【課題】撮像素子のＲＡＷ形式のデータを用いて色毎に拡大または縮小するシステムにおいて、撮像素子の欠陥画素補正に適した撮像素子欠陥画素補正装置を提供する。
【解決手段】撮像素子１０の欠陥画素を検出する欠陥画素検出回路１６と、欠陥画素検出情報の位置アドレスを保持するアドレス保持回路１５と、各画素の位相を検出し位相情報を出力する位相検出回路１４と、位置アドレスと位相情報から画素単位で係数テーブル１７から係数を選択するテーブル選択回路１８と、色毎に拡大または縮小するフィルタリング処理を備えたフィルタリング回路１９とで構成され、欠陥画素補正処理と画素変換処理の相関を考慮し、欠陥画素補正のフィルタリング処理と画素変換のフィルタリング処理を同一のフィルタリング回路で行なうことにより回路規模を削減した精度の良い撮像素子欠陥画素補正装置を提供する。 （もっと読む）

【課題】欠陥画素を有効に補正することが可能な撮像装置を提供することを目的とする。
【解決手段】撮像装置は、撮影光学系と撮像素子との相対位置を変更させる位置変更手段と、撮像素子によって、本撮影画像取得位置で本撮影画像を取得するとともに、補正用画像取得位置で補正用画像を取得する撮影制御手段と、補正用画像取得位置における撮像素子の画素のうち、本撮影画像取得位置における撮像素子の欠陥画素に結像される被写体部位と同一の被写体部位が結像される対応画素を特定する特定手段と、対応画素の画像信号を用いて本撮影画像における欠陥画素の画像信号を補正する補正手段とを備え、位置変更手段は、撮像素子において線状欠陥が存在する場合は、当該線状欠陥の短手方向に、撮影光学系と撮像素子との相対位置を変更させる（ステップＳＰ３３）。 （もっと読む）

【課題】欠損画素を適正に検出することができる放射線撮像装置を提供することを目的とする。
【解決手段】検出されたＸ線に基づく画素値を経時的に逐次に収集して、その画素値の時間変化分に基づいて、画素値の時間変化の統計量として画素値の時間に関する分散（時間分散）σ^２を求める。このように求められた時間分散σ^２は、画素値の時間変化の履歴を表す指標ともなるので、恒常的に欠損画素でない画素についても、その時間分散σ^２に基づいて欠損画素を適正に検出することができる。 （もっと読む）

【課題】縦線キズをより確実に検出する。
【解決手段】駆動部４３は、検査対象の固体撮像装置１０を駆動して周期的に撮像動作を行わせる。主制御部４２は、駆動部４３が固体撮像装置１０に印加する電子シャッタパルスの数を制御し、撮像周期ごとに露光時間を１／３０秒と１／６０秒との間で切り替える。縦線キズ検出部４５は、固体撮像装置１０からＡ／Ｄ変換器４４を介して取得される画像データから縦線キズを検出する。欠陥アドレス格納部４６は、１／３０秒の長時間露光時に出力された画像データの縦線キズのアドレスと、１／６０秒の短時間露光時に出力された画像データの縦線キズのアドレスとをそれぞれ格納する第１及び第２欠陥アドレス格納部４６ａ，４６ｂからなる。欠陥種別判定部４７は、欠陥アドレス格納部４６に格納された欠陥アドレスを比較して、縦線キズの長さが露光時間に依存するか否かを判定し、判定結果を欠陥情報記録部４８に記録する。 （もっと読む）

【課題】 方向検出を用いた撮像デバイスの画像欠陥補正システムを提供する。
【解決手段】 撮像デバイス上の各画素から出力された画像信号に対応して２次元画像データが格納される画像データメモリと、該画像データメモリ内の注目画素及び上下方向、左右方向、右下方向、右上方向に並んだ複数の隣接画素の画像データを用いて注目画素の画像データが突出点であるかどうかの条件判断を行い、該突出点の条件が満足される方向の数を計数し、計数された方向の数によって注目画素が欠陥画素であるかどうかを判定する欠陥画素判定手段と、該注目画素が欠陥画素であると判定されたとき、該画像データメモリ内の該注目画素の画像データを所定の画像データで置換する欠陥画素データ置換手段とからなる。 （もっと読む）

