撮像装置
【課題】欠陥画素を正確に検出する撮像装置を提供する。
【解決手段】撮像装置は、撮像素子と、撮像素子における撮像により得られた画素データについて画像処理を行う画像処理部４０とを備える。画像処理部４０は、遮光した状態で撮像されて得られた画素データ１００から、画素ごとに欠陥画素候補であるか否かを判定する欠陥画素候補判定部５２と、遮光した状態での撮像を複数回行って得られた欠陥画素候補の画素から、一定回数以上欠陥画素候補として判定された画素について欠陥画素であると判断する欠陥画素決定部５６とを有する。
【解決手段】撮像装置は、撮像素子と、撮像素子における撮像により得られた画素データについて画像処理を行う画像処理部４０とを備える。画像処理部４０は、遮光した状態で撮像されて得られた画素データ１００から、画素ごとに欠陥画素候補であるか否かを判定する欠陥画素候補判定部５２と、遮光した状態での撮像を複数回行って得られた欠陥画素候補の画素から、一定回数以上欠陥画素候補として判定された画素について欠陥画素であると判断する欠陥画素決定部５６とを有する。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、撮像装置に関し、特に固体撮像素子内の欠陥位置を検出する装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、遮光した状態から画素の欠陥位置情報を得る装置が提案されている。
【０００３】
特許文献１は、欠陥補正を行う前に、遮光した状態で撮影を行い、その撮影画像から画素の欠陥位置情報を得て補正を行う装置を開示する。
【特許文献１】特開平０９−２８９６１４号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかし、特許文献１の装置は、一回だけの撮影画像から欠陥画素を検出するため、本来欠陥でないのに遮光時に偶発的に発生し欠陥画素であると判断される欠陥画素の誤検出や、本来欠陥であるのにノイズなどによる誤作動で欠陥でないと判断される欠陥画素の検出見落としのおそれがある。
【０００５】
したがって本発明の目的は、欠陥画素を正確に検出する撮像装置を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本発明に係る撮像装置は、撮像素子と、撮像素子における撮像により得られた画素データについて画像処理を行う画像処理部とを備え、画像処理部は、遮光した状態で撮像されて得られた画素データから、画素ごとに欠陥画素候補であるか否かを判定する欠陥画素候補判定部と、遮光した状態での撮像を複数回行って得られた欠陥画素候補の画素から、一定回数以上欠陥画素候補として判定された画素について欠陥画素であると判断する欠陥画素決定部とを有する。
【０００７】
好ましくは、撮像素子、及び画像処理部を制御し、水平垂直同期信号を出力するシステム制御部を更に備え、欠陥画素候補であると判定された画素のアドレスは、水平垂直同期信号に基づいて特定される。
【０００８】
また、好ましくは、シャッタ幕を更に備え、シャッタ幕を閉じることにより遮光した状態にされる。
【０００９】
また、好ましくは、欠陥画素候補の判定は、遮光した状態で撮像されて得られた画素データにおいて画素ごとに黒レベル以外の情報を示すか否かを判定することにより行われる。
【００１０】
また、好ましくは、画像処理部は、画像処理において、欠陥画素決定部で欠陥画素であると判断された画素について欠陥画素補正を行う欠陥補正部を有する。
【発明の効果】
【００１１】
以上のように本発明によれば、欠陥画素を正確に検出する撮像装置を提供することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１２】
以下、第１の実施形態について、図を用いて説明する。第１の実施形態にかかる撮像装置１は、撮像素子１０、ＡＤＣ（Ａｎａｌｏｇｕｅ Ｄｉｇｉｔａｌ Ｃｏｎｖｅｒｔｅｒ）２０、システム制御部３０、画像処理部４０、表示部７０、及び外部記憶装置８０を備える（図１参照）。
【００１３】
