【課題】ＲＴＳノイズに起因する欠陥画素検出を短い時間で検出することを課題とする。
【解決手段】入射光を電荷に変換する光電変換部（２）と、入力部の電位に基づく信号を出力する増幅部（３）と、前記光電変換部に保持された電荷を前記増幅部の入力部へ転送する転送部（４）と、前記増幅部の入力部の電位をリセットするリセット部（５）とを有する画素部（１）と、前記画素部から出力される出力信号に対してバッファ動作するバッファ部（１０）と、前記出力信号を蓄積するメモリ部（１２）とを有する固体撮像装置であって、前記バッファ部は、前記出力信号に対してバッファ動作する第１のモードと、前記出力信号の一定期間における最大値又は最小値を検出する第２のモードと、を切り替える切り替え手段を有することを特徴とする固体撮像装置が提供される。 （もっと読む）

【課題】無遮光では欠陥画素位置を検出できないうえに高周波成分が過補正さる。
【解決手段】検出手段１０１が、撮像素子１０７の各画素とその周辺画素との間の信号差分に基づいて複数の画素の中から欠陥画素候補を検出する処理を、１または複数のフレーム毎に行う。記憶手段１０５が、検出手段１０１が順次検出する欠陥画素候補の画素位置を検出毎に記憶する。測定手段１０３が、検出手段１０１が順次検出する欠陥画素候補の画素位置を記憶手段１０５から読み出して、各画素が前記欠陥画素候補として検出される検出回数を画素毎に計測する。判定手段１０４が、検出回数に基づいて各画素が欠陥画素であるか否かを判定する。補正手段１０６,１１９が、欠陥画素と判定される画素の画素データをその周辺画素の画素データに基づいて補正する。 （もっと読む）

【課題】複数の撮影装置のうち、特定の撮影装置の集中的な使用を支援することができる管理装置及びプログラムを提供する。
【解決手段】各々患者を透過した放射線を検出する放射線検出器３６を有し、当該放射線検出器３６により検出された放射線量に応じた放射線画像を示す画像情報を生成し、当該画像情報をラインメモリ８０に記憶することにより撮影を行う複数の電子カセッテ２０と、複数の電子カセッテ２０の各々の放射線検出器３６の劣化度を数値化するカセッテ制御部８２と、を備える。 （もっと読む）

【課題】第３放射線画像を高画質に維持しつつ、欠陥画素の補正処理にかかる時間を短縮することが可能となる放射線撮像装置及び画像補正方法を提供する。
【解決手段】放射線撮像装置の画像補正部は、第１放射線画像３２ａ及び第２放射線画像３２ｂのうち、第１放射線画像３２ａに欠陥画素３４ａが存在する場合に、該欠陥画素３４ａに対応する第２放射線画像３２ｂの正常な画素３４ｂの画素値を用いて、該欠陥画素３４ａの画素値を補正する。 （もっと読む）

【課題】 定常的に異常出力となる定常欠陥画素と、正規の出力と異常出力とが非定常的に出力される点滅特性を持つ点滅欠陥画素の両者を、精度良く検出することが困難であった。
【解決手段】 定常欠陥画素と点滅欠陥画素で、ダーク画像信号の蓄積時間やダーク画像信号の生成回数など、欠陥画素を検出するための条件を互いに異なる状況に設定して、それぞれの欠陥画素の検出を行う。 （もっと読む）

【課題】放射線検出素子が欠陥画素か否かを的確に判定し、特に放射線画像検出器を乳房撮影において微小石灰化の病変を的確に検出可能な状態とすることが可能な欠陥画素判定システムを提供する。
【解決手段】欠陥画素判定システム３０は、複数の放射線検出素子（ｘ，ｙ）と画像データ取得手段４、５、６と通信手段３とを備える放射線画像検出器１と、放射線発生装置３４と、欠陥画素判定装置３１とを備え、欠陥画素判定装置３１は、判定開始を指示する信号が入力されると、被写体が存在しない状態で放射線発生装置３４から放射線画像検出器１に放射線を照射させ、放射線画像検出器１の各放射線検出素子（ｘ，ｙ）から出力された各実写画像データＦ（ｘ，ｙ）を送信させ、実写画像データＦ（ｘ，ｙ）が予め設定された閾値Ｖ´thを越えた回数が予め設定された回数以上になった場合に当該放射線検出素子（ｘ，ｙ）を欠陥画素と判定する。 （もっと読む）

