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Fターム[4M112CA54]の内容

圧力センサ (26,807) | 素子の構造 (8,535) | その他の型の素子 (285) | 保護、絶縁層 (12)

Fターム[4M112CA54]に分類される特許

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【課題】接続部材の耐久性が損なわれることが抑制された半導体装置、及び、その製造方法を提供する。
【解決手段】チップ(10)と台座(30)とが接続部材(50)を介して機械的に接続された半導体装置であって、チップ(10)と台座(30)との間に接続部材(50)が介在され、チップ(10)の上面(10c)の全面、及び、側面(10b)の全面の少なくとも一方に、応力緩和部材(70)が機械的に接続されており、台座(30)は、接続部材(50)よりも線膨張係数が高く、台座(30)、接続部材(50)、及び、応力緩和部材(70)は、チップ(10)よりも線膨張係数が高い。 (もっと読む)


【課題】MEMS技術をベースとして加速度センサを製造する場合、複雑構成の加速度センサを得ることができるものの、MEMS特有の製造プロセスを経る必要があり、通常の半導体製造プロセスとの親和性は低い。
【解決手段】半導体装置100は、凹状のガス流路22が設けられた積層体10と、積層体10に対して設けられると共に、ガス流路22の底面にて露出するヒータ40と、積層体10に対して設けられると共に、ガス流路22の底面にて露出し、かつガス流路22の延在方向においてヒータ40を挟み込むように配置された複数の熱センサ30、50と、を有する。通常の半導体製造プロセスに対して親和性が高い加速度センサを提供することができる。 (もっと読む)


【課題】良好な真空封入を維持しかつできるだけ変らない外側のチップ寸法を維持して、ボンディングされた表面マイクロメカニック構成部分の安定性を高める。
【解決手段】マイクロメカニック式のキャップ構造はサブストレート10を有し、サブストレート10には空洞Kが設けられている。空洞Kは方形の基面と互いに向き合った平行な側壁区分から成る2つの側壁区分対とを有する。空洞Kの基面に相応するダイヤフラムの局部的な補強は安定化ビームSK1,SK2を有する安定化クロスによって達成される。 (もっと読む)


【課題】エアダンピング効果の影響を低減でき、さらに効率よく製造することができるMEMSセンサおよびその製造方法を提供すること。
【解決手段】表面21および裏面22を有し、振動膜7と、当該振動膜7を支持し、当該振動膜7の直下に空間6を区画するフレーム部8と、振動膜7に保持された錘9とを有するSOI基板2において、フレーム部8の底面(底壁)83に、そのフレーム部8の内側面82から外側面81に至る溝10を形成する。 (もっと読む)


【課題】基台が有する凹部の表面を被覆することのできるセンサ及びその製造方法を提供する。
【解決手段】本発明に係るセンサの例によるフローセンサは、一方の面にキャビティ25を有する基台20と、基台20の一方の面の上に設けられるセンサ薄膜30と、を備える。センサ薄膜30は、キャビティ25に通ずるスリット36を有している。キャビティ25の断面形状は、例えば舟形凹状であり、キャビティ25の表面Aは、原子層堆積法により形成された膜Xで被覆されている。 (もっと読む)


【課題】微小電気機械装置の特性向上および製造工程の簡略化を図る。
【解決手段】微小電気機械装置を、半導体層(1)と、前記半導体層中のチャネル領域の両側に形成されたソース、ドレイン領域(13)と、前記半導体層上に形成されたゲート絶縁膜(19)と、前記ゲート絶縁膜上に形成された空洞(15a)と、前記空洞上に形成されたゲート電極(17)と、を有し、前記ゲート電極は、前記ゲート絶縁膜と接触するよう可動に構成され、前記ゲート電極上に加わる力を、前記ゲート電極と前記ゲート絶縁膜との接触面積により検出するように構成する。このように、上記接触面積によりゲート電極上に加わる力を検出することができる。また、一時的なFET構造を利用することにより、装置および製造工程の簡略化を図ることができる。 (もっと読む)


