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Fターム[4M112DA16]の内容

圧力センサ (26,807) | 製造工程 (5,073) | 素子本体の製造工程 (5,065) | 切断、ダイシング (230)

Fターム[4M112DA16]に分類される特許

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【課題】 センサチップの一方側に高精度でシリコンチップを貼合でき、さらに、貼合されたシリコンチップに対して、センサチップの他方側に貼合される封止チップを高精度に位置合わせすることのできる加速度センサおよびその製造方法を提供すること。
【解決手段】 センサチップ2の一方側にシリコンチップ3が接合されてなる加速度センサ1において、物理量の変化に応じて動作する可動部を有するセンサチップ2に、厚さ方向に貫通し、センサチップ2の上側から下側を視認可能な貫通溝14を形成する。一方、シリコンチップ3には、センサチップ2の貫通溝14に対向する部分に、アライメントマーク16を形成する。 (もっと読む)


【課題】歩留まりの良い小型のセンサモジュールを効率的に製造できる、センサモジュールの構造及びその製造方法を提供すること。
【解決手段】センサ部10と、IC部20とを別々にウェハレベルパッケージングして形成した後に、センサ部10とIC部20とをフリップチップ接続により電気的に接続する。これにより、センサ部10とIC部20とを別々に検査することが可能となるので歩留まりが向上し、かつ、センサ部10のサイズとIC部20のサイズを別々に選択できるのでウェハ1枚当たりからの個々の取り数を最大化することができて効率化が可能となる。 (もっと読む)


MEMSデバイスは、第1主表面とその反対面である第2主表面とを有する基板101と、前記基板101に形成された貫通孔110と、前記第1主表面の上側に前記貫通孔110を覆うように形成された振動膜105とを備えている。前記第1主表面及び前記第2主表面は共に(110)結晶面であり、前記第2主表面における前記貫通孔110の形状は実質的に菱形である。 (もっと読む)


【課題】電極の形成時でのレジストの残渣を低減できる力学量センサおよび積層体の製造方法を提供する。
【解決手段】積層体の製造方法が,基板上に,金属をそれぞれ含む第1,第2,および第3の導体層を順に形成するステップと,前記第3の導体層をパターニングするステップと,前記パターニングされた第3の導体層をマスクとして,前記第2の導体層をパターニングするステップと,前記パターニングされた第2の導体層をマスクとして,前記第1の導体層をパターニングするステップと,前記パターニングされた第3の導体層を除去するステップと,を具備する。 (もっと読む)


【課題】デバイス本体の一表面側に設けられた外部接続用電極と気密封止される機能部とを電気的に接続でき、且つ、デバイス特性に悪影響を与える寄生容量を低減できる気密構造体デバイスを提供する。
【解決手段】第1のカバー基板2が、デバイス本体1の上記一表面側に設けられた複数の外部接続用電極18が露出するようにデバイス本体1に接合され、デバイス本体1が、当該デバイス本体1の一部と各カバー基板2,3とで囲まれる空間に配置された機能部である固定電極24と外部接続用電極18とを電気的に接続する配線の少なくとも一部を構成する島部17と、島部17を全周に亘って囲む分離溝11cに埋設された絶縁材料からなり上記空間を気密封止し且つ島部17をデバイス本体1における分離溝11cの外側の支持部11と電気的に絶縁する絶縁分離部19とを有する。 (もっと読む)


MEMSセンサは、基板と、基板に連結されたMEMS構造とを含む。MEMS構造は、基板に対して可動な質量を有する。また、MEMSセンサは、MEMS構造から半径方向外側に位置付けられる基準構造を含む。基準構造は、その測定の正確性を向上させるために、MEMSセンサに影響を及ぼし得る任意の環境変化を補償するための基準を提供するために使用される。一実施形態において、前基準構造は、前MEMS構造を実質的に包囲する。
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【課題】隣り合う端子電極間の導電性接合剤による所望でない短絡が生じ難く、製造が容易である、半導体センサ装置を提供する。
【解決手段】可動部を有する半導体センサが形成されている半導体基板2の片面にケース板3が積層されており、半導体基板2の上面に外部接続用電極71〜78が形成されており、ケース板3において、上面に複数の突起3bが形成されており、突起3bに設けられた端子電極51〜58が、外部接続用電極71〜78に、接続電極により電気的に接続されており、隣り合う突起3b,3b間に溝3cが形成されている、半導体センサ装置。 (もっと読む)


