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Fターム[4M104BB11]の内容

半導体の電極 (138,591) | 電極材料 (41,517) | 遷移金属 (20,763) | Au (1,795) | Au−Ge (104) | Au−Ge/Ni (56)

Fターム[4M104BB11]に分類される特許

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【課題】 電極と半導体層の接触抵抗を下げることで電極を小型化した場合であっても消費電力の増加が抑制された半導体素子を提供することを目的とする。
【解決手段】 p型の導電型を有する半導体層に隣接して金属層が設けられた構造を有する半導体素子であって、前記金属層は、前記半導体層に隣接し、Sb、In、Zn及びPdのうち少なくとも一つの金属を含む第一金属層と、該第一金属層に隣接し、少なくともBe及びAuを含む第二金属層と、を有するものであることを特徴とする半導体素子。 (もっと読む)


【課題】エアブリッジの強度を向上させる。
【解決手段】半導体層上に設けられ、互いに並列に配置された複数のソースフィンガー10と、半導体層上に設けられ、複数のソースフィンガー10と交互に配置された複数のドレインフィンガー12と、半導体層上に設けられ、ソースフィンガー10とドレインフィンガー12との間にそれぞれ配置された複数のゲートフィンガー14と、複数のゲートフィンガー14同士、複数のソースフィンガー10同士、および複数のドレインフィンガー12同士のいずれかを共通に接続するバスラインと、複数のソースフィンガー10、複数のドレインフィンガー12、および複数のゲートフィンガー14のいずれかに設けられ、バスライン上を跨ぐ複数の第1エアブリッジ24と、複数の第1エアブリッジ24同士の間を接続し、半導体層との間に空隙を有する第2エアブリッジ26と、を備える半導体装置。 (もっと読む)


【課題】FETの閾値電圧のばらつきのない半導体トランジスタおよびその製造方法を提供する。
【解決手段】半導体トランジスタ100は、基板1と、基板1の上方に形成された第1化合物半導体層103と、第1化合物半導体層103上に形成され、第1化合物半導体層103よりもバンドギャップの大きい第2化合物半導体層104と、第2化合物半導体層104内の少なくとも一部に、酸素がドープされた酸素ドープ領域105と、第2化合物半導体層104上に形成された第3化合物半導体層106と、第1化合物半導体層103に電気的に接続されたソース電極107およびドレイン電極109と、酸素ドープ領域105の上方に、酸素ドープ領域105に接するように形成されたゲート電極108とを有する。 (もっと読む)


【課題】高周波モジュール中におけるスイッチング素子として用いられるHEMT素子を小型化する。
【解決手段】GaAsからなる基板1の主面上の素子分離部9で規定された活性領域内において、ゲート電極17は、1本で形成し、ソース電極13とドレイン電極14との間では紙面上下方向に延在し、それ以外の部分では左右方向に延在するようにパターニングすることにより、活性領域外に配置されるゲート電極17の割合を減じ、ゲートパッド17Aの面積を減じる。 (もっと読む)


【課題】金合金電極と層間絶縁膜との密着性を向上させる。
【解決手段】化合物半導体素子は、ゲート半導体層10と、カソード半導体層12と、カソード半導体層12上に形成されたAu合金カソード電極14と、ゲート半導体層10上に形成されたAu合金ゲート電極16と、層間絶縁膜18と、カソード電極14及びゲート電極16上のAl配線20と、保護膜22を備える。カソード電極14及びゲート電極16と層間絶縁膜18との界面に、酸化アニール処理により形成され、下地層の構成元素を主成分とする酸化膜15,17を備える。 (もっと読む)


【課題】局所的な電流集中を防止して均一な発光分布を得ることができる半導体発光装置を提供する。
【解決手段】半導体発光装置は、支持基板と、支持基板上に設けられた光反射性を有する反射電極と、反射電極上に設けられた発光層を含むAlGaInP系半導体膜と、半導体膜上に設けられた表面電極と、を含む。表面電極は、半導体膜上に分散配置された複数の電極片からなるオーミック電極を含む。反射電極は、オーミック電極を構成する電極片の各々を挟んだ両側において電極片に沿うように設けられた線状のライン電極および複数の島状のドット電極からなる。ライン電極とドット電極との距離をa、オーミック電極とドット電極の水平距離をb、互いに隣接するドット電極間の距離をcとしたときに、b>a且つ0.8(a+2ab)1/2<c<2.4(a+2ab)1/2を満たすように表面電極および反射電極が配設される。 (もっと読む)