【課題】 急峻な立ち上がり構造を有する凸形状パターンを所望の幅で形成できるパターン形成方法と、センサーのアクティブ面側に保護材を備えたセンサーチップを簡便に、かつ小型化可能に製造できるセンサーチップの製造装置および製造方法を提供する。
【解決手段】 凸形状パターンの形成方法を、塗布液の温度を被パターン形成体の温度よりも高く設定しておき、塗布液を被パターン形成体上に所望のパターンで塗布し、その後、塗布パターンを硬化させて凸形状パターンを形成するものとし、センサーチップの製造装置を、塗布装置と接合硬化装置とを備えたものとし、塗布装置はセンサー本体のアクティブ面の外側領域に、センサー本体よりも高温の塗布液を塗布してリブ用塗布パターンを形成するものとし、接合硬化装置はリブ用塗布パターンに保護材を当接させ、かつ、保護材とアクティブ面との間に空隙部を設けた状態でリブ用塗布パターンを硬化させて凸形状パターンからなるリブを形成するものとする。 (もっと読む)


【課題】外圧の大きさおよび方向を高感度で検出することができるとともに製造が容易な触覚センサ、およびその製造方法ならびに触覚センサユニットを提供することである。
【解決手段】触覚センサ100は、カンチレバーCLおよびエラストマー層105を有する。カンチレバーCLは、ノンドープ層103aおよびドープ層103bを有する。ドープ層103bの格子定数はノンドープ層103aの格子定数より小さい。これにより、カンチレバーCLは湾曲している。ドープ層103bは、結晶シリコン膜にホウ素を添加することにより形成されている。エラストマー層105に外圧が加わることにより、カンチレバーCLが変形する。カンチレバーCLが変形することにより、ドープ層103bのピエゾ抵抗が変化する。したがって、ドープ層103bのピエゾ抵抗の変化を検出することにより、触覚センサ100に作用する外圧の大きさおよび方向を検出することができる。 (もっと読む)


【課題】シリコン基板からなるひずみ測定装置によりひずみを測定する場合、シリコン基板の剛性が大きいため、ひずみ感度のばらつきが大きい。
【解決手段】シリコン基板の主面に少なくともひずみ検出部が設けられており、前記ひずみ検出部の上面に絶縁膜、さらにその上面に保護層が設けられており、前記保護層には、ひずみ検出部と電気的に接続された電気配線が設けられ、かつ、前記保護層の表面に実装面が設けられることにより達成される。
【効果】剛性が大きいシリコン基板を介すことなくひずみ検出部を被測定物に近づけられるため、ひずみ追従性が安定する領域が拡大され、ひずみ感度のばらつきが低減される。 (もっと読む)


【課題】単結晶シリコン基板からなる力学量測定装置の大きなひずみによる破壊を防止する。
【解決手段】ひずみ検出部を有する半導体単結晶基板からなるセンサチップの裏面にひずみ測定用の実装板を設ける。
【効果】被測定物に大きなひずみが発生した場合でも、実装板により半導体単結晶基板に生じるひずみを制御することが可能であるため、半導体単結晶基板が破壊することが無く、信頼性の高い力学量測定装置が提供することができる。 (もっと読む)


【課題】MEMS技術等を用いて形成される可動構造を有する微小3次元構造体要素が膜状弾性体内へ配置された3次元構造体において、上記膜状弾性体の柔軟性を阻害することなく効果的に活用できるような構造を提供する。
【解決手段】可動構造を有する複数の微小3次元構造体要素としてのカンチレバー2を膜状弾性体3の内部に、各カンチレバーの変形の方向が互いに異なるように配置し、かつこのカンチレバー2に外力検知機能を持たせることで、外力の作用により膜状弾性体3に生じた弾性変形を検知できる構造とする。 (もっと読む)


本発明は、基板(1、11)に設けられた有機電界効果トランジスタ(10)を備える力センサに関するものである。本発明によれば、該トランジスタへの機械的な作用力は、ソース−ドレイン電圧またはソース−ドレイン電流(I)の対応する変化を引き起こす。これにより、該変化は、印加される力に対する測定変数(V測定、I測定)として、それぞれ検出される。また、本発明は、このタイプの力センサを用いる膜ベースの圧力センサ、このタイプの力センサを複数用いる一次元または二次元の位置センサ、並びにこのタイプの力センサを複数用いる指紋センサに関する。
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