【課題】 変換膜の特性による欠損や、変換膜の特性の経時的な変化に起因する欠損を正確に検出することができる二次元アレイＸ線検出器における欠損画素の検出方法を提供すること。
【解決手段】 第１暗電流値測定工程と、第１リーク電流値測定工程と、第１暗電流値と第１リーク電流値の差分値を第１差分値として演算する第１差分値演算工程と、第２暗電流値測定工程と、第２リーク電流値測定工程と、第２暗電流値と第２リーク電流値の差分値を第２差分値として演算する第２差分値演算工程と、第１差分値と第２差分値とに基づいて、変換膜の特性の経時的変化により生じた欠損画素を判定する経時欠損判定工程とを備える。 （もっと読む）

【課題】ノイズリダクションを行う際、暗電流ノイズが発生しても精度の良い欠陥検出を行うこと、また暗電流ノイズの増加による撮像ダイナミックレンジの低下をできるだけ防ぐことが可能な撮像装置、該撮像装置によるノイズ除去方法およびノイズ除去プログラムを提供すること。
【解決手段】被写体を撮像するための複数の画素を有する撮像手段と、非遮光状態で得られる明時信号を取得する明時信号取得手段と、遮光状態で得られる暗時信号を取得する暗時信号取得手段と、得られる明時信号または暗時信号を増幅する第１の増幅手段と、取得された明時信号から取得された暗時信号を減算して減算信号を出力する減算手段と、減算された減算信号を増幅する第２の増幅手段と、明時信号を取得する際の撮像条件を取得する撮像条件取得手段と、取得した撮像条件に基づいて、第１の増幅手段及び第２の増幅手段のゲインを変更するゲイン補正手段を備える。 （もっと読む）

【課題】撮像画像における被写体の再現性を大きく損なうことなく、固体撮像素子の欠陥画素に起因して生じる白キズを補正する技術を提供する。
【解決手段】固体撮像素子を遮光しかつ一定の露光時間で撮像を行った場合において、固体撮像素子の複数の画素の各々を注目画素とし、当該注目画素の周辺画素の画素値の平均値と当該注目画素の画素値との差分から当該注目画素が撮像画像にて白キズとなって現れる欠陥画素であるか否かを判定する。そして、欠陥画像である場合には、固体撮像素子の撮像面における当該注目画素の位置を示す位置情報を記憶する。一方、利用者により指定された露光時間での撮像を行う際には、当該位置情報の示す欠陥画素については、当該欠陥画素の原画素値と周辺画素の画素値の平均値とを露光時間に応じた比率（露光時間が短いほど前者の比率が高い）で重み付け平均した値に置き換えて画素値を補正する。 （もっと読む）

【課題】 常時異常の画素か、一時異常の画素かに対応して、空間的な補正を行うか、時間的な補正を行うかを、選択すること。
【解決手段】 Ｘ線を照射するＸ線照射部と、Ｘ線照射部により照射された被検体のＸ線画像を検出するＸ線検出部と、を有するＸ線画像撮影装置は、Ｘ線画像のうち画素値が常に異常となる画素を、位置に依存した欠陥として検出し、Ｘ線画像における欠陥の位置情報を取得する第一の欠陥検出部と、Ｘ線画像のうち画素値が時間の経過に依存して一時的に異常となる画素を欠陥として検出する第二の欠陥検出部と、第二の欠陥検出部により異常が検出された画素の画素値を補正するための補正方法を、撮影条件を示す情報に基づき決定する決定部を備える。 （もっと読む）

【課題】 短時間でその大きさが大きくなる成長性を有する欠損画素を検出することが可能な二次元アレイＸ線検出器における欠損画素の検出方法および欠損画素の検出装置を提供する。
【解決手段】 フラットパネルディテクタに対してＸ線を照射しない状態における各画素の画素値を測定する暗電流値測定と、この暗電流値測定で測定した各画素の暗電流値が、予め記憶部に記憶した正常な画像の画素値の４．５倍以上となる画素を欠陥画素と判定する判定工程とを備える。 （もっと読む）

【課題】混色が発生する画素においても、欠陥補正を適切に行うことができ、画質低下を抑制することが可能な画像処理装置、画像処理方法及びプログラムを提供すること。
【解決手段】撮像素子の複数の画素のうち電気信号の出力が不適切な欠陥画素の位置及び本来の色を検出する欠陥画素検出部と、欠陥画素と同じ色を有する画素であり、かつ、周辺画素の色配置が、検出された欠陥画素の周辺画素の色配置と同一である同色画素を検出する同色画素検出部と、同色画素の画素値を用いて、欠陥画素の第一の補正画素値を算出する補正画素値算出部と、第一の補正画素値を用いて混色補正をする混色補正部とを有することを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】診断に障害となるアーチファクトの生起がなく歩留まりが向上した２次元画像検出装置の供給を可能にする。
【解決手段】２次元画像検出装置２の良否を判定する基準である判定欠陥画素数および判定欠陥サイズの値について、頻繁に診断に使用される画像中央部より使用頻度の少ない画像周辺部で大きな値とすることにより、歩留まりを良好に維持すると同時にアーチファクトの生起がない２次元画像検出装置２の供給が可能である。 （もっと読む）

