【課題】任意の焦点位置でのリフォーカス画像を生成するための画像信号に欠陥画素補正を行うことができる画像処理装置を提供すること。
【解決手段】撮影レンズの瞳分割領域に対応した被写体光の進行方向の情報が得られる撮像光学系を用いて撮像素子から取得される画像信号に適用される画像処理装置であって、リフォーカス画像を生成する焦点位置を設定する手段と、撮像素子の欠陥画素の画像信号を他の画素の画像信号を用いて補正する手段とを備え、設定された焦点位置と被写体光の進行方向の情報に基づいて、欠陥画素の画像信号の補正に使用する他の画素を決定する。 （もっと読む）

【課題】複数の色フィルタを配置したカラー撮像装置において、同一色の画素との距離が離れていたり、隣の画素の輝度への重み係数が異なっているために、欠陥を補正できなかったり、欠陥画素で無いにもかかわらず欠陥画素として補正してしまう事が起こらない様にする。
【解決手段】画素欠陥検出アルゴリズムにおいては、同色画素（たとえば注目画素が赤色（Ｒ））にて画素欠陥判定処理を第1判定処理（GS１）にて行い、さらに異色（第1処理に用いた色の以外の色の画素）画素にて画素欠陥判定処理を第２判定処理（GS2）として行い、さらに、第1判定処理と第2判定処理の結果から最終的な画素欠陥判定として最終判定処理（GS3）を行う。 （もっと読む）

【課題】様々な撮影条件において複数の欠陥画素が連続する欠陥画素領域が発生する場合でも、欠陥画素を有効に補正することを可能とする撮像装置及びそのような欠陥画素補正方法を提供すること。
【解決手段】変更量決定部１０２は、欠陥画素記憶部１０１から欠陥画素領域情報を取得し、欠陥画素領域情報に応じて示される欠陥画素領域の重複が、撮像光学系１０４と撮像素子１０５との相対位置を変更しても発生しないように、複数の相対位置の変更量を決定する。相対位置変更部１０３は、変更量決定部１０２によって決定された相対位置の変更量に従って撮像光学系１０４と撮像素子１０５との相対位置を変更する。画像合成部１０７は、それぞれの相対位置で得られた補正画像を合成して、欠陥画素領域の出力補正がなされた合成画像を得る。 （もっと読む）

【課題】撮像素子においては、製造工程において生じる画素欠陥と、温度変化や宇宙線などの放射線による経時変化で生じる画素欠陥とがあり、画素欠陥には欠陥箇所の輝度が高くなるいわゆる「白欠陥」と欠陥箇所の輝度が低くなるいわゆる「黒欠陥」とがある。製造工程において生じる画素欠陥は固定位置であるため、工場出荷時に欠陥画素の出力を近隣画素の出力を補間した値で補正する欠陥補正を施してから出荷することがおこなわれている。しかしながら、温度変化や経時変化で生じた撮像素子の画素欠陥には補間できないため画質を損なう問題があった。
【解決手段】
上記目的を解決するために、本発明では注目画素に対して周辺画素との差を基に画素欠陥か否かを判定し、さらには注目画素と周辺画素との差分の分布に応じて周辺画素で補間することを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】画質劣化を引き起こさないように欠陥画素を選別する。
【解決手段】撮像装置１の欠陥画素補正部１３は、撮像素子１６から利得調整部１２を介して撮像信号ａ１２を取得し、撮像素子１６の欠陥についての検査対象となる画素の画素値とその検査対象の画素の周囲の画素値との差分の絶対値を算出する。次に、欠陥画素補正部１３は、差分の絶対値と欠陥画素判定閾値とを比較して、差分の絶対値が欠陥画素判定閾値より大きい場合には、当該検査対象の画素が欠陥画素であると判定する。なお、欠陥画素判定閾値は、画像変化検出部１５において、映像信号ａ１４から画像変化を検出し、画像変化の大きさに応じて変化される。 （もっと読む）