撮像素子１０は、被写体像を形成する光を光電変換する。光電変換されたアナログ信号は、ＡＤＣ２０でデジタル信号に変換される。ＣＰＵなどのシステム制御部３０は、水平垂直同期信号１０２を生成し出力する。水平垂直同期信号１０２は、欠陥画素のアドレス特定に使用される。
【００１４】
ＡＤＣ２０でデジタル信号に変換された画素データ１００は、画像処理部４０に入力される。ＤＳＰなどで構成される画像処理部４０は、欠陥検出部５０、及び欠陥補正部６０を有する。画像処理部４０において、画素データ１００は、画素ごとにゲイン調整（不図示）され、欠陥検出部５０に入力される。
【００１５】
欠陥画素検出以外の通常動作において、画像処理部４０は、画素データ１００について、表示部７０で表示可能な状態にするため、又は外部記憶装置８０に記録可能な状態にするために、画像処理を行う。
【００１６】
欠陥検出部５０は、画素アドレス部５１、欠陥画素候補判定部５２、欠陥画素位置登録部５３、欠陥回数カウント部５４、カウント並び替え部５５、及び欠陥画素決定部５６を有する（図２参照）。
【００１７】
画像処理部４０に入力された画素データ１００は、欠陥画素候補判定部５２において、画素ごとに欠陥画素候補であるか否かを判定する。具体的には、シャッタ幕を閉じる等遮光した状態で撮像した画素データ１００において、黒レベル以外の情報を示す画素が欠陥画素候補であると判断する。画素ごとのアドレスは、システム制御部３０から出力される水平垂直同期信号と同期するため、欠陥画素候補の画素に対応するアドレスは、画素アドレス部５１において、水平垂直同期信号１０２に基づいて特定される。
【００１８】
遮光した状態での撮像、欠陥画素候補の判定は、複数回行われる。
【００１９】
欠陥画素候補であると判断された画素に対応するアドレスは、欠陥画素位置登録部５３に登録される。欠陥回数カウント部５４は、欠陥画素候補であるとしてアドレスが欠陥画素位置登録部５３に登録された回数をカウントする。
【００２０】
カウント並び替え部５５は、欠陥画素位置登録部５３に登録された回数が多い順に欠陥画素候補の画素に対応するアドレスを並び替える。
【００２１】
欠陥画素決定部５６は、遮光した状態での撮像の回数に基づく一定回数以上、欠陥画素位置登録部５３に登録された欠陥画素候補の画素について欠陥画素であると判断する。例えば、遮光した状態での撮像の回数を１０回として、一定回数を６回とする。一定回数は２回以上であるのが望ましい。
【００２２】
欠陥画素決定部５６において、欠陥画素であると判断された画素のアドレスは、欠陥補正部６０に転送される。欠陥補正部６０は、欠陥画素であると判断された画素については、画像処理において補正処理が施される。
【００２３】
これにより、本来欠陥でないのに遮光時に偶発的に発生し欠陥画素であると判断される欠陥画素の誤検出や、本来欠陥であるのにノイズなどによる誤作動で欠陥でないと判断される欠陥画素の検出見落としを少なくし、正確な欠陥画素検出を行うことが可能になる。
【００２４】
次に、欠陥画素検出、補正についての手順を図３のフローチャートを用いて説明する。ステップＳ１１で、撮像装置１のシャッタ幕が閉じているか否か（遮光された状態か否か）が判断される。閉じていない場合は、欠陥補正は行われずに終了される。閉じている場合は、ステップＳ１２で、撮像装置１がカメラとしての動作やデータ取り込みが行われているか否か、すなわち、システム制御部３０から、水平垂直同期信号１０２が出力されているか否かが判断される。出力されていない場合は、欠陥補正は行われずに終了される。
【００２５】
水平垂直同期信号１０２が出力されている場合は、ステップＳ１３で、欠陥画素候補判定部５２によって、遮光された状態で撮像されて得られた画素データ１００に基づいて、欠陥画素候補判定対象の画素について、欠陥画素候補となる画素の判定が行われる。ステップＳ１４で、出力された水平垂直同期信号１０２に基づいて、画素のアドレスが特定される。ステップＳ１３において、欠陥画素候補判定対象の画素が欠陥画素候補に相当しない場合には、ステップＳ１７に進められる。ステップＳ１３において、欠陥画素候補判定対象の画素が欠陥画素候補に相当する場合は、ステップＳ１４でその画素のアドレスが特定される。
【００２６】