【課題】放射線検出素子が欠陥画素か否かを自動的にかつ的確に判定することが可能な放射線画像検出器、欠陥画素判定システム及び欠陥画素判定プログラムを提供する。
【解決手段】放射線画像検出器１は、２次元状に配置された複数の放射線検出素子１４と、被写体を透過した放射線に基づく実写画像データＦ（ｘ，ｙ）を複数の放射線検出素子１４から取得し、放射線が照射されない状態で行われるダーク読取では複数の放射線検出素子１４からダーク読取値ｄ_ｍ（ｘ，ｙ）を取得する画像データ取得手段４、５、６と、ダーク読取を所定回数行い、所定回数のダーク読取において各放射線検出素子１４から出力された各ダーク読取値ｄ_ｍ（ｘ，ｙ）に基づいて各放射線検出素子１４が欠陥画素か否かの判定を行う判定手段６と、判定の開始を指示する欠陥判定信号が入力されると、判定を開始するように判定手段６を制御する制御手段６とを備える。 （もっと読む）

【課題】放射線画像検出器の放射線検出素子が異常画素や欠陥画素であるか否かを的確に判定することが可能な異常画素判定方法を提供する。
【解決手段】放射線画像撮影では実写画像データＦ（ｘ，ｙ）を出力し、ダーク読取ではダーク読取値Ｄ（ｘ，ｙ）を出力する複数の放射線検出素子（ｘ，ｙ）を備える放射線画像検出器１における異常画素判定方法であって、一の放射線検出素子（ｘ，ｙ）から、放射線画像撮影で出力された実写画像データＦ（ｘ，ｙ）又は放射線画像撮影の前又は後に少なくとも１回行われたダーク読取で出力されたダーク読取値Ｄ（ｘ，ｙ）と、その放射線検出素子（ｘ，ｙ）に予め対応付けられた複数の放射線検出素子から出力された実写画像データＦ（ｘ´，ｙ´）又はダーク読取値Ｄ（ｘ´，ｙ´）とに基づいて、一の放射線検出素子（ｘ，ｙ）が異常画素であるか否かを判定する。 （もっと読む）

【課題】本発明は、ＣＭＯＳ型イメージセンサにおいて、高精度の欠陥画素補正処理を実現できるようにする。
【解決手段】たとえば、キズ画素を検出してキズ補正処理を実行するキズ補正回路において、キズ画素判定回路３２により、判定画素Ｇ０がキズ画素か判定する。キズ画素の場合は、キズ画素置換処理回路により、保存してある画像パターンに応じて、判定画素Ｇ０の信号を置換する。良品画素の場合は、パターン抽出回路にて、画像パターンを新たに抽出し、保存する。キズ画素判定回路３２は、レベルの大小順に並び替えた各信号が、標準偏差想定レベルＫＫにもとづいて設定される、白キズ判定レベルＫｉｚＷよりも大きい場合に白キズと判定し、黒キズ判定レベルＫｉｚＢよりも小さい場合に黒キズと判定する。 （もっと読む）

【課題】使用メモリの増加量を最小限に抑えながら連続キズの検出が可能となる撮像装置を提供する。
【解決手段】撮像装置は、複数の画素から構成される撮像素子を有し、被写体からの光を映像信号に変換する撮像部と、撮像部からの映像信号をデジタル映像信号に変換するＡ／Ｄ変換部と、Ａ／Ｄ変換部からのデジタル映像信号を１ライン分記録する第１ラインメモリ部と、第１ラインメモリ部からのデジタル映像信号を１ライン分記録する第２ラインメモリ部と、を備える。さらに、撮像装置は、デジタル映像信号より形成される画像の連続キズ候補の状態を記録するフラグメモリ部と、Ａ／Ｄ変換部、第１ラインメモリ部、第２ラインメモリ部から、それぞれ、出力されるデジタル映像信号と、フラグメモリ部の連続キズ候補の状態を示すデータとから、撮像素子を構成する画素が欠陥画素（キズ）であるか否かの判断を行うキズ判断処理部と、を備える。 （もっと読む）

