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Fターム[4M119JJ13]の内容

MRAM・スピンメモリ技術 (17,699) | 製造方法 (929) | 加工方法 (452) | スパッタエッチング、イオンミリング (51)

Fターム[4M119JJ13]に分類される特許

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【課題】プラズマを安定して維持することができるプラズマ処理方法を提供する。
【解決手段】金属膜が形成された基板を収容する真空容器と、電磁波の入射窓を有する誘導結合型のプラズマ発生機構とを備えたプラズマ処理装置により、基板に絶縁膜を成膜するプラズマ処理方法において、Arプラズマ中のイオンにより基板の表面をArスパッタ処理し(S3)、Arスパッタした基板に絶縁膜を成膜し(S4)、基板を真空容器から搬出し(S5)、Arスパッタにより入射窓の内壁に付着した原子を、酸素プラズマ処理により酸化する(S6)。 (もっと読む)


【課題】実施形態による、磁壁制御が容易な磁気メモリ素子を提供する。
【解決手段】磁気メモリ素子100は、第1方向に延在し、磁壁により隔てられた複数の磁区を有する磁性細線20と、前記磁性細線20に対して前記第1の方向又は前記第1の方向と逆方向に通電可能な一対の第1の電極30と、前記第1の方向に直交する第2の方向において、前記磁性細線20上に設けられた第1の絶縁層40と、前記第2の方向であって前記第1の絶縁層40上に離間して設けられた複数の第2の電極50と、複数の前記第2の電極50と電気的に接続された第3の電極60と、を備える。 (もっと読む)


【課題】MTJ素子内における層間の短絡を抑制し、かつ、MTJ素子を構成する磁性層の劣化を抑制した半導体記憶装置およびその製造方法を提供する。
【解決手段】本実施形態による半導体記憶装置は、半導体基板を備える。磁気トンネル接合素子は、2つの磁性層と該2つの磁性層間に設けられたトンネル絶縁膜とを含み、半導体基板の上方に設けられている。側壁膜は、磁気トンネル接合素子の側面の上部に設けられている。フェンス層は、導電性材料を含み、側壁膜の側面および磁気トンネル接合素子の側面の下部に設けられている。フェンス層の頂点は、側壁膜の頂点よりも低く、かつ、トンネル絶縁膜よりも高い位置にある。 (もっと読む)


【課題】素子特性の劣化なしにリデポ現象による電気的ショートを防止する。
【解決手段】実施形態に係わる磁気抵抗効果素子は、磁化方向が可変の記憶層11と、記憶層11上のトンネルバリア層12と、トンネルバリア層12上の磁化方向が不変の参照層13と、参照層13上のハードマスク層14と、参照層13及びハードマスク層14の側壁上の側壁スペーサ層17とを備える。記憶層11及び参照層13は、垂直磁化を有し、参照層13の平面サイズは、記憶層11の平面サイズよりも小さい。記憶層11及び参照層13のサイズ差は、2nm以下であり、側壁スペーサ層17は、ダイアモンド、DLC、BN、SiC、BC、Al及びAlNのうちの1つを備える。 (もっと読む)


【課題】製造コストの増加を抑えつつ、直列に接続されたMTJ素子を所望の特性の抵抗体として機能させることが可能な半導体記憶装置を提供する。
【解決手段】半導体記憶装置は、磁化方向に応じて抵抗値が変化可能な複数の記憶用MTJ素子が、半導体基板上に配置されたメモリセルアレイ領域を備える。半導体記憶装置は、複数の抵抗用MTJ素子が、前記半導体基板上に第1の方向および前記第1の方向に垂直な第2の方向に沿って配置された抵抗素子領域を備える。前記半導体基板の上面に平行な前記抵抗用MTJ素子の第1の断面の面積は、前記半導体基板の前記上面に平行な前記記憶用MTJ素子の第2の断面の面積よりも、大きい。 (もっと読む)


【課題】磁化反転に必要とされる電流密度のマージンを広げる。
【解決手段】実施形態に係わる磁気メモリの製造方法は、磁化方向が可変である第1の磁性層16を形成する工程と、第1の磁性層16上にトンネルバリア層17を形成する工程と、トンネルバリア層17上に、磁化方向が不変である第2の磁性層19を形成する工程と、第2の磁性層19上にハードマスク層20を形成する工程と、ハードマスク層20をマスクにして第2の磁性層19のパターニングを行なう工程と、第2の磁性層19のパターニング後に、ハードマスク層20をマスクにしてGCIB照射を行うことにより、少なくとも第1の磁性層16内に磁気的及び電気的に不活性な領域Nonを形成する工程とを備える。 (もっと読む)


【課題】信頼性の高い磁気抵抗効果素子の構造並びにそのような構造を安定して得ることのできる磁気抵抗効果素子の製造方法を提供する。
【解決手段】基板上に、第1の電極層と、金属材料により形成された金属層と、第1の磁性層と、トンネル絶縁膜と、第2の磁性層と、第2の電極層とを形成し、第2の電極層をパターニングし、第2の磁性層、トンネル絶縁膜、第1の磁性層及び金属膜をパターニングするとともに、パターニングした第2の磁性層、トンネル絶縁膜、第1の磁性層及び金属膜の側壁部分に、金属膜のリスパッタ粒子を堆積して側壁金属層を形成し、側壁金属層を酸化して絶縁性の側壁金属酸化物層を形成する。 (もっと読む)