ステップＳ１５で、欠陥画素候補の画素に対応するアドレスが、欠陥画素位置登録部５３に登録される。ステップＳ１６で、欠陥画素候補の画素に対応するアドレスについて、欠陥画素位置登録部５３に登録された回数がカウントされる。具体的には、欠陥画素候補の画素に対応するアドレスを登録するために、欠陥画素位置登録部５３にアクセスされた回数に基づいて、登録された回数がカウントされる。
【００２７】
ステップＳ１３〜Ｓ１６の処理は、撮像に用いられる画素の総てについて行われる。具体的には、ステップＳ１７で、撮像に用いられる画素の総てについて、欠陥画素候補判定が行われたか否かは判断される。総ての画素について欠陥画素候補判定が行われていない場合は、ステップＳ１８に進められ、行われた場合は、ステップＳ１９に進められる。
【００２８】
ステップＳ１８で、欠陥画素候補判定対象の画素のアドレスがインクリメントされ、ステップＳ１３に戻され、次の欠陥画素候補判定対象の画素について欠陥画素候補判定が行われる。
【００２９】
ステップＳ１１〜Ｓ１８の処理は、所定の複数回数だけ行われる。具体的には、ステップＳ１９で、ステップＳ１１〜Ｓ１８の処理（遮光した状態での画素データの取得、及び全画素の欠陥画素候補判定）の回数（撮像回数）が、所定の複数回数だけ行われたかが判断される。所定の複数回数だけ行われていない場合は、ステップＳ２０に進められ、行われた場合は、ステップＳ２１に進められる。
【００３０】
ステップＳ２０で、ステップＳ１１〜Ｓ１８の処理（遮光した状態での画素データの取得、及び全画素の欠陥画素候補判定）が行われた回数（撮像回数）がインクリメントされ、ステップＳ１１に戻される。
【００３１】
ステップＳ２１で、カウント並び替え部５５において、欠陥画素位置登録部５３に登録された回数が多い順に欠陥画素候補の画素に対応するアドレスが並び替えられる。
【００３２】
ステップＳ２２で、欠陥画素決定部５６によって、欠陥画素候補の画素の中から、欠陥画素が決定される。具体的には、ステップＳ１１〜ステップＳ１８の処理回数（撮像回数、Ｎ回）に対して、一定回数以上欠陥画素候補であるとして登録されたアドレスに対応する画素については、欠陥画素であるとして判断され、その画素に対応するアドレスが欠陥補正部６０に転送される。
【００３３】
ステップＳ２３で、欠陥補正部６０によって、画像処理において欠陥画素であると判断された画素について画素欠陥補正が行われる。
【図面の簡単な説明】
【００３４】
【図１】本実施形態における撮像装置の構成図である。
【図２】画像処理部の構成図である。
【図３】欠陥画素の検出手順を示すフローチャートである。
【符号の説明】
【００３５】
１ 撮像装置
１０ 撮像素子
２０ ＡＤＣ
３０ システム制御部
４０ 画像処理部
５０ 欠陥検出部
５１ 画素アドレス部
５２ 欠陥画素候補判定部
５３ 欠陥画素位置登録部
５４ 欠陥回数カウント部
５５ カウント並び替え部
５６ 欠陥画素決定部
６０ 欠陥補正部
７０ 表示部
８０ 外部記憶装置
【技術分野】
【０００１】
本発明は、撮像装置に関し、特に固体撮像素子内の欠陥位置を検出する装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、遮光した状態から画素の欠陥位置情報を得る装置が提案されている。
【０００３】
特許文献１は、欠陥補正を行う前に、遮光した状態で撮影を行い、その撮影画像から画素の欠陥位置情報を得て補正を行う装置を開示する。
【特許文献１】特開平０９−２８９６１４号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかし、特許文献１の装置は、一回だけの撮影画像から欠陥画素を検出するため、本来欠陥でないのに遮光時に偶発的に発生し欠陥画素であると判断される欠陥画素の誤検出や、本来欠陥であるのにノイズなどによる誤作動で欠陥でないと判断される欠陥画素の検出見落としのおそれがある。
【０００５】
したがって本発明の目的は、欠陥画素を正確に検出する撮像装置を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本発明に係る撮像装置は、撮像素子と、撮像素子における撮像により得られた画素データについて画像処理を行う画像処理部とを備え、画像処理部は、遮光した状態で撮像されて得られた画素データから、画素ごとに欠陥画素候補であるか否かを判定する欠陥画素候補判定部と、遮光した状態での撮像を複数回行って得られた欠陥画素候補の画素から、一定回数以上欠陥画素候補として判定された画素について欠陥画素であると判断する欠陥画素決定部とを有する。