【課題】放射線画像検出器の欠陥画素を適正に検出し、かつ、過補正を抑制できる欠陥画素検出方法および放射線画像撮影装置を提供する。
【解決手段】欠陥画素の検出用画像から第１の閾値を用いて仮の欠陥を検出し、検出した欠陥画素について、長尺な欠陥と、それ以外との欠陥とに分類し、長尺な欠陥には第１の閾値以上の第２の閾値を、それ以外の欠陥には第１の閾値よりも大きな第３閾値を対応して、検出用画像から欠陥画素を再検出し、第２の閾値で検出した欠陥画素に関して、所定の閾値を超える長さの欠陥には、補正を行なわない情報を付すことにより、前記課題を解決する。 （もっと読む）

デジタルビデオカメラの欠陥画素を判断する欠陥画素テスタである。このテスタはビデオ入力部とメモリとコントローラとを有する。ビデオ入力部は、デジタルビデオカメラからビデオフレームを受け取る。各ビデオフレームは複数の画素値により画定される。メモリはキャプチャしたビデオフレームと画素テスト結果を記憶する。コントローラは、異なるビデオフレームから対応する画素値の差分値を生成し、差分値と閾値との比較に基づき画素テスト結果を生成し、画素テスト結果をメモリに記憶する。
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【課題】 多視点の撮像装置において、大きな領域の画素欠陥を良好に補正する。
【解決手段】Ｓ１では、第１撮像部２ａまたは第２撮像部２ｂの撮像した画像である補正対象画像Ｉ１から、欠陥領域を特定する。Ｓ２では、欠陥領域を包含する所定形状の領域を探索領域とする。次に、第２撮像部２ｂ（基準撮像系）の撮像した画像である基準画像Ｉ２のうち、第１撮像部１ｂ・第２撮像部２ｂの撮像範囲が融合する共通領域を走査して、探索領域の欠陥領域以外の部分領域の色情報と一致する色情報を有する基準画像内の領域（対応領域）を探索する。Ｓ３では、基準画像Ｉ２から対応領域を抽出する。Ｓ４では、欠陥領域を対応領域で置換することで補正対象画像Ｉ１を補正する。 （もっと読む）

【課題】 本発明の課題は、製造過程および製造後に発生した撮像素子の欠陥を適正に、且つ、速写性を落とすことなく補正し、好適な画像を得られる画像処理装置及び画像処理方法を提供することである。
【解決手段】 予め検出・記憶されている欠陥画素（不使用画素）データと、リアルタイムで欠陥画素を検出する欠陥画素検出手段を備えた画像処理装置において、リアルタイムの検出は、周辺（同色）画素の出力と比較した値から判定値を算出する判定値算出機能を備える。該検出手段は、判定値算出に使用する画素内に、予め記憶されている欠陥画素が存在するか否かの判定を行い、欠陥画素が存在する場合、該判定値算出対象から除外する。 （もっと読む）

【課題】高周波成分をもった被写体に対しても高精度にて対応可能な欠陥検出装置および欠陥検出方法、ならびに欠陥検出装置を用いた撮像装置を提供する。
【解決手段】固体撮像素子の注目画素とその周辺画素との相関をとることによって欠陥画素を検出する候補画素検出手段（相関検出回路１５１）と、固体撮像素子の出力信号から高周波成分の被写体を検出する高周波検出手段（ＨＰＦ１５７）と、高周波検出手段によって高周波成分の被写体が検出されたとき、候補画素検出手段の検出基準を高くする制御手段（制御回路１５８）とを備える。 （もっと読む）

【課題】後発縦線キズにも対応可能な、撮影条件によらない精度よい縦線キズ補正を実現する。
【解決手段】第１の画素群と第２の画素群とに蓄積された信号電荷を個別に読み出すことが可能な撮像素子を用いて、第１の画素群と第２の画素群とに第１の所定時間の露光を行い、第１の画素群から露光時間が第１の所定時間である第１の画像を取得し、第２の画素群から露光時間が第１の所定時間より短い第２の所定時間である第２の画像と、露光時間が少なくとも第１の所定時間と前記第２の所定時間との差分以下の第３の所定時間である第３の画像を取得し、第３の画像に基づいて撮像素子の縦線キズの情報を検出し、縦線キズの情報に基づいて第１の画像の縦線キズと第２の画像の縦線キズとを補正する。 （もっと読む）

【課題】 撮像素子の交換が容易な撮像装置を提供する。
【解決手段】 撮像装置は、導電性を有する基台と、撮像素子と、前記基台と前記撮像素子とを固定するための固定部材と、を有し、前記基台と前記撮像素子は、前記固定部材側の表面に導電部を夫々有し、前記固定部材は、通電によって前記基台と前記撮像素子とを分離するための剥離可能樹脂であり、前記基台の前記導電部の領域は、前記固定部材の前記基台との固定領域より広い構成を有する。 （もっと読む）