【課題】駆動電極に透明電極を適用する必要がなく、また、開口率を増大させることができると共に、効率的な偏光変調を行なうことができ、さらに、磁化反転動作を正確に知ることができる光変調素子およびこの光変調素子を用いた空間光変調器を提供する。
【解決手段】光を透過させる基板7上に形成され、磁化自由層3と、中間層21,22と、磁化固定層11,12と、がこの順序で積層されたスピン注入磁化反転素子構造を有する光変調素子1であって、光変調素子1は、さらに、基板7と磁化自由層3との間に透明電極層8を備え、磁化固定層11,12は、同一平面上に分離した2つの磁化固定層11,12からなり、2つの磁化固定層11,12は、互いに反平行な磁化に固定され、かつ磁化自由層3よりも保磁力の大きい磁性体であることを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】メモリセルに含まれる強磁性体膜の酸化を抑制しながら、磁性メモリのメモリセルを形成する技術を提供する。
【解決手段】磁性メモリの製造方法は、金属強磁性体により磁性体膜6を基板1の上面側に形成することと、無機物により磁性体膜6の上面に接触する無機物膜7、8を形成することと、無機物膜7、8の上面に、レジストによりレジストパターン9を形成することと、レジストパターン9をマスクとして無機物膜7、8をエッチングし、マスクパターン7’、8’を形成することと、レジストパターン9を除去することと、レジストパターンが除去された後、マスクパターン7’、8’をマスクとして磁性体膜6をエッチングすることとを備えている。磁性体膜6のうちマスクパターン7’、8’と接触する接触部分は、レジストパターンの除去の際に露出されず、酸化されにくい。 (もっと読む)


【課題】書込電流を増大させることなく、熱安定性を改善することができる記憶素子の提供。
【解決手段】記憶素子は、膜面に垂直な磁化を有し、情報に対応して磁化の向きが変化される記憶層17と、記憶層に記憶された情報の基準となる膜面に垂直な磁化を有する磁化固定層15と、記憶層と磁化固定層の間に設けられる非磁性体による絶縁層16とを有する。そして積層方向にスピン偏極した電子を注入することにより、記憶層の磁化の向きが変化して情報の記録が行われる。ここで記憶層が受ける実効的な反磁界の大きさが、記憶層の飽和磁化量よりも小さいものとされている。さらに記憶層17の断面形状が台形であって、絶縁層16との界面に接する面が、絶縁層16とは反対側の層(キャップ層18)に接する面の面積よりも大きくなっている。 (もっと読む)


【課題】形成された膜のステップカバレッジを大きくすることが可能であり、かつ低温領域で成膜することが可能な磁気抵抗効果素子の製造方法を提供すること。
【解決手段】本発明の一実施形態では、プラズマ源と成膜室を隔壁板により隔離したプラズマCVD装置により多層磁性層上に絶縁性の保護層を形成する。本方法によれば、磁気特性の劣化をもたらすことなく保護層を成膜でき、かつ、150℃未満の低温成膜も可能である。これにより、レジストを残留させたまま保護層の成膜が可能であり、多層構造の磁気抵抗効果素子の製造において工数低減も可能である。 (もっと読む)


【課題】記憶素子の下にあるコンタクトプラグの上面の平坦性を改善し、信頼性の高い半導体記憶装置を提供する。
【解決手段】半導体記憶装置は、半導体基板と、半導体基板上に設けられた複数のスイッチングトランジスタと、隣接する2つのスイッチングトランジスタ間に埋め込まれ、該隣接する2つのスイッチングトランジスタの各ゲートから絶縁されかつ該隣接する2つのスイッチングトランジスタの拡散層に電気的に接続されたコンタクトプラグと、コンタクトプラグ上に形成され、上面がスイッチングトランジスタの上面よりも高い位置にある上部コネクタと、上部コネクタの上面上に設けられ、データを記憶する記憶素子と、記憶素子上に設けられた配線とを備えている。 (もっと読む)


【課題】厚膜の磁性多層膜に隣接する埋め込み膜にボイド・シームを発生させない磁気ヘッドの製造方法及びこれを用いた差動型再生ヘッドもしくはMAMR素子を提供する。
【解決手段】磁性多層膜14のパターン加工後の隣接する埋め戻し膜42,43の堆積を,第1段階の堆積工程と,続けて堆積した膜をエッチバックする工程と,第2段階の堆積工程からなる一連の製造プロセスによって形成する。ハードバイアスを加える硬磁性膜を埋め戻す場合には,第2段階の堆積工程の前に配向下地膜を堆積する工程を追加することで保磁力を増加できる。 (もっと読む)