【０００７】
好ましくは、撮像素子、及び画像処理部を制御し、水平垂直同期信号を出力するシステム制御部を更に備え、欠陥画素候補であると判定された画素のアドレスは、水平垂直同期信号に基づいて特定される。
【０００８】
また、好ましくは、シャッタ幕を更に備え、シャッタ幕を閉じることにより遮光した状態にされる。
【０００９】
また、好ましくは、欠陥画素候補の判定は、遮光した状態で撮像されて得られた画素データにおいて画素ごとに黒レベル以外の情報を示すか否かを判定することにより行われる。
【００１０】
また、好ましくは、画像処理部は、画像処理において、欠陥画素決定部で欠陥画素であると判断された画素について欠陥画素補正を行う欠陥補正部を有する。
【発明の効果】
【００１１】
以上のように本発明によれば、欠陥画素を正確に検出する撮像装置を提供することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１２】
以下、第１の実施形態について、図を用いて説明する。第１の実施形態にかかる撮像装置１は、撮像素子１０、ＡＤＣ（Ａｎａｌｏｇｕｅ Ｄｉｇｉｔａｌ Ｃｏｎｖｅｒｔｅｒ）２０、システム制御部３０、画像処理部４０、表示部７０、及び外部記憶装置８０を備える（図１参照）。
【００１３】
撮像素子１０は、被写体像を形成する光を光電変換する。光電変換されたアナログ信号は、ＡＤＣ２０でデジタル信号に変換される。ＣＰＵなどのシステム制御部３０は、水平垂直同期信号１０２を生成し出力する。水平垂直同期信号１０２は、欠陥画素のアドレス特定に使用される。
【００１４】
ＡＤＣ２０でデジタル信号に変換された画素データ１００は、画像処理部４０に入力される。ＤＳＰなどで構成される画像処理部４０は、欠陥検出部５０、及び欠陥補正部６０を有する。画像処理部４０において、画素データ１００は、画素ごとにゲイン調整（不図示）され、欠陥検出部５０に入力される。
【００１５】
欠陥画素検出以外の通常動作において、画像処理部４０は、画素データ１００について、表示部７０で表示可能な状態にするため、又は外部記憶装置８０に記録可能な状態にするために、画像処理を行う。
【００１６】
欠陥検出部５０は、画素アドレス部５１、欠陥画素候補判定部５２、欠陥画素位置登録部５３、欠陥回数カウント部５４、カウント並び替え部５５、及び欠陥画素決定部５６を有する（図２参照）。
【００１７】
画像処理部４０に入力された画素データ１００は、欠陥画素候補判定部５２において、画素ごとに欠陥画素候補であるか否かを判定する。具体的には、シャッタ幕を閉じる等遮光した状態で撮像した画素データ１００において、黒レベル以外の情報を示す画素が欠陥画素候補であると判断する。画素ごとのアドレスは、システム制御部３０から出力される水平垂直同期信号と同期するため、欠陥画素候補の画素に対応するアドレスは、画素アドレス部５１において、水平垂直同期信号１０２に基づいて特定される。
【００１８】
遮光した状態での撮像、欠陥画素候補の判定は、複数回行われる。
【００１９】
欠陥画素候補であると判断された画素に対応するアドレスは、欠陥画素位置登録部５３に登録される。欠陥回数カウント部５４は、欠陥画素候補であるとしてアドレスが欠陥画素位置登録部５３に登録された回数をカウントする。
【００２０】
カウント並び替え部５５は、欠陥画素位置登録部５３に登録された回数が多い順に欠陥画素候補の画素に対応するアドレスを並び替える。
【００２１】
欠陥画素決定部５６は、遮光した状態での撮像の回数に基づく一定回数以上、欠陥画素位置登録部５３に登録された欠陥画素候補の画素について欠陥画素であると判断する。例えば、遮光した状態での撮像の回数を１０回として、一定回数を６回とする。一定回数は２回以上であるのが望ましい。
【００２２】
欠陥画素決定部５６において、欠陥画素であると判断された画素のアドレスは、欠陥補正部６０に転送される。欠陥補正部６０は、欠陥画素であると判断された画素については、画像処理において補正処理が施される。
