【課題】 高画質な画像を得ることが可能な画像入力装置を提供することを目的とする。
【解決手段】 撮像素子１０は撮像した画像をアナログ信号としてＰＧＡ１１に順次出力する。メモリ１５は、あらかじめ撮像素子１０の欠陥画素情報（欠陥画素アドレス、補正ゲイン値、オフセット補正値、欠陥の種類）を格納している。制御部１４はメモリ１５に格納されている欠陥の種類に応じて、補正ゲイン値又はオフセット補正値を読み出し、制御信号としてＰＧＡ１１に出力する。ＰＧＡ１１は制御信号を受けて、適切なゲイン又はオフセットを設定し、入力された欠陥画素のアナログ信号を適切なゲインで増幅し、又はオフセット補正を行う。 （もっと読む）

【課題】欠陥画素の検出を必要時のみ行って迅速に撮影を行う。
【解決手段】温度センサ１２をＣＣＤ１１の近傍に設け、判定部３８が電源投入時又は投入後に、測定温度が予め決めた設定温度を超えている場合には、欠陥画素検出部３９に実行信号を送る。欠陥画素検出部３９は、実行信号を受け取ることに応答して欠陥画素の検出を行い、その結果をＥＥＰＲＯＭ３４に記録する。欠陥画素の検出結果を記録した後には撮影スタンバイとなり、撮影時には、ＥＥＰＲＯＭ３４に記録した欠陥画素データに基づいて、ＣＣＤから得た画像データを補正して記録する。 （もっと読む）

【課題】 個別の不揮発性メモリをもたないが、イメージセンサにおける画素の白点不良及び黒点不良を誤りなく検出することができる画像処理装置を提供する。
【解決手段】 画像処理装置は、イメージセンサから画素データが出力されると、その画素データに対応する画素が不良画素であるか否かを判定する判定部と、判定部によって不良画素であると判定された画素の画素アドレスと、その画素が判定部によって不良画素であると判定された判定回数とを記憶する記憶部と、判定回数が所定の回数を超えた画素を不良画素として決定する決定部と、決定部によって不良画素であると決定された画素に対応する画素データを所定の方法で補完して出力する補完部とを備える。 （もっと読む）

【課題】 画像検査において目視印象を反映できる固体撮像装置の検査方法を提供することを目的とする。
【解決手段】 暗時撮像状態で駆動した固体撮像装置より得られた元画像より平滑画像を作成し、元画像からこの平滑画像を減算し点欠陥画像の作成を行う。次に点欠陥画像の各画素出力を測定し、あらかじめ定めた階級に従って、その出力値を割り振り、階級毎に累積カウントしてゆき、画素出力の度数分布を作成する。次に度数ｆｉを非線形関数により、変換度数ｇｉを求め、変換度数ｇｉから変換総度数Ｎ’を算出する。階級の代表値ｘｉと変換度数ｇｉと変換総度数Ｎ’から変換平均値μ’を算出し、階級の代表値ｘｉと変換度数ｇｉと変換総度数Ｎ’と変換平均値μ’を標準偏差の算出式に代入し、変換標準偏差σ’を算出する。算出した変換標準偏差σ’を基準値と比較し、良否判定を行う。 （もっと読む）

【課題】 動画撮影や連写撮影中に温度検出や垂直ＣＣＤの傷レベルを検出を行わずに、Ｖライン傷の十分に補正された画像が得られる安価な撮像装置を実現する。
【解決手段】 撮影の支障にならないタイミングで垂直ＣＣＤで発生する傷レベルを検出し、各コマの画像の補正値を算出することによりＶライン傷の補正を行う。 （もっと読む）

【課題】 点滅欠陥を均一温度被写体の撮像をすることなしに検出する。
【解決手段】 ２次元的に配置された複数の画素から構成される赤外線固体撮像素子と、各々の前記画素について、前記画素が呈する出力を複数フレームに亘り積分して積分画素出力を算出するフレームメモリ積分器と、検出対象画素の周辺画素における前記積分画素出力の平均を算出する隣接画素平均値算出手段と、前記検出対象画素の前記積分画素出力の値と、前記検出対象画素の周辺画素における前記積分画素出力の平均の値との差分をとり、前記差分の値が予め設定した判定基準を上回った画素を以って点滅欠陥画素であると特定する周辺画素比較器と、前記周辺画素比較器により特定された点滅欠陥画素を含めた欠陥画素にかかる出力を他の画素の出力から導出した代替値により代替させる欠陥補正手段とを備えるようにした。 （もっと読む）

【課題】半導体Ｘ線検出器を、Ｘ線を投射せずに較正するシステム、方法及び装置を提供する。
【解決手段】システム１００は、半導体Ｘ線検出器１０４と該半導体Ｘ線検出器１０４のスクラバ１０２、バイアス調整器１０６および平面領域曝露シミュレータ１０８で構成する。半導体Ｘ線検出器１０４は、電気的にスクラビングされ、半導体Ｘ線検出器１０４の平面領域Ｘ線曝露が、該半導体Ｘ線検出器１０４の調整バイアスを基準にしてシミュレーションされる。シミュレーションにより、半導体Ｘ線検出器１０４のゲイン画像１１０が生成される。このゲイン画像は、次に半導体Ｘ線検出器１０４上にＸ線ビームを投射せずに該半導体Ｘ線検出器１０４を較正するのに使用される。 （もっと読む）

【課題】 シャッタチャンスを極力生かしつつ、欠陥のある撮影を抑えた撮影装置を提供する。
【解決手段】 上記目的を達成する本発明の撮影装置は、撮像素子の欠陥画素の位置データを記憶する記憶部１６６と、上記欠陥画素の画素データを修復する修復部１６５と、放射線量に相関のある物理量が所定の基準値を越えたか否かを判定して判定結果を記憶しておく判定部１６７と、上記欠陥画素を探索して上記記憶部１６６に記憶された欠陥画素の位置データを更新する欠陥探索部１６２と、電源投入操作を受けて上記判定部における判定結果を参照し、該判定結果が、上記物理量が所定の基準値を越えた旨の判定結果であったときに、上記欠陥探索部に欠陥画素の探索および欠陥画素の位置データの更新を行わさせ、しかる後に撮影操作を受け付けるシーケンス制御部１６１とを備えたことを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】Ｖライン傷のレベル検出を高速で行うことができる技術を提供する。
【解決手段】画像におけるＶライン傷の発生原因となる撮像センサ１６の電荷転送ラインの欠陥の位置情報を傷情報メモリ５４に記憶しておく。そして、撮像センサ１６の全画素に対応する信号電荷のうち、欠陥箇所に係る信号電荷を通常転送する一方で、欠陥箇所以外に係る信号電荷を高速転送して捨てることで、Ｖライン傷のレベルを検出するための信号電荷を読出す。 （もっと読む）

【課題】 欠陥画素の位置検出の回数を減らして電源の消耗を抑制することが可能な撮像装置を提供する。
【解決手段】 日時情報の設定を変更する変更操作が行われると、システムコントローラ４０は、位置検出部５１を制御して欠陥画素の位置を検出させる。その後、システムコントローラ４０は、位置検出部５１によって検出された欠陥画素の画素数と、位置情報記憶部５２に記憶された欠陥画素の画素数とを比較して、欠陥画素が増加したか否かの判定を行う。欠陥画素が増加していないと判定された場合、位置情報の更新処理を行わない。欠陥画素が増加したと判定された場合、システムコントローラ４０は、位置検出部５１によって検出された欠陥画素の位置情報に基づいて、位置情報記憶部５２に記憶された位置情報を更新する。 （もっと読む）

【課題】不良画素部の位置を目視にて容易に特定することが可能な固体撮像素子を提供する。
【解決手段】本発明の固体撮像素子は、フォトダイオード３０と、その上方に形成された開口部５、層内レンズ８、カラーフィルタ、及びマイクロレンズ１１等とを含めた画素部を多数有する構成であり、多数の画素部の一部を、該多数の画素部に含まれる不良画素部の固体撮像素子上での位置を目視で特定するための基点の目印となる目印用画素部としたことを特徴する。この構成により、目印用画素部を基点として不良画素部の位置を容易に特定することができ、固体撮像素子の不良解析を効率よく行うことができる。 （もっと読む）

【課題】 欠陥画素等のノイズ情報の検出処理を実行させるための操作を行う必要がなく、自動的にノイズ情報の検出処理が行われる撮像装置およびその制御方法を提供すること。
【解決手段】 撮像装置の動作モードが、撮像素子の光学面に付着した異物を除去するためのクリーニングモードに設定されると（ステップＳ５０５，ＹＥＳ）、そのクリーニングモードに設定されている間に、撮像素子から得られる信号に基づいてノイズ情報を検出する処理が実行される（ステップＳ５０８）。 （もっと読む）

【課題】 欠陥画素の検出に要する時間を短縮することが可能な欠陥画素検出方法を提供する。
【解決手段】 ＣＣＤ２０によって撮像された画像データから、ＣＣＤの所定画素（中心画素）から出力された画素データ、及び中心画素の周辺に位置する複数の周辺画素から出力された画素データを抽出して、これらの画素データの最大値、平均値、及び最小値を算出する。その後、各画素データが、これらのどの値に最も近いか比較して、中心画素及び周辺画素を最大値グループ、平均値グループ、及び最小値グループの３グループにグループ分けする。中心画素が、最大値グループに属する場合、周辺画素が属するグループ、及びこのグループに含まれる周辺画素の画素数に基づいて、中心画素が欠陥画素であるか否かを判定する。 （もっと読む）

【課題】 固体撮像素子の固定パターンノイズを容易に検出可能な検査方法を提供する。
【解決手段】 検査用の照明光の照射によって固体撮像素子が生成する画像信号を取得し、その画像信号が示す全体画像に対する、複数の部分画像をそれぞれ同じ画像サイズで生成する。そして、これら部分画像に対し、画像サイズが変わらないように反転、回転等の処理を施してから、これら部分画像を例えば平均化して基準画像を生成後、複数の部分画像に対し、基準画像との差分に相当する検査画像をそれぞれ生成する。ここで仮に固定パターンノイズが全くないとすれば、基準画像は均一な画像となり、検査画像はどれも均一に黒レベルとなる。即ち、検査画像では、正常な画素が黒レベルとなり、ノイズの部分だけ信号レベルが大きく異なるものとなる。従って、検査画像を用いれば、固定パターンノイズを容易に検出できる。 （もっと読む）

【課題】補正できない白キズが発生する電子カメラが出荷されるのを防止すること、および電子カメラで撮影された画像に白キズが出ないようにすること。
【解決手段】検査工程で補正可能な白キズが発生するとされたデジタルカメラ１のフラッシュメモリ２０ｄには、白キズを補正するための白キズ補正情報が記録されている。この情報は、白キズにかかる画素の座標と当該画素を補正するために用いる補正用画素の座標とから構成される。フラッシュメモリ２０ｄに白キズ補正情報が記録されており、且つＣＣＤ型撮像素子１３の温度が所定値以上である場合、制御部２０は、バッファメモリ１６に書き込まれたＲＡＷ形式の画像データ中の白キズにかかる画素のデータを補正用画素のデータを用いて補正する。 （もっと読む）

【課題】注目画素とその周辺画素との値の比較によって欠陥検出を行うと、高周波成分をもった被写体の場合に、本来画像に伴う画素値の変化であるにも拘わらず、画素欠陥として誤検出してしまったり、あるいは高周波成分が失われてしまったりする。
【解決手段】相関検出回路１５１には、イメージセンサ１２の撮像中に注目画素とその周辺画素との相関により、欠陥画素の候補となる画素のアドレスを検出する動作を複数フレームに亘って行い、手振れ検出器１５５による手振れの発生の検出を条件として、確定回路１５６において、複数フレームの相互間でアドレスが一致する画素を欠陥画素と確定することで、高周波成分をもった被写体、具体的には画素単位で変化する細かい画像の場合にも高精度にて欠陥画素を検出するようにする。 （もっと読む）

【課題】カメラの作動状態でＣＣＤの白キズ検出を可能とする。
【解決手段】白キズ検出モードでなければ（Ｓ１０１）、メモリの白キズ位置情報をチェックし、白キズ補正回路で白キズ補正を行う（Ｓ１１２）。白キズ検出モードであれば、輝度信号のレベルを比較し（Ｓ１０２）、ＡＧＣ回路からの利得データを検出し（Ｓ１０３）、温度検出センサから撮像素子の温度データを取得する（Ｓ１０４）。これらのデータに基づいて、欠陥画素検出スレッショルドレベルを算出する（Ｓ１０５）。検出回数が所定回数に達していなければ（Ｓ１０６）、白キズ検出回路で白キズ画素検出を行い（Ｓ１０７）、検出された欠陥画素位置の仮記憶を行う（Ｓ１０８）。パンニング、チルティングを行い（Ｓ１０９）、Ｓ１０３に戻り次の検出を行う。検出回数が所定回数に達した場合に、検出毎の検出画素位置・レベルを比較し（Ｓ１１０）、一致していれば画素欠陥と判定し、メモリへの書き込みを行い（Ｓ１１１）、白キズ補正を行う（Ｓ１１２）。 （もっと読む）

【課題】 今後の撮像における対応を簡易にとることができて、撮像の不良の目安を簡易に判明することができる放射線撮像装置および放射線検出信号処理方法を提供することを目的とする。
【解決手段】 欠損画素を検出し（ステップＳ１）、その欠損画素が、今回で新たに発生・検出された画素で、過去に検出された既存の欠損画素に近接する、またはその既存の欠損画素に依存しないか否かを判定する（ステップＳ２〜Ｓ４）。もし、新たに検出された画素であれば、各画素の位置情報に基づいて互いに別の欠損画素群として、その検出された画素を区別する（ステップＳ５ａ，５ｂ）。このように、既存の欠損画素に近接した欠損画素と、既存の欠損画素に依存しない欠損画素とを互いに区別するので、今後の撮像における対応をとることができて、撮像の不良の目安を簡易に判明することができる。 （もっと読む）

【課題】デジタルカメラの撮像素子欠陥により生じた撮影画像の点欠陥や線欠陥を補間する。
【解決手段】デジタルカメラの欠陥補正回路７６は、撮影画像の点キズや縦線キズ、横線キズを同時並行して補正する。点キズと縦線キズとが隣接して存在することを考慮し、欠陥補正回路７６は補正すべき注目画素の周囲の画素を用いた所定の差分演算を実行し、差分演算値の大小比較に応じて補間パターンを決定する。また、欠陥補正回路７６は点キズと線キズの隣接パターンに応じて予め用意された補間パターンから選択して補間する。隣接パターンは欠陥デコード回路７８で検出する。 （もっと読む）

【課題】画像センサの画素欠陥の検出および補正処理、カラー画像センサ出力のデモザイク処理において、従来方法では画素ごとの色や感度の違いに起因して正しく復元できなかった画像の高周波成分を復元する。
【解決手段】 撮像部１２１は同じシーンに対して２回の撮像を行う。同じシーンに対して撮像される２枚のセンサ出力画像は、１枚は通常の設定で撮像した通常撮影センサ出力１２３であり、もう１枚は光学的にぼかした設定で撮像したぼかし撮影センサ出力１２４である。そして信号処理部１２２は撮像された２枚のセンサ出力画像をもとに、異常画素の検出/補正およびデモザイク処理をおこなうことによって、画素ごとの色や感度の違いによらない補間処理が可能となり、その結果元信号の高周波成分の復元が可能となる。本発明は、ディジタルスチルカメラ等に適用することができる。 （もっと読む）