖｉの電圧値で示される検査電流Ｉ１の電流値に基づいて導体パターン５１間の抵抗Ｒｓを算出して導体パターン５１間の絶縁検査を実行する処理部７とを有し、一方の導体パターン５１とグランド電位との間に接続された可変コンデンサ３を備え、処理部７は、検査対象の導体パターン５１、電流電圧変換部５を構成する演算増幅器５ａの反転入力端子と出力端子との間に接続されたレンジ抵抗の抵抗値Ｒｆおよび固定コンデンサ５ｆの容量値Ｃｆに対応させて可変コンデンサ３の容量値Ｃｏを予め規定された値に設定し、この状態での検査電圧Ｖ１の電圧値および検査電流Ｉ１の電流値に基づいて抵抗Ｒｓを算出する。 （もっと読む）

【課題】一対の同軸コネクタを構成する一対の内導体端子同士の接触部のみの電気特性を精度良く測定できる同軸コネクタの接触部測定器を提供する。
【解決手段】一対の測定用内導体２１、２２の一端部が製品である一対の内導体端子の接触部側の端部とそれぞれ同一形状に設けられている。測定筒部３には、一端部同士が互いに当接して接触された状態の一対の測定用内導体２１、２２が挿入される筒状の誘電体３１と誘電体３１を覆う筒状の外導体３２とが設けられている。第１同軸コネクタ部４及び第２同軸コネクタ部５が、測定筒部３の両端側に設けられ、一対の測定用内導体２１、２２の他端部にそれぞれ電気的に接続される。 （もっと読む）

【課題】本発明は、コンデンサ内蔵基板の製造後の検査を容易に実行することが可能となる電気部品内蔵基板の検査方法および電気部品内蔵基板の構造を提供することを目的とする。
【解決手段】少なくとも二つ以上のコンデンサ（Ｃ１、Ｃ２）を内蔵する電気部品内蔵基板（１）の電気部品接続検査方法であって、コンデンサ（Ｃ１、Ｃ２）の一端（Ｃ１ａ、Ｃ２ａ）が電気部品内蔵基板（１）の共通の電源パターン（ＶＰ）に接続され、コンデンサ（Ｃ１、Ｃ２、）の他の一端（Ｃ１ｂ、Ｃ２ｂ）が電気部品内蔵基板（１）の共通の接地パターン（ＧＰ）に接続され、コンデンサ（Ｃ１、Ｃ２）、共通の電源パターン（ＶＰ）、及び、共通の接地パターン（ＧＰ）のインダクタンスとの合成インピーダンスによって規定される時定数によって分離される各々の共振周波数を計測用周波数としたインピーダンス計測を行うことで個別に内蔵部品の電気的接続検査を行う。 （もっと読む）

【課題】配線情報が無いバックプレーンであっても、配線情報を取得し、配線が配線情報の通りに接続されていることの確認を行うことが出来るようにすることを目的とする。
【解決手段】バックプレーン試験システムは、バックプレーンが有する複数の導電性のピンのうちあるピンから順に、他の全てのピンに対して信号を送信し、当該信号を受信したピンと当該あるピンとの間に形成されている配線を検出し、検出した配線の両端のピンを記憶する。 （もっと読む）

【課題】パネル基板に搭載されたＩＣへのデータ入力ラインに関係する抵抗の抵抗値を、簡便かつより正確に測定する。
【解決手段】ＩＣには、抵抗測定モードに切り替わる旨の制御電圧が入力されると、ロジック処理を行う処理ブロックへの全てのデータ入力回路３３−１〜３３−ｎを基準電圧ＶＳＳに接続させるスイッチ回路５１−１〜５１−ｎと、アナログ処理を停止させる制御回路５４とが設けられている。また、ＩＣの複数の基準電圧接続用端子に対して１つの基準電圧接続用配線１３１ｂを接続し、前記基準電圧接続用配線１３１ｂは、ＩＣに設けられているデータ入力用端子に接続されるデータ配線よりも配線幅が太くなるように形成されている。スイッチ回路により、ＩＣ内で、測定対象とされたデータ入力ラインを構成するデータ配線が接続されるデータ入力用端子が、複数の基準電圧接続用端子の少なくともいずれかと電気的に接続される。 （もっと読む）

【課題】回路配線板のインピーダンス測定値に、測定系の規制インピーダンスが含まれたり、校正や補正が困難な外部グラウンドを使用したりしていると、特に高周波帯域では、精度の良い測定が出来ない。
【解決手段】複数の電源の間における結合や干渉が抑制されるように設計された回路配線板では、相互インピーダンスがグラウンドインピーダンスと比較して無視できるほど小さい異電源対が存在する。最小の相互インピーダンスと、グラウンドインピーダンスとの和を測定し、これをグラウンドインピーダンスの良い近似値とみなすことで、全ての電源のインピーダンスが求められる。さらに、そこから得られるモデルや、等価回路の精度を向上することが出来る。 （もっと読む）

【課題】特別な試料あるいは特別な信号発生器を必要とせずに、信号配線の周波数特性を算出することのできる周波数特性評価装置を得る。
【解決手段】測定対象である信号配線に対する階段波形の入射波および入射波に対する反射波に関する時間領域の波形データを設定する入力手段（１）と、波形データを記憶する記憶部（２）と、波形データに基づいて、入射波および反射波の波形データを時間微分してインパルス応答を抽出するインパルス応答抽出手段（６）と、インパルス応答をフーリエ変換して入射波および反射波の波形の周波数ごとの振幅分布を求めるフーリエ変換手段（７）と、入射波および反射波の波形に対する振幅分布から周波数ごとの振幅比を算出して反射係数を求める反射係数算出手段（８）と、反射係数に基づいて、信号配線の特性インピーダンスの周波数特性を算出する周波数特性算出手段（４）とを備える。 （もっと読む）