【課題】光電変換部の高集積化、制御系の複雑高度化に伴って、光電変換手段のそれぞれやこれらを制御する信号線についての不良検出が容易ではない。
【解決手段】複数のセンサ部と、前記複数のセンサ部のそれぞれに対応する複数の記憶部とを有し、通常モードにおいては、前記複数のセンサ部の出力に基づいて複数の第１制御情報を設定し前記複数の記憶部にそれぞれ格納し、前記複数のセンサ部のそれぞれに、対応する前記第１制御情報にしたがった基準まで電荷を蓄積させ、検査モードにおいては、予め定められた検査用の複数の第２制御情報を前記複数の記憶部にそれぞれ格納し、前記複数のセンサ部のそれぞれに、対応する前記第２制御情報にしたがった基準まで電荷を蓄積させ、前記複数のセンサ部にそれぞれ蓄積された電荷量に基づいて、前記複数のセンサ部を検査する制御部を備える半導体装置を採用する。 （もっと読む）

【課題】 撮像装置内での画像合成、特に、他の撮像装置で撮影した画像を合成に使用する場合でも、合成時の欠陥画素の追加補正を実施できる撮像装置を提供すること。
【解決手段】 最初の現像時に、欠陥画素情報のうち補正の必要がないと判断された軽度の欠陥画素情報を画僧に添付し、合成時には画像に添付された欠陥画素情報を使用して欠陥画素の追加補正を実施することを特徴とする構成とした。 （もっと読む）

【課題】 ＣＭＯＳセンサの横筋ノイズ除去のために水平ライン平均でのクランプ補正があるが、水平ＯＢ画素が十分に多くないと水平ラインクランプによる横引きノイズが無視できなくなる。経験的にＯＢ画素は１ラインあたり６４画素以上必要であるがＣＭＯＳセンサは多チャンネル出力が主流であるため、１ｃｈ当たりの水平ＯＢ画素を６４画素以上確保することは読み出し速度及びデバイスサイズの観点から非常に困難である。
【解決手段】 ＯＢ領域の複数ラインの平均値を用いて有効画素をクランプするクランプ回路と、各水平ライン毎の平均値を演算して有効画素をクランプするクランプ回路と、ＯＢ領域を用いて横筋ノイズを検出する検出ブロックを有し、該検出ブロックで線キズが検出されたどうかで前記２種類のクランプ回路を切り替えることでライン平均クランプによる横引きノイズの影響を低減する。 （もっと読む）

【課題】 欠陥画素をより精度良く検出するためには撮像素子の温度上昇や信号電荷の蓄積時間を必要とするため、工場出荷前の調整時間に時間が掛かり、生産効率性の点などにおいて問題があった。
【解決手段】 欠陥画素検出時に、撮像素子内の読み出しゲート部に存在する読み出し電極に印加する電位を読み出しゲート部における半導体基板の界面が空乏状態となるような電位を与えるように撮像素子の駆動方法を変更することにより、温度依存及び露光時間依存しているキズの発生頻度を上げ、欠陥画素検出時間の短縮及び検出精度を高めることができる。 （もっと読む）

【課題】より確実に撮像素子の欠陥画素の撮像データの値を補正することができる撮像装置を提供する。
【解決手段】撮像装置１０は、制御部１１、撮像素子１２、メモリ１３および補正部１５を備える。メモリ１３は、各々一定時間である複数の期間それぞれにおいて一定の第一光量レベルの光を撮像素子１２の各画素に入射させたときに撮像素子１２から出力された各画素の撮像データにおいて、複数の画素のうちの或る画素の複数の期間それぞれの撮像データのばらつきが所定値以上である場合に、その画素を欠陥画素として特定する情報を記憶している。補正部１４は、複数の画素のうち欠陥画素に隣接する良好画素の撮像データに基づいて該欠陥画素のデータを求める。 （もっと読む）

