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Fターム[4M119FF16]の内容

MRAM・スピンメモリ技術 (17,699) | コンタクト (2,004) | コンタクトの場所 (1,215) | 記憶素子と選択素子間(下部配線無) (226)

Fターム[4M119FF16]に分類される特許

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【課題】 高集積度を実現可能なスピン注入書き込み方式の磁気記憶装置を提供する。
【解決手段】 スピン注入書き込み型磁気記憶装置は、一端が第1ノードに接続される磁気抵抗効果素子3と、第1拡散領域が磁気抵抗効果素子の他端に接続され、第2拡散領域が第2ノードに接続される選択トランジスタ4とを有するメモリセル1を含む。選択線13は、第1方向に延在し、選択トランジスタのゲート電極に接続される。第1配線12は、第2方向に延在し、第1ノードに接続される。第2配線11は、第2方向に延在し、第2ノードに接続される。第1方向に隣り合うメモリセル同士で、第1ノードを共有し、第2方向に隣り合うメモリセル同士で、第2ノードを共有する。 (もっと読む)


【課題】 意図しない磁化反転を抑制可能な磁気メモリを提供する。
【解決手段】 磁気ヨーク8は、第1配線6及び第2配線7の基準面SS上の部分と、磁気抵抗効果素子5とを覆っており、磁気抵抗効果素子5の厚み方向に垂直な全方位に位置している。したがって、磁気抵抗効果素子5や第1配線6及び第2配線7の基準面SS上の部分への外部磁界の導入が抑制される。この構造では、磁気抵抗効果素子5における感磁層の意図しない磁化反転を抑制することができる。 (もっと読む)


【課題】磁気抵抗効果素子を含むメモリセルのサイズを縮小する。
【解決手段】磁気記憶装置の製造方法は、コンタクトプラグ13および第1の絶縁層11上に、磁気抵抗効果素子10を形成する工程と、上部電極層16上に、第1の方向に延在する第1のマスク層18を形成する工程と、上部電極層16を第1のマスク層18を用いてエッチングする工程と、上部電極層16および非磁性層15上に保護膜20を形成する工程と、保護膜20上に第2のマスク層21を形成する工程と、第2の方向に延在するように、第2のマスク層21上にレジスト層22を形成する工程と、第2のマスク層21をレジスト層22を用いてエッチングし、上部電極層16の側部に側壁部21Aを形成する工程と、非磁性層15および下部電極層14を、第2のマスク層21および側壁部21Aを用いてエッチングする工程とを含む。 (もっと読む)


集積回路装置(300)は、基板(301)と、当該基板(308)上に形成されたMRAMアーキテクチャ(314)とを備える。MRAMアーキテクチャ(314)は、基板(301)に形成されたMRAM回路(318)と、当該MRAM回路(318)に結合され且つその上に形成されたMRAMセル(316)とを含む。その上、受動デバイス(320)が、MRAMセル(316)と一緒に形成される。受動デバイス(320)は、1又はそれより多い抵抗及び1又はそれより多いキャパシタであることができる。MRAMアーキテクチャ(314)と受動デバイス(320)との同時製作は、基板(404,504)の能動型回路ブロックの上での使用可能な物理的スペースの効率的で且つコスト的に実効性のある使用を促進し、その結果3次元の集積化をもたらす。
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磁気メモリを提供するための方法及びシステム。本方法及びシステムは、複数の磁気記憶セル、複数のワードライン及び複数のビットラインを設けることを含む。複数の磁気記憶セルの各々は、複数の磁気素子及び少なくとも1つの選択トランジスタを含む。各磁気素子は、該磁気素子を通じて駆動される書込み電流によって、スピン転移誘起スイッチングを用いてプログラム可能である。各磁気素子は、第1端及び第2端を有する。各磁気素子の第1端には、少なくとも1つの選択トランジスタが接続される。複数のワードラインは、複数の選択トランジスタに結合され、複数の選択トランジスタの一部を選択的にイネーブル状態にする。
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本発明は、熱アシスト方式で書き込まれる磁気メモリに関し、本磁気メモリにおいてはメモリ点(40)の各々が磁気トンネル接合から構成されており、メモリの、トンネル接合を形成する層の平面に平行な断面が円形又はほぼ円形である。前記トンネル接合は、少なくとも、磁化方向が固定のトラップ層(44)、磁化方向が可変の自由層(42)、及び自由層(42)とトラップ層(44)の間に配置された絶縁層(43)を備える。本発明によれば、自由層(42)は、接触により磁気的に結合された少なくとも1つの軟質磁性層と1つのトラップ層とから形成され、読み込みメモリ又は休止メモリの動作温度は自由層及びトラップ層それぞれのブロック温度より低く選択される。
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