【課題】効率的な測定を実現しつつ装置価格を低減し得る測定装置を提供する。
【解決手段】プローブ２１ａ〜２１ｆを有するプローブユニット２と、第１導線１３ａ，１３ｂ、第２導線１４ａ，１４ｂおよび第３導線１５ａ，１５ｂと各接触端子３１ａ，３１ｂとの接断を行うスキャナユニット１６と、スキャナユニット１６を制御する制御部１７とを備え、制御部１７は、スキャナユニット１６を制御して各素子１０１ａ〜１０１ｃの端子１１１ａ〜１１１ｆに接触しているプローブ２１ａ〜２１ｆのうちの２つ（プローブ２１ａ，２１ｆ）を除く各プローブ２１ｂ〜２１ｅの各々における各第１接触端子３１ａと第３導線１５ａ，１５ｂとをそれぞれ接続させることによって各素子１０１ａ〜１０１ｃを直列接続させる接続処理を実行した後において、各素子１０１ａ〜１０１ｃについての所定の物理量を測定する。 （もっと読む）

【課題】高密度の配線パターンに対しても四端子測定を行うことのできる基板検査用の一対のプローブを提供する。
【解決手段】一対のプローブの各々が、被検査基板上の被検査点に接触する接触部を有し、一方が信号測定用のプローブとして用いられ、他方が信号供給用のプローブとして用いられる。一対のプローブの一方のプローブの前記接触部の少なくとも一部が、他方のプローブの内部に位置する。 （もっと読む）

【課題】抵抗値を短時間で測定可能とした抵抗測定装置及び回路基板検査装置を提供する。
【解決手段】四端子法を用いた抵抗測定装置において、スルーホール１１１に第１の直流電流を供給する第１の電流源２１０と、スルーホール１１１に発生する第１の電圧を測定する第１の電圧計３１０と、スルーホール１１２に第２の直流電流を供給する第２の電流源２２０と、スルーホール１１２に発生する第２の電圧を測定する第２の電圧計３２０と、第１の直流電流及び第１の電圧からスルーホール１１１の抵抗値を算出し、第２の直流電流及び第２の電圧からスルーホール１１２の抵抗値を算出する手段と、を備え、第１の電路２０１と第２の電路２０２とを近接して並置し、これらの電路２０１，２０２に、互いに逆極性で同じ大きさの第１，第２の直流電流を同時に通流させる。 （もっと読む）

【課題】基板における絶縁抵抗の測定を効率的に行い得る測定装置を提供する。
【解決手段】プローブユニット４ａ，４ｂの一方を介して測定用電圧Ｖを供給する電圧供給回路２１および測定用電圧Ｖの供給によってベアボード１００の測定ポイントＰ１，Ｐ２の間に流れる電流Ｉをプローブユニット４ａ，４ｂの他方を介して入力して検出する電流検出回路２２を有する計測部１３と、プローブユニット４ａ，４ｂと計測部１３との間にそれぞれ配線された測定用ケーブルと、測定用ケーブルと電圧供給回路２１および電流検出回路２２との接断を行うスキャナユニット１４とを備えて、測定ポイントＰ１，Ｐ２の間の絶縁抵抗Ｒを測定可能に構成され、各測定用ケーブルは、電圧供給専用の電圧供給用シールドケーブル５ａ（または５ｂ）と電流入力専用の電流入力用シールドケーブル６ａ（または６ｂ）とでそれぞれ構成されている。 （もっと読む）

【課題】デバイス実装後の制御基板について、製造上のばらつきによって生じる特性の変化を、総合的に判定することにある。
【解決手段】検査装置２０は、ＡＳＩＣ７と、ＡＳＩＣ７からの信号を受信するＡＤ変換回路９と、ＡＳＩＣ７とＡＤ変換回路９とを接続するクロックライン１１とを有する制御基板１の特性を検査するための装置であって、基準伝送路２１と、オシロスコープ２３とを備えている。基準伝送路２１は、クロックライン１１上のＡＤ変換回路９側のパッド１１ｂに接続され、特性インピーダンス及び線長が規定されている。オシロスコープ２３は、クロックライン１１上のＡＳＩＣ７側のパッド１１ａに接続され、ＡＳＩＣ７からクロックライン１１上をＡＤ変換回路９側に伝播する信号の波形を観測するための装置である。 （もっと読む）

【課題】どの被計測対象物をどのケーブルに接続するか容易に判断する。
【解決手段】計測システム１は、スキャナ１１の出力端子に接続されたケーブル１４を介して、回路基板５０の端子間の絶縁抵抗を計測する。回路基板５０には、この回路基板５０に関する情報が示されたバーコードシール５２が貼り付けられている。この計測システム１は、バーコードシール５２から回路基板５０に関する情報を取得し、ケーブル１４をアースに接続して、このケーブル１４がどの出力端子に接続されているのか識別する。そして、計測システム１は、この回路基板５０に関する情報と、この回路基板５０に接続されているケーブル１４のケーブル情報とを対応付けて記憶している。 （もっと読む）