透過および反射型の空間ヘテロダイン干渉法（ＳＨＩＲＴ）測定のシステムおよび方法が記載される。方法は、第１の基準ビームおよび対象ビームを用いて、第１の空間的にヘテロダイン化されたホログラムをデジタル記録し、第２の基準ビームおよび対象ビームを用いて、第２の空間的にヘテロダイン化されたホログラムをデジタル記録する。また方法は、第１の解析されるイメージを規定するために、デジタル記録された第１の空間的にヘテロダイン化されたホログラムをフーリエ解析し、第２の解析されるイメージを規定するために、デジタル記録された第２の空間的にヘテロダイン化されたホログラムをフーリエ解析し、第１の結果を規定するために第１の解析されたイメージをデジタルフィルターし、第２の結果を規定するために第２の解析されたイメージをデジタルフィルターし、そして第１の結果に第１の逆フーリエ変換を施し、第２の結果に第２の逆フーリエ変換を施す。
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【課題】 レンズ特性（分光透過率特性と絞り特性）の測定と書き込み作業を効率化することのできるレンズ測定機及びその制御方法を提供する。
【解決手段】 被検レンズ（１１）を装着するマウント部（１）と、光束を発する光源（２）と、被検レンズを介して入射した光束、及び、被検レンズを介さずに入射した光束について、波長毎の光強度を測定する測光手段（３）と、測光出力に基づいて分光透過率を検出する分光透過率検出手段（６ｂ）と、波長毎の光強度とカメラボディ内に設けられた他の測光手段の分光特性とから輝度データを算出する輝度算出手段（６ｃ）と、被検レンズ内の絞りを複数の位置に移動させて輝度データを測定して実効絞り値を検出する実行絞り値検出手段（６ｄ）と、分光透過率と実効絞り値を、被検レンズ内に設けられた記憶手段に記憶させる記憶制御手段（６ｅ）とを具備するレンズ測定機である。 （もっと読む）

セラミックスからなる基材に多数の気孔が所定の気孔率で形成されてなるセラミックス多孔質体である。基材の切断面の平面画像を、画像解析で二値化処理することにより、気孔部１と非気孔部２とに区別し、気孔部１の中央部を通る中央線３を引いた場合に、気孔率（ε（％））と、気孔部１を特定する外形線間の、中央線３に直交する距離の平均値により表される気孔部平均幅（Ｄ_Ｐ（μｍ））と、隣接する分岐点４相互間における中央線３の長さ、及び中央線３の末端５と分岐点４との間における中央線３の長さの平均値により表される気孔部平均長さ（Ｌ（μｍ））と、平均気孔径（Ｄ_Ｈ（μｍ））とが、所定の関係を満たし、ＤＰＦ等のフィルタを構成する材料として、高気孔率でありながらも十分な強度を保持し、かつ、高捕集効率・高透過率なものである。 （もっと読む）

本発明の方法およびそれに使用されるデバイスは、基材上の現存コーティング中に存在する未知のメタリックフレークを特徴付け、適合するメタリックペイント組成物を調合して基材上に施し、現存コーティングと適合するフロップなどの特徴を有するメタリックコーティングを生成することに関する。該方法は、予め設定された強度の光ビームを対象コーティングの対象部分に向けるステップと、その部分の反射を感光性表面に向けて、対象部分の対象画像を捕獲するステップと、前記予め設定された強度における対象画像内の未知のメタリックフレークの特徴を測定するステップと、対象画像内の未知のメタリックフレークの特徴と、その予め設定された強度で記憶された既知のメタリックフレークの特徴とを相関させて、未知のメタリックフレークの特徴と適合する１つまたは複数の既知のメタルフレークを同定するステップと、未知のメタリックフレークの特徴と適合する１つまたは複数の同定された既知のメタルフレークを表示するステップとを含む。特徴が分かれば、次に調合者は、修理車体などの基材の表面に施すことができるメタリックペイントを調合して、車体の残りの部分に適合するメタリックコーティングを生成することができる。

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本発明は、対象物を研究するための光学デバイスに関するものである。本発明による光学デバイスは、単純な手段によって干渉器アームどうしの最大の適合を確保することができる。これにより、医療条件下や産業的条件下での使用時に、深さ方向の解像度を得ることができる。本発明においては、干渉計の少なくとも一方のアームにおいて、特定の光学的パラメータを有した少なくとも１つの交換可能部分を使用する。この特定の光学的パラメータは、例えば、他方のアームの光学的特性によって決定され、特に、光ファイバプローブの光学的特性によって決定される。
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【課題】 液晶表示パネルのイオン密度を非破壊で測定できるようにする。液晶表示パネルのイオン密度分布を把握できるようにする。
【解決手段】 １Ｈｚ程度の低い周波数の矩形波を印加して、フリッカーを観測する（ステップＳ３０３）。観測されたフリッカーの振幅又はフリッカー面積を測定する（ステップＳ３０８）。予め求めてある検量線（フリッカーの振幅又は面積とイオン密度との相関関係を示す線図）から液晶パネル内のイオン密度を算出する（ステップＳ３０９）。 （もっと読む）

【課題】 液晶分子が存在する液晶層のみのリタデーション（ｄＬＣ・△ｎ）を求めることができ、セル厚を求めることができる液晶表示装置、そのセル厚測定装置及び測定法並びに位相差板を提供する。
【解決手段】 液晶領域中の液晶分子が電圧無印加時に略垂直に配向する液晶層と、液晶層を挾持する１対の基板と、を備える液晶表示装置の液晶セル５の厚さを測定するセル厚測定装置において、面内にリタデーションを有する１対の１軸性位相差板をその遅相軸方向をそろえて両外側表面に取付けた液晶セルを搭載するステージ１と、偏光子２３を有し、かつ、位相差板の遅相軸方向に対して方位角方向４４°〜４６°の偏光光を出射する光源２と、偏光光に対して偏光子とクロスニコルに配設された検光子３１を有し、かつ、偏光光の透過光量を検出する光検出器３と、位相差板に垂直な方向から偏光光の極角方向入射角を変化させる回転装置４と、を備える。 （もっと読む）