【課題】新たな欠陥画素が発生した後で、次の欠陥画素検出までの期間に撮影された画像に対しても欠陥画素補正を行えるようにする。
【解決手段】撮像素子により得られた画像データに基づいて欠陥画素を検出し、新規欠陥画素の情報、欠陥画素検出日時を記憶する。そして、記録媒体に記録された画像データの中から、撮影日時が前回の欠陥画素検出日時より新しい画像データを抽出し、当該画像データに対して、前記新規欠陥画素の情報に基づいて欠陥画素補正を行う。これにより、新たな欠陥画素が発生した後、次の欠陥画素検出までの期間に撮影された画像に対しても欠陥画素補正を行うことが可能である。 （もっと読む）

【課題】 検出用画像を用意することなく、容易にかつ確度高く欠陥画素を検出することができる技術を提供することを目的とする。
【解決手段】 複数の画素からなる画素列を少なくとも１つ有するセンサアレイと、センサアレイに被写体を複数回撮像させて、画素列の複数の画素それぞれが出力する画像信号の出力値を時系列に並べた出力値の時間変動の分布に基づいて、画素列における欠陥画素を検出する欠陥画素検出部と、を備える。 （もっと読む）

【課題】撮像素子からの映像信号を複数の領域に分割し各画像処理ＬＳＩに振り分けて処理する撮像装置にて、接合したオプティカルブラック部（ＯＢ部）で欠陥画素が連続して存在しても、欠陥画素を良好に補正できる撮像装置を提供することを課題とする。
【解決手段】有効撮像部及びＯＢ部を有する撮像素子からの映像信号に画像処理を行う複数の画像処理ＬＳＩと、撮像素子からの有効撮像部の映像信号を複数の領域に分割し、分割した有効撮像部の映像信号に対応するＯＢ部の映像信号を付加して各画像処理ＬＳＩに振り分ける映像信号分割部とを備え、画像処理ＬＳＩに、連続欠陥画素を含むＯＢ部における欠陥画素を検出する欠陥画素検出部と、検出された欠陥画素を補正する画素補正部とを設け、接合したＯＢ部の境界で欠陥画素が連続しても、それら欠陥画素を良好に補正できるようにする。 （もっと読む）

【課題】短時間で欠陥画素の抽出を行うことができる、放射線画像撮影装置、放射線画像撮影システム、欠陥画素抽出プログラム、及び欠陥画素抽出方法を提供する。
【解決手段】画素２０のＴＦＴスイッチ４の駆動時間（オン時間）を異ならせて取得した、第１の駆動時間による第１画像と、第２の駆動時間による第２画像とを取得し、第１画像と第２画像との差分画像を取得する。さらに、差分画像の画素の画素値と、当該画素の周囲の画素の画素値の平均値とを比較した比較値が閾値を超える場合は、当該画素を欠陥画素として判定し、記憶することにより欠陥画素の抽出を行う。 （もっと読む）

【課題】撮像装置の欠陥画素の欠陥の種類に応じて、適切な補正を行えるようにすること。
【解決手段】撮像素子から出力される画像データを処理する画像処理装置であって、撮影条件または撮影環境と、補正対象となる欠陥画素のグレードを示す第１の情報とを対応させた複数のテーブルを記憶した第１の記憶手段と、各欠陥画素について、アドレス情報と、複数のテーブルの内、参照するテーブルを示す参照テーブル情報と、欠陥画素のグレードを示す第２の情報とからなるキズデータを記憶した第２の記憶手段とを有し、撮影時の撮影条件及び撮影環境を取得して（Ｓ６０２）、取得した撮影条件または撮影環境における、参照テーブル情報に対応したテーブルが示す第１の情報と、キズデータにおける各欠陥画素の第２の情報との比較結果に基づいて欠陥補正の要否を判定し（Ｓ６０３〜Ｓ６０６）、欠陥補正が必要と判断された欠陥画素から出力された画像データに対して欠陥補正を行う。 （もっと読む）