【課題】欠陥画素が複数ある欠陥要因のうちのいずれによるものかを正確に判別し、欠陥要因に応じて補正方法を切り替えることにより画質を向上させることができる撮像装置及びその制御方法、並びにプログラムを提供する。
【解決手段】ＣＰＵ１１０は、ＣＭＯＳセンサ駆動回路１１２のパラメータを制御し、シャッタ速度を１／４ｓｅｃとし、閾値Ｔｈ１に基づいて第１の欠陥画素検出処理を行う。次に、シャッタ速度を１／２ｓｅｃとし、閾値Ｔｈ１に基づいて第２の欠陥画素検出処理を行う。次に、ＣＰＵ１１０は、第１及び第２の欠陥画素検出処理における同一アドレスの欠陥画素のレベルを比較する。差分が閾値Ｔｈ２より大きいときは、フォトダイオード６０１の劣化が欠陥要因であると判別される。差分が閾値Ｔｈ２より小さいときは、フォトダイオード６０１の劣化以外が欠陥要因であると判別される。 （もっと読む）

【課題】短時間に確実に診断することができる撮像装置における自己診断装置を提供する。
【解決手段】イメージセンサ４のイメージャ１０には入射光に応答して信号電荷を発生する画素１１が配列され、この画素配列の信号電荷を順次読み出す際に、低輝度領域でダイナミックレンジとなる低輝度レンジ出力と高輝度領域でダイナミックレンジとなる高輝度レンジ出力の２系統の出力を得る。画素配列における少なくとも１つの画素を遮光して当該画素での出力信号が暗レベル出力として用いられ、かつ、そのレベルが押し上げられている。マイコン１５は、遮光の対象とならない有効画素における低輝度レンジ出力および高輝度レンジ出力の少なくとも一方が飽和値または最小値になっている時に、押し上げておいた暗レベル出力が所定値となっていないと不良であると判定する。 （もっと読む）

【課題】欠陥画素の誤検出を抑えることができる欠陥画素検出装置を提供する。
【解決手段】画像データの欠陥画素を検出する欠陥画素検出装置であって、注目画素の信号レベルが所定の範囲内であるか否かを判定する（ステップＳ１０参照）第１判定部と、前記第１判定部によって前記注目画素の信号レベルが所定の範囲内であると判定された場合に、前記注目画素の周辺に存在する画素の画素データに基づいて前記注目画素が欠陥画素であるか否かを判定する（ステップＳ２０参照）第２判定部と、前記第１判定部によって前記注目画素の信号レベルが所定の範囲内でないと判定された場合に、前記注目画素が欠陥画素であるか否かの判定を行わずに、前記注目画素を正常な画素として認識する（ステップＳ４０参照）認識部とを備える欠陥画素検出装置。 （もっと読む）

【課題】画素の集合欠陥を検出すること。
【解決手段】撮像信号は、先ず、第１メディアンフィルタ（４１）によって（３×３）の第１メディアン処理が２回施され、急激にレベルが変化するノイズである高周波成分が取り除かれる。フレームメモリ（３７）に一時的に記憶される一方で、第２メディアンフィルタ（４２）による（１×９）の第２メディアン処理、第３メディアンフィルタ（４３）による（９×１）の第３メディアン処理、及びローパスフィルタ（４４）による（９×９）のアヴェレージ処理により、緩やかにレベルが変化するノイズである低周波成分が取り除かれる。差分算出器（４５）において、フレームメモリ（３７）に記憶された高周波成分のみが取り除かれた画像信号から、集合欠陥まで取り除かれた画像信号が、対応する画素毎に減算され、集合欠陥を構成する画素毎の欠陥レベルが算出される。 （もっと読む）