【課題】使用環境等で変化する画素欠陥を高い精度で検出及び補正することを可能にした欠陥検出補正装置を提供できるようにする。
【解決手段】撮像素子における所定の画素の欠陥に起因して発生する欠陥レベルを所定の画素において算出する欠陥レベル算出手段と、前記所定の画素がＯＢ部、あるいは、Ｎｕｌｌ部であるか否かを判別する画素種判別手段と、前記画素種判別手段の判別結果に応じて欠陥検出閾値を設定するレベル設定手段と、前記所定の画素が欠陥画素であるか否かを判定する判定手段と、前記判定手段により欠陥画素であると判定された画素の信号レベルを補正する補正手段とを設け、画素種に応じて設定された欠陥検出閾値で画素欠陥を行うことができるようにする。 （もっと読む）

【課題】フレームメモリを用いなくても、欠陥画素を検出すること。
【解決手段】欠陥画素検出部１１は、撮像素子に含まれる所定数以上のラインの画素毎に出力されるデジタル画像信号の画素値を指定した範囲毎に記憶するメモリ１２を備える。また、メモリ１２から読み出したデジタル画像信号の画素値と、撮像素子から出力されるデジタル画像信号の画素値を、ライン毎に同期加算する加算部２１を備える。また、ライン毎に同期加算されたデジタル画像信号の画素値に基づいて、撮像素子に含まれる画素の欠陥を欠陥画素として検出する検出部２４を備える。また、所定の処理回路でメモリ１２が用いられる場合に、２次元フィルタ２３及び検出部２４が行う処理を停止し、所定の処理回路でメモリ１２が用いられない場合に、２次元フィルタ２３及び検出部２４による処理を実行させる制御を行う制御部８と、を備える。 （もっと読む）

不良ピクセルクラスタ検出のシステムおよび方法が開示される。特定の実施形態では、画像データを受信するために結合され、不良ピクセルクラスタ検出プロセスを実行するように適合された不良ピクセル補正モジュールを備えるシステムが開示される。該不良ピクセル補正モジュールは、２つのテストピクセルが、周囲ピクセルのグループの代表値をしきい値よりも多い量だけ超える値を有するかどうかを決定するためのロジックを含む。該しきい値はテーブルルックアップを介して決定される。 （もっと読む）

【課題】点滅性欠陥を有する画素の検出精度を向上するとともに、点滅性欠陥を有する画素を検出するための時間を短縮する。
【解決手段】撮像装置は、複数の画素が配列された画素配列と、前記画素配列から信号を読み出す読み出し部と、前記画素配列が遮光された状態で前記画素配列から前記読み出し部により読み出された信号を用いて、前記画素配列における欠陥画素を検出する検出手段と、前記検出手段により検出された欠陥画素の信号を、前記検出された欠陥画素に隣接する画素の信号を用いて補間する補間手段とを備え、前記読み出し部は、前記検出手段による欠陥画素の検出を行うための検出モードにおいて、１フレーム期間中に前記画素配列から欠陥が発生しやすい条件で信号を読み出す。 （もっと読む）

【課題】点滅欠陥を有する画素の検出精度を向上し、検出するための時間も短縮する。
【解決手段】撮像装置は、光電変換部と、電荷電圧変換部と、光電変換部で発生した電荷を前記電荷電圧変換部へ転送する転送部と、電荷電圧変換部に対するリセット部と、電荷電圧変換部の電圧信号を出力する出力部とをそれぞれ含む複数の画素の配列と、画素配列を駆動する駆動部と、画素配列の出力信号から欠陥画素を検出する手段と、検出された欠陥画素の信号を隣接する画素の信号を用いて補間する補間手段とをもつ。駆動部は、欠陥画素の検出を行うための検出モードにおいて、１フレーム期間中に、転送部が光電変換部の電荷を電荷電圧変換部へ転送しないように、かつ、電荷電圧変換部がリセットされた状態で出力部が電荷電圧変換部の電圧に応じた信号を複数回出力するように、各画素を駆動する。 （もっと読む）