【課題】画素欠陥判定の閾値を補正対象画素の色信号の種類に応じて切り換えることにより精度の高い補正を施す。
【解決手段】撮像素子からの画像信号から画素欠陥を検出し、検出した画素欠陥を補正する画素欠陥検出補正回路と、該画素欠陥検出補正回路により補正された画像信号を処理して映像信号を送出する信号処理回路を備えた撮像装置において、画素欠陥検出補正回路１０４は、補正対象画素の近隣の画素の画素信号を保持する画素値保持部２０２と、補正対象画素の画素値と、前記画素値保持部に保持された画素値との差を予め設定した閾値と比較して補正対象画素の画素欠陥を検出する比較部２０１と、画素欠陥を検出したとき欠陥画素を補間して補正する補正部を備え、前記閾値は、補正対象画素の色信号の輝度信号に寄与する程度を表す重み係数に対応して各色毎に設定し、前記補正対象画素の色信号に応じて切り換える。 （もっと読む）

【課題】画素トランジスタにおける欠陥の異常成長を抑制する固体撮像素子を提供する。
【解決手段】半導体基板１０１のＰウェル１０２の内部に形成され、入射光を光電変換する受光領域１０３と、Ｐウェル１０２の内部に形成されたウェル領域１０４と、Ｐウェル１０２の内部において、ウェル領域１０４に隣接して形成された素子分離領域１０５と、素子分離領域１０５の上に形成されたダミー素子１０９とを備える。 （もっと読む）

【課題】適切なキズ補正により高品質な画像を得ることを可能とする画像処理装置を提供すること。
【解決手段】実施形態によれば、周辺画素抽出部２１は、複数の周辺画素の信号値を抽出する。並べ替え部２２は、周辺画素抽出部２１で抽出された信号値を信号レベルの順に並べ替えて出力する。キズ判定部２５、２６は、複数の周辺画素の信号値のうちのいずれかと、対象画素の信号値との比較により、対象画素のキズ判定を実施する。キズ判定レベル設定部２３、２４は、キズ判定レベル３１、３２を設定する。キズ判定レベル３１、３２は、キズ判定部２５、２６におけるキズ判定の基準とする。キズ判定レベル設定部２３、２４は、信号レベルの順に応じて、複数の周辺画素から第１の参照画素及び第２の参照画素を特定する。キズ判定レベル設定部２３、２４は、第１の参照画素の信号値と第２の参照画素の信号値との差分に応じてキズ判定レベル３１、３２を可変とする。 （もっと読む）

【課題】検出器の欠陥素子の影響が周辺の素子にも及ぶ場合にも、高精度に画像補正を行うことが可能な画像撮影装置を提供する。
【解決手段】検出器の読出回路の不具合等によって、電荷が隣接素子（或いは周辺素子）に流出してしまう流出型欠陥素子について、流出の割合を表した信号流出関数ｆ（ｘ）を影響量パラメータ２０５として記憶部２０２に保持しておく。中央処理装置２０は補正処理として、一般的に行われるオフセット補正やエア補正等の他に、欠陥素子補正処理を行って、正常な検出素子から得られた出力信号に基づいて流出型欠陥素子の出力信号を推定するとともに、推定された流出型欠陥素子の出力信号と上述の影響量パラメータ２０５とに基づいて流出型欠陥素子の周辺の欠陥周辺素子の出力信号を補正する。 （もっと読む）

【課題】デジタルサンプリングデータの特異点の判定を行う装置の小型化を実現する。
【解決手段】特異点判定装置１０は、入力信号Ｇ０を遅延させて出力するＦＦ１１と、入力信号Ｇ０とＦＦ１１からの出力信号Ｇ１との差分を出力する減算器１２と、減算器１２からの出力信号Ｄ１と、しきい値ｂ１とを比較する比較回路１４と、減算器１２からの出力信号Ｄ１を遅延させて出力するＦＦ１３と、ＦＦ１３からの出力信号Ｄ２と、しきい値ｂ２とを比較する比較回路１５と、各比較回路１４，１５の各々の比較結果に応じて、入力信号Ｇ０の特異点の有無を判定するＡＮＤ回路１６とを備える。 （もっと読む）