【課題】磁気抵抗効果素子を構成する多層磁性膜を加工する際に生じるダメージを少なくし、前記のダメージを受けたことにより磁気特性に劣化が生じることを防止でき、高品質な磁気抵抗効果素子を製造することに適した磁気抵抗効果素子の製造方法を提供する。
【解決手段】磁気抵抗効果素子を構成する多層磁性膜が形成された基板に対して反応性イオンエッチングにより多層磁性膜を加工する工程を含んでいる磁気抵抗効果素子の製造方法において、反応性イオンエッチングが行われた多層磁性膜に対してイオンビーム照射する工程を含む磁気抵抗効果素子の製造方法。 (もっと読む)


【課題】特性の向上、製造コストの低減を可能とする磁気抵抗メモリを提供する。
【解決手段】本発明の例に関わる磁気抵抗メモリは、半導体基板30上に設けられる選択トランジスタ2と、選択トランジスタ2の拡散層23,24上にそれぞれ設けられるコンタクトプラグ50A,50Bと、コンタクトプラグ50Aに電気的に接続される下部電極10と、下部電極10上に設けられる磁気抵抗効果素子1と、磁気抵抗効果素子1上に設けられる上部電極19と、を具備し、下部電極10は、その底面の寸法が上面の寸法より長いテーパー状の断面形状を有し、下部電極10の一端が、コンタクトプラグ50A上面に接触し、磁気抵抗効果素子1は、コンタクトプラグ50Aの直上から半導体基板表面に対して平行方向にずれた位置に設けられている。 (もっと読む)


本発明の具体例にかかる方法は、磁性層(41)と、下部導電性電極(43)と、その反対側で磁性層サブスタックを電気的に接続する上部導電性電極(44)とを含む磁性層サブスタックを含む磁気スタックを形成する工程と、磁気スタックの上に犠牲柱(46)を形成する工程であって、犠牲柱(46)は上に横たわる第2の犠牲材料(45)に対するアンダーカットと、磁気スタックに向かって断面寸法が大きくなる傾斜フットを有する工程と、犠牲柱を磁気スタックのパターニングのために使用する工程と、犠牲柱(46)の周囲に絶縁層(70)を堆積する工程と、犠牲柱を選択的に除去し、これによりパターニングされた磁気スタックに向かってコンタクトホール(80)を形成する工程と、コンタクトホールを電気的な導電性材料(81)で埋める工程とを含む。
(もっと読む)


【課題】正確に情報を識別することができる磁気記憶素子を提供する。
【解決手段】磁気記憶素子の一具体例は、基礎面31上で延びるアモルファス磁性材層32、および、このアモルファス磁性材層32上に積層される強磁性材層33で形成される導電性の磁性細線18を備える。磁性細線18上に導電性の自由磁化層35は配置される。自由磁化層35上に絶縁性のトンネルバリア層36は配置される。トンネルバリア層36上に導電性の固定磁化層38は配置される。 (もっと読む)


【課題】磁気抵抗効果素子の信頼性の向上と素子の微細化を両立する。
【解決手段】本発明の例に関わる磁気抵抗効果素子は、下部電極20上に設けられる第1の強磁性層11と、強磁性層11上に設けられるトンネルバリア層12と、トンネルバリア層12上に設けられる第2の強磁性層13と、強磁性層13上に設けられる上部電極21と、具備し、上部電極21は六角形状の断面形状を有し、上部電極21の最大寸法Waが、トンネルバリア層12の寸法Wcよりも大きい。 (もっと読む)


【課題】パターンの合わせずれを抑制する。
【解決手段】磁気ランダムアクセスメモリの製造方法は、下部電極9上に磁気抵抗効果素子の磁性材10を形成する工程と、磁性材上に上部電極14を形成する工程と、上部電極上にナノインプリントリソグラフィ用のレジストを塗布する工程と、磁気抵抗効果素子及び下部電極の第1のパターンが作り込まれた第1のテンプレート20又は磁気抵抗効果素子及び上部電極の第2のパターンが作り込まれた第2のテンプレートをレジストに接触させて硬化させることで、レジストに第1のパターン又は第2のパターンを形成する工程と、第1のパターンを有するレジストを用いて磁性材及び下部電極を一括でパターニングする、又は、第2のパターンを有するレジストを用いて磁性材及び上部電極を一括でパターニングする工程とを具備する。 (もっと読む)


【課題】トンネル磁気抵抗効果膜を積層した積層体の加工をイオンミリング等で行なう場合、トンネル磁気抵抗効果膜を構成する材料の飛散物が、当該積層体の側壁等に付着したり、当該加工を行なう装置内を汚染する。従って、磁性記憶素子或いはこうした磁性記憶素子を搭載した半導体装置を安定的な特性で製造することが困難であった。
【解決手段】トンネル磁気抵抗効果膜の上部に配置した導体層の側壁に側壁スペーサを形成し、且つ側壁スペーサに、加工中のトンネル磁気抵抗効果膜を構成する材料の飛散物を付着させた後に、側壁スペーサを除去することで前記材料の付着物をも除去する。一種類の側壁スペーサを用いる方法と、2種類の側壁スペーサを用いる方法がしめされる。 (もっと読む)


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