【課題】ゲート電極からチャネル層までの距離のばらつきが低減されたHEMT半導体装置およびその製造方法を提供する。
【解決手段】半導体装置の製造方法は、リセスエッチング工程後に酸化膜形成工程を行う。リセスエッチングを行った後に、HEMT構造基板の加熱や過酸化水素への浸漬によって、強制的に酸化膜6’’及び7’’を形成する。このような酸化膜6’’及び7’’は、面内均一性に優れ、かつ、ある厚さで安定するため、大気中に暴露してもそれ以上酸化は進まない。酸化膜6’’及び7’’は、例えば、濃度3%の過酸化水素水にHEMT構造基板を3分間浸漬させることや、120℃のホットプレート上で2分間HEMT構造基板を加熱させることにより形成することができる。 (もっと読む)


【課題】電界効果トランジスタのn型化合物半導体コンタクト層と、その上に設けられた絶縁膜との界面に存在する界面電荷により、M型コンタクト層内に空乏層が形成され、それに伴い電流の通り道となる部分が狭窄し、遮断周波数Ftが低下するという課題に対する解決手段を提供する。
【解決手段】このコンタクト層を、n型不純物によりドープされた下層とノンドープの上層から成る構成とした。これにより、たとえ界面電荷が存在する場合であっても、電流の通り道であるn型不純物によりドープされた下層とは充分離れた位置にあることとなる。よって、コンタクト層と絶縁膜との界面準位に起因する負電荷によるコンタクト層上部の空乏化に伴う電流の通り道となる部分の狭窄を防ぐことができる。 (もっと読む)


半導体構造体は、基板(12)と、基板を覆うシード層(13)と、シード層上に配置されるシリコン層(22)と、シリコン層中のトランジスタデバイス(27)と、シード層上に配置されるIII−V族デバイスと、複数の電気コンタクトと、を備え、それぞれの電気コンタクトは、TiNまたはTaNの層(32)と、TaNまたはTiNの層上の銅またはアルミニウムの層(34)と、を備え、電気コンタクトの1つは、トランジスタ(27)に電気的に接続され、電気コンタクトの別の1つは、III−V族デバイスに電気的に接続される。 (もっと読む)


【課題】半導体ウエハ面内におけるゲート形成領域の開口部のエッチング深さを均一化して所望の閾値電圧を得ることができ、併せて歩留を向上した半導体装置及びその製造方法を提供する。
【解決手段】本発明は、半絶縁性基板上に、バッファ層と、チャネル層と、p型不純物が拡散される拡散層と、前記拡散層よりもエッチングレートが大きい被エッチング層を順次エピタキシャル成長して積層するステップと、前記被エッチング層よりもエッチングレートが大きい絶縁層を前記被エッチング層上に設けるステップと、エッチングレートの違いを利用して、前記絶縁膜に開口部を設け、さらに、前記開口部を介して前記被エッチング層を選択的にエッチング除去するステップと、前記開口部から前記拡散層に前記p型不純物を拡散してゲート領域を形成するステップと、を有する。 (もっと読む)


【課題】発光素子の製造歩留りの高い発光素子発光素子を提供する。
【解決手段】本発明に係る発光素子1は、第1導電型の第1半導体層と、第1導電型とは異なる第2導電型の第2半導体層と、第1半導体層と第2半導体層とに挟まれる活性層105とを有する半導体積層構造10と、半導体積層構造10の一方の面側に設けられ、活性層105が発する光を反射する反射層132と、反射層132の半導体積層構造10側の反対側に金属接合層を介して半導体積層構造10を支持する支持基板20と、支持基板20の金属接合層側の反対側の面に接して設けられる密着層200と、密着層200の支持基板20に接している面の反対側の面に接して設けられ、密着層を介して支持基板20との間で合金化している裏面電極210とを備える。 (もっと読む)


【課題】無機半導体と有機物とを能動的な役割に用い、かつ有機物の劣化を防止することができる半導体素子を提供する。
【解決手段】ZnO系半導体1上に有機物電極2が形成されており、有機物電極2の上にはAu膜3が形成されている。ZnO系半導体1の裏面には有機物電極2に対向するように、Ti膜4とAu膜5の多層金属膜で構成された電極が形成されている。有機物電極2とZnO系半導体1との接合界面は、ショットキー障壁が形成されており、これらの間で整流作用が発生する。しかも、有機物電極2の表面には、撥水膜3が被覆されているため、水等から有機物電極2表面を防護することができ、有機物電極の劣化を防止することができる。 (もっと読む)


【課題】 二次元電子ガスを発生させるワイドギャップ半導体層をその下の半導体層の構成元素の化合物半導体により形成することにより、非常に立上り電圧が低く、かつ、逆方向耐圧が高いダイオードまたはHEMT構造のMIS型トランジスタを有する半導体装置およびその製造方法を提供する。
【解決手段】 GaAs基板1上に、GaAs基板1よりもバンドギャップおよびキャリア濃度が共に大きく、GaAs基板1の表面に二次元電子ガスを生じさせることが可能で、かつ、その二次元電子ガスの電子をトンネル可能な厚さに形成されるN型のGaN層2が設けられ、そのGaN層2と電気的に接続して第1電極3が、GaAs基板1に電気的に接続して第2電極4が設けられている。 (もっと読む)