【００２３】
これにより、本来欠陥でないのに遮光時に偶発的に発生し欠陥画素であると判断される欠陥画素の誤検出や、本来欠陥であるのにノイズなどによる誤作動で欠陥でないと判断される欠陥画素の検出見落としを少なくし、正確な欠陥画素検出を行うことが可能になる。
【００２４】
次に、欠陥画素検出、補正についての手順を図３のフローチャートを用いて説明する。ステップＳ１１で、撮像装置１のシャッタ幕が閉じているか否か（遮光された状態か否か）が判断される。閉じていない場合は、欠陥補正は行われずに終了される。閉じている場合は、ステップＳ１２で、撮像装置１がカメラとしての動作やデータ取り込みが行われているか否か、すなわち、システム制御部３０から、水平垂直同期信号１０２が出力されているか否かが判断される。出力されていない場合は、欠陥補正は行われずに終了される。
【００２５】
水平垂直同期信号１０２が出力されている場合は、ステップＳ１３で、欠陥画素候補判定部５２によって、遮光された状態で撮像されて得られた画素データ１００に基づいて、欠陥画素候補判定対象の画素について、欠陥画素候補となる画素の判定が行われる。ステップＳ１４で、出力された水平垂直同期信号１０２に基づいて、画素のアドレスが特定される。ステップＳ１３において、欠陥画素候補判定対象の画素が欠陥画素候補に相当しない場合には、ステップＳ１７に進められる。ステップＳ１３において、欠陥画素候補判定対象の画素が欠陥画素候補に相当する場合は、ステップＳ１４でその画素のアドレスが特定される。
【００２６】
ステップＳ１５で、欠陥画素候補の画素に対応するアドレスが、欠陥画素位置登録部５３に登録される。ステップＳ１６で、欠陥画素候補の画素に対応するアドレスについて、欠陥画素位置登録部５３に登録された回数がカウントされる。具体的には、欠陥画素候補の画素に対応するアドレスを登録するために、欠陥画素位置登録部５３にアクセスされた回数に基づいて、登録された回数がカウントされる。
【００２７】
ステップＳ１３〜Ｓ１６の処理は、撮像に用いられる画素の総てについて行われる。具体的には、ステップＳ１７で、撮像に用いられる画素の総てについて、欠陥画素候補判定が行われたか否かは判断される。総ての画素について欠陥画素候補判定が行われていない場合は、ステップＳ１８に進められ、行われた場合は、ステップＳ１９に進められる。
【００２８】
ステップＳ１８で、欠陥画素候補判定対象の画素のアドレスがインクリメントされ、ステップＳ１３に戻され、次の欠陥画素候補判定対象の画素について欠陥画素候補判定が行われる。
【００２９】
ステップＳ１１〜Ｓ１８の処理は、所定の複数回数だけ行われる。具体的には、ステップＳ１９で、ステップＳ１１〜Ｓ１８の処理（遮光した状態での画素データの取得、及び全画素の欠陥画素候補判定）の回数（撮像回数）が、所定の複数回数だけ行われたかが判断される。所定の複数回数だけ行われていない場合は、ステップＳ２０に進められ、行われた場合は、ステップＳ２１に進められる。
【００３０】
ステップＳ２０で、ステップＳ１１〜Ｓ１８の処理（遮光した状態での画素データの取得、及び全画素の欠陥画素候補判定）が行われた回数（撮像回数）がインクリメントされ、ステップＳ１１に戻される。
【００３１】
ステップＳ２１で、カウント並び替え部５５において、欠陥画素位置登録部５３に登録された回数が多い順に欠陥画素候補の画素に対応するアドレスが並び替えられる。
【００３２】
ステップＳ２２で、欠陥画素決定部５６によって、欠陥画素候補の画素の中から、欠陥画素が決定される。具体的には、ステップＳ１１〜ステップＳ１８の処理回数（撮像回数、Ｎ回）に対して、一定回数以上欠陥画素候補であるとして登録されたアドレスに対応する画素については、欠陥画素であるとして判断され、その画素に対応するアドレスが欠陥補正部６０に転送される。
【００３３】
ステップＳ２３で、欠陥補正部６０によって、画像処理において欠陥画素であると判断された画素について画素欠陥補正が行われる。
【図面の簡単な説明】
【００３４】
【図１】本実施形態における撮像装置の構成図である。
【図２】画像処理部の構成図である。
【図３】欠陥画素の検出手順を示すフローチャートである。