【課題】簡易な手段で撮像素子の温度を測定する。
【解決手段】光電変換により画像情報を取得可能な撮像素子アレイ１と、撮像素子アレイ１からの信号電荷を増幅して読み出す増幅器２と、増幅器２からの出力をデジタル変換するＡ／Ｄ変換器３と、Ａ／Ｄ変換器３からのデジタルデータから、白点画素数の温度依存性を用いて温度を検出する温度算出部４とを備えた撮像モジュール１０において、得られる暗時撮像信号のデジタルデータから、指定したデジタル値以上の画素数をカウントし、カウント値に基づいて温度を測定する。 （もっと読む）

【課題】垂直方向に隣接する同色の画素を加算して読み出す場合に一時的に保持するバッファも必要ない欠陥補正回路及びそれを備えた撮像装置を提供すること。
【解決手段】 固体撮像素子の欠陥画素のアドレスを記憶する記憶部と、固体撮像素子から読み出す画素信号に対応した画素のアドレスと欠陥画素のアドレスを比較し、アドレスが一致した画素が出力する画素信号を補正する欠陥画素補正部とを備え、固体撮像素子は、垂直方向の同色ｋ画素で加算出力可能とし、記記憶部は、同色ｋ画素のそれぞれに対応して欠陥画素のアドレスを記憶するｋ個の記憶素子３５−１〜３５−ｋを設けた。 （もっと読む）

【課題】別途補正用の画像を撮影することなく、経時変化による新たな線状欠陥であっても、温度依存を有する線状欠陥を精度よく検出して補正する。
【解決手段】撮像時に撮像素子を所定時間露光させた後にメカニカルシャッタを閉じ、メカニカルシャッタが閉じている期間に、複数の受光素子に蓄積された信号電荷を垂直転送路に読み出さずに、垂直転送路及び水平転送路を駆動して補正用画像を取得し、メカニカルシャッタが閉じている期間に、複数の受光素子に蓄積された信号電荷を垂直転送路に読み出し、垂直転送路及び水平転送路を駆動して撮影画像を取得し、取得した補正用画像に基づいて前記垂直転送路上の線状欠陥の情報を抽出し、抽出した線状欠陥の情報に基づいて前記取得した撮影画像を補正する。 （もっと読む）

【課題】従来の固体撮像装置においては、画素加算され読み出された映像信号を、読出し後の隣接画素を用いて補正を行うため、不自然さを抱かせる補正が行われるという課題があった。
【解決手段】固体撮像素子１１０１からの複数の画素信号を加算した信号を出力する画素加算部１１０５と、固体撮像素子１１０１における画素欠陥の位置情報を記憶した記憶部１１０２と、画素加算部１１１０５において画素する加算数と、加算する画素に含まれる欠陥画素数と、加算後出力される画素に含まれる欠陥信号レベル、を用いることにより、画素加算により読み出された映像信号の欠陥を補正する欠陥画素補正部とを備え、注目画素の読み出し後の隣接画素を用いることなく補正処理を行なうようにしている。 （もっと読む）

【課題】単独欠陥の検出であっても連続欠陥の検出であっても容易に検出することができる信号処理回路及びそれを備えた撮像装置を提供すること。
【解決手段】固体撮像素子１０における複数の画素のうち１個の画素を欠陥検出対象とし、当該欠陥検出対象画素から出力される画素信号と当該欠陥検出対象画素に隣接する同色の少なくとも２つの隣接同色画素から出力される画素信号との信号レベル差が基準閾値を超えたときに欠陥検出対象画素を欠陥画素と判定する第１欠陥検出部３１と、固体撮像素子１０の複数の画素のうち同色の隣接するｎ個（ｎは２以上の整数）の画素を欠陥検出対象画素群とし、当該欠陥検出対象画素群の画素から出力される画素信号の信号レベルと当該欠陥検出対象画素群に隣接する同色の少なくとも２つの隣接同色画素から出力される画素信号との信号レベル差が基準閾値を超える画素を欠陥画素と判定する第２欠陥検出部３２とを備える。 （もっと読む）

【課題】恒温槽等を要することなく、温度変化に伴う欠陥画素の個数変化にも対応して固体撮像素子の欠陥画素を検出することができるシステム等を提供する。
【解決手段】複数の画素を有する撮像素子２と、撮像素子２を駆動する撮像素子駆動回路３と、撮像素子２の温度を検出する温度検出部４と、検出される撮像素子２の温度が２種類以上の所定の温度となるように撮像素子２の駆動を制御し、各所定温度で撮像素子２から読み出された複数の画像信号に基づいて各所定温度毎の画素欠陥情報を検出するシステム制御部１０およびＰＣ２０と、各所定温度と、各所定温度で得られた画素欠陥情報と、を対応付けて記録するメモリ５と、を備えた撮像素子の画素欠陥検出システム。 （もっと読む）