【課題】 非常に立上り電圧が低く、かつ、逆方向耐圧が実用上問題のない程度に高い耐圧のダイオードを有する半導体装置およびその製造方法を提供する。
【解決手段】 インジウムを含有するN型半導体層1の表面に二次元電子ガスを発生させることが可能で、かつ、その二次元電子ガスの電子をトンネル可能な厚さで酸化インジウム層2が形成され、その酸化インジウム層2上に金属または導電性酸化膜からなる第1電極3が形成され、N型半導体層(N型半導体基板)1と電気的に接続して第2電極4が形成されている。 (もっと読む)


【課題】ゲート電極の周囲に形成される空洞と保護膜に形成されるホールとの境界部分の開口を封止しやすい構造を実現する。
【解決手段】半導体装置を、ゲート電極3と、高さが低い部分6Aと高さが高い部分6Bとを有する階段状の空間6をゲート電極3の周囲に有する保護膜4と、高さが低い部分6Aに接するように保護膜4に形成されたホール5とを備えるものとする。 (もっと読む)


【課題】発光素子の製造プロセスにおいて、あるいは又、発光素子の動作時、安定した挙動を示す第2電極を有する発光素子を提供する。
【解決手段】発光素子は、n型の導電型を有する第1化合物半導体層11、第1化合物半導体層11上に形成され化合物半導体から成る活性層12、活性層12の上に形成された、p型の導電型を有する第2化合物半導体層13、第1化合物半導体層11に電気的に接続された第1電極15、及び、第2化合物半導体層13上に形成された第2電極14を備えており、第2電極14は、チタン酸化物から成り、4×1021/cm3以上の電子濃度を有し、活性層で発光した光を反射する。 (もっと読む)


【課題】Ga原子及びAs原子の電極表面への拡散を低減可能なn型GaAs系半導体の電極構造及びこの電極構造を備える半導体装置を提供する。
【解決手段】本発明に係る電極構造は、Au及びGeを含む化合物から成り、n型GaAs半導体基板10上に設けられたオーミック金属層11と、オーミック金属層11上に設けられた第1のPt層13と、第1のPt層13上に設けられたTi層14とを備える。Ti層14は、Ga原子及びAs原子の電極表面への拡散を防止する。第1のPt層は、Ti層14のTi原子が、Au電極層12及びオーミック金属層11へ拡散することを防止する。その結果、Ti層14の拡散防止機能が維持される。これらにより、電極表面へのGa原子及びAs原子の拡散を低減することが可能となる。 (もっと読む)


【課題】GaAsなどの閃亜鉛鉱構造と負のピエゾ電気定数e14を有する化合物半導体材料よりなる半導体基板や半導体層の良好な結晶性を維持した状態で、電極とのコンタクト抵抗を下げる。
【解決手段】半絶縁性のGaAsから構成され、主表面が(100)面とされた基板101の上に、圧縮性の内部応力を伴う絶縁体から構成されて[0−11]方向に延在するストライプ状の絶縁パターン111と、絶縁パターン111のとなりの、導電性領域102が形成されている領域の基板101の上に形成されたオーミック電極103とを備える。 (もっと読む)


【課題】 テラヘルツ波等の高周波を検出するためのショットキー接合部において、熱電子放出電流特性(フェルミレベルピニングの影響)を抑制することができる検出素子を提供する。
【解決手段】 第一ショットキー接合を形成する第一金属部20と、第一金属部20に接続され、高周波を検出する外部接続部材2と、第一金属部20の周辺に形成される絶縁体3と、オーミック接合を形成する金属層4とを備える検出素子10であって、第二ショットキー接合を形成する第二金属部21と、第一金属部20と第二金属部21とを接続する抵抗値Rの抵抗部材27とを備え、第一ショットキー接合部は、交流抵抗値R1−AC、直流抵抗値R1−DCを有し、第二ショットキー接合部は、交流抵抗値R2−AC、直流抵抗値R2−DCを有し、抵抗値Rは、式(1)を満たすことを特徴とする。
1−AC<<R<<R2−DC・・・・・・(1) (もっと読む)


【課題】 オーミック電極とバリアメタル層の密着強度を向上させる。
【解決手段】 半導体素子の製造方法は、(a1)半導体積層構造を準備する工程と、(b1)前記半導体積層構造上にオーミック電極層を成膜する工程と、(c1)前記オーミック電極層上にAuを含む接着層を成膜する工程と、(d1)前記工程(c1)から大気開放せずにバリアメタル層を成膜する工程とを含む。 (もっと読む)


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