【課題】 小型で温度安定性に優れた加速度センサー装置を提供する。
【解決手段】 可動部を有するMEMSチップとMEMSチップの少なくとも可動部を密
封するキャップチップとで形成されたMEMS組立体を有し、配線基板と回路基板と前記
MEMS組立体を積層し、前記配線基板は前記MEMS組立体の幅方向および長さ方向に
おいて対称な構造であり、前記MEMSチップと前記回路基板、前記回路基板と前記配線
基板はおのおの配線で接続され、前記配線基板上において、前記回路基板、前記配線およ
び前記MEMS組立体が樹脂部材で封止されていることを特徴とする半導体センサー装置
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【課題】 小型で温度安定性に優れた加速度センサー装置を提供する。
【解決手段】 可動部を有するMEMSチップとMEMSチップの少なくとも可動部を密
封するキャップチップとで形成されたMEMS組立体を有し、配線基板と回路基板と前記
MEMS組立体を積層し、前記配線基板と前記回路基板の間を第1のダイアタッチフィル
ムで接続し、前記回路基板と前記MEMS組立体の間を第2のダイアタッチフィルムで接
続し、前記MEMSチップと前記回路基板、前記回路基板と前記配線基板は、おのおの配
線で接続され、前記配線基板上において、前記回路基板、前記配線および前記MEMS組
立体が樹脂部材で封止されていることを特徴とする半導体センサー装置。 (もっと読む)


【課題】 規格化された高さのゲージ部を有する力検知素子を簡易に製造する方法を提供する。
【解決手段】 力検知素子100は、基部層2と絶縁層4と半導体層6が積層された積層基板7を有している。一対の電極10a、10b間を所定高さで伸びているゲージ部14が、半導体層6に設けられている。力検知素子100の製造方法は、ゲージ部14の所定高さよりも厚い半導体層6を有する積層基板7を用意し、半導体層6の表面からゲージ部14の所定高さだけエッチングして第1溝15を形成し、第1溝15の側方に凸状のゲージ部14を形成する第1エッチング工程を備えている。 (もっと読む)


【課題】マイクやスピーカ、圧力センサ等のパッケージをダイシング加工によって個片化し、コスト低減を図る。
【解決手段】パッケージ4の表面又は裏面のいずれかに内部空間を外部に連通する孔44が設けられるとともに、半導体チップに接続状態の端子部の外側端部がパッケージ44から露出している半導体装置を製造する方法であって、複数個のパッケージ4が孔44の形成面を同一方向に向けかつ隣接するパッケージ相互間で端子部をパッケージの外側方位置で接続状態として連結されたパッケージ集合体を製作し、ダイシングテープ71を貼り付けて孔44をダイシングテープ71で覆った状態とし、該ダイシングテープ71の貼り付け面とは反対面から端子部の接続部分をダイシングブレード73によって切断することにより、ダイシングテープ71上で個々のパッケージ4に分離する。 (もっと読む)


【課題】MEMSの製造歩留まりを高める。
【解決手段】深さが均等でない複数の溝を第一の板形部品に形成し、前記第一の板形部品と第二の板形部品とを接合し、相対的に浅い前記溝に沿って前記第一の板形部品を切削した後に相対的に深い前記溝に沿って前記第一の板形部品を切削することにより、前記第二の板形部品が接合された構造要素を分断された前記第一の板形部品の一部から形成する、ことを含むMEMS製造方法。 (もっと読む)


【課題】樹脂によりパッケージングを行っても正確に物理量を検出することが可能な容量センサパッケージを提供すること。
【解決手段】本発明の容量センサパッケージは、一対の主面及び通気穴11aを有する配線基板11と、前記配線基板11の一方の主面上に実装されており、ダイヤフラム12a及び固定電極を有し、前記ダイヤフラム12aと前記固定電極との間の静電容量の変化から物理量を検出する容量センサ12と、前記配線基板11の前記一方の主面11b上で前記通気穴11aを閉塞せずに前記容量センサ12を封止する封止部材17と、を具備し、前記容量センサ12は、前記通気穴11aを介して導入される外気でダイヤフラム12aが可動する位置に実装されていることを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】カバー板を備えた半導体センサの製造方法において、ウェハ状態でカバーウェハを搭載した後にカバーウェハを加工して電極パッドを露出させる際にカバーウェハの詳細な位置合わせを必要とせず、かつ、配線パターン及び電極パッドの損傷及びカバーウェハの残渣物の発生を防止する。
【解決手段】複数の半導体センサ領域を備え半導体センサ領域にセンサ部28及び電極パッド16が形成された半導体ウェハ2d上に少なくとも電極パッド16に対応する位置に凹部24bをもつカバーウェハ24aを搭載する(A)。カバーウェハ24aの半導体ウェハ2dとは反対側の面を研削又は研磨することによりカバーウェハ24aの厚みを薄くするとともに凹部24bの底部を開口させて電極パッド16を露出させる(B)。半導体センサ領域を半導体ウェハ2dから切り出して半導体センサ1を固片化する(C) (もっと読む)