【課題】注目画素を通過する１ドット単位の直線が存在する場合における欠陥画素の誤検出を抑えることができる欠陥画素検出装置を提供する。
【解決手段】ベイヤー配列の画像データの注目画素が赤（青）色成分画素である場合に、所定の画素数からなり前記注目画素が含まれる画素ブロック内に前記注目画素を通過する１ドット単位の斜めの直線が存在するか否かを判定する（ステップＳ１０参照）第１判定部と、ベイヤー配列の画像データの注目画素が緑色成分画素である場合に、所定の画素数からなり前記注目画素が含まれる画素ブロック内に前記注目画素を通過する１ドット単位の上下の直線又は左右の直線が存在するか否かを判定する第２判定部と、注目画素が１ドット単位の直線上に存在すると判定された場合、前記注目画素を正常な画素として認識する（ステップＳ４０参照）認識部とを備える欠陥画素検出装置。 （もっと読む）

【課題】後発的欠陥画素の補正を推測値を用いて過補正を防止する。
【解決手段】静的欠陥補正を行ってから時間計測手段で時間経過を測定し、所定の時間後に後発欠陥画素を測定し、またこの時間経過に対する欠陥画素数を統計分布を用いて算出し、この算出された欠陥画素数に許容値を加えて閾値を設定し、この閾値と測定した後発欠陥画素数を比較して、欠陥画素数が多いと過補正と判断し、欠陥画素の補正を報知するかまたは再補正する。 （もっと読む）

【課題】同一の垂直ＣＣＤに複数の点欠陥が存在しても、これらの点欠陥により発生する白縦線を良好に補正することを可能にする。
【解決手段】受光素子１０２が所定の無効信号領域に対向しているときに、点欠陥が存在する垂直ＣＣＤで得られる輝度信号の平均値と、複数の垂直ＣＣＤ１０３で得られる輝度信号の平均値との差分から第１の補正値を求める。同一の垂直ＣＣＤ上に複数の点欠陥１０６，１０７が存在する場合に、水平ＣＣＤ１０４から出力された輝度信号が対応するＹ方向位置が、複数の点欠陥の各Ｙアドレスによって区画される複数の領域のいずれに位置するかを判定する。複数の所定係数の中から、判定された領域に対応する所定係数を選択し、該所定係数を、前記第１の補正値に乗算して第２の補正値を算出し、この第２の補正値によって、前記水平ＣＣＤから出力された前記輝度信号を補正する。 （もっと読む）

【課題】 特別な装置構成を追加せず、かつ、レリーズタイムラグを短く留めたまま、欠陥画素が飽和した場合に画像信号を適切に補正できるようにすること。
【解決手段】 被写体像からの光を受光して信号に変換する光電変換部と、前記光電変換部からの信号が転送される半導体領域と、前記光電変換部の信号を前記半導体領域に転送する転送手段と、前記半導体領域の信号を読み出す読み出し手段とを有する画素を複数備えた撮像素子から得られる信号に対して、前記光電変換部の信号蓄積中に前記半導体領域に流れ込んだ信号を読み出した第１の信号により、前記光電変換部の飽和電荷量を算出し（Ｓ１１）、該算出結果に応じて、前記画素に隣接する画素の光電変換部から読み出された第２の信号に対して補正を行う（Ｓ１２）。 （もっと読む）

【課題】 画像データの保存処理において、画像データのサイズや画像データの枚数が、検査装置の他の処理に影響を与えることがない撮像素子検査装置を実現する。
【解決手段】 検査対象の撮像素子を駆動して得られる画像データを受信してメモリ保存し、このメモリ保存データを画像処理する画像処理モジュールと、この画像処理モジュールの画像処理結果に基づいて前記撮像素子の評価を行なう画像評価手段とを有する撮像素子検査装置において、
前記画像処理モジュールより前記画像データを取得して保存する、前記画像処理モジュールとは別プロセスで稼動する画像データ保存装置を備えることを特徴とする撮像素子検査装置。 （もっと読む）