【符号の説明】
【００３５】
１ 撮像装置
１０ 撮像素子
２０ ＡＤＣ
３０ システム制御部
４０ 画像処理部
５０ 欠陥検出部
５１ 画素アドレス部
５２ 欠陥画素候補判定部
５３ 欠陥画素位置登録部
５４ 欠陥回数カウント部
５５ カウント並び替え部
５６ 欠陥画素決定部
６０ 欠陥補正部
７０ 表示部
８０ 外部記憶装置
【特許請求の範囲】
【請求項１】
撮像素子と、
前記撮像素子における撮像により得られた画素データについて画像処理を行う画像処理部とを備え、
前記画像処理部は、遮光した状態で撮像されて得られた画素データから、画素ごとに欠陥画素候補であるか否かを判定する欠陥画素候補判定部と、前記遮光した状態での撮像を複数回行って得られた欠陥画素候補の画素から、一定回数以上欠陥画素候補として判定された画素について欠陥画素であると判断する欠陥画素決定部とを有することを特徴とする撮像装置。
【請求項２】
前記撮像素子、及び前記画像処理部を制御し、水平垂直同期信号を出力するシステム制御部を更に備え、
前記欠陥画素候補であると判定された画素のアドレスは、前記水平垂直同期信号に基づいて特定されることを特徴とする請求項１に記載の撮像装置。
【請求項３】
シャッタ幕を更に備え、
前記シャッタ幕を閉じることにより前記遮光した状態にされることを特徴とする請求項１に記載の撮像装置。
【請求項４】
前記欠陥画素候補の判定は、前記遮光した状態で撮像されて得られた画素データにおいて画素ごとに黒レベル以外の情報を示すか否かを判定することにより行われることを特徴とする請求項１に記載の撮像装置。
【請求項５】
前記画像処理部は、前記画像処理において、前記欠陥画素決定部で欠陥画素であると判断された画素について欠陥画素補正を行う欠陥補正部を有することを特徴とする請求項１に記載の撮像装置。
【請求項１】
撮像素子と、
前記撮像素子における撮像により得られた画素データについて画像処理を行う画像処理部とを備え、
前記画像処理部は、遮光した状態で撮像されて得られた画素データから、画素ごとに欠陥画素候補であるか否かを判定する欠陥画素候補判定部と、前記遮光した状態での撮像を複数回行って得られた欠陥画素候補の画素から、一定回数以上欠陥画素候補として判定された画素について欠陥画素であると判断する欠陥画素決定部とを有することを特徴とする撮像装置。
【請求項２】
前記撮像素子、及び前記画像処理部を制御し、水平垂直同期信号を出力するシステム制御部を更に備え、
前記欠陥画素候補であると判定された画素のアドレスは、前記水平垂直同期信号に基づいて特定されることを特徴とする請求項１に記載の撮像装置。
【請求項３】
シャッタ幕を更に備え、
前記シャッタ幕を閉じることにより前記遮光した状態にされることを特徴とする請求項１に記載の撮像装置。
【請求項４】
前記欠陥画素候補の判定は、前記遮光した状態で撮像されて得られた画素データにおいて画素ごとに黒レベル以外の情報を示すか否かを判定することにより行われることを特徴とする請求項１に記載の撮像装置。
【請求項５】
前記画像処理部は、前記画像処理において、前記欠陥画素決定部で欠陥画素であると判断された画素について欠陥画素補正を行う欠陥補正部を有することを特徴とする請求項１に記載の撮像装置。
【図１】
【図２】
【図３】
【図２】
【図３】
【公開番号】特開２００８−５４０６７（Ｐ２００８−５４０６７Ａ）
【公開日】平成２０年３月６日（２００８．３．６）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２００６−２２８５３１（Ｐ２００６−２２８５３１）
【出願日】平成１８年８月２５日（２００６．８．２５）
【出願人】（００００００５２７）ペンタックス株式会社 (1,878)
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成２０年３月６日（２００８．３．６）
【国際特許分類】
【出願日】平成１８年８月２５日（２００６．８．２５）
【出願人】（００００００５２７）ペンタックス株式会社 (1,878)
【Ｆターム（参考）】
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