【課題】 本発明によれば製造コストを抑え、かつ信頼性の高い物理量センサ及びその製造方法を提供することができる。
【解決手段】 本発明に係る物理量センサの製造方法は、半導体基板上に開口を有するマスクを形成する工程と、前記開口により露出した前記半導体基板に、熱拡散法により複数のピエゾ抵抗素子を形成する工程と、前記ピエゾ抵抗素子を形成した後、前記マスクを除去する工程と、前記半導体基板上に、前記ピエゾ抵抗素子の少なくとも一部を覆う絶縁層を形成する工程と、前記ピエゾ抵抗素子の形成領域内における前記絶縁層を開孔してコンタクトホールを形成する工程と、を含むことを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】センサ素子の必要な面積を低減することである。
【解決手段】各空洞部(17)の外では基板ウェハに接点線路(16)が配置されており、接点線路は、センサ素子の電気接続を行い、基板ウェハ(1)上で隣接するセンサ素子(2)のペア間では、ちょうど1つの接点孔(9)がキャップウェハ(3)に設けられており、接点孔(9)を通って接点線路はセンサ素子に接近し、基板ウェハ上で隣接する別のセンサ素子のペア間には、ちょうど1つの接続テープが配置されており、1つの接続テープは、前記別のペアのセンサ素子が配置されている空洞部を相互に分離する。 (もっと読む)


【課題】導電部が腐食されるおそれのない圧力センサおよびその製造方法を提供する。
【解決手段】基板30,40内に密閉状態で形成された圧力基準室51の一側壁を第1ダイアフラム33が構成し、圧力基準室51の対向壁を第2ダイアフラム43が構成する。そして、圧力基準室51内には、第1ダイアフラム33の中央部と第2ダイアフラム43の中央部とを連結して第1ダイアフラム33の変位を第2ダイアフラム43に直接伝達する伝達部52が形成されている。また、第2ダイアフラム43には当該第2ダイアフラム43の変位に応じた信号を出力する圧力検出部53が設けられており、この圧力検出部53には当該圧力検出部53からの信号を外部へ出力する導電部としてのボンディングワイヤ55が取出電極54等を介して電気的に接続されている。 (もっと読む)


【課題】被取付部材からダイアフラムへの外乱応力の伝達を抑制し得る圧力センサ素子およびその製造方法並びに圧力センサを提供する。
【解決手段】センサ素子40は、基板41の反取付面40bに形成される開口部42の開口側面42aから当該開口部42内に片持ち梁状に突出して支持される梁部43を備えている。この梁部43内には、密閉状態である圧力基準室44が形成されるとともに、この圧力基準室44の圧力と圧力媒体の被測定圧力との圧力差に応じて変位するダイアフラム45と、このダイアフラム45上に設けられ当該ダイアフラム45の変位に応じた信号を出力する圧力検出部46とが形成されている。 (もっと読む)


【課題】 特性の異なるセンサを簡便に製造することが可能なセンサおよびその製造方法を提供できる。
【解決手段】 本発明に係る加速度センサは、開口を有するフレーム部と、該開口内に配置された錘部と、前記フレーム部と前記錘部とを接続する梁部と、該梁部上に形成された複数の検出部とを具備してなるセンサであって、前記梁部上には、物理量変動を検出可能な複数本のピエゾ抵抗素子を備え、前記検出部は、前記複数本のピエゾ抵抗素子のいずれかを用いて構成されていることを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】半導体ウェハ上に積層された素子を形成するための膜にクラックが伝搬する被害を抑えることができる素子ウェハの製造方法を提供する。
【解決手段】半導体ウェハ上において加速度センサ20が形成られた本願領域6の外周に、本番領域6を囲うように絶縁膜を凹状に成膜した凹部10を設ける。凹部によってクラックが加速度センサ20の部分に伝搬することが抑制される。 (もっと読む)


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