【課題】欠陥画素を正確に検出する撮像装置を提供する。
【解決手段】撮像装置は、撮像素子と、撮像素子における撮像により得られた画素データについて画像処理を行う画像処理部４０とを備える。画像処理部４０は、遮光した状態で撮像されて得られた画素データ１００から、画素ごとに欠陥画素候補であるか否かを判定する欠陥画素候補判定部５２と、遮光した状態での撮像を複数回行って得られた欠陥画素候補の画素から、一定回数以上欠陥画素候補として判定された画素について欠陥画素であると判断する欠陥画素決定部５６とを有する。 （もっと読む）

【課題】撮像素子の斜め方向に発生する欠陥を精度良く検出することが可能な撮像素子の欠陥検出方法及びプログラムを提供する。
【解決手段】ウエハ上のＸ方向とこれに直交するＹ方向に配列して多数形成された撮像素子１４から得られたＹ方向及びＸ方向に配列された多数の画素データから構成される画像データＡを取得するステップＳ１と、画像データＡの画素データの配列を（４５×ｎ）度（ｎは１，３，５，７のいずれか）回転させた回転画像データＢを生成するステップＳ２と、回転画像データＢに対し、Ｙ方向及びＸ方向の両方の特徴成分を強調するための空間フィルタ処理を施すステップＳ３と、ステップＳ３で得られた画像データＢ’をステップＳ２での回転方向と逆方向に同じ回転角度だけ回転させた画像データＢ’’を生成するステップＳ５と、少なくとも画像データＢ’’に基づいて撮像素子１４の欠陥を検出するステップＳ７とを備える。 （もっと読む）

【課題】 半導体の深さ方向に複数の光電変換部を有する画素を複数配列した撮像領域を有する撮像装置にて、良好な画像を得ることを目的とする。
【解決手段】 半導体の深さ方向に複数の光電変換部を有する画素を複数配列した撮像領域において、同一画素内の一つの光電変換部からの信号に対して補正が必要であることを検出した場合に、同一画素内の他の光電変換部からの信号に対しても補正を行う構成とする。 （もっと読む）

【課題】簡単かつ小規模で、低コストの構成で、ライン状または塊状の欠陥画素を補正することができるようにする。
【解決手段】フラグ付加部102は、画素データにフラグを付加する。1H遅延メモリ111-8乃至111-1は、画素データを１ライン分だけ順次遅延し、後段に出力する。配列記憶部112は、９×９個のフラグ付き画素データを保持する。演算部105は、着目画素p55が欠陥画素であるとき、予測画素に対応する予測係数を予測係数記憶部106から読み出す。演算部105は、予測画素と予測係数とから着目画素の補正値を演算する。本発明はデジタルカメラに適用することができる。 （もっと読む）

【課題】解像度、解像感の低下、偽色の発生などが起きる頻度を抑えることができるようにするとともに、欠陥画素補正が過度に行われるのを防止することができるようにする。
【解決手段】撮像素子における欠陥画素の欠陥レベルを検出するとともに、欠陥画素周辺の周辺輝度レベルを算出し、欠陥画素周辺の周辺輝度レベルと欠陥画素の欠陥画素レベルとから、視覚的に欠陥画素が目立ちやすい画素についてのみ欠陥画素補正を行うようにすることにより、解像度、解像感の低下、偽色の発生などを最小限に抑えた良好な画像が得られるようにして、欠陥画素補正が過度に行われるのを防止するようにする。 （もっと読む）

【課題】 画像信号に含まれる画素欠陥を効率よく検出する。
【解決手段】 欠陥検出回路１２で目標画素の画像信号を周辺画素の画像信号と対比して画素欠陥候補を検出し、画素欠陥候補のアドレス情報を位置メモリ回路１３に記憶する。位置メモリ回路１３に記憶されたアドレス情報に基づいて欠陥判定回路１４が画素欠陥の判定を繰り返し、その判定結果の連続性から画素欠陥のアドレス情報を決定し、欠陥登録回路１５に登録する。登録された画素欠陥のアドレス情報に応じて欠陥補正回路１６が画像信号Ｙ（ｎ）を補正して、画像信号Ｙ'（ｎ）を生成する。 （もっと読む）