【課題】記憶部に格納する画像データの欠陥画素に対応する画素値を特定値に置き換えることで、画像データを小領域の処理単位で処理する際のオーバーヘッドを減少させる。
【解決手段】本発明の画素欠陥補正装置は、記憶部２に格納する前に画像データのうち特定の画素の画素値を第１の特定値に変更するデータ変更部５とを備え、記憶部２に格納する画像データのうち、欠陥位置記憶部３に記憶した欠陥画素の位置情報に基づいて欠陥位置検出部４が検出した欠陥画素に対応する画素の画素値をデータ変更部５により前記第１の特定値に変更し、画像処理部６の画像処理のため記憶部２から部分領域を分割読み出しした画像データにおいて、欠陥補正部７に入力した画像データの画素値が前記第１の特定値である場合、欠陥画素に対応する画像データであると判定して欠陥補正部７により前記欠陥画素に対応する画像データの補正を行う。 （もっと読む）

【課題】高速かつ高精度に欠陥画素を判定すること。
【解決手段】欠陥画素処理装置５は、撮像素子３から出力される各画素Ａｎの画素データＤｎと閾値Ｔｈ１、Ｔｈ２とを比較して、各画素Ａｎが欠陥候補画素Ａｍであるか否かを判定する第１判定手段５ａと、第１判定手段５ａにより判定された欠陥候補画素Ａｍの画素データＤｍと、欠陥候補画素Ａｍ周辺の画素Ａｍｎの画素データＤｍｎと、を比較して、欠陥候補画素Ａｍが欠陥画素Ａｋであるか否かを判定する第２判定手段５ｂと、を備えている。 （もっと読む）

【課題】注目画素の色に依存することなくエッジの検出精度を高めることが可能で、また、欠陥補正系の回路規模の増大を抑えることが可能な欠陥画素補正装置、撮像装置、欠陥画素補正方法、およびプログラムを提供する。
【解決手段】所定サイズに配列された撮像画像データを受けて注目画素と周辺画素のレベルを基に、注目画素が欠陥であるか否かを検出し判定する欠陥検出部１４２と、所定サイズに配列された画像データを基に、所定サイズの輝度データを算出する輝度算出部１４３と、輝度算出部で算出された輝度データを基に、複数の方向についてエッジ検出を行い、エッジ検出結果に基づいて補正を行う方向を決定する方向検出部１４４と、方向検出部で決定された補正方向にある同色画素を用いて、欠陥検出部で欠陥と判定された注目画素の補正を行う欠陥補正部１４５とを有する。 （もっと読む）

【課題】撮像装置において、出荷当初に判明した欠陥は固定的な機能の欠陥補正回路で対応が可能であるが、経年使用による後天的な欠陥に対応することができない。そこで再構成ロジック装置が適用を考えられるが、回路規模が増大になる課題がある。
【解決手段】動的構成制御装置１０１を用いることで、再構成ロジック装置１０５を撮像素子に対して時分割、かつ空間的に分割適用することで低コスト化を実現しつつも、従来対応できなかった後天性の欠陥補間への対応や、ゴミは機構的に取り除いていた機構的なシステムを搭載せずに対応が可能となる。 （もっと読む）

【課題】撮像素子の全画素に関する後発的欠陥画素の検出を的確に行える撮像装置の技術を提供する。
【解決手段】撮像装置では、撮像素子の撮像面を領域分割して得られた複数の分割領域それぞれに属する画素群ごとに欠陥画素の検出が可能である。この撮像装置が起動される際には、まず各分割領域毎に欠陥画素検出に関する直近の検査完了日時から現時点までの経過期間を算出する（ステップＳ１）。次に、一定期間(例えば１週間)が経過した分割領域がある場合には、この分割領域を検査対象領域に設定する一方、一定期間が経過した分割領域がない場合には、検査完了日時が最も古い分割領域を検査対象領域に設定する（ステップＳ２〜４）。そして、検査対象領域に対しての欠陥画素検出を行う（ステップＳ７）。以上のような撮像装置の動作により、撮像素子の全画素に関する後発的欠陥画素の検出を的確に行える